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Method and device for estimating reliability of software

阅读:190发布:2022-01-21

专利汇可以提供Method and device for estimating reliability of software专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且PURPOSE: To eliminate such an evil that an unreasonable analyzed result in the viewpoint of the evaluation of the reliability of software is presented, and to select the regression model of better adaptation, and to display the result quantitatively.
CONSTITUTION: Plural techniques to calculate the best fit coefficients of the regression model are provided, and program routine to select the regression model of the better adaptation by excluding the unreasonable result of regression analysis by a first deciding stage 53, and simultaneously, selecting the regression model reasonable for the accumulation curve of a bug obtained from an acquired bug data group, and besides, comparing error functions quantitatively by a second deciding means 55 is incorporated. The reasonable analyzed result can be presented for various kinds of the software, and the reliability is improved.
COPYRIGHT: (C)1993,JPO&Japio,下面是Method and device for estimating reliability of software专利的具体信息内容。

【特許請求の範囲】
  • 【請求項1】 ソフトウェアの試験工程で発生するバグを回帰分析し、その分析結果を用いて品質状況を把握するソフトウェア信頼度の推定方法において、前記取得されたバグ・データ群を算出法の異なる回帰モデルで回帰分析し、前記バグ・データ群の累積曲線から得られる取得バグの累積総数と、算出法の異なる回帰モデルから得られる予測バグ総数を比較判定するとともに、前記バグ・データ群の累積曲線と算出法の異なる回帰モデルとの曲線間のずれを誤差関数によって比較判定し、最適な回帰モデルの算出法を選定して回帰分析結果とすることを特徴とするソフトウェア信頼度の推定方法。
  • 【請求項2】 ディスプレイ・ユニットと、キーボードと、プリンタと、以下のプログラム・ルーチンが記憶されるメモリと、このメモリの内容に従って実行する中央処理装置とを備え、入力されたデータ群を回帰分析し、
    その処理結果を前記ディスプレイ・ユニットで目視できるとともに、前記プリンタのプリント出力として得られるよう構成したことを特徴とするソフトウェア信頼度の推定装置。 (イ)前記、入力されたデータ群を算出法の異なる回帰モデルで回帰分析し、各々のベスト・フィット係数、予測バグ総数および曲線間の数値的なずれを求める第1のプログラム・ルーチン。 (ロ)前記、入力されたデータ群から得られる取得バグの累積総数と、前記各々の回帰モデルから得られる予測バグ総数を比較判定し、数の大小に応じて回帰モデルを選定するか、もしくはコメントを表示する第2のプログラム・ルーチン。 (ハ)前記、比較条件を満たしたものに対し、前記曲線間の数値的ずれを比較判定し、前記入力されたデータ群の累積曲線に適した回帰モデルを選定する第3のプログラム・ルーチン。 (ニ)前記、入力されたデータ群の累積曲線と、選定された回帰モデルとを同一画面上に図化表示する第4のプログラム・ルーチン。 (ホ)前記、同一画面上に図化表示した内容およびデータ処理によって得られた所要の項目をプリント出力する第5のプログラム・ルーチン。
  • 说明书全文

    【発明の詳細な説明】

    【0001】

    【産業上の利用分野】この発明はソフトウェアの品質管理における信頼度の推定方法および装置に関するものである。

    【0002】

    【従来の技術】近年、計算機プログラムに代表されるソフトウェアの品質管理において、バグ成長曲線を用いた信頼度の推定法が盛んに用いられている。 この技法はソフトウェアの開発・試験工程で得られるバグの時系列を回帰分析することによって、科学的にその品質状況を把握できるため便利である。

    【0003】まず、従来例について図1および図4を用いて説明する。 図1中、1は情報処理装置、2はコンピュータ(FDD付き)、3はディスプレイ・ユニット、
    4はプリンタ、5はキーボード、6はフロッピー・ディスクである。 プログラム・ルーチンが記憶されたフロッピー・ディスク6をコンピュータ(FDD付き)2に挿入し、オペレーション・ソフトを起動して情報処理装置1をスタートさせる。 フロッピー・ディスク6からプログラム・ルーチンがロードされ、入待ち状態となる。
    図4は従来例の説明のためのフローチャートであり、その動作を以下に示す。 ステップ50はキーボード5からのバグの取得データのキー入力であり、例えば、毎日得られたバグ数を連続的に入力する段階である。 ステップ51はこれらのデータ群を回帰分析し、回帰モデル(ゴンペルツ曲線やロジスティック曲線など)のベスト・フィット係数を算出する処理段階である。 ステップ57はデータ群の累積曲線と回帰分析結果を同一画面上に表示する段階であり、ステップ58は図化表示内容およびデータ処理によって得られた所要の項目をプリント出力する段階である。 ディスプレイ・ユニット3は上記ステップ57のハードウェアであり、プリンタ4は上記ステップ58のハードウェアに相当する。

    【0004】

    【発明が解決しようとする課題】上述したように従来のソフトウェア信頼度の推定方法および装置においては、
    ベスト・フィットと称する回帰モデルを必ず求めるものの、取得されたデータ群の累積曲線に必ずしも優れた適合性を示してはいなかった。 また、まれに期待に反するような分析結果が出力されても、対策を打てないことも問題点であった。

    【0005】この発明は上記のような課題を解消するためになされたもので、期待に反する分析結果を出力としない対策を施すとともに、取得したデータ群の累積曲線と回帰モデルのずれをわかりやすい定量表示することを目的とする。

    【0006】

    【課題を解決するための手段】この発明によるソフトウェア信頼度の推定方法および装置は、同一の回帰モデルにおけるベスト・フィット係数の算出法を複数準備し、
    その指標を比較判定して妥当な回帰モデルを選定するとともに、曲線間のずれを誤差関数で比較判定し、より適合性の優れたものを選び出すよう工夫を加えたものである。

    【0007】

    【作用】算出法の異なる回帰モデルの中から適合性の優れたものを選び出すということは、様々な形状を示すフィールドデータ群に対し、幅広く妥当な分析結果を出力することが可能となる。

    【0008】

    【実施例】

    実施例1. 図1、図2および図3はこの発明のソフトウェア信頼度の推定方法および装置の実施例を説明するための図であり、図1中で、1は情報処理装置、2はコンピュータ(FDD付き)、3はディスプレイ・ユニット、4はプリンタ、5はキーボード、6はフロッピー・
    ディスクである。 この発明のハードウェア構成は従来例と変わらず、プログラム・ルーチンが記憶されたフロッピー・ディスク6をコンピュータ(FDD付き)2に挿入し、オペレーション・ソフトを起動して、情報処理装置1をスタートさせる。 プログラム・ルーチンがロードされ入力待ちの状態となる。 キーボード5からキー入力すれば、プログラム・ルーチンが動作し、ディスプレイ・ユニット3に処理結果の図表を表示し、また、プリンタ4に処理結果および所要事項のプリント出力を出すことになる。

    【0009】ここで、いわゆる回帰分析について簡単に説明しよう。 図3は分析結果の一例を示すものである。
    衆知のようにソフトウェアの開発・試験工程でデバッグ作業が行なわれるが、これはソフトウェアの品質を向上させるためのバグ取り作業であり、横軸xに時間もしくは期間をとり、たて軸yに取得したバグの累積総数をとる図をバグ成長曲線と称している。 取得したバグデータの累積曲線をG(x)とし、x 0から初めてx 1まで進み、この時y 1のバグが得られたとする。 曲線G(x)
    を多数見ていると個有の数式に類似していることがわかるが、この個有の数式が回帰モデルと言われるものである。 任意の係数の個有の数式F(x)において、曲線G
    (x)にベスト・フィットするF(x)の係数を決めるのが回帰分析である。 バグはいつか出なくなることから、通常回帰モデルは飽和曲線が用いられる。 F(x)
    が決まりx mで収束したとすれば、F(x m )であるK
    が予測バグ総数であり、Kとy 1の差であるLが残存バグ数となる。 また、全てのバグを検出するには、さらに、x mとx 1の差の期日を要することがわかる。 さて、上述したような妥当な分析結果に対し、まれに、バグの累積総数y 1が予測バグ総数Kを上回ることがある。 特に、バグの累積総数y 1が比較的少ない場合や、
    複数のコブ状の累積曲線の場合などに見られ、これでは予測値として好ましくない。

    【0010】回帰分析の信頼性はより適合度の優れた回帰モデルの選定を前提とするが、以下、この発明の選定法について説明する。 代表的な回帰モデルであるゴンペルツ関数は以下の式で与えられる。

    【0011】

    【数1】

    【0012】数1において、a,bはサンプルデータから計算される係数、Kは全てのデータを用いて計算される予測バグ総数である。 ここで、回帰分析における微係数の算出法が近似式であることに注目し、以下の2つの式を定義する。

    【0013】

    【数2】

    【0014】

    【数3】

    【0015】数2は上述した微係数の算出に2つのサンプル点を用いる方式に対応し、数3は3つのサンプル点を用いる方式に対応する。 数2を用いて求めた回帰モデルをF A (x)、予測バグ総数をK Aとし、数3を用いて求めた回帰モデルをF B (x)、予測バグ総数をK B
    とする。 また、バグの累積曲線G(x)と回帰モデルF
    (x)を用いて、以下の関数を定義する。

    【0016】

    【数4】

    【0017】数4は、誤差率と称することとする。 ここに、x 0 、x 1は積分区間である。 誤差率εはいわば2
    つの関数F(x)、G(x)のずれを定量的に表示させるものであり、2つの関数が重なり合った場合零になる。 すなわち、誤差率の小さいことが優れた適合度を示すと考えられる。 ここでF(x)としてF A (x)を用いた時の誤差率をε A 、F(x)としてF B (x)を用いた時の誤差率をε Bとおく。

    【0018】図2はこの発明の実施例を説明するためのフローチャートであり、その動作を順を追って説明する。 ステップ50は取得されたバグ・データ群のキー入力段階であり、ステップ51,52はそれぞれ上述したF A (x),K A ,ε AおよびF B (x),K B ,ε B
    を求める処理段階である。 ステップ53は予測バグ総数K A ,K Bとバグの累積総数y 1の比較判定段階であり、K A ,K Bともにy 1より大きい場合、K AかK B
    の一方のみがy 1より大きい場合およびK A ,K Bともにy 1以下の場合の4通りに区分される。 K Aのみy 1
    より大きい場合、ステップ54AでF(x)にF
    A (x)が割り当てられ、また、K Bのみy 1より大きい場合、ステップ54BでF(x)にF B (x)が割り当てられる。 なお、K A ,K Bともにy 1以下の場合、
    ステップ54Cにおいて“回帰分析結果が妥当でない”
    などのコメントを表示する。 K A ,K Bともにy 1より大きい場合、ステップ55の第2比較判定段階に至る。
    この場合、ε A ,ε Bの大小関係を比較し、ε Aがε B
    より小さい場合、ステップ56AでF(x)にF
    A (x)が割り当てられ、また、ε Bがε Aより小さいか、等しい場合、ステップ56BでF(x)にF
    B (x)が割り当てられる。 こうして、最適の回帰モデルF(x)が選定され、ステップ57でデータ群の累積曲線と回帰分析結果を同一画面上に表示し、そして、ステップ58で図化表示内容およびデータ処理によって得られた所要の項目をプリント出力する。

    【0019】実施例2. なお、上記実施例では回帰モデルとしてゴンペルツ関数を用いた場合について説明したが、別種の回帰モデルであってもよく、実施例と同様の効果をもつ。 また、上記実施例では回帰モデルの算出法として、サンプル点を2点使う例と3点使う例について説明したが、これに限らず、4点使った場合でも、また、複数個のサンプル点に重みをつけた場合でも、実施例と同様の効果をもつ。

    【0020】

    【発明の効果】以上説明したように、この発明のソフトウェア信頼度の推定方法および装置によれば、算出法の異なる回帰モデルを用いて、分析結果に妥当性をもたせるとともに、取得データから得られるバグ累積曲線により良く適合するものを選定するような構成としたため、
    多種様々なソフトウェアに対し、幅広くより高い信頼性を保証することができる。 また、誤差率の導入により、
    曲線間の適合度を定量的に把握できるようになり、取り扱いも便利になる。

    【図面の簡単な説明】

    【図1】この発明の実施例によるシステム構成図である。

    【図2】この発明の動作を説明するためのフローチャートである。

    【図3】この発明の分析結果の一例を示す説明図である。

    【図4】従来例を示すフローチャートである。

    【符号の説明】

    1 情報処理装置 2 コンピュータ(FDD付き) 3 ディスプレイ・ユニット 4 プリンタ 5 キーボード 6 フロッピー・ディスク 50 キー入力段階 51 データ処理段階1 52 データ処理段階2 53 判定段階1 54 選定段階1 55 判定段階2 56 選定段階2 57 表示段階 58 プリント段階

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