太赫兹漏波天线测量系统
专利汇可以提供太赫兹漏波天线测量系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 申请 提供一种太赫兹漏波天线测量系统，在沟槽内放置探针天线，并在沟槽内移动探针天线，可以采集移动过程中的探针天线所处 位置 的振幅与 相位 分布信息，实现了馈源天线与 辐射 腔体的分离。根据互易定理外推，实现了天线远场测试。太赫兹漏波天线测量系统相比于直接改变所述发射装置中馈源天线的位置，大幅减少了对原本天线结构的破坏程度，提高了测试 精度 。同时简单易行，可以给馈源安装、调整提供综合的参考。在完成太赫兹漏波天线测量系统一体化测试的同时，通过探针天线的移动寻找远场增益最大处，以确定实际相位中心位置，有效解决了二维漏波天线中馈源实际相位中心修正问题。，下面是太赫兹漏波天线测量系统专利的具体信息内容。
1.一种太赫兹漏波天线测量系统(100)，其特征在于，包括：
弓形梁(10)；
发射装置(20)，设置于所述弓形梁(10)；
辐射腔体(30)，设置于所述弓形梁(10)的圆心位置，所述辐射腔体(30)内设置有沟槽(310)；
探针天线(40)，设置于所述沟槽(310)；
所述沟槽(310)包括沿第一方向延伸的第一子沟槽(311)、沿第二方向延伸的第二子沟槽(312)以及沿第三方向延伸的第三子沟槽(313)，所述第一子沟槽(311)、所述第二子沟槽(312)以及所述第三子沟槽(313)之间互相垂直且相交；
所述发射装置(20)包括：
旋转机构(210)，嵌套设置于所述弓形梁(10)，用以将所述旋转机构(210)在所述弓形梁(10)移动改变角度；
发射平台(220)，与所述旋转机构(210)靠近所述辐射腔体(30)的一端固定连接；
可调支撑架(230)，与所述发射平台(220)固定连接，且所述可调支撑架(230)与所述发射平台(220)包围形成一个容纳空间(231)；
馈源天线(240)，设置于所述发射平台(220)，且设置于所述容纳空间(231)内；
透镜准直器(250)，与所述可调支撑架(230)连接，用以调节所述透镜准直器(250)的位置；
所述第一子沟槽(311)、所述第二子沟槽(312)以及所述第三子沟槽(313)设置于所述辐射腔体(30)的理论相位中心处；
通过将所述探针天线(40)在所述辐射腔体(30)内的所述沟槽(310)内移动，实现所述馈源天线(240)与所述辐射腔体(30)的分离，并通过互易定理外推完成天线远场测试，同时通过所述探针天线(40)的移动，寻找远场增益最大处，确定所述馈源天线(240)的实际相位中心位置，从而调整所述馈源天线(240)的位置，使得所述馈源天线(240)的相位中心位置与所述透镜准直器(250)的焦点位置重合，完成校准。
2.如权利要求1所述的太赫兹漏波天线测量系统(100)，其特征在于，所述辐射腔体(30)靠近所述发射装置(20)的表面间隔设置有多个金属片(320)。
3.如权利要求1所述的太赫兹漏波天线测量系统(100)，其特征在于，所述太赫兹漏波天线测量系统(100)包括：
支撑架(50)，设置于所述弓形梁(10)底端，用以支撑所述弓形梁(10)。
4.如权利要求1所述的太赫兹漏波天线测量系统(100)，其特征在于，所述太赫兹漏波天线测量系统(100)还包括：
吸波材料层(60)，设置于所述弓形梁(10)与所述辐射腔体(30)周围，用以减小所述太赫兹漏波天线测量系统(100)周围的噪声影响。
5.如权利要求1所述的太赫兹漏波天线测量系统(100)，其特征在于，所述太赫兹漏波天线测量系统(100)还包括：
地面测试平台(70)，设置于所述弓形梁(10)的圆心位置处，用以放置所述辐射腔体(30)。
6.如权利要求1所述的太赫兹漏波天线测量系统(100)，其特征在于，所述太赫兹漏波天线测量系统(100)还包括：
矢量网络分析仪(80)，所述矢量网络分析仪(80)的一端口与所述馈源天线(240)连接，所述矢量网络分析仪(80)的另一端口与所述探针天线(40)连接。
7.如权利要求6所述的太赫兹漏波天线测量系统(100)，其特征在于，所述太赫兹漏波天线测量系统(100)还包括：
控制器(90)，与所述矢量网络分析仪(80)连接。
8.如权利要求7所述的太赫兹漏波天线测量系统(100)，其特征在于，所述太赫兹漏波天线测量系统(100)还包括：
驱动装置(910)，所述驱动装置(910)的输出端与所述发射装置(20)连接，所述驱动装置(910)的输入端与所述控制器(90)连接，用以驱动所述发射装置(20)在所述弓形梁(10)上移动。
太赫兹漏波天线测量系统
技术领域
背景技术
漏波天线的性能有很大影响。理论设计时通常是固定馈源的相位中心后再对漏波天线整体
进行优化，便认为是最佳馈源匹配方案。
移动馈源位置来实现对天线进行一体化测量。所以，现有的漏波天线测量系统不能够在完
成太赫兹天线一体化测试的同时有效解决二维漏波天线中馈源实际相位中心修正的问题。
发明内容
赫兹天线一体化测试的同时有效解决二维漏波天线中馈源实际相位中心修正的太赫兹漏
波天线测量系统。
以及所述第三子沟槽之间互相垂直且相交。
所述可调支撑架与所述发射平台固定连接，且所述可调支撑架与所述发射平台包围形成一
个容纳空间。所述馈源天线设置于所述发射平台，且设置于所述容纳空间内。所述透镜准直器与所述可调支撑架连接，用以调节所述透镜准直器的位置。
周围的噪声影响。
以驱动所述发射装置在所述弓形梁上移动。
与相位分布信息，实现了所述馈源天线与所述辐射腔体的分离。根据互易定理外推，实现了天线远场测试。相比于直接改变所述发射装置中馈源天线的位置，大幅减少了对原本天线
结构的破坏程度，提高了测试精度。同时简单易行，可以给馈源安装、调整提供综合的参考。
相位中心修正问题。所述太赫兹漏波天线测量系统可用于太赫兹波段、毫米波段二维漏波
天线辐射特性、频率选择表面的透射特性的测量，不需要大量制造天线样品进行测试，大幅降低了成本。
附图说明
具体实施方式
为对本申请的限制。
20发射，所述发射装置20可以在0°～180°范围内进行移动。
在所述沟槽310内放置所述探针天线40，并在所述沟槽310内移动所述探针天线40，可以采
集移动过程中的所述探针天线40所处位置的振幅与相位分布信息，实现了馈源天线与所述
辐射腔体30的分离。根据互易定理外推，实现了天线远场测试。相比于直接改变所述发射装置20中馈源天线的位置，大幅减少了对原本天线结构的破坏程度，提高了测试精度。同时简单易行，可以给馈源安装、调整提供综合的参考。
源实际相位中心修正问题。所述太赫兹漏波天线测量系统100可用于太赫兹波段、毫米波段二维漏波天线辐射特性、频率选择表面的透射特性的测量，不需要大量制造天线样品进行
测试，大幅降低了成本。
近所述辐射腔体30的一端固定连接。所述可调支撑架230与所述发射平台220固定连接，且
所述可调支撑架230与所述发射平台220包围形成一个容纳空间231。所述馈源天线240设置
于所述发射平台220，且设置于所述容纳空间231内。所述透镜准直器250与所述可调支撑架
230连接，用以调节所述透镜准直器250的位置。
线240，用以将太赫兹信号从所述馈源天线240发射。同时，所述馈源天线240的位置可以通过所述透镜准直器250进行校正，使得所述馈源天线240的相位中心位置与所述透镜准直器
250的焦点位置重合，从而以θ角度发射的入射波为平面波。并且，所述可调支撑架230可以调节前后距离，用以改变所述透镜准直器250的前后位置。
区的准平面波束。当馈源相位中心位置与所述透镜准直器250的焦点位置重合时，以θ(0°～
180°)角度入射到所述辐射腔体30的入射波为平面波。当所述探针天线40在x方向的所述第
一子沟槽311或y方向的所述第二子沟槽312水平移动距离d时，相位差为
310内放置有所述探针天线40，可以在所述沟槽310内移动所述探针天线40，同时实时采集
移动过程中的所述探针天线40所处位置的振幅与相位分布信息，实现了所述馈源天线240
与所述辐射腔体30的分离。根据互易定理外推，实现了天线远场测试。在完成所述太赫兹漏波天线测量系统100一体化测试的同时，通过所述探针天线40的移动寻找远场增益最大处，以确定实际相位中心位置，有效解决了二维漏波天线中馈源实际相位中心修正的太赫兹漏
波天线测量系统。
子沟槽313，从而可以使得所述探针天线40在所述辐射腔体30内x、y、z内移动。通过将所述探针天线40在所述辐射腔体30内x、y、z内移动可以实现所述馈源天线240与所述辐射腔体
30的分离，并通过互易定理外推完成天线远场测试。同时，通过所述探针天线40的移动寻找远场增益最大处，以确定实际相位中心位置。
相位面会近似为一个球面，该球面的球心即为天线的理论相位中心。在测量的过程中，可以分别在x、y、z三方向移动所述探针天线40，以此来确定实际相位中心位置。
量系统100周围的噪声影响。
料表面的电磁波能量，从而减少电磁波的干扰。
口与所述探针天线40连接。
步进电机驱动所述旋转机构210在所述弓形梁10上移动。
台70上的所述辐射腔体30。部分能量透射到位于所述辐射腔体30内部的所述探针天线40
处，透射信号经所述探针天线40与所述矢量网络分析仪80传输至所述控制器90。所述矢量
网络分析仪80对采集的数据进行处理获得所述探针天线40所处位置的振幅与相位分布信
息，并传输至所述控制器90，从而通过所述控制器90进行数据处理，并通过远场数据转换，进而得到远场特性。
器90连接，用以驱动所述发射装置20在所述弓形梁10上移动。
形梁10上移动，从而在0°～180°范围内改变入射角度，实现不同角度斜入射，提高了所述太赫兹漏波天线测量系统100对角度控制的精度，并且实现了更加智能化操作。
所述馈源天线240的相位中心位置与所述透镜准直器250的焦点位置重合。此时，所述探针
天线40在给定范围内移动时，采集信号的振幅与相位按平面波入射情况变化，不需要大量
制造天线样品进行测试，大幅降低了成本。
信号从所述馈源天线240上发出，由所述透镜准直器250变换为准平面波后，到达测试平台，部分能量透射到位于所述辐射腔体30内部的所述探针天线40处。透射信号经所述探针天线
40与所述矢量网络分析仪80上传至所述控制器90。通过上述方法，在0°～180°入射角度下
采集所述探针天线40所处位置的振幅与相位分布，再由互易定理外推即可获取在当前相位
中心条件下的天线远场方向图。
获得最大辐射增益时的所述探针天线40的位置，也就为理想相位中心处。
在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
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