专利汇可以提供Optical line structure measuring device专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且PURPOSE: To measure the parameters of optical line structure non-destructively and highly accurately by corresponding the angle distribution of scattering light intensity of a dielectric optical line and the polarizing state of the mode being propagated by the use of a wavelength variable light source.
COPYRIGHT: (C)1978,JPO&Japio,下面是Optical line structure measuring device专利的具体信息内容。
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