专利汇可以提供多点触摸与遥控共用检测控制方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种多点触摸与遥控共用检测控制方法,包括触摸IC、触摸按键、MCU芯片和遥控接收IC,通过触摸IC和遥控接收IC共用第三引脚与MCU芯片连接,MCU芯片根据触摸按键响应的时长和遥控接收IC发送的码段 信号 的时长不同,来识别两种信号的输入,做到两者不受干扰影响,触摸IC还设置数据传输引脚SDA和 时钟信号 引脚SCL配合,实现与MCU芯片之间的识别和数据传输,从而实现区分具体被触摸的触摸按键,通过对控制端口和检测端口进行共用处理,达到节省脚位的目的。,下面是多点触摸与遥控共用检测控制方法专利的具体信息内容。
1.一种多点触摸与遥控共用检测控制方法,其特征在于,包括:
触摸IC,设置有数据传输引脚SDA、时钟信号引脚SCL、工作表现引脚INT和若干个按键输入端;
触摸按键,设置有若干个,通过输入电阻连接所述按键输入端;
MCU芯片,设置有第一引脚、第二引脚和第三引脚,所述数据传输引脚SDA通过第一电阻连接所述第一引脚,所述时钟信号引脚SCL通过第二电阻连接所述第二引脚,所述工作表现引脚INT通过第三电阻连接所述第三引脚;任一所述触摸按键被触摸时,所述工作表现引脚INT表现为低电平,所有所述触摸按键未被触摸时,所述工作表现引脚INT表现为高电平;每次所述触摸按键被触摸的响应时间大于100ms;
遥控接收IC,设置有遥控信号输出引脚IR,所述遥控信号输出引脚IR连接所述第三引脚;所述遥控接收IC没有接收到信号时,所述遥控信号输出引脚IR表现为高电平,所述遥控接收IC接收到信号时,所述遥控信号输出引脚IR表现为低电平,且发送总长不超过20ms的带有通信协议的码段信号给所述第三引脚;
还包括以下步骤:
所述MCU芯片对所述第三引脚进行微秒级检测,若检测到所述第三引脚为低电平,开始计时;
若所述第三引脚在微秒级别内变化会高电平,则判断为接收所述遥控接收IC发送的码段信号;
继续接收所述码段信号,并对接收到的所述码段信号进行解码处理;
若所述第三引脚的低电平持续时间超过100ms,则判断为所述触摸按键被触摸;
所述MCU芯片通过所述第二引脚输出一个高低变化的时钟信号给所述触摸IC,同时通过所述第一引脚输出一个地址码给所述触摸IC;
所述触摸IC写入所述地址码后,通过所述数据传输引脚SDA回送一个包含所述按键输入端状态的状态码给所述MCU芯片;
所述MCU芯片根据所述状态码判断出被触摸的触摸按键。
2.根据权利要求1所述的一种多点触摸与遥控共用检测控制方法,其特征在于,若所述第三引脚的低电平持续时间超过20ms,则将接受到的码段信号清零,继续接收低电平信号。
3.根据权利要求1所述的一种多点触摸与遥控共用检测控制方法,其特征在于,若在接收码段信号的过程中,所述触摸按键被触摸,所述码段信号会被屏蔽,优先响应按键触摸。
4.根据权利要求1所述的一种多点触摸与遥控共用检测控制方法,其特征在于,所述触摸IC写入所述地址码,包括:
所述触摸IC在所述时钟信号引脚SCL的下降沿读取所述数据传输引脚SDA的电平,连续写入八位后,得到所述地址码。
5.根据权利要求1所述的一种多点触摸与遥控共用检测控制方法,其特征在于,所述状态码包括与所述按键输入端数量一致的数据码,所述数据码在对应的所述触摸按键被触摸时为低电平,在对应的所述触摸按键没有被触摸时为高电平。
6.根据权利要求1所述的一种多点触摸与遥控共用检测控制方法,其特征在于,所述MCU芯片通过所述第一引脚输出地址码时,所述第一引脚为输出脚,所述数据传输引脚SDA为输入检测脚;所述MCU芯片发送完所述地址码后,所述第一引脚从输出脚改成输入检测脚,所述数据传输引脚SDA从输入检测脚改成输出脚。
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