专利汇可以提供一种光电化学反应中间体的阵列芯片质谱联用分析方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种光电化学反应中间体的阵列芯片质谱联用分析方法。该方法利用二 氧 化 钛 、 石墨 烯等具有 半导体 性质或光催化性能的无机材料修饰玻璃、聚酰亚胺等绝缘塑料形成光催化剂修饰的微阵列芯片。之后将用于光电化学反应的底物滴加在该芯片上,利用光照引起光电化学反应。反应若干时间后,利用静电喷雾 离子化 质谱技术对该样品点进行检测,实现光电化学反应中间体分析。,下面是一种光电化学反应中间体的阵列芯片质谱联用分析方法专利的具体信息内容。
1.一种光电化学反应中间体的阵列芯片质谱联用分析方法,其特征在于具体步骤如下:
(1)将具有半导体性质或者光催化活性的无机材料制备成悬浊液,修饰于绝缘板表面,形成具有无机材料修饰层的阵列芯片;
(2)将反应底物滴加在步骤(1)所得的无机材料修饰层的阵列芯片表面;
(3)光照步骤(2)所得的阵列芯片;
(4)在步骤(3)所得的阵列芯片下方放置电极,阵列芯片的上方放置质谱采样管,电极和质谱采样管之间设置脉冲方波高压;
其中,
步骤(1)所述的无机材料为二氧化钛或石墨烯中任一种;
步骤(1)所述的绝缘板为聚酰亚胺或玻璃中任一种;
步骤(4)中的质谱为四级杆、离子阱、飞行时间、静电轨道阱或傅里叶变换离子回旋共振质谱中任一种。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(1)所述的二氧化钛在研钵中研磨,研磨过程中逐滴加入1毫升1%的醋酸,研磨后分散于1毫升的乙醇中,在水中稀释后,得到二氧化钛悬浊液,其中二氧化钛悬浊液的浓度为4毫克每毫升。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(1)所述的石墨烯的制备方法为:将石墨烯和聚乙烯吡咯烷酮粉末添加到水和异丙醇组成的混合物中,经离心后,分散在包含
10%松油醇的1,2-丙二醇基混合物中。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(1)所述的无机材料悬浊液的修饰方式为丝网印刷、喷墨打印、三维打印或滴加中任一种。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(1)所述无机材料修饰层的厚度在10微米到2毫米之间。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(1)所述绝缘板的厚度在100微米到5毫米之间。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(3)所述光照使用的光源为自然光、LED灯、激光、日光灯、紫外光源或白炽灯中任一种。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(3)所述光照时间为1-30分钟。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(4)所述的方波脉冲高压为0.5-6千伏,100赫兹。
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