| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 1 | 荧光寿命的测量装置 | CN200610010535.2 | 2006-09-13 | CN1920535A | 2007-02-28 | 孙伟民; 李海森; 姜海丽; 陈宝伟; 张建中; 张杨; 姜富强; 张志林 |
| 本发明提供了一种基于数字处理芯片的荧光寿命的测量装置，利用光电探测器接收荧光信号，经过信号放大、模数转换后送入数字处理芯片，在数字处理芯片中完成快速傅立叶变换，得到的对应频谱项的幅角，再利用公式在处理芯片中完成荧光寿命的计算，将测得的荧光寿命输出或显示，或者作为参考信号给出所测的其它参数(如温度等)，最后通过用异步接收发送器将测得的荧光寿命及其它参量送入计算机。本发明具有实现荧光寿命测量的高速、高精度、不受本地噪声影响、低成本、小型化等特点，是新一代荧光寿命的测量装置。 | ||||||
| 2 | 一种荧光寿命成像方法及其荧光寿命成像装置 | CN202210998097.4 | 2022-08-19 | CN115356313A | 2022-11-18 | 姜小芳; 刘钦; 刘颖臻; 李琛晖; 古豪天 |
| 一种荧光寿命成像方法，包括以下步骤：设置二维平面扫描区域，获取所述二维平面扫描区域内的扫描点；获取所述二维平面扫描区域的荧光光谱，得到光强处于峰值时所对应的不同波峰波长；根据所述波峰波长大小，获取各个扫描点不同波峰波长时荧光所对应的荧光寿命曲线；根据所述不同波峰波长的荧光所对应的荧光寿命曲线，同时或依次生成不同波峰波长所对应的多光波二维荧光寿命成像、和/或多光波三维荧光寿命成像、和/或二维荧光寿命时间切片成像。此外，本发明还提供一种实现上述荧光寿命成像方法的荧光寿命成像装置与现有技术相比较，本发明的荧光寿命显微成像装置能满足多光波荧光样品的测量需要。 | ||||||
| 3 | 荧光寿命测量设备和荧光寿命测量方法 | CN201080004129.X | 2010-01-07 | CN102272583B | 2014-02-26 | 中尾勇; 玉村好司 |
| 提供了用于以简单配置获取荧光寿命的荧光寿命测量设备、荧光寿命测量方法以及程序。移动在其上放置了要测量的荧光材料的平台，将激励光施加到以恒定速度移动的在平台上放置的荧光材料，捕获通过施加激励光发射的荧光的余光的图像；以及使用捕获的图像测量从在作为对象的余光位置中的荧光位置开始的经历时间以及其中余光的强度，并且计算荧光寿命。 | ||||||
| 4 | 荧光寿命的测量方法 | CN200610010535.2 | 2006-09-13 | CN100520364C | 2009-07-29 | 孙伟民; 李海森; 姜海丽; 陈宝伟; 张建中; 张杨; 姜富强; 张志林 |
| 本发明提供了一种基于数字处理芯片的荧光寿命的测量装置，利用光电探测器接收荧光信号，经过信号放大、模数转换后送入数字处理芯片，在数字处理芯片中完成快速傅立叶变换，得到的对应频谱项的幅角，再利用公式在处理芯片中完成荧光寿命的计算，将测得的荧光寿命输出或显示，或者作为参考信号给出所测的其它参数(如温度等)，最后通过用异步接收发送器将测得的荧光寿命及其它参量送入计算机。本发明具有实现荧光寿命测量的高速、高精度、不受本地噪声影响、低成本、小型化等特点，是新一代荧光寿命的测量装置。 | ||||||
| 5 | 荧光寿命测量设备、荧光寿命测量方法和程序 | CN201080004129.X | 2010-01-07 | CN102272583A | 2011-12-07 | 中尾勇; 玉村好司 |
| 提供了用于以简单配置获取荧光寿命的荧光寿命测量设备、荧光寿命测量方法以及程序。移动在其上放置了要测量的荧光材料的平台，将激励光施加到以恒定速度移动的在平台上放置的荧光材料，捕获通过施加激励光发射的荧光的余光的图像；以及使用捕获的图像测量从在作为对象的余光位置中的荧光位置开始的经历时间以及其中余光的强度，并且计算荧光寿命。 | ||||||
| 6 | 荧光寿命光谱仪 | CN201520469733.X | 2015-06-25 | CN204807456U | 2015-11-25 | 高深 |
| 本实用新型涉及一种荧光寿命光谱仪，主要包括激光器(1)、第一光电倍增管(2)、第一放大器(3)、第一甄别器(4)、延时器(5)、脉冲幅度转换器(6)、样品台(7)、单色仪(8)、第二光电倍增管(9)、第二放大器(10)、第二甄别器(11)、AD转换器(12)和多通道分析仪(13)，所述激光器(1)与样品台(7)对应设置，延时器(5)和第二甄别器(11)分别与脉冲幅度转换器(6)连接，脉冲幅度转换器(6)连接AD转换器(12)，AD转换器(12)连接多通道分析仪(13)。本实用新型提供的荧光寿命光谱仪，时间分辨本领好，灵敏度高，测量精度高，动态范围大，输出数据数字化，便于计算机存贮和处理等。在近代物理、化学、生物等领域中获得了广泛的应用，特别是在研究发光动力学方面更有它特殊用途。 | ||||||
| 7 | 荧光寿命传感器模块和使用传感器模块确定荧光寿命的方法 | CN201780061581.1 | 2017-10-04 | CN109791109A | 2019-05-21 | 马丁·闵采尔 |
| 一种荧光寿命传感器模块包括不透明外壳(OH)，该不透明外壳(OH)具有由光屏障(LB)间隔开的第一腔室(CH1)和第二腔室(CH2)。光发射器(OE)布置在第一腔室(CH1)中并且被配置为通过第一孔(AP1)发射。指定波长的光脉冲发射被布置成光学地激发位于传感器模块前方的荧光探头(FP)。检测器(MD)被布置在第二空腔(CH2)中并且被配置为通过第二孔(AP2)检测从荧光探头(FP)接收的光子。测量块(MB)被配置为确定表示所接收的光子中的一个相对于发射脉冲的到达时间的相应差值。直方图块(HIST)被配置为将差值累积在直方图中。处理单元(PRC)被配置为基于对直方图的评估来计算飞行时间值，根据飞行时间值计算荧光寿命并且生成指示荧光探头的荧光寿命的输出信号(OS)。控制单元(CU)被配置为启动光发射器(OE)的脉冲发射。 | ||||||
| 8 | 荧光寿命传感器模块和使用传感器模块确定荧光寿命的方法 | CN201780061581.1 | 2017-10-04 | CN109791109B | 2021-08-10 | 马丁·闵采尔 |
| 一种荧光寿命传感器模块包括不透明外壳(OH)，该不透明外壳(OH)具有由光屏障(LB)间隔开的第一腔室(CH1)和第二腔室(CH2)。光发射器(OE)布置在第一腔室(CH1)中并且被配置为通过第一孔(AP1)发射。指定波长的光脉冲发射被布置成光学地激发位于传感器模块前方的荧光探头(FP)。检测器(MD)被布置在第二空腔(CH2)中并且被配置为通过第二孔(AP2)检测从荧光探头(FP)接收的光子。测量块(MB)被配置为确定表示所接收的光子中的一个相对于发射脉冲的到达时间的相应差值。直方图块(HIST)被配置为将差值累积在直方图中。处理单元(PRC)被配置为基于对直方图的评估来计算飞行时间值，根据飞行时间值计算荧光寿命并且生成指示荧光探头的荧光寿命的输出信号(OS)。控制单元(CU)被配置为启动光发射器(OE)的脉冲发射。 | ||||||
| 9 | 一种用于荧光寿命编码的量子点及其荧光寿命编码方法 | CN201511025943.0 | 2015-12-30 | CN105694891B | 2018-01-23 | 蔡林涛; 陈驰; 张利 |
| 本发明提供了一种用于荧光寿命编码的量子点，包括至少两种不同荧光寿命的靶向量子点，靶向量子点包括碲化镉/硫化镉量子点和用于识别癌细胞的穿膜肽，穿膜肽与碲化镉/硫化镉量子点通过配位作用连接，碲化镉/硫化镉量子点具有以碲化镉为内核，以硫化镉为外壳的核壳结构。本发明通过将不同荧光寿命的靶向量子点混合在一起，通过改变这至少两种靶向量子点的比例，可以得到不同的荧光寿命编码，不同荧光寿命的可用于荧光寿命编码的量子点会产生大量的不同的可区分的光学信号，编码信息量大，本发明用于荧光寿命编码的量子点可作为荧光标记物广泛应用于活体成像研究。本发明还提供了一种量子点的靶向荧光寿命编码方法。 | ||||||
| 10 | 一种用于荧光寿命编码的量子点及其荧光寿命编码方法 | CN201511025943.0 | 2015-12-30 | CN105694891A | 2016-06-22 | 蔡林涛; 陈驰; 张利 |
| 本发明提供了一种用于荧光寿命编码的量子点，包括至少两种不同荧光寿命的靶向量子点，靶向量子点包括碲化镉/硫化镉量子点和用于识别癌细胞的穿膜肽，穿膜肽与碲化镉/硫化镉量子点通过配位作用连接，碲化镉/硫化镉量子点具有以碲化镉为内核，以硫化镉为外壳的核壳结构。本发明通过将不同荧光寿命的靶向量子点混合在一起，通过改变这至少两种靶向量子点的比例，可以得到不同的荧光寿命编码，不同荧光寿命的可用于荧光寿命编码的量子点会产生大量的不同的可区分的光学信号，编码信息量大，本发明用于荧光寿命编码的量子点可作为荧光标记物广泛应用于活体成像研究。本发明还提供了一种量子点的靶向荧光寿命编码方法。 | ||||||
| 11 | 一种荧光寿命测温装置 | CN201220232398.8 | 2012-05-07 | CN202676322U | 2013-01-16 | 杨如祥 |
| 本实用新型涉及一种荧光寿命测温装置，其特征在于：包括具有异或门和计数器的可编程逻辑器件；荧光激励光源驱动电路；荧光激励光源；荧光探头；光敏管；整形电路；计算单元，可编程逻辑器件的输出端与计算单元相连，用于根据可编程逻辑器件计数器的计数结果和荧光寿命与温度的关系计算出温度值。与现有技术相比，本实用新型的优点在于：采用本实用新型提供的荧光寿命测温装置进行测温，其灵敏度高、精度高、成本低、抗电磁干扰、重复性好、耐腐蚀、电绝缘性好、结构简单、光路可扰性好，能与计算机联接实现远程遥测。 | ||||||
| 12 | 一种基于荧光寿命的内窥处理系统 | CN202311210242.9 | 2023-09-19 | CN116982917A | 2023-11-03 | 张红明; 张洪然 |
| 本公开提供了一种基于荧光寿命的内窥处理系统，所述系统包括：光源模块，用于发射脉冲激光；光纤耦合模块，用于传输所述脉冲激光和荧光信号；扫描成像模块，用于将所述脉冲激光依次照射在目标区域，收集、传输目标区域发出的荧光信号；分类模块，用于处理所述荧光信号得到所述目标区域的图像信息和荧光寿命信息，基于所述目标区域的图像信息和荧光寿命信息对所述目标区域进行分类得到分类结果。本公开有效的扩展了内窥处理系统的灵活性和临床实用性，通过对荧光寿命信息进行转换、特征提取等处理，增加寿命信息之间的关系，结合目标区域的图像信息和荧光寿命信息对目标区域进行分类，从而增强分类的鲁棒性、提高分类精度。 | ||||||
| 13 | 一种荧光寿命型光纤氧传感器 | CN202310359933.9 | 2023-04-06 | CN116593430A | 2023-08-15 | 王宏亮; 向后奎; 杨胜 |
| 本发明提供了一种荧光寿命型光纤氧传感器，包括光学系统、温度测量系统、信号处理系统及控制系统；光学系统包括石英多模光纤耦合结构、光学挡板、直插LED和光纤耦合LED；信号处理系统包括硅光电二极管和模拟信号处理模块；MCU控制模块通过正弦调制模块分别向直插LED参考光源、光纤耦合LED激发光源发送脉冲信号，使其产生同频率的正弦波；光学系统用于直插LED参考光源和光纤耦合LED激发光源的收集并交其传送给硅光电二极管；硅光电二极管采集到的荧光及参考光信号经模拟信号处理模块放大，传输到MCU控制模块进行数/模转换后，用于氧气浓度计算。本发明采用上述技术方案，具有以下优点：可有效避免光强型氧传感器所存在的易受光纤弯折、漂白等因素干扰问题。 | ||||||
| 14 | 一种荧光寿命检测装置及检测方法 | CN202211198989.2 | 2022-09-29 | CN115452722A | 2022-12-09 | 梁轩; 王飞 |
| 本申请实施例提供一种荧光寿命检测装置及检测方法，属于检测装置技术领域，包括：基板以及设置在基板上的至少一个检测单元；检测单元包括发光模块、探测模块和控制模块，发光模块和探测模块分别与控制模块连接；发光模块用于响应于控制模块发送的发光信号，朝向待测样品发出光线；探测模块用于探测待测样品被光线激发后辐射的荧光光子，并生成探测信号发送给控制模块；控制模块用于在发送发光信号时开始计时，并在接收到探测信号后停止计时，以根据开始发送发光信号与接收到探测信号之间的时间间隔，确定待测样品的荧光寿命。通过本申请实施例提供的一种荧光寿命检测装置及检测方法，可以降低测量荧光寿命设备的成本。 | ||||||
| 15 | 用于荧光寿命分析的光源 | CN201680043129.8 | 2016-05-20 | CN107851965B | 2021-01-05 | 乔纳森·M·罗斯伯格; 杰森·W·希克勒; 罗伦斯·C·威斯特; F·艾哈迈德; 布兰登·黄; 保罗·E·格伦; J·C·舒尔茨; J·卡马拉 |
| 本发明阐述用于产生短及超短光脉冲的紧凑光源及方法。可用双极波形驱动半导体激光器或LED(2‑423)以产生具有短至大约85ps的FWHM持续时间的光脉冲，该光脉冲具有被抑制的尾部发射。该脉冲光源可用于生物样本的荧光寿命分析及时差测距成像以及其他应用。 | ||||||
| 16 | 基于逐次比较法的荧光寿命测量方式 | CN201811348751.7 | 2018-11-13 | CN111175258A | 2020-05-19 | 徐江涛; 查万斌; 聂凯明; 林鹏; 顾天宇 |
| 基于逐次比较法的荧光寿命测量方式，主要通过模拟域比较器对光探测单元输出的电压信号进行实时比较并取舍的方式，使最终的输出信号只包括最高电压、最低电压和时间信号，大大减少了传感器输出的有效数据量，减轻了带宽压力。 | ||||||
| 17 | 两点积分式荧光寿命快速检测系统 | CN201710620992.1 | 2017-07-27 | CN107389640B | 2020-04-21 | 殷高方; 赵南京; 涂梦迪; 覃志松; 甘婷婷; 方丽; 孟德硕; 段静波; 杨瑞芳; 肖雪; 马明俊; 刘建国; 刘文清 |
| 本发明公开了一种的两点积分式荧光寿命快速检测系统，包括有氧敏感荧光膜、激发光源、光电检测电路、探测器温控电路、主控制器。本发明以LED为光源，以硅光电倍增管为探测器，结合可变增益放大器实现荧光衰减曲线自动放大，采用高速开关型电荷积分器快速测量不同时刻荧光强度，从而实现荧光猝灭过程中荧光衰减曲线多点荧光强度快速高灵敏测量，通过选择荧光衰减曲线的两点强度直接反演氧敏感荧光膜的荧光寿命，获得溶解氧浓度。本发明具有测量快速，检测电路简单易实现，不易受光源波动、老化以及自然光照等外界因素干扰，测量稳定和可靠性强等特点。 | ||||||
| 18 | 用于测量荧光寿命的装置 | CN201510520958.8 | 2015-08-21 | CN106053400B | 2018-12-11 | 周正振 |
| 本文中提供荧光寿命测量装置，其能够容易地和精确地测量荧光寿命而不破坏待测量的物体。荧光寿命测量装置包括多个泵浦光束源，泵浦光束组合器，第一、第二和第三多模光纤，光隔离器，波长选择性反射滤光片，截止滤光片，和光电二极管。 | ||||||
| 19 | 超分辨荧光寿命相关光谱系统 | CN201410332038.9 | 2014-07-11 | CN104089935B | 2018-03-13 | 于建强; 袁景和; 方晓红 |
| 本发明公开了一种超分辨荧光寿命相关光谱系统。激光器a输出的激光经二向色性滤光片a滤光后汇聚至显微物镜，激光器b输出的激光依次经位相板和二向色性滤光片b滤光后入射至显微物镜；经显微物镜汇聚的激光照射至样品台，得到待测样品的荧光信号又经显微物镜汇聚后经收集透镜收集后入射至光电探测器，光电探测器输出的光电信号输入至光学信号采集器；激光器a和激光器b的同步触发信号输入至光学信号采集器。本发明超分辨荧光寿命相关光谱系统，在超分辨的基础上实现荧光寿命相关光谱，减小了探测焦斑体积，提高了荧光寿命相关光谱系统的最大使用浓度；由于使用了荧光寿命分离的方法，相关分析的信噪比得到了较大的提高，提高了探测弱信号的能力。 | ||||||
| 20 | 具有高荧光寿命的荧光指示剂 | CN201510981005.1 | 2015-12-24 | CN105602549A | 2016-05-25 | 白鹏利; 殷建; 尹焕才; 陈名利; 胡军 |
| 本案涉及一种具有高荧光寿命的荧光指示剂，该荧光指示剂以铕为中心金属，以氨基桥联的联吡啶作为辅助配体。本案所设计的荧光指示剂可被紫外光所激发，产生的荧光强度高，stokes位移大，可高达280nm；同时该指示剂具有时间分辨特性，激发后能长时间发出荧光，达到微秒级，可以利用此特性来消除待测样本的生物背景荧光。 | ||||||
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