显示装置、感测电路和源极驱动器集成电路
阅读：874发布：2020-05-11
专利汇可以提供显示装置、感测电路和源极驱动器集成电路专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 的源极 驱动器 集成 电路 包括：感测电路，用于经由连接至 像素 的感测线来接收针对所述像素的感测 信号 ，对所述感测信号进行转换以生成感测数据，并且在从所述感测线接收到超出输入范围的异常信号的情况下生成故障信号；以及数据驱动电路，用于从 数据处理 电路接收被处理成根据所述感测数据来补偿的图像数据和反映了所述故障信号的数据 控制信号 ，对所述图像数据进行转换以生成数据 电压 ，并且根据所述数据控制信号来控制向所述像素的所述数据电压的供给。，下面是显示装置、感测电路和源极驱动器集成电路专利的具体信息内容。
1.一种源极驱动器集成电路，包括：
感测电路，其被配置为经由连接至像素的感测线来接收针对所述像素的感测信号，对所述感测信号进行转换以生成感测数据，并且在经由所述感测线接收到超出输入范围的异常信号的情况下生成故障信号；以及
数据驱动电路，其被配置为从数据处理电路接收根据所述感测数据进行补偿后的图像数据和反映所述故障信号的数据控制信号，对所述图像数据进行转换以生成数据电压，并且根据所述数据控制信号来控制向所述像素的所述数据电压的供给。
2.根据权利要求1所述的源极驱动器集成电路，其中，所述感测电路包括用于生成所述感测数据的感测单元和用于生成所述故障信号的故障处理单元，
其中，所述故障处理单元经由从所述感测线分支出的线来接收所述感测信号，并且在所述感测信号超出输入范围的情况下生成所述故障信号。
3.根据权利要求1所述的源极驱动器集成电路，其中，所述数据处理电路分析所述故障信号，以识别所述感测线或者与超出输入范围的异常信号相对应的像素。
4.根据权利要求1所述的源极驱动器集成电路，其中，所述数据处理电路分析所述故障信号，以判断超出输入范围的异常信号是否是由临时原因引起的。
5.根据权利要求1所述的源极驱动器集成电路，其中，所述数据处理电路根据所述故障信号来生成所述数据控制信号，以防止所述数据驱动电路供给所述数据电压。
6.根据权利要求1所述的源极驱动器集成电路，其中，所述感测电路包括用于将所述感测信号转换成所述感测数据的模数转换电路，
其中，所述输入范围与所述模数转换电路的输入范围相对应。
7.根据权利要求6所述的源极驱动器集成电路，其中，在所述感测信号超出输入范围的情况下，所述感测电路阻断所述感测信号向所述模数转换电路的输入或者转移所述感测信号。
8.根据权利要求1所述的源极驱动器集成电路，其中，所述像素包括经由第一节点连接的有机发光二极管和驱动晶体管，并且所述感测线连接至所述第一节点。
9.根据权利要求1所述的源极驱动器集成电路，其中，所述感测电路包括用于生成所述感测数据的感测单元和用于生成所述故障信号的故障处理单元，
其中，所述故障处理单元串联连接在所述像素和所述感测单元之间，并且在所述感测信号超出输入范围的情况下，阻断所述像素和所述感测单元之间的连接以防止所述感测信号被发送至所述感测单元。
10.根据权利要求1所述的源极驱动器集成电路，其中，所述感测电路包括用于生成所述感测数据的感测单元和用于生成所述故障信号的故障处理单元，
其中，在所述感测单元的感测值或通过所述感测数据识别出的所述感测信号超出输入范围的情况下，所述故障处理单元生成所述故障信号。
11.一种显示装置，包括：
感测电路，其被配置为经由连接至像素的感测线来接收针对所述像素的感测信号，对所述感测信号进行转换以生成感测数据，并且在经由所述感测线接收到超出输入范围的异常信号的情况下生成故障信号；以及
数据处理电路，其被配置为接收所述感测数据和所述故障信号，根据所述感测数据来对图像数据进行补偿，并且将所述故障信号反映到数据控制信号和电力控制信号至少之一；
数据驱动电路，其被配置为接收所述图像数据和所述数据控制信号，对所述图像数据进行转换以生成数据电压，并且根据所述数据控制信号来控制向所述像素的所述数据电压的供给；以及
电源电路，其被配置为根据所述电力控制信号来控制向所述像素的驱动电压的供给。
12.根据权利要求11所述的显示装置，其中，所述数据处理电路通过反映所述故障信号来生成所述电力控制信号，并且所述电源电路根据反映所述故障信号的所述电力控制信号来切断向所述像素的驱动电压的供给。
13.根据权利要求11所述的显示装置，其中，所述图像数据的通信协议是嵌入有时钟信号的嵌入式时钟类型，所述数据处理电路和所述数据驱动电路经由锁定信号线连接以识别所述通信协议中的时钟恢复，并且所述感测电路经由所述锁定信号线发送所述故障信号。
14.根据权利要求13所述的显示装置，其中，在经由所述锁定信号线检测到表示异常的电压电平的情况下，所述数据处理电路生成所述数据控制信号或所述电力控制信号，以复位所述数据驱动电路或关断所述数据驱动电路的电源。
15.一种感测装置，用于感测面板上的像素的特性，在所述面板上布置有多个像素和分别与所述多个像素连接的多个感测线，所述感测装置包括：
感测单元，其被配置为经由所述感测线来接收针对所述像素的感测信号，并且对所述感测信号进行转换以生成像素感测数据；以及
故障处理单元，其被配置为在经由所述感测线接收到超出输入范围的异常信号的情况下，生成故障信号并将所述故障信号发送至数据处理电路。
显示装置、感测电路和源极驱动器集成电路
技术领域
[0001] 本发明涉及与显示装置有关的技术和用于驱动该显示装置的技术。
背景技术
[0004] 与此同时，即使在供给相同的数据电压时，各像素的亮度也可能根据该像素的特性而变化。例如，像素包括驱动晶体管。如果驱动晶体管的阈值电压改变，则即使在供给相同的数据电压时，像素的亮度也改变。如果源极驱动器不考虑像素的特性的变化，则可能以不期望的亮度驱动像素，并且图像质量可能劣化。
[0005] 具体地，像素的特性随着时间或随着周围环境而改变。在这种情况下，如果源极驱动器在不考虑改变的像素的特性的情况下供给数据电压，则可能发生图像质量的劣化、例如画面瑕疵。
[0006] 为了解决图像质量的劣化的问题，显示装置可以包括用于感测像素的特性的感测电路。
[0007] 感测电路可以经由连接至各像素的感测线来接收针对各像素的感测信号。另外，感测电路将感测信号转换成感测数据并将该感测数据发送至定时控制器，并且定时控制器通过感测数据识别各个像素的特性。另外，定时控制器通过反映各个像素的特性来对图像数据进行补偿，由此消除由于像素偏差而引起的图像质量的劣化的问题。
[0008] 与此同时，超出感测电路的输入范围的异常信号而不是正常范围内的感测信号可能被输入至感测线，这可能会损坏感测电路，并且此外，存在由于感测数据的失真而引起的像素改变的问题。
[0009] 例如，在供给数据电压所经由的数据线以及感测线发生短路的情况下，可能发生超出输入范围的异常信号。作为另一示例，在供给驱动电压所经由的驱动电压线以及感测线发生短路的情况下，可能产生超出输入范围的异常信号。作为另一示例，在数据线和驱动电压线发生短路的情况下，在感测线中也可能感测到超出输入范围的异常信号。
发明内容
[0010] 发明要解决的问题
[0011] 在该背景下，根据一方面，本发明提供用于保护驱动装置免于超出输入范围的异常信号的技术。
[0012] 根据另一方面，本发明提供用于防止由于超出输入范围的异常信号而引起的像素的劣化的技术。
[0013] 用于解决问题的方案
[0014] 为了解决上述问题，根据本发明的一方面，本发明提供一种感测装置，用于感测面板中的像素的特性，其中在所述面板中配置有多个像素和与所述多个像素连接的多个感测线，所述感测装置可以包括：感测单元，其被配置为经由所述感测线来接收针对所述像素的感测信号，并且对所述感测信号进行转换以生成像素感测数据；以及故障处理单元，其被配置为在经由所述感测线接收到超出输入范围的异常信号的情况下，生成故障信号并将所述故障信号发送至数据处理电路。
[0015] 根据另一方面，本发明提供一种源极驱动器集成电路，其可以包括：感测电路，其被配置为经由连接至像素的感测线来接收针对所述像素的感测信号，对所述感测信号进行转换以生成感测数据，并且在经由所述感测线接收到超出输入范围的异常信号的情况下，生成故障信号；以及数据驱动电路，其被配置为从数据处理电路接收根据所述感测数据进行补偿后的图像数据和反映所述故障信号的数据控制信号，对所述图像数据进行转换以生成数据电压，并且根据所述数据控制信号来控制向所述像素的所述数据电压的供给。
[0016] 在所述源极驱动器集成电路中，所述感测电路可以包括用于生成所述感测数据的感测单元和用于生成所述故障信号的故障处理单元。另外，所述故障处理单元可以经由从所述感测线分支出的线来接收所述感测信号，并且在所述感测信号超出输入范围的情况下，生成所述故障信号。
[0017] 在所述源极驱动器集成电路中，所述数据处理电路可以通过分析所述故障信号，来识别所述感测线或者与超出输入范围的异常信号相对应的像素。
[0018] 在所述源极驱动器集成电路中，所述数据处理电路可以分析所述故障信号，以判断超出输入范围的异常信号是否是由临时原因引起的。
[0019] 在所述源极驱动器集成电路中，所述数据处理电路可以根据所述故障信号来生成所述数据控制信号，以防止所述数据驱动电路供给所述数据电压。
[0020] 在所述源极驱动器集成电路中，所述感测电路可以包括用于将所述感测信号转换成所述感测数据的模数转换电路，并且所述输入范围可以与所述模数转换电路的输入范围相对应。另外，在所述感测信号超出输入范围的情况下，所述感测电路可以阻断所述感测信号向所述模数转换电路的输入或者转移所述感测信号。
[0022] 在所述源极驱动器集成电路中，所述感测电路可以包括用于生成所述感测数据的感测单元和用于生成所述故障信号的故障处理单元。所述故障处理单元可以串联连接在所述像素和所述感测单元之间，并且在所述感测信号超出输入范围的情况下，可以解除所述像素和所述感测单元之间的连接以防止所述感测信号被发送至所述感测单元。
[0023] 在所述源极驱动器集成电路中，所述感测电路可以包括用于生成所述感测数据的感测单元和用于生成所述故障信号的故障处理单元，并且在所述感测单元的感测值或通过所述感测数据识别出的所述感测信号超出输入范围的情况下，所述故障处理单元可以生成所述故障信号。
[0024] 根据另一方面，本发明提供一种显示装置，其可以包括：感测电路，其被配置为经由连接至像素的感测线来接收针对所述像素的感测信号，对所述感测信号进行转换以生成感测数据，并且在经由所述感测线接收到超出输入范围的异常信号的情况下生成故障信号；以及数据处理电路，其被配置为接收所述感测数据和所述故障信号，根据所述感测数据来对图像数据进行补偿，并且将所述故障信号反映到数据控制信号和电力控制信号至少之一；数据驱动电路，其被配置为接收所述图像数据和所述数据控制信号，对所述图像数据进行转换以生成数据电压，并且根据所述数据控制信号来控制向所述像素的所述数据电压的供给；以及电源电路，其被配置为根据所述电力控制信号来控制向所述像素的驱动电压的供给。
[0025] 在所述显示装置中，所述数据处理电路可以通过反映所述故障信号来生成所述电力控制信号，并且所述电源电路可以根据反映所述故障信号的所述电力控制信号来切断向所述像素的驱动电压的供给。
[0026] 在所述显示装置中，所述图像数据的通信协议可以是嵌入有时钟信号的嵌入式时钟方案，并且所述数据处理电路和所述数据驱动电路可以经由锁定信号线连接以识别所述通信协议中的时钟恢复。所述感测电路可以经由所述锁定信号线发送所述故障信号。另外，在经由所述锁定信号线检测到表示异常的电压电平的情况下，所述数据处理电路可以生成所述数据控制信号或所述电力控制信号，以复位所述数据驱动电路或关断所述数据驱动电路的电源。
[0027] 发明的效果
[0029] 图1是根据实施例的显示装置的结构图。
[0030] 图2是示出各像素的像素构造以及相对于图1所示的数据驱动电路、电源电路和感测电路而输入和输出的电压的图。
[0031] 图3是示出根据实施例的感测电路的第一示例的内部结构及其外围结构的图。
[0032] 图4是示出图3所示的感测电路的内部结构的图。
[0033] 图5是示出根据实施例的控制显示装置的方法的流程图。
[0034] 图6是示出根据实施例的感测电路的第二示例的内部结构及其外围结构的图。
[0035] 图7是示出根据实施例的感测电路的第三示例的内部结构及其外围结构的图。
具体实施方式
[0036] 以下将参考附图来详细说明本发明的一些实施例。关于对各个附图中的组件的附图标记，应当注意，将相同的附图标记指派至相同的组件，尽管这些组件是在不同的附图中示出的。另外，在描述本发明时，将省略可能使本发明的主题模糊不清的、对与本发明有关的众所周知的结构或功能的详细说明。
[0037] 另外，在描述本发明的组件时，可以使用诸如“第一”、“第二”、“A”、“B”、“(a)”或“(b)”等的术语。这些术语仅用于将相应组件与其它组件区分开，并且相应组件的性质、顺序或序列不受这些术语限制。在组件被描述为“耦合”、“结合”或“连接”至另一组件的情况下，应当理解，相应组件可以直接地耦合或连接至另一组件，或者相应组件也可以经由设置在该相应组件和该另一组件之间的其它组件“耦合”、“结合”或“连接”至该另一组件。
[0038] 图1是根据实施例的显示装置的结构图。
[0039] 参考图1，显示装置100可以包括面板110、以及用于驱动面板110的装置120、130、140、150和160。
[0040] 面板110可以包括配置在其上的多个数据线(DL)、多个栅极线(GL)、多个感测线(SL)、多个驱动电压线(DVL)和多个像素P。
[0041] 面板驱动装置可以包括数据驱动电路120、感测电路130、栅极驱动电路140、数据处理电路150和电源电路160等。
[0042] 在面板驱动装置中，栅极驱动电路140可以将接通电压或断开电压的扫描信号供给至栅极线(GL)。如果接通电压的扫描信号被供给至像素(P)，则像素(P)连接至数据线(DL)。如果断开电压的扫描信号被供给至像素(P)，则像素(P)和数据线(DL)彼此断开。
[0043] 在面板驱动装置中，数据驱动电路120将数据电压供给至数据线(DL)。供给至数据线(DL)的数据电压根据扫描信号而被发送至与数据线(DL)连接的像素(P)。
[0044] 在面板驱动装置中，感测电路130接收各像素(P)中所形成的感测信号，例如电压或电流等。感测电路130可以根据扫描信号而连接至各像素(P)，或者可以根据单独的感测信号而连接至各像素(P)。在这种情况下，感测信号可以由栅极驱动电路140生成。
[0045] 在面板驱动装置中，数据处理电路150可以将各种控制信号供给至栅极驱动电路140、数据驱动电路120、感测电路130和电源电路160。数据处理电路150可以生成栅极控制信号(GCS)以根据在各帧中实现的定时开始扫描，并且可以将该栅极控制信号(GCS)发送至栅极驱动电路140。另外，数据处理电路150可以将通过将从外部输入的图像数据转换成数据驱动电路120中所使用的数据信号格式而获得的图像数据(RGB)输出至数据驱动电路
120。另外，数据处理电路150可以发送用于控制数据驱动电路120的数据控制信号(DCS)以根据各定时向各像素(P)供给数据电压。数据处理电路150可以发送电力控制信号(PCS)，以进行控制使得电源电路160向各像素(P)供给驱动电压。
120。另外，数据处理电路150可以发送用于控制数据驱动电路120的数据控制信号(DCS)以根据各定时向各像素(P)供给数据电压。数据处理电路150可以发送电力控制信号(PCS)，以进行控制使得电源电路160向各像素(P)供给驱动电压。
[0046] 数据处理电路150可以根据像素(P)的特性来对图像数据(RGB)进行补偿，随后发送该图像数据。在这种情况下，数据处理电路150可以从感测电路130接收感测数据(SENSE_DATA)。感测数据(SENSE_DATA)可以包括针对像素(P)的特性的测量值。
[0047] 感测电路130可以将故障信号(FS)发送至数据处理电路150。感测电路130在输入了超出输入范围的异常信号时可以生成故障信号(FS)。故障信号(FS)可以包括与所接收到的异常信号所来自的像素有关的信息、与接收到异常信号所经由的通道有关的信息、或者与接收到异常信号所经由的感测线(SL)有关的信息。
[0048] 与此同时，数据驱动电路120可被称为“源极驱动器”。另外，栅极驱动电路140可被称为“栅极驱动器”。此外，数据处理电路150可被称为“定时控制器”。
[0049] 数据驱动电路120和感测电路130可以包括在一个集成电路125中，并且可被称为“源极驱动器集成电路(IC)”。另外，数据驱动电路120、感测电路130和数据处理电路150可以包括在一个集成电路中，并且可被称为“组合IC”。尽管本实施例不限于上述名称，但在以下实施例中将省略对源极驱动器、栅极驱动器和定时控制器等中的一些众所周知的组件的描述。因此，在理解本实施例时，应当认为以上提到的一些组件已从本实施例中被省略。
[0050] 与此同时，面板110可以是有机发光显示面板。在这种情况下，面板110上所配置的像素(P)可以包括有机发光二极管(OLED)以及一个或多个晶体管。各像素(P)中所包括的有机发光二极管(OLED)和晶体管的特性可以根据时间或周围环境而变化。根据实施例的感测电路130可以感测各像素(P)中所包括的组件的特性，并且可以将这些特性发送至数据处理电路150。
[0051] 图2是示出各像素的像素构造以及相对于图1所示的数据驱动电路、电源电路和感测电路而输入和输出的电压的图。
[0053] 有机发光二极管(OLED)可以包括阳极电极、有机层和阴极电极。在驱动晶体管(DRT)的控制下，阳极电极连接至从电源电路160供给的驱动电压(EVDD)，并且阴极电极连接至基极电压(EVSS)，由此发光。
[0054] 驱动晶体管(DRT)可以通过控制供给至有机发光二极管(OLED)的驱动电流来控制有机发光二极管(OLED)的亮度。
[0055] 驱动晶体管(DRT)的第一节点(N1)可以电气连接至有机发光二极管(OLED)的阳极电极，并且可以是源极节点或漏极节点。驱动晶体管(DRT)的第二节点(N2)可以电气连接至开关晶体管(SWT)的源极节点或漏极节点，并且可以是栅极节点。驱动晶体管(DRT)的第三节点(N3)可以电气连接至供给驱动电压(EVDD)的驱动电压线(DVL)，并且可以是漏极节点或源极节点。
[0056] 开关晶体管(SWT)可以电气连接在数据线(DL)与驱动晶体管(DRT)的第二节点(N2)之间，并且可以通过经由栅极线(GL)接收扫描信号而接通。
[0057] 如果开关晶体管(SWT)接通，则从数据驱动电路120经由数据线(DL)供给的数据电压(Vdata)被发送至驱动晶体管(DRT)的第二节点(N2)。
[0058] 存储电容器(Cstg)可以电气连接在驱动晶体管(DRT)的第一节点(N1)和第二节点(N2)之间。
[0059] 存储电容器(Cstg)可以是设置在驱动晶体管(DRT)的第一节点(N1)和第二节点(N2)之间的寄生电容器，或者可以是有意设计在驱动晶体管(DRT)的外部的外部电容器。
[0060] 感测晶体管(SENT)可以将驱动晶体管(DRT)的第一节点(N1)连接至感测线(S)，并且感测线(SL)可以将第一节点(N1)的特性值(例如，电压)发送至感测电路130。
[0061] 另外，感测电路130使用经由感测线(SL)发送的感测信号(Vsense)来测量像素(P)的特性。
[0062] 如果测量出第一节点(N1)的电压，则可以确定驱动晶体管(DRT)的阈值电压和迁移率等。另外，如果测量到第一节点(N1)的电压，则可以确定有机发光二极管(OLED)的劣化程度，诸如有机发光二极管(OLED)的寄生电容等。
[0063] 感测电路130可以测量第一节点(N1)的电压，并且可以将测量值发送至数据处理电路(参见图1中的150)。另外，数据处理电路(参见图1中的150)可以分析第一节点(N1)的电压以确定各像素(P)的特性。
[0064] 与此同时，感测电路130在经由感测线(SL)接收到超出输入范围的异常信号时，可以生成故障信号。
[0065] 例如，在第一节点(N1)和第二节点(N2)发生短路的情况下，异常信号可被发送至感测线(SL)。在这种情况下，感测电路130可以生成故障信号。
[0066] 作为另一示例，如果第一节点(N1)和第三节点(N3)发生短路，或者如果第二节点(N2)和第三节点(N3)发生短路，则超出输入范围的异常信号可被发送至感测线(SL)。在这种情况下，感测电路130可以生成故障信号。
[0067] 感测电路130可以将所生成的故障信号发送至数据处理电路(参见图1中的150)，并且数据驱动电路(参见图1中的150)或感测电路130可以通过控制信号断开数据驱动电路120或断开电源电路160。
[0068] 图3是示出根据实施例的感测电路的第一示例的内部结构及其外围结构的图。
[0069] 参考图3，感测电路330可以包括感测单元332和故障处理单元334。
[0070] 感测单元332可以包括模数转换电路等，并且可以将经由各个感测线(SL1、SL2、...、SLk、...、和SLn)发送的感测信号转换成感测数据。
[0071] 故障处理单元334可以经由从各感测线(SL1、SL2、...、SLk、...、或SLn)分支出的线来接收感测信号，并且如果感测信号超出输入范围，则可以生成故障信号(FS)并将该故障信号(FS)发送至数据处理电路150。
[0072] 数据处理电路150可以分析故障信号(FS)，由此识别所接收到的超出输入范围的异常信号所来自的通道、像素或感测线。
[0073] 数据处理电路150可以分析至少一个故障信号(FS)，以判断异常信号是否是临时异常信号，例如由于噪声引起的异常信号或者由于对面板110的损坏引起的异常信号。
[0074] 此外，如果判断为故障信号(FS)是由于对面板110的损坏而生成的，则数据处理电路150可以将用于断开数据驱动电路120的数据控制信号(DCS)发送至数据驱动电路120，或者可以将用于断开电源电路160的电力控制信号(PCS)发送至电源电路160。
[0075] 图4是示出图3所示的感测电路的内部结构的图。
[0076] 参考图4，感测单元332可以包括模数转换电路(ADC)，并且可以通过处理经由各感测线(SL1、SL2、...、或SLi)发送的感测信号来生成感测数据。
[0077] 可以针对各感测线(SL1、SL2、...、或SLi)配置一个模数转换电路(ADC)，或者两个或更多个感测线可以共用一个模数转换电路(ADC)。
[0078] 故障处理单元334可以包括：比较器436，其一个输入连接至从感测线(SL1、SL2、...、和SLi)分支出的分支线(AL)且其另一输入连接至参考电压(Vref)，并且如果分支线(AL)的电压超过参考电压(Vref)，则生成设置信号；以及信号处理电路435，用于使用该设置信号来生成故障信号。这里，参考电压(Vref)可以是与模数转换电路(ADC)的输入范围相对应的电压。模数转换电路(ADC)的最大输入电压可被设置为参考电压(Vref)。
[0079] 分支线(AL)可以经由开关(SW1、SW2、...、和SWi)连接至多个感测线(SL1、SL2、...、和SLi)。另外，在各个开关(SW1、SW2、...、和SWi)顺次接通时，分支线(AL)可以顺次连接至各个感测线(SL1、SL2、...、和SLi)。
[0080] 图5是示出控制根据实施例的显示装置的方法的流程图。
[0081] 参考图5，感测电路可以经由感测线感测各个像素(S500)。
[0082] 另外，感测电路可以将经由感测线接收到的感测信号与参考值进行比较(S502)。在这种情况下，如果感测信号等于或小于参考值(S502中为“否”)，则感测电路可以使用感测信号来生成感测数据，并且可以在继续感测像素的同时将该感测数据发送至数据处理电路。
[0083] 在这种情况下，如果感测信号超过参考值(S502中为“是”)，则感测电路可以阻断接收异常信号所经由的通道(S504)。可选地，感测电路可以转移异常信号，以防止异常信号影响感测单元。这里，通道可以是用于将感测信号转换成感测数据的电路的单元。另外，各通道可以包括一个模数转换电路。
[0084] 接着，感测电路可以将故障信号发送至外部装置(例如，数据处理电路)(S506)。故障信号可以采用标志的形式，或者可以采用数据的形式。在故障信号采用数据形式的情况下，这样的数据可以包括表示通道、像素或感测线的信息。
[0085] 感测电路可以独自确定异常信号，并且可以进行诸如电源关断或锁定等的处理，以保护自身的电路。在感测电路与数据驱动电路一起构成源极驱动器IC的情况下，源极驱动器IC可以确定异常信号，并且可以进行切断向自身的电路(例如，数据驱动电路)的电力或者停止该电路的操作以保护该电路的处理。
[0086] 感测电路、源极驱动器IC或数据处理电路可以分析至少一个故障信号，并且可以判断该故障信号是否满足禁用(disablement)条件(S508)。
[0087] 如果故障信号满足禁用条件(S508中为“是”)，则感测电路、源极驱动器IC或数据处理电路可以禁用感测电路、源极驱动器IC、数据驱动电路或电源电路(S510)。
[0088] 如果故障信号是由于瞬态噪声而产生的，则感测电路、源极驱动器IC或数据处理电路可以启用被禁用的组件。
[0089] 感测电路、源极驱动器IC或数据处理电路可以判断是否满足启用条件(S512)，并且如果满足启用条件(S512中为“是”)，则可以启用处于禁用状态的组件(S514)，由此正常感测各个像素(S500)。
[0090] 图6是示出根据实施例的感测电路的第二示例的内部结构及其外围结构的图。
[0091] 参考图6，感测电路630可以包括感测单元632和故障处理单元634。
[0092] 感测单元632可以包括模数转换电路，并且可以将经由各个感测线(SL1、SL2、...、SLk、...、和SLn)发送的感测信号转换成感测数据。
[0093] 故障处理单元634可以经由各个感测线(SL1、SL2、...、SLk、...、或SLn)接收感测信号，并且如果感测信号超出输入范围，则可以生成故障信号(FS)，然后将该故障信号发送至数据处理电路150。另外，故障处理单元634可以串联连接在面板110(例如，像素)和感测单元632之间，并且如果感测信号超出输入范围，则可以解除面板110(例如，像素)和感测单元632之间的连接，以防止感测信号被发送至感测单元632。
[0094] 数据处理电路150可以通过分析故障信号(FS)来识别所接收到的超出输入范围的异常信号所来自的通道、像素或感测线。
[0095] 数据处理电路150可以分析至少一个故障信号(FS)以判断异常信号是否是临时异常信号，例如由于噪声引起的异常信号或者由于对面板110的损坏引起的异常信号。
[0096] 另外，如果判断为故障信号(FS)是由于对面板110的损坏而产生的，则数据处理电路150可以将用于断开数据驱动电路120的数据控制信号(DCS)发送至数据驱动电路120，或者可以将用于断开电源电路160的电力控制信号(PCS)发送至电源电路160。
[0097] 图7是示出根据实施例的感测电路的第三示例的内部结构及其外围结构的图。
[0098] 参考图7，感测电路730可以包括感测单元732和故障处理单元734。
[0099] 感测单元732可以包括模数转换电路，并且可以将经由各个感测线(SL1、SL2、...、SLk、...、和SLn)发送的感测信号转换成感测数据。
[0100] 故障处理单元734可以识别感测单元732的感测值，并且如果感测值超过参考值(例如，输入范围的最大值)，则可以生成故障信号(FS)，然后将该故障信号(FS)发送至数据处理电路150。故障处理单元734可以分析感测单元732所生成的感测数据，由此识别感测单元732的感测值。
[0101] 数据处理电路150可以通过分析故障信号(FS)来识别所接收到的超出输入范围的异常信号所来自的通道、像素或感测线。
[0102] 数据处理电路150可以分析至少一个故障信号(FS)，以判断异常信号是否是临时异常信号，例如由于噪声引起的异常信号或者由于对面板110的损坏引起的异常信号。
[0103] 另外，如果判断为故障信号(FS)是由于对面板110的损坏而产生的，则数据处理电路150可以将用于断开数据驱动电路120的数据控制信号(DCS)发送至数据驱动电路120，或者可以将用于断开电源电路160的电力控制信号(PCS)发送至电源电路160。
[0104] 与此同时，故障信号可以经由锁定信号线来发送。
[0105] 图8是用于说明经由锁定(lock)信号线的故障信号的发送的图。
[0106] 参考图8，显示装置100可以包括数据处理电路150以及多个源极驱动器IC 125a、125b、...、和125n。
[0107] 数据处理电路150可以将图像数据(RGB)发送至各个源极驱动器IC 125a、125b、...、和125n，并且在这种情况下，图像数据(RGB)的通信协议可以是嵌入式时钟方案，例如CEDS方案。
[0108] 数据处理电路150可以以一对一的方式与各个源极驱动器IC 125a、125b、...、和125n交换数据。在这种情况下，为了检查针对各个源极驱动器IC 125a、125b、...、和125n是否进行正常通信，数据处理电路150和各个源极驱动器IC 125a、125b、...、和125n可以使用环形锁定信号线彼此连接。如果各个源极驱动器IC 125a、125b、...、和125n在通信协议中还原时钟或未能还原时钟，则这些源极驱动器可以将时钟恢复的结果经由锁定信号线发送至数据处理电路150。
[0109] 在特定源极驱动器IC发生故障的情况下，锁定信号线可以断开，并且数据处理电路150可以检查锁定信号线中的返回信号以判断为特定源极驱动器IC异常工作。
[0110] 在感测电路包括在源极驱动器IC 125a、125b、...、和125n中的情况下，感测电路可以经由锁定信号线生成故障信号。例如，如果感测电路经由感测线接收到超出输入范围的信号，则感测电路可以将锁定信号线从高电压(例如，正常电压)切换到低电压(例如，异常电压)，由此输出该信号。
[0111] 另外，如果经由锁定信号线检测到低电压，则数据处理电路150可以复位所有的源极驱动器IC 125a、125b、...、和125n，或者可以关断所有的源极驱动器IC 125a、125b、...、和125n的电源，由此保护内部组件。
[0112] 如上所述，已经说明了一个实施例。根据本实施例，可以保护驱动装置免于超出输入范围的异常信号，并且防止由于超出输入范围的异常信号而引起的像素的劣化。
[0113] 在上述说明中，术语“包括”、“由…组成”或“具有”等意味着，除非另外具体说明，否则可以包括相应组件，因而应被解释为，该术语可以还包括其它组件、而不是排除其它组件。除非另外定义，否则包括技术术语和科学术语的所有术语都具有与本领域普通技术人员共同理解的含义相同的含义。诸如字典中所定义的术语等的通常使用的术语应被解释为与现有技术的上下文含义一致，并且除非在本发明中明确定义，否则不应被解释为理想的或过于拘谨的含义。
[0114] 以上说明仅仅例示本发明的技术思想，并且本发明所属的领域的技术人员可以在未背离本发明的基本特征的情况下进行各种修改和改变。因此，本发明中所公开的实施例旨在描述本发明，而不是限制本发明的技术思想，因而本发明的技术思想的范围不限于这些实施例。本发明的保护范围应由以下权利要求书来解释，并且在与该保护范围等同的范围内的所有技术思想都应被解释为包括在本发明的范围中。
[0115] 相关申请的交叉引用
[0116] 本申请基于并根据35U.S.C.119(a)要求2017年7月21日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请10-2017-0092571的优先权，其公开内容通过引用而被全部包含于此。另外，本申请出于相同的原因而要求除美国以外的国家中的优先权，其公开内容通过引用而被全部包含于此。
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