Spectrum detector in mass analyzer
专利汇可以提供Spectrum detector in mass analyzer专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且PURPOSE:To increase resolution irrespective of the size of a detector element, by decreasing the width of ion beam reaching a collector with a slit. CONSTITUTION:A sample ion I generated in an ion source 1 is dispersed, in accordance with the mass-charge ratio by means of a double focusing mass analyzing system consisting of an electric field E formed between elecrode 2 and 2' and a magnetic field M formed in a magnet 3. A channel plate 5 is provided closely behind a multi-slit plate 4 whose center almost accords with the double focusing point of the mass analyzing system. The secondary electron generated on the channel plate 5 by injection of ions which passes through the slit plate 4 is injected to a minute detector array 6. The output of the detector array 6 is read in turn by a reading control circuit 7 and transferred to a computer 9 through an A-D converter 8.，下面是Spectrum detector in mass analyzer专利的具体信息内容。
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