技术领域
[0001] 本
发明涉及CSFP光模块领域，特别涉及一种CSFP光模块的检测方法及装置。
背景技术
[0002] 紧凑型小型化可
热插拔光收发合一模块(Compact Small Form Factor Pluggable，CSFP),在现在流行的SFP工业封装
基础上，通过采用双通道的设计，CSFP光模块不改变现有SFP光模块的
接口形式，但将外形尺寸缩小到现有标准的一半。CSFP光模块两个通道的2线地址由外挂MCU通过IIC接口进行设置，因此生产作业时较常规的SFP模块而言需进行
固件烧录，生产工序繁琐，同时成本较高。
发明内容
[0004] 鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种CSFP光模块的检测方法及装置，通过在CSFP光模块上设置两个外挂
存储器，并将第一外挂存储器的电源切断，再
修改第二外挂存储器的地址，以实现CSFP光模块两个通道地址的设置，用存储器代替MCU降低了成本，简化了测试步骤。
[0005] 为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：
[0006] 一种CSFP光模块的检测方法，包括步骤：
[0007] 上位机发送控制
信号至测试板将CSFP光模块的第一外挂存储器的电源切断；
[0008] 上位机将所述CSFP光模块的第二外挂存储器的地址设置为第二地址。
[0009] 所述上位机发送
控制信号至测试板将CSFP光模块的第一外挂存储器的电源切断的步骤之前包括：
[0010] 预先在CSFP光模块上接入第一外挂存储器和第二外挂存储器。
[0011] 所述上位机发送控制信号至测试板将CSFP光模块的第一外挂存储器的电源切断的步骤包括：
[0012] 所述上位机发送第一控制信号至测试板；
[0013] 所述测试板接收到所述第一控制信号后，根据所述第一控制信号将所述第一外挂存储器的电源切断。
[0014] 所述上位机将所述CSFP光模块的第二外挂存储器的地址设置为第二地址的步骤包括：
[0015] 上位机通过I2C总线将所述第二外挂存储器的地址设置为第二地址。
[0016] 所述第一外挂存储器和第二外挂存储器均为带电可擦可编程
只读存储器。
[0017] 所述第一地址为A0H/A2H，所述第二地址为B0H/B2H。
[0018] 一种CSFP光模块的测试装置，包括上位机、CSFP光模块和测试板，还包括第一外挂存储器和第二外挂存储器，由所述上位机向测试板发送控制信号，由所述上位机接收所述控制信号将第一外挂存储器或第二外挂存储器的电源切断，再由所述上位机将所述第二外挂存储器或第一外挂存储器的地址设置为第二地址。
[0019] 所述CSFP光模块包括用于接收测试板信号的金
手指，所述金手指与测试板及第一外挂存储器和第二外挂存储器连接。
[0020] 所述第一外挂存储器和第二外挂存储器均为带电可擦可编程只读存储器。
[0021] 所述第一地址为A0H/A2H，所述第二地址为B0H/B2H第一外挂存储器第二外挂存储器。
[0022] 相较于现有技术，本发明提供的CSFP光模块的检测方法及装置，所述方法包括步骤：上位机发送控制信号至测试板将CSFP光模块的第一外挂存储器的电源切断；上位机将所述CSFP光模块的第二外挂存储器的地址设置为第二地址。本发明通过在CSFP光模块上设置两个外挂存储器，并将第一外挂存储器的电源切断，再修改第二外挂存储器的地址，以实现CSFP光模块两个通道地址的设置，用存储器代替MCU降低了成本，简化了测试步骤。
附图说明
[0023] 图1为本发明提供的CSFP光模块的检测方法的
流程图；
[0024] 图2为本发明提供CSFP光模块的检测方法的S10步骤的流程图；
[0025] 图3为本发明提供CSFP光模块的检测方法的S100步骤的流程图；
[0026] 图4为本发明提供CSFP光模块的检测方法的S200步骤的流程图；
[0027] 图5为本发明提供CSFP光模块的检测装置的结构示意图。
具体实施方式
[0028] 鉴于现有技术中的问题，本发明中提供一种CSFP光模块的检测方法及装置，通过在CSFP光模块上设置两个外挂存储器，并将第一外挂存储器的电源切断，再修改第二外挂存储器的地址，以实现CSFP光模块两个通道地址的设置，用存储器代替MCU降低了成本，简化了测试步骤。
[0029] 本发明的具体实施方式是为了便于对本发明的技术构思、所解决的技术问题、构成技术方案的技术特征和带来的技术效果做更为详细的说明。需要说明的是，对于这些实施方式的解释说明并不构成对本发明的保护范围的限定。此外，下文所述的实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间不构成冲突就可以相互组合。
[0030] 现有技术中，CSFP光模块上外挂有一个MCU，为CSFP光模块提供两个通道，分别为第一通道和第二通道。所述MCU通过I2C总线与CSFP光模块连接，上位机通过所述I2C总线设置所述第二通道的地址。其中，所述第一通道的地址设置为A0h/A2h(即第一地址)，所述第二通道的地址设置为B0h/B2h(即第二地址)。但是通过MCU提供通道时，需要进行固件烧录，生产工序比较繁琐。因此，有必要提供一种方案以解决上述问题。
[0031] 综上所述，请参阅图1，本发明提供一种CSFP光模块的检测方法，包括步骤：
[0032] S100、上位机发送控制信号至测试板将CSFP光模块的第一外挂存储器的电源切断；
[0033] S200、上位机将所述CSFP光模块的第二外挂存储器的地址设置为第二地址。
[0034] 具体实施时，本
实施例中，在所述CSFP光模块上设置两个外挂存储器，分别为第一外挂存储器和第二外挂存储器。所述第一外挂存储器和第二外挂存储器分别与CSFP光模块金手指的VccT和VccR连接，以使测试板通过金手指的VccT脚和VccR脚分别为第一外挂存储器和第二外挂存储器提供电源(分别记为第一电源和第二电源)。所述第一外挂存储器和第二外挂存储器分别为所述CSFP光模块提供通道(即第一通道和第二通道)。此外，第一外挂存储器和第二外挂存储器与同一I2C总线连接。由所述上位机发送控制信号至测试板将第一外挂存储器的电源切断，只为第二外挂存储器供电。在切断第一外挂存储器的电源后，所述上位机通过I2C总线将所述第二外挂存储器的地址设置为第二地址。特别的，所述第一外挂存储器和所述第二外挂存储器的地址均默认为第一地址。
[0035] 请参阅图2，在一个可能的实施例中，在所述S100的步骤之前还包括：
[0036] S10、预先在CSFP光模块上接入第一外挂存储器和第二外挂存储器。
[0037] 具体实施时，在对所述第一外挂存储器和所述第二外挂存储器进行设置之前，需要将所述第一外挂存储器和所述第二外挂存储器接入CSFP光模块。具体的，所述第一外挂存储器和所述第二外挂存储器接在所述CSFP光模块的金手指上，并通过金手指接收测试板的信号对所述第一外挂存储器和所述第二外挂存储器进行设置。
[0038] 请参阅图3，在一个可能的实施例中，所述S100的步骤包括：
[0039] S110、所述上位机发送第一控制信号至测试板；
[0040] S120、所述测试板接收到所述第一控制信号后，根据所述第一控制信号将所述第一外挂存储器的电源切断。
[0041] 具体实施时，本实施例中，所述上位机发送第一控制信号至测试板，所述测试板接收到所述第一信号后，将第一外挂存储器的第一电源切断，仅为第二外挂存储器提供第二电源。
[0042] 具体的，请参阅图4，所述S200的步骤包括：
[0043] S210、上位机通过I2C总线将所述第二外挂存储器的地址设置为第二地址。
[0044] 具体实施时，本实施例中，当所述第一电源断开后，所述上位机再通过I2C总线将所述第二外挂存储器的地址由第一地址(A0h/A2h)改为第二地址(B0h/B2h)。此时，所述第一外挂存储器的地址为第一地址，所述第二外挂存储器的地址则为第二地址。在地址修改完后，CSFP则可通过第一地址或第二地址来选择第一外挂存储器或第二外挂存储器与进行通讯。特别的，所述第一外挂存储器和第二外挂存储器均为带电可擦可编程只读存储器。
[0045] 综上所述，EEPROM的成本相对于MCU的成本低很多，而且通过本发明中的方法可实现与现有技术相同的功能，因此可以达到降低生成成本的效果。另外，通过通一个I2C总线对两个EEPROM的地址进行设置，并且在地址设置完成后，同样通过同一个I2C总线与两个EEPROM进行通讯，而现有技术MCU则需要进行固件烧录，本发明相较于现有技术减少了操作流程，提高了工作效率。
[0046] 请参阅图5，基于上述CSFP光模块的测试方法本发明还提供一种CSFP光模块的测试装置，包括上位机100、CSFP光模块300和测试板200，还包括第一外挂存储器400和第二外挂存储器500，由所述上位机100向测试板200发送控制信号，由所述上位机100接收所述控制信号将第一外挂存储器400的电源切断，再由所述上位机100将所述第二外挂存储器500的地址设置为第二地址。
[0047] 具体实施时，本实施例中，通过第一外挂存储器400和第二外挂存储器500来代替现有技术中的MCU。另外，所述CSFP光模块300包括用于接收测试板200信号的SFP金手指301，通过上位机100发送第一控制信号或第二控制信号至测试板200，再由测试板200根据所述第一控制信号将第一外挂存储器400的第一电源切断。
[0048] 当切断第一电源时，I2C总线只与第二外挂存储器500连接，所述上位机100可直接通过I2C总线将所述第二外挂存储器500的地址从第一地址(A0H/A2H)修改为第二地址(B0H/B2H)。当地址修改完成后，上位机100则可通过相应的地址与第一外挂存储器400或第二外挂存储器500进行通讯，使得CSFP光模块300的常规测试能够继续进行。特别的，所述第一外挂存储器400和第二外挂存储器500均为带电可擦可编程只读存储器(EEPROM)。特备的，所述第一外挂存储器和所述第二外挂存储器的地址均默认为第一地址。
[0049] 本实施例中，EEPROM的成本相对于MCU的成本低很多，而且通过本发明中的方法可实现与现有技术相同的功能，因此可以达到降低生成成本的效果。另外，本实施例通过I2C总线对两个EEPROM的地址进行设置，并且在地址设置完成后，通过同一I2C总线与两个EEPROM进行通讯，能达到与现有技术同样的效果，但是所使用的I2C总线数量较现有技术少。此外，本发明通过第一外挂存储器和第二外挂存储器代替MCU，避免了现有技术使用MCU则需要进行固件烧录的问题，本发明相较于现有技术减少了操作流程，提高了工作效率。
[0050] 综上所述，本发明提供的循环供电的CSFP光模块的检测方法及装置，所述方法包括步骤：上位机发送控制信号至测试板将CSFP光模块的第一外挂存储器的电源切断；上位机将所述CSFP光模块的第二外挂存储器的地址设置为第二地址。本发明通过在CSFP光模块上设置两个外挂存储器，并将第一外挂存储器的电源切断，再修改第二外挂存储器的地址，以实现CSFP光模块两个通道地址的设置，用存储器代替MCU降低了成本，简化了测试步骤。
[0051] 可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的
权利要求的保护范围。
