专利汇可以提供以一维峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且以一维峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置,由一台普通的计算机及其摄像头、一台步进 电机 及其 接口 电路 以及摄像头轴向位移装置组成。摄像头被安装在一个由高 精度 微位移步进电机为核心组成的轴向位移装置上,该步进电机通过步进电机接口电路连接到计算机的RS232C接口,计算机配置有摄像头拍摄以及根据一维峰谷数据测量轴向位移程序。通过计算自关联系数,自动分析并选取最佳观察区域;通过计算机RS232C接口控制步进电机的旋转,操作摄像头前进或后退;通过分析并测量图像 帧 的 像素 亮度 沿一个坐标轴方向的峰和谷的数目,以其最多之处作为最佳成像聚焦 位置 ,从而获得轴向相对位移。本 发明 测量方法新颖,测量速度较快。,下面是以一维峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置专利的具体信息内容。
1.以一维峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置,包括:一台普通的计算机通过其USB接口连接一个计算机摄像头、一台步进电机及其接口电路,其特征在于,该摄像头被安装在一个由所述步进电机为核心组成的轴向位移装置上,该步进电机通过所述步进电机接口电路连接到所述计算机的RS232C接口,所述计算机配置有摄像头拍摄以及根据一维峰谷数据测量轴向位移程序。
2.根据权利要求1所述的以一维峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置,其特征在于,所述摄像头轴向位移装置包括:
摄像头(1)安装在工作台(33)上,该工作台(33)与一根长的螺丝纹旋转轴(34)以螺丝纹套接,螺丝纹旋转轴(34)通过支撑架(31)和(32)安装在一张大的工作台(30)上,并且,螺丝纹旋转轴(34)与支撑架(31)和(32)都是以转轴的方式套接,螺丝纹旋转轴(34)在与支撑架(31)和(32)的套接处可以转动但不发生向前或向后的位移;螺丝纹旋转轴(34)上有一个固定的齿轮(341),它与步进电机(40)的转轴(41)上面的齿轮(42)相互咬合;步进电机(40)也安装在工作台(30)上,它通过步进电机接口电路(43)连接到计算机系统(5)的RS232C接口(8)。
3.根据权利要求1所述的以一维峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置,其特征在于,所述摄像头拍摄以及根据一维峰谷数据测量轴向位移程序包括下述测量物体沿所述摄像头的光轴方向发生的微小位移的方法:
步骤一、以位图(M×N,M,N∈正整数)的格式,拍摄一帧被测物体的图像,作为参考帧;
以该帧像素阵列左上角的第一个像素的位置为原点,以向右的方向为x轴方向,垂直向下方向为y轴方向,所取坐标系的单位为一个像素的大小;在所述像素阵列的中央区域选取一个区域,大小为m0×n0,m0,n0∈正整数,称之为观察窗,它距离所述像素阵列的水平方向和垂直方向的边缘像素各有h和v个像素,即有:m0+2h=M,n0+2v=N,h,v∈正整数;
步骤二、对于上述参考帧之像素阵列,逐像素行、逐像素列导出沿X轴方向和Y轴方向的边方向数据,并以3bit的二进制数值001,010和100分别表示其中的正边、负边以及第三类边,如此构成了对应所述参考帧像素阵列的关于X轴方向和关于Y轴方向的两帧边方向数据{referencex(x,y)}和{referencey(x,y)},其中,下标x或y分别表示所沿的坐标轴的方向,符号“{ }”表示沿其中函数下标所标示的坐标轴方向观察窗内诸像素(x,y)处的边方向数据的一个集合,保存这些数据;
步骤三、对于上述两帧边方向数据,分别计算所述参考帧里观察窗内像素阵列的自关联匹配系数:
式中,运算符号·表示二进制逻辑与运算,其运算结果或为逻辑0或为逻辑1,运算符号“[ ]”表示取其中的逻辑运算函数的值所对应的数值,或为数值0,或为数值1,参数变量a,b的组合决定了关联匹配算子阵列的规模,如果取3×3关联匹配算子阵列:a=-1,0,1,b=-1,0,1,因此,沿每个坐标轴方向各自会产生9个自关联系数auto_correlationx(a,b)和auto_correlationy(a,b);
步骤四、根据上述两帧边方向数据对应的自关联匹配系数,分别搜索在目前的物体表面状况以及照明状况下可以进行匹配比较的最佳观察窗像素阵列:
mx=m0±step,nx=n0±step,2h=M-mx,2v=N-nx
和my=m0±step,ny=n0±step,2h=M-my,2v=N-ny,
式中,下标x、y分别表示其值对应着沿X轴方向和Y轴方向,step为搜索过程中的步进参数,其前面的加减号由搜索方向决定;取此两组值中大者为本测量所用观察窗阵列的规模:m×n;
步骤五、对于上述参考帧之像素阵列,根据其像素亮度数据,逐行导出沿X轴方向的1帧边方向数据;
根据上述边方向数据,导出沿X轴方向的1帧边反射状况;对于其中的观察窗区域,分别使用累加器计数它们所对应的峰、谷的数目:NX轴峰和NX轴谷,其中,N(umber)表示数目;累加上述累加器的计数结果并保存之,表示为:N(i,j=0,forw=0,back=0),其中,i=
1,2,3......表示所拍摄的参考帧的顺序计数,也是测量的计数,j=0,1,2,3,......,表示第i次测量过程中拍摄的取样帧的计数,变量forw(=0,1,2,......)和back(=0,1,
2,......)分别表示第i次测量中所述步进电机发生顺时钟旋转和反时钟旋转所对应的步进脉冲计数,本次测量开始前,有:i=1,j=0,forw=0,back=0;
步骤六、测量开始:所述计算机通过其RS232C接口的一根输出控制线FORWARD输出第forw=1个数字脉冲信号到所述步进电机接口电路,控制该步进电机顺时钟旋转一步,然后,拍摄第j=1帧取样帧位图;
对于上述取样帧之像素阵列,根据其像素亮度数据,逐行导出沿X轴方向的1帧边方向数据;
根据上述边方向数据,导出沿X轴方向的1帧边反射状况;对于其中的观察窗区域,分别使用累加器计数它们所对应的峰、谷的数目:NX轴峰和NX轴谷;累加上述累加器的计数结果并保存之,表示为:N(i,j=1,forw=1,back=0);
步骤七、如果:N(i,j=1,forw=1,back=0)≥N(i,j=0,forw=0,back=0),所述计算机通过其RS232C接口的一根输出控制线FORWARD输出第forw(=2,3,......)个数字脉冲信号到所述步进电机接口电路,控制该步进电机顺时钟旋转进步,每次顺时钟旋转一步都拍摄并分析比较前后各取样帧中观察窗内沿X轴方向所有的峰和谷的数目之和N(i,j=forw-1,forw-1,back=0)和N(i,j=forw,forw,back=0),保存之,该过程中应当会有:N(i,j=forw,forw,back=0)≥N(i,j=forw-1,forw-1,back=0),直到满足,N(i,j=forw,forw,back=0)<N(i,j=forw-1,forw-1,back=0),这时,记录(forw)MAX=forw,同时,所述计算机通过其RS232C接口的另一根输出控制线BACKWARD输出一个数字脉冲信号(back=1)到所述步进电机接口电路,控制该步进电机反时钟旋转一步,这时,相对本次测量开始前的初始位置,本装置的摄像头即处于本次测量中的最佳物体成像聚焦位置:FocusP=(forw)MAX-back=(forw)MAX-1,其计算的结果大于或等于0,表示所述步进电机的旋转方向总的看来是顺时钟方向的,该聚焦位置对应的取样帧观察窗内沿X轴方向所有的峰和谷的数目之和为:N(i,j=(forw)MAX-1,forw=(forw)MAX-1,back=0),测量过程中拍摄的取样帧的总计数结果为:j=(forw)MAX+back=(forw)MAX+1;
如果:N(i,j=1,forw=1,back=0)<N(i,j=0,forw=0,back=0),所述计算机通过其RS232C接口的一根输出控制线BACKWARD输出第back=1个数字脉冲信号到所述步进电机接口电路,控制该步进电机反时钟旋转退一步,即回到本次测量的初始位置,然后,所述计算机通过其RS232C接口的输出控制线BACKWARD继续输出第back(=2,
3,......)个数字脉冲信号到所述步进电机接口电路,控制该步进电机进一步反时钟旋转,在此过程中,每次反时钟旋转一步都拍摄并分析比较前后各取样帧观察窗内沿X轴方向所有的峰和谷的数目之和N(i,j=back+1,forw=1,back)和N(i,j=back,forw=1,back=back-1),应当有:N(i,j=back+1,forw=1,back=back)≥N(i,j=back,forw=1,back=back-1),保存之,如此继续,直到满足:N(i,j=back++1,forw=1,back)<N(i,j=back,forw=1,back-1),这时,记录:(back)MAX=back,同时,所述计算机通过其RS232C接口的另一根输出控制线FORWARD输出一个数字脉冲信号(forw=2)到所述步进电机接口电路,控制该步进电机顺时钟旋转一步,这时,相对本次测量开始前的初始位置,本装置的摄像头即处于本次测量中的最佳物体成像聚焦位置:FocusP=forw-(back)MAX=2-(back)MAX,其计算的结果为负值,表示所述步进电机的旋转方向是反时钟方向的,该聚焦位置对应的取样帧观察窗内沿X轴方向所有的峰和谷的数目之和为:N(i,j=((back)MAX-1)+1=(back)MAX,forw=1,back=(back)MAX-1),测量过程中拍摄的取样帧的总计数结果为:j=forw+(back)MAX=2+(back)MAX;
综合起来,相对本次测量开始前的初始位置,本次测量所获得的物体沿所述摄像头的光学轴方向发生的位移是:Δz(i)=forw-back,
上述计算式中计数器forw和back的值均为本次测量过程中最后的计数结果,计算结果有正或负的符号,分别表示所发生的位移沿光学轴前进或后退的方向,对应于所述步进电机的旋转方向(即顺时钟方向或反时钟方向),具体由步进电机的轴向位移装置之安排确定;
总的位移为:ΔZ0(i)=ΔZ0(i-1)+Δz(i)
其中,ΔZ0(i-1)为本次测量之前累积的轴向位移;
步骤八、准备下一次测量工作:测量次数计数器i=i+1,取第i次测量确定的最佳物体成像聚焦位置处相应的物体成像帧观察窗内沿X轴方向所有的峰和谷的数目之和作为新的测量参考值:
N(i,j=0,forw=0,back=0)=N(i,j=(forw)MAX-1,forw=(forw)MAX-1,back=0),
或N(i,j=0,forw=0,back=0)=
N(i,j=((back)MAX-1)+1=(back)MAX,forw=1,back=(back)MAX-1);
步骤九、跳转到步骤六,继续测量。
4.根据权利要求3所述的以一维峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置,其特征在于,所述摄像头拍摄以及根据一维峰谷数据测量轴向位移程序之步骤中所述边方向数据的定义是:
像素阵列中,沿着X轴或者沿着Y轴方向,如果一个像素的光强值比其后面的第二个像素相应的光强值还要小一个误差容限位error,即如果
I(X,Y)<I(X+2,Y)-error或I(X,Y)<I(X,Y+2)-error
则定义这两个像素之间存在一个沿该轴方向的正边;如果一个像素的光强值比其后面的第二个像素相应的光强值还要大一个误差容限值error,即如果
I(X,Y)>I(X+2,Y)+error或I(X,Y)>I(X,Y+2)+error
则定义这两个像素之间存在一个沿该轴方向的负边;如此获得的边位于该像素之后的第一个像素的位置,也即位于参与比较的两个像素的中间位置的那个像素上;如果一个像素的某种光强值与其后面的第二个像素相应的光强值接近,其值相差不超过一个误差容限值error,即如果
I(X+2,Y)-error≤I(X,Y)≤I(X+2,Y)+error
或I(X,Y+2)-error≤I(X,Y)≤I(X,Y+2)+error,
则认为这两个像素之间沿该轴方向不存在对应的“边”,或称之为第三类边;
沿着某一个坐标轴方向,对应的像素行或像素列所有的正边、负边以及第三类边组成该行或该列沿该坐标轴方向的边方向数据;上列式中的误差容限值可以根据具体的光照情况,预置为一个小的数值,例如:error=10;像素阵列中的四个边与角上的像素位置不存在边方向数据。
5.根据权利要求3所述的以一维峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置,其特征在于,所述摄像头拍摄以及根据一维峰谷数据测量轴向位移程序之步骤中所述搜索最佳观察窗像素阵列的方法包括:
对于所述像素阵列的观察窗以及k×k(k∈正整数)关联匹配算子阵列(a,b),沿某个坐标轴方向会产生k×k个自关联匹配系数,按下列不等式比较这些自关联匹配系数:
auto_correlation(a,b)≥auto_correlation(0,0)×similarity
式中,similarity描述了观察窗与其邻近相同规模的像素阵列的相似程度,例如取similarity=60%,可以预先设置,也可以根据光照情况以及被测物表面的质地进行调试和选择;
如果满足上述不等式的自关联系数多于k×k×1/3个,需要扩大观察窗的范围各step行和step列:令m=m0+step,n=n0+step,重新计算新的观察窗的自关联系数,并进行上述比较,直到满足上述不等式的自关联匹配系数不多于k×k×1/3个,这时,2h=M-m,2v=N-n,其中,step为步进参数,初始值为1,每次需要扩展观察窗的规模就增加1;如果超出帧内一个预定的范围,还没有找到合适的观察窗,则认为该物体这部分反射表面的质地不适于本装置的测量工作,并给出提示警告;
如果满足上述不等式的自关联匹配系数不多于k×k×1/3个,说明被拍摄物体的表面的结构特征足够精细,最邻近像素之间的值可以区分,可以进一步尝试缩小观察窗的范围各step行和step列,以减少计算工作量:令m=m0-step,n=n0-step,重新计算观察窗的自关联系数,并进行上述比较,递进参数step每次增加1,直到所选观察窗区域满足上述不等式的自关联系数的个数不小于k×k×1/3,这时,认为搜索到了最佳观察窗像素阵列。
6.根据权利要求3所述的以一维峰谷为特征测量轴向位移的方法及装置,其特征在于,所述摄像头拍摄以及根据一维峰谷数据测量轴向位移程序之步骤中所述沿X轴或Y轴方向的边反射状况,其定义为:
根据所选观测行与观测列的像素亮度的边方向数据,沿着X轴或沿着Y轴方向,如果连续的两个或多于两个的正边,或连续的两个或多于两个的第三类边之后跟着一个负边,称之为第一类边反射状况,即认为在此位置存在一个峰;如果连续的两个或多于两个的负边,或连续的两个或多于两个的第三类边之后跟着一个正边,称之为第二类边反射状况,即认为在此位置存在一个谷;沿着X轴或沿着Y轴方向,所有的峰和谷组成图像帧沿该坐标轴方向的边反射状况。
标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
---|---|---|
一种行人导航定位中的自适应零速修正方法 | 2020-05-08 | 121 |
一种测量位置的方法及装置 | 2020-05-12 | 290 |
一种激光熔覆离焦量在线监测与负反馈状态识别方法 | 2020-05-16 | 474 |
一种三驱动机械臂的视觉跟随系统 | 2020-05-11 | 540 |
一种基于姿态的考试作弊检测方法 | 2020-05-14 | 717 |
MRI中的运动的实时监测和预测 | 2020-05-15 | 666 |
一种基于深度神经网络的运动预测方法和智能终端 | 2020-05-08 | 1012 |
一种基于双流卷积神经网络和SVM的抽烟动作识别方法 | 2020-05-12 | 767 |
基于计算机视觉的电梯轿厢内异常行为的检测方法 | 2020-05-15 | 503 |
基于视觉SLAM和网络地图结合的机器人城市导航系统 | 2020-05-16 | 226 |
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。