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一种接 插件检测治具

阅读：882发布：2020-05-08

专利汇可以提供一种接插件检测治具专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型涉及一种接插件检测治具，包括固定底座、探针导套以及探针，所述固定底座包括下压块、连接块和椭圆柱筒，所述固定底座上设有倒钩，所述倒钩通过圆柱销与连接块活动连接，所述倒钩上还设有弹簧，所述弹簧的两端分别与倒钩和椭圆柱筒固定连接，所述下压块通过第一锁紧螺钉与连接块固定连接，所述探针导套通过第二锁紧螺钉与椭圆柱筒上端面固定连接，所述探针导套上设有针孔，所述探针与椭圆柱筒上的圆柱套筒配合连接。本实用新型结构简单，可拆卸更换，方便检修，可很好的保护产品表面不出现划痕现象，避免检测对产品表面带来磨损，且有利于节约生产成本。，下面是一种接插件检测治具专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种接插件检测治具，其特征在于：包括固定底座(1)、探针导套(2)以及探针(3)，所述固定底座(1)包括下压块(110)、连接块(111)和椭圆柱筒(112)，所述固定底座(1)上设有倒钩(10)，所述倒钩(10)通过圆柱销(4)与连接块(111)活动连接，所述倒钩(10)上还设有弹簧(5)，所述弹簧(5)的两端分别与倒钩(10)和椭圆柱筒(112)固定连接，所述下压块(110)通过第一锁紧螺钉(6)与连接块(111)固定连接，所述探针导套(2)通过第二锁紧螺钉(7)与椭圆柱筒(112)上端面固定连接，所述探针导套(2)上设有针孔(20)，所述探针(3)与椭圆柱筒(112)上的圆柱套筒(8)配合连接。
2.根据权利要求1所述的一种接插件检测治具，其特征在于：所述连接块(111)的截面呈C形。
3.根据权利要求1所述的一种接插件检测治具，其特征在于：所述椭圆柱筒(112)的大小与连接块(111)的内腔相适应，且所述椭圆柱筒(112)的高度高于连接块(111)的高度。
4.根据权利要求1所述的一种接插件检测治具，其特征在于：所述探针导套(2)的大小与椭圆柱筒(112)的大小相适应。
5.根据权利要求1所述的一种接插件检测治具，其特征在于：所述探针(3)的高度低于探针导套(2)的高度，且探针(3)的针头为圆柱状。
6.根据权利要求1所述的一种接插件检测治具，其特征在于：所述针孔(20)的数量为若干个，且所述针孔(20)阵列排布于探针导套(2)上。
7.根据权利要求1所述的一种接插件检测治具，其特征在于：所述圆柱套筒(8)的位置与针孔(20)的位置相对应。
8.根据权利要求1所述的一种接插件检测治具，其特征在于：所述倒钩(10)与连接块(111)的开口形状相配合，且所述倒钩(10)的高度高于连接块(111)开口的高度。
9.根据权利要求1所述的一种接插件检测治具，其特征在于：所述弹簧(5)的数量为两个，且沿倒钩(10)竖直方向阵列于圆柱销(4)下方位置。

说明书全文

一种接插件检测治具

技术领域

[0001] 本实用新型涉及一种治具技术领域，具体涉及一种接插件检测治具。

背景技术

[0002] 接插件在电子元器件完成生产后，需要对接插件进行检测是否导通。

[0003] 现有的对于接插件的检测方法是通过两侧压紧式的硬性接触方法，即直接将待检测产品伸入两个弹性导电片之间，然后将弹性导电片撑开一定距离再进行检测，这样的方式显然会增大对产品的磨损度，使得产品表面出现划痕，另外，检测治具里的检测元件不可拆卸更换，不易检修，一旦有零件损坏就面临整体报废的后果，造成极大程度上的浪费生产成本。实用新型内容

[0004] 本实用新型的目的是：提供一种接插件检测治具，结构简单，利用端接触的检测方法，使得待检测产品不会发生相对滑动，因此不会对产品表面造成划痕，而且可拆卸更换，方便检修，有利于节约生产成本。

[0005] 为了实现上述目的，本实用新型提供如下的技术方案：

[0006] 一种接插件检测治具，包括固定底座、探针导套以及探针，所述固定底座包括下压块、连接块和椭圆柱筒，所述固定底座上设有倒钩，所述倒钩通过圆柱销与连接块活动连接，所述倒钩上还设有弹簧，所述弹簧的两端分别与倒钩和椭圆柱筒固定连接，所述下压块通过第一锁紧螺钉与连接块固定连接，所述探针导套通过第二锁紧螺钉与椭圆柱筒上端面固定连接，所述探针导套上设有针孔，所述探针与椭圆柱筒上的圆柱套筒配合连接。

[0007] 进一步地，所述连接块的截面呈C形。

[0008] 进一步地，所述椭圆柱筒的大小与连接块的内腔相适应，且所述椭圆柱筒的高度高于连接块的高度。

[0009] 进一步地，所述探针导套的大小与椭圆柱筒的大小相适应。

[0010] 进一步地，所述探针的高度低于探针导套的高度，且探针的针头为圆柱状。

[0011] 进一步地，所述针孔的数量为若干个，且所述针孔阵列排布于探针导套上。

[0012] 进一步地，所述圆柱套筒的位置与针孔的位置相对应。

[0013] 进一步地，所述倒钩与连接块的开口形状相配合，且所述倒钩的高度高于连接块开口的高度。

[0014] 进一步地，所述弹簧的数量为两个，且沿倒钩竖直方向阵列于圆柱销下方位置。

[0015] 本实用新型的有益效果为：一种接插件检测治具，结构简单，利用端接触的检测方法，使得待检测产品不会发生相对滑动，因此不会对产品表面造成划痕，而且可拆卸更换，方便检修，有利于节约生产成本。附图说明

[0016] 图1为本实用新型一种接插件检测治具的整体结构示意图；

[0017] 图2为本实用新型一种接插件检测治具的整体结构俯视图；

[0018] 图3为图2中A-A剖面的剖视图。

[0019] 图中：1、固定底座；10、倒钩；110、下压块；111、连接块；112、椭圆柱筒；2、探针导套；20、针孔；3、探针；4、圆柱销；5、弹簧；6、第一锁紧螺钉；7、第二锁紧螺钉；8、圆柱套筒。

具体实施方式

[0020] 为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型作进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

[0021] 参考图1至图3，一种接插件检测治具，包括固定底座1、探针导套2以及探针3，所述固定底座1包括下压块110、连接块111和椭圆柱筒112，所述固定底座1上设有倒钩10，所述倒钩10通过圆柱销4与连接块111活动连接，所述倒钩10上还设有弹簧5，所述弹簧5的两端分别与倒钩10和椭圆柱筒112固定连接，所述下压块110通过第一锁紧螺钉6与连接块111固定连接，所述探针导套2通过第二锁紧螺钉7与椭圆柱筒112上端面固定连接，所述探针导套2上设有针孔20，所述探针3与椭圆柱筒112上的圆柱套筒8配合连接。

[0022] 所述连接块111的截面呈C形，此设计可保证倒钩10的空间。

[0023] 所述椭圆柱筒112的大小与连接块111的内腔相适应，且所述椭圆柱筒112的高度高于连接块111的高度，所述椭圆柱筒112用于与待检测产品相配合，所述连接块111用于固定圆柱套筒8以及探针导套2，所述圆柱套筒8用于连接探针3，且起到保护作用。

[0024] 所述探针导套2的大小与椭圆柱筒112的大小相适应，所述探针导套2用于固定探针3。

[0025] 所述探针3的高度低于探针导套2的高度，且探针3的针头为圆柱状，这样可保证待检测产品有空间与探针3接触，且可保护待检测产品表面不被磨损。

[0026] 所述针孔20的数量为若干个，且所述针孔20阵列排布于探针导套2上，所述针孔20用于配合探针3。

[0027] 所述圆柱套筒8的位置与针孔20的位置相对应，此设计可保证探针3在同一轴线上。

[0028] 所述倒钩10与连接块111的开口形状相配合，且所述倒钩10的高度高于连接块111开口的高度，所述倒钩10用于固定待检测产品和固定底座1，保证待检测产品与治具充分稳定接触。

[0029] 所述弹簧5的数量为两个，且沿倒钩10竖直方向阵列于圆柱销4下方位置，所述弹簧5可使倒钩10自动复位，所述圆柱销4可使倒钩10转动角度。

[0030] 本实用新型的工作原理为：将探针导套2上的针孔20与待检测产品的位置相对应，进而将探针导套2和椭圆柱筒112插入待检测产品中，随后将倒钩10固定在待检测产品的卡块上，最后由探针2控制端发出检测信号。

[0031] 上述实施例用于对本实用新型作进一步的说明，但并不将本实用新型局限于这些具体实施方式。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应理解为在本实用新型的保护范围之内。

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