专利汇可以提供一种采用积分光度法的局部放电测量装置及测量方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种采用积分光度法的局部放电测量装置及测量方法,该装置包括:积分球:用于提供密闭环境并且内置放电 缺陷 模型,其内部表面涂有漫反射涂层,通过积分光度法将放电缺陷模型产生不同种类的光 信号 进行多次均匀的漫反射并输出;电源模 块 :设置在积分球外部且与放电缺陷模型连接,用以为放电缺陷模型提供不同参数的电源;积分球内环境调节组件:与积分球连通,用以改变积分球内的气体环境,包括气体种类、气压、 温度 和湿度;参数探测组件:与电源模块连接,用以获取积分球的光参数、环境参数和电参数,并且进行处理和显示。与 现有技术 相比,本发明具有有效收集信号、放电环境可控、检测准确性高等优点。,下面是一种采用积分光度法的局部放电测量装置及测量方法专利的具体信息内容。
1.一种采用积分光度法的局部放电测量装置,其特征在于,该装置包括:
积分球(1):用于提供密闭环境并且内置放电缺陷模型(2),其内部表面涂有漫反射涂层,通过积分光度法将放电缺陷模型(2)产生不同种类的光信号进行多次均匀的漫反射并输出,所述的积分球(1)表面设有多个通孔,所述的积分球内环境调节组件和参数探测组件分别通过通孔与积分球(1)连通;
电源模块(3):设置在积分球(1)外部且与放电缺陷模型(2)连接,用以为放电缺陷模型(2)提供不同参数的电源;
积分球内环境调节组件:与积分球(1)连通,用以改变积分球内的气体环境,包括气体种类、气压、温度和湿度,所述的积分球内环境调节组件包括气体交换模块(8)和气体阀门(7),所述的气体交换模块(8)通过通孔与积分球(1)连通,所述的气体阀门(7)设置在通孔处,所述的参数探测组件包括信号处理显示模块(10)以及分别与信号处理显示模块(10)连接的环境探测模块(5)、光电探测模块(6)和电参数探测模块(9),所述的环境探测模块(5)、光电探测模块(6)和电参数探测模块(9)分别设置在积分球(1)表面的通孔处,在所述的积分球(1)内,放电缺陷模型(2)与光电探测模块(6)之间设有一表面涂有漫反射涂层的光挡板(4),所述的环境探测模块(5)包括多个探头,用以获取积分球(1)内的温度、气压、湿度和噪声参数,所述的光电探测模块(6)为一个经过光谱修正和余弦修正的光电转换器件,用以获取光谱功率分布和光通量,所述的电参数探测模块(9)获取放电电压和电流参数;
参数探测组件:与电源模块(3)连接,用以获取积分球(1)的光参数、环境参数和电参数,并且进行处理和显示;
应用采用积分光度法的局部放电测量装置的测量方法,包括以下步骤:
1)在积分球开启的状态下放置放电缺陷模型,合上积分球,打开气体阀门,在信号处理显示模块上设置环境参数并运行气体交换模块,同时通过环境探测模块进行监测,直到积分球内环境稳定,达到设定参数;
2)关闭气体阀门和气体交换模块,打开电源模块,为放电缺陷模型供电,放电缺陷模型产生放电现象,发出光、电和噪声参数,其中,放电产生的光信号通过积分球均匀多次漫反射后达光电探测模块,光电探测模块将光信号转换为电信号,并传输至信号处理显示模块,放电产生的电参数由电参数探测模块探测,并传输至信号处理显示模块,放电现象对于环境的影响通过环境探测模块探测,并传输至信号处理显示模块;
3)信号处理显示模块收集各个探测模块的信号,进行相应的处理,并且通过显示屏显示放电现象的各类参数。
2.根据权利要求1所述的一种采用积分光度法的局部放电测量装置,其特征在于,所述的放电缺陷模型(2)放置于积分球(1)内中心位置。
3.根据权利要求1所述的一种采用积分光度法的局部放电测量装置,其特征在于,所述的积分球(1)的半径大于放电缺陷模型(2)最长边的10倍。
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