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Ray-tracing method for ion-optical measurements

阅读:974发布:2021-05-29

专利汇可以提供Ray-tracing method for ion-optical measurements专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且,下面是Ray-tracing method for ion-optical measurements专利的具体信息内容。

1. A METHOD OF TRACING THE TRAJECTORY OF AN ION RAY WHICH COMPRISES POSITIONING AN APERTURE IN THE PATH OF SAID ION RAY, POSITIONING AN ION-SENSITIVE SCREEN A DISTANCE FROM SAID APERTURE, ADJUSTING SAID APERTURE TO PASS AN ION-BEAM, RECORDING THE POSITION OF SAID APERTURE, RECORDING THE POSITION OF A SPOT ON SAID ION-SENSITIVE SCREEN DUE TO SAID ION-BEAM INCIDENCE ON SAID ION-SENSITIVE SCREEN, MOVING SAID APERTURE TO PASS OTHER ION-BEAMS AND RECORDING THE POSITION OF SAID APERTURE AND ION-BEAM SPOT PRODUCED ON SAID ION-SENSITIVE SCREEN, DRAWING A LINE THROUGH SAID RECORDED APERTURE POSITIONS AND CORRESPOND-
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