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一种陶瓷表面粗糙度检测设备

阅读：624发布：2020-05-11

专利汇可以提供一种陶瓷表面粗糙度检测设备专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型涉及新材料检测设备技术领域，具体的公开了一种陶瓷表面粗糙度检测设备，包括工作台，工作台的上表面两端固定有竖直的立柱，立柱的顶端转动连接有转动辊，转动辊上设置有传送带，左端的立柱上设置有转动盘，转动盘与转动辊固定连接，工作台的左端固定安装有电机，电机的输出轴垂直连接有驱动盘，转动盘与驱动盘通过皮带连接，驱动盘带动转动盘转动。传送带外表面固定设置有放置台，立柱之间的工作台上设置有壳体，壳体的顶端固定安装有气缸，气缸内设置有竖直的升降杆，升降杆的底部设置有用于检测粗糙度的探针，工作台的近端侧面设置有操作显示屏。本实用新型优点：结构简单、容易操作、安全性高、定位精确、可实现连续检测。，下面是一种陶瓷表面粗糙度检测设备专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种陶瓷表面粗糙度检测设备，包括工作台（1）和壳体（7），所述的工作台（1）的下表面四角固定有竖直的支撑柱，所述的工作台（1）的上表面两端固定有竖直的立柱（2），立柱（2）的顶端转动连接有水平的转动辊（3），转动辊（3）上设置有传送带（4），左端的立柱（2）上设置有转动盘（13），转动盘（13）与转动辊（3）固定连接，其特征在于，所述的工作台（1）的左端固定安装有电机（15），电机（15）的输出轴垂直连接有驱动盘（14），转动盘（13）与驱动盘（14）通过皮带（16）连接，驱动盘（14）带动转动盘（13）转动；
所述的传送带（4）外表面固定设置有放置台（8），立柱（2）之间的工作台（1）上设置有壳体（7），壳体（7）的顶端固定安装有气缸（10），气缸（10）内设置有竖直的升降杆（11），升降杆（11）的底部设置有用于检测粗糙度的探针（9），壳体（7）的右侧壁上开设有进样口（6），所述的工作台（1）的近端侧面设置有操作显示屏（17）。
2.根据权利要求1所述的一种陶瓷表面粗糙度检测设备，其特征在于，所述的放置台（8）上开设有横向的安装槽（18），安装槽（18）内设置有水平的导向杆（21），导向杆（21）上嵌套有夹紧块（20），夹紧块（20）外侧的导向杆（21）上嵌套有弹簧（19），弹簧（19）的两端固定连接在夹紧块（20）和放置台（8）上。
3.根据权利要求2所述的一种陶瓷表面粗糙度检测设备，其特征在于，所述的夹紧块（20）为短边向内的直角梯形结构。
4.根据权利要求3所述的一种陶瓷表面粗糙度检测设备，其特征在于，所述的立柱（2）之间的工作台（1）上表面固定有支撑台（12），支撑台（12）为竖直放置的T字型结构。
5.根据权利要求4所述的一种陶瓷表面粗糙度检测设备，其特征在于，所述的进样口（6）的底部转动连接有转动轮（5）。
6.根据权利要求5所述的一种陶瓷表面粗糙度检测设备，其特征在于，所述的气缸（10）的一侧的壳体（7）顶端固定安装有X射线发生器（24）。
7.根据权利要求6所述的一种陶瓷表面粗糙度检测设备，其特征在于，所述的放置台（8）的右侧传送带（4）上固设有密封塞（22），所述的进样口（6）和密封塞（22）均为短边向左的直角梯形结构。
8.根据权利要求7所述的一种陶瓷表面粗糙度检测设备，其特征在于，所述的进样口（6）上设置有传感器（23），传感器（23）与电机（15）、气缸（10）电性连接。

说明书全文

一种陶瓷表面粗糙度检测设备

技术领域

[0001] 本实用新型涉及新材料检测设备技术领域，具体是一种陶瓷表面粗糙度检测设备。

背景技术

[0002] 陶瓷品即可以作为艺术品供人观赏，也可以作为建筑材料应用于建造房屋，它的性能直接关系到它的观赏价值以及应用价值；现有的陶瓷检测设备在使用的过程中存在一定的弊端，在干燥的环境中，检测设备会产生静电，静电会干扰粗糙度的检测。在检测的过程中，陶瓷会发生滑动，增加误操作的概率。

[0003] 中国专利（公告号：CN 201811716 U,公告日：2011.04.27）公开了一种既能够快速、准确的检测出被检陶瓷板技术参数，又能够根据检测结果对陶瓷板进行标记处理的陶瓷板检测设备，它包括输送机构和支架，所述设有输送机构位于支架内，位于输送机构上方支架的四边分别设有线性激光发射器且角度可调，线性激光发射器从上往下斜射的线性激光线在输送机构的输送面上形成矩形线性激光框。支架与输送机构相交部上部的四角分别设有超高分辨率工业相机，超高分辨率工业相机信号输出端与计算机信号输入端连接。但是这种检测设备没有固定装置，检测过程中样品容易移动。实用新型内容

[0004] 本实用新型的目的在于提供一种陶瓷表面粗糙度检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

[0005] 为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

[0006] 一种陶瓷表面粗糙度检测设备，包括工作台和壳体。所述的工作台的下表面四角固定有竖直的支撑柱，支撑柱对工作台有支撑作用。所述的工作台的上表面两端固定有竖直的立柱，立柱的顶端转动连接有水平的转动辊，转动辊可以在立柱上自由转动。转动辊上设置有传送带，左端的立柱上设置有转动盘，转动盘与转动辊固定连接并且同轴转动。所述的工作台的左端固定安装有电机，电机的输出轴垂直连接有驱动盘，在电机驱动下，驱动盘与电机的输出轴同轴转动。转动盘与驱动盘通过皮带连接，驱动盘带动转动盘转动，从而使传送带转动。所述的传送带外表面固定设置有放置台，放置台上放置需要检测的陶瓷部件。

[0007] 所述的立柱之间的工作台上设置有壳体，壳体的顶端固定安装有气缸，气缸内设置有竖直的升降杆，升降杆的底部设置有用于检测粗糙度的探针。在气缸的驱动下，探针随着升降杆伸缩而升降。探针对进入壳体内的陶瓷部件进行粗糙度检测。所述的壳体的右侧壁上开设有进样口，进样口的设置，方便放置台与陶瓷部件进入壳体内进行检测。所述的工作台的近端侧面设置有操作显示屏，操作显示屏与电机、气缸、探针电性连接，操作显示屏控制电机和气缸运转，探针将检测数据显示在操作显示屏上。

[0008] 作为本实用新型进一步的方案：所述的放置台上开设有横向的安装槽，安装槽内设置有水平的导向杆，导向杆上嵌套有夹紧块，夹紧块为短边向内的直角梯形结构，夹紧块可以在导向杆上自由滑动。夹紧块外侧的导向杆上嵌套有弹簧，弹簧的两端固定连接在夹紧块和放置台上。将需要检测的陶瓷部件放置在两个夹紧块之间，在弹簧作用下，夹紧块将陶瓷部件夹紧，避免检测过程中陶瓷部件移动，造成检测不准。

[0009] 作为本实用新型进一步的方案：所述立柱之间的工作台上表面固定有支撑台，支撑台为竖直放置的T字型结构，支撑台的设置对放置台有支撑作用，避免放置台检测时受压力向下移动，造成检测不准。

[0010] 作为本实用新型进一步的方案：所述的进样口的底部转动连接有转动轮，转动轮可以在壳体内自由转动，转动轮设置在传送带的下表面，转动轮的设置减少传送带与壳体的摩擦力，保护传送带不受损伤。

[0011] 作为本实用新型进一步的方案：所述的气缸的一侧的壳体顶端固定安装有X射线发生器，X射线发生器可以对检测中的陶瓷部件发射X射线，消除测试过程中产生的静电。

[0012] 作为本实用新型进一步的方案：所述的放置台的右侧传送带上固设有密封塞，所述的进样口和密封塞均为短边向左的直角梯形结构。检测过程中，密封塞将进样口密封，将X射线密封在壳体内。

[0013] 作为本实用新型进一步的方案：所述的进样口上设置有传感器，传感器与电机、气缸电性连接，传感器感应到密封塞时，电机停止转动，气缸使探针下降进行检测。

[0014] 与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：使用气缸控制探针的升降，使调节更加方便，实现了自动化控制。使用传送带进行传送，实现了连续检测，提高了工作效率。使用夹紧块对陶瓷进行固定，避免了检测过程中样品移动，造成检测错误。采用压力传感器控制传送带，避免了传送导致设备损坏，提高了检测设备的安全性，使检测更为顺利。X射线消除静电，使检测更为准确。使用壳体和密封塞密封，避免了X射线的泄漏，保证了测试人员的健康安全。本设备结构简单、容易操作、安全性高、定位精确、可实现连续检测。附图说明

[0015] 图1为一种陶瓷表面粗糙度检测设备实施例1的结构示意图。

[0016] 图2为一种陶瓷表面粗糙度检测设备中放置台的俯视结构示意图。

[0017] 图3为一种陶瓷表面粗糙度检测设备实施例2的结构示意图。

[0018] 图中，工作台1，立柱2，转动辊3，传送带4，转动轮5，进样口6，壳体7，放置台8，探针9，气缸10，升降杆11，支撑台12，转动盘13，驱动盘14，电机15，皮带16，操作显示屏17，安装槽18，弹簧19，夹紧块20，导向杆21，密封塞22，传感器23，X射线发生器24。

具体实施方式

[0019] 下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。

[0020] 实施例1

[0021] 请参阅图1-2，一种陶瓷表面粗糙度检测设备，包括工作台1和壳体7。所述的工作台1的下表面四角固定有竖直的支撑柱，支撑柱对工作台1有支撑作用。所述的工作台1的上表面两端固定有竖直的立柱2，立柱2的顶端转动连接有水平的转动辊3，转动辊3可以在立柱2上自由转动。转动辊3上设置有传送带4，左端的立柱2上设置有转动盘13，转动盘13与转动辊3固定连接并且同轴转动。所述的工作台1的左端固定安装有电机15，电机15的输出轴垂直连接有驱动盘14，在电机15驱动下，驱动盘14与电机15的输出轴同轴转动。转动盘13与驱动盘14通过皮带16连接，驱动盘14带动转动盘13转动，从而使传送带4转动。

[0022] 所述的传送带4外表面固定设置有放置台8，放置台8上放置需要检测的陶瓷部件。放置台8上开设有横向的安装槽18，安装槽18内设置有水平的导向杆21，导向杆21上嵌套有夹紧块20，夹紧块20为短边向内的直角梯形结构，夹紧块20可以在导向杆21上自由滑动。夹紧块20外侧的导向杆21上嵌套有弹簧19，弹簧19的两端固定连接在夹紧块20和放置台8上。
将需要检测的陶瓷部件放置在两个夹紧块20之间，在弹簧19作用下，夹紧块20将陶瓷部件夹紧，避免检测过程中陶瓷部件移动，造成检测不准。所述立柱2之间的工作台1上表面固定有支撑台12，支撑台12为竖直放置的T字型结构，支撑台12的设置对放置台8有支撑作用，避免放置台8检测时受压力向下移动，造成检测不准。

[0023] 所述的立柱2之间的工作台1上设置有壳体7，壳体7将部分传送带4和支撑台12覆盖在内，壳体7的顶端固定安装有气缸10，气缸10内设置有竖直的升降杆11，升降杆11的底部设置有用于检测粗糙度的探针9。在气缸10的驱动下，探针9随着升降杆11伸缩而升降。探针9对进入壳体7内的陶瓷部件进行粗糙度检测。所述的壳体7的右侧壁上开设有进样口6，进样口6的设置，方便放置台8与陶瓷部件进入壳体7内进行检测。所述的进样口6的底部转动连接有转动轮5，转动轮5可以在壳体7内自由转动，转动轮5设置在传送带4的下表面，转动轮5的设置减少传送带4与壳体7的摩擦力，保护传送带4不受损伤。所述的工作台1的近端侧面设置有操作显示屏17，操作显示屏17与电机15、气缸10、探针9电性连接，操作显示屏17控制电机15和气缸10运转，探针9将检测数据显示在操作显示屏17上。

[0024] 本实用新型的工作原理是：将设备连接电源，通过操作显示屏17设定检测速率和探针9下降距离。将需要检测的陶瓷部件放置在两个夹紧块20之间，在弹簧19作用下，夹紧块20将陶瓷部件夹紧。启动电机15，传送带4转动将陶瓷部件传送到壳体7内。气缸10启动，使探针9下降与陶瓷部件上表面接触并进行粗糙度检测，检测数据显示在操作显示屏17上。检测结束后，探针9上升，电机15反向转动使陶瓷部件从进样口6传送出来，取出陶瓷部件即可。

[0025] 实施例2

[0026] 请参阅图3，在实施例1的基础上，所述的气缸10的一侧的壳体7顶端固定安装有X射线发生器24，X射线发生器24可以对检测中的陶瓷部件发射X射线，消除测试过程中产生的静电。所述的放置台8的右侧传送带4上固设有密封塞22，所述的进样口6和密封塞22均为短边向左的直角梯形结构。检测过程中，密封塞22将进样口6密封，将X射线密封在壳体7内。所述的进样口6上设置有传感器23，传感器23与电机15、气缸10电性连接，传感器23感应到密封塞22时，电机16停止转动，气缸10使探针9下降进行检测。

[0027] 上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明，但是本专利并不限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利宗旨的前提下做出各种变化。

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