| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 测量偏振 | CN201580046292.5 | 2015-06-26 | CN106662485A | 2017-05-10 | 沈铁汉; P.J.库克 |
| 公开了一种用于测量电磁照明的偏振的方法和装置。该方法包括以下步骤：调制从目标对象接收到的照明的偏振状态以生成经过调制的强度照明；通过以第一选通频率周期性地选通成像设备对经过调制的强度照明的曝光来选择性地测量经过调制的强度照明的强度；响应于所测得的强度，确定所接收到的照明的偏振参数；以及利用多个偏振参数生成与目标对象相对应的图像数据，其中根据第一频率来调制来自目标对象的照明并且第一选通频率至少与第一频率相关联且同步。 | ||||||
| 2 | 偏振测量法 | CN202180092508.7 | 2021-12-14 | CN116802465A | 2023-09-22 | 何超; 马丁·布斯 |
| 公开了一种旋光仪(10)。该旋光仪(10)包括:全庞加莱发生器(110)，被配置成接收具有未知偏振态的入射光束，并从所述入射光束产生全庞加莱光束；偏振器(130)，被配置成从由所述全庞加莱发生器(110)产生的全庞加莱光束中选择本征态；检测器(170),被配置成检测由所述偏振器选择的本征态的强度空间分布；以及处理器(250)，被配置成根据来自检测器(170)的输出来确定所述入射光束的偏振态。 | ||||||
| 3 | 偏振片和偏振测量装置 | CN202010870215.4 | 2020-08-26 | CN111964783A | 2020-11-20 | 吴剑; 孙伟政; 刘一蓉; 熊今朝 |
| 本发明公开了一种偏振片和偏振测量装置。偏振片包括至少一个起偏部，每一个起偏部用于将光线过滤，以形成线偏振光，线偏振光用于照射被测物体，并用于照射被测物体后反射出去。至少一个检偏部，检偏部的数量与起偏部的数量相同，每一个检偏部与其中一个起偏部在偏振片上呈中心对称分布，检偏部用于过滤从被测物体反射出去的线偏振光。通过在一片偏振片上设置中心对称的起偏部与检偏部，在同一片偏振片上就可以完成不同偏振角度的起偏与检偏操作，简化了设计检测装置的复杂结构，便于检测装置微型化。 | ||||||
| 4 | 偏振片和偏振测量装置 | CN202021834553.4 | 2020-08-26 | CN212658338U | 2021-03-05 | 吴剑; 孙伟政; 刘一蓉; 熊今朝 |
| 本实用新型公开了一种偏振片和偏振测量装置。偏振片包括至少一个起偏部，每一个起偏部用于将光线过滤，以形成线偏振光，线偏振光用于照射被测物体，并用于照射被测物体后反射出去。至少一个检偏部，检偏部的数量与起偏部的数量相同，每一个检偏部与其中一个起偏部在偏振片上呈中心对称分布，检偏部用于过滤从被测物体反射出去的线偏振光。通过在一片偏振片上设置中心对称的起偏部与检偏部，在同一片偏振片上就可以完成不同偏振角度的起偏与检偏操作，简化了设计检测装置的复杂结构，便于检测装置微型化。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利 | ||||||
| 5 | 成像式偏振测量 | CN201680060473.8 | 2016-09-29 | CN108351407A | 2018-07-31 | 马丁·福西克; 朱利安·奥道迈茨; 马克西米利安·波佩尔 |
| 本发明涉及一种用于进行成像式偏振测量的方法，其中，无芯片的、无源的应答器(1)借助雷达辐射(R)以全极化方式来照亮，应答器包括多个具有不同极化特性的部分面(T1～T9)，应答器(1)的至少一个经偏振编码的图像(B1～B3)依据由其反射的雷达辐射(R)来产生，并且应答器(1)的不同的部分面(T1～T9)在经偏振编码的图像(B1～B3)中借助其至少一个极化特性来识别。无源的、无芯片的应答器(1)包括至少两个具有不同极化结构(2、α)的部分面(T1～T9)。 | ||||||
| 6 | 测量偏振模色散 | CN200710152124.1 | 2007-09-17 | CN101144751A | 2008-03-19 | 文森特·勒科奇 |
| 本发明公开了一种用于测量受试器件(DUT)内偏振模色散(PMD)的装置，包括偏振光源，用于经DUT发射测试光束；以及PMD分析仪，它采用多种已知技术中的一种，如固定分析仪－傅立叶变换(FA－FT)或干涉仪式，以计算DUT引起的PMD。在光源与PMD分析仪之间布置有由多个双折射元件组成的无源消偏器，以生成多个对应于双折射元件所施加时延的载波频率。DUT的PMD成分存在于每个载波周围，可以对多个PMD测量值取平均来获得更为精确且可再现的PMD测量值。 | ||||||
| 7 | 测量偏振模色散 | CN200710152124.1 | 2007-09-17 | CN101144751B | 2011-02-23 | 文森特·勒科奇 |
| 本发明公开了一种用于测量受试器件(DUT)内偏振模色散(PMD)的装置，包括偏振光源，用于经DUT发射测试光束；以及PMD分析仪，它采用多种已知技术中的一种，如固定分析仪-傅立叶变换(FA-FT)或干涉仪式，以计算DUT引起的PMD。在光源与PMD分析仪之间布置有由多个双折射元件组成的无源消偏器，以生成多个对应于双折射元件所施加时延的载波频率。DUT的PMD成分存在于每个载波周围，可以对多个PMD测量值取平均来获得更为精确且可再现的PMD测量值。 | ||||||
| 8 | 偏振态测量装置和偏振态测量方法 | CN202110406838.0 | 2021-04-15 | CN115219034A | 2022-10-21 | 张经纬; 蒋履辉; 张蔚 |
| 本申请实施例公开了一种偏振态测量装置，应用于光通信领域。偏振态测量装置包括晶体，反射结构和探测器组。当入射光入射到第一反射结构时，产生第一反射光和第一透射光。第一反射光入射至第二反射结构，产生第二反射光和第二透射光。第二反射光入射至第三反射结构，产生第三反射光和第三透射光。探测器组用于测量第一透射光，第二透射光，第三透射光和第三反射光的四个光强度。四个光强度用于得到入射光的偏振态。本申请中的第一反射光和第二反射光经过晶体，可以增加传输矩阵的数量，从而提高设计偏振态测量装置的灵活性。 | ||||||
| 9 | 一种偏振测量装置及偏振测量方法 | CN201910194291.5 | 2019-03-14 | CN109883553B | 2020-01-21 | 李仲禹; 王政; 陈旻峰 |
| 本发明实施例公开了一种偏振测量装置及偏振测量方法，所述偏振测量装置包括沿光路依次设置的光束出射单元、测量镜组和光束测量单元；所述光束出射单元用于出射偏振入射光束；所述测量镜组包括相对设置的管镜和物镜，所述偏振入射光束依次经过所述管镜和所述物镜投射到被测量面上，且所述被测量面反射的偏振反射光束依次经过所述物镜和所述管镜传播；所述光束测量单元用于接收由所述管镜出射的所述偏振反射光束。采用上述技术方案，可以对被测量面的特性进行检测；同时偏振测量装置结构简单，横向尺寸小，利于集成调校。 | ||||||
| 10 | 偏振测量方法、偏振测量装置、偏振测量系统及光配向照射装置 | CN201310303088.X | 2013-07-18 | CN103575400A | 2014-02-12 | 石飞裕和; 川锅保文; 齐藤行正; 浅见英一 |
| 本发明提供一种偏振测量方法、偏振测量装置、偏振测量系统及光配向照射装置，用于高精度地测量偏振光的偏振特性。偏振测量方法包括：基于使检测侧偏振器转动的同时测得的依次透过了检测线栅偏振器及检测侧偏振器的光在各转动角度下的光的光量，求解表示所述检测侧偏振器旋转时的所述光量的周期性变化的变化曲线；以及在基于该变化曲线确定透过了所述线栅偏振器的偏振光的偏振特性时，基于所述转动角度下的所述光量，求解所述变化曲线；其中所述转动角度（θ）包含在包含所述变化曲线的构成一个极小点的转动角度（θ）＝（θa）且所述光量（I）为规定值以下的所述转动角度（θ）的范围（Ｗ）内。 | ||||||
| 11 | 一种基于光波偏振态的偏振测量系统 | CN202011163635.5 | 2020-10-27 | CN112345078A | 2021-02-09 | 张春熹; 刘洪斌; 王心; 于佳 |
| 本发明公开了一种基于光波偏振态的偏振测量系统，涉及偏振测量技术领域，包括光线信号电磁波发射器、偏移模块、滤光通道模块、偏振棱镜、光线信号接收模块、偏振计、智能结果平均值计算模块；光线信号电磁波发射器中使用的材料为钽酸钾晶体，钽酸钾晶体利用的是光折变效应将光源发出的光线进行折射发送出去；偏振棱镜的数量有三个，第一个偏振棱镜呈水平放置，且第二个偏振棱镜相对于第一个偏振棱镜偏转了四十五度角。该基于光波偏振态的偏振测量系统，通过设置有三组偏振棱镜可以将滤光通道模块过滤后的优质光线信号进行三个不同角度方向的折射，使得可以对三个不同方向的光线信号进行偏振测量，减少单一测量造成的误差。 | ||||||
| 12 | 一种偏振调制结构及偏振测量系统 | CN201810504060.5 | 2018-05-23 | CN109000798A | 2018-12-14 | 谷洪刚; 刘世元; 陈修国; 江浩; 张传维 |
| 本发明属于光学检测装置领域，并具体公开了一种偏振调制结构及偏振测量系统，其包括旋转补偿器和偏振器，所述旋转补偿器为连续旋转的复合波片，该复合波片由多个同种材料的单波片组合而成，该复合波片的整体结构由各单波片的厚度和光轴夹角依据偏振特性传递矩阵优化设计确定。本发明的偏振调制结构具有结构简单，容易加工，波长适用范围广的优点，并且基于该偏振调制结构可设计出宽波段偏振测量系统，适应于宽波段精密偏振测量的需求。 | ||||||
| 13 | 一种偏振调制结构及偏振测量系统 | CN201810504060.5 | 2018-05-23 | CN109000798B | 2019-11-22 | 谷洪刚; 刘世元; 陈修国; 江浩; 张传维 |
| 本发明属于光学检测装置领域，并具体公开了一种偏振调制结构及偏振测量系统，其包括旋转补偿器和偏振器，所述旋转补偿器为连续旋转的复合波片，该复合波片由多个同种材料的单波片组合而成，该复合波片的整体结构由各单波片的厚度和光轴夹角依据偏振特性传递矩阵优化设计确定。本发明的偏振调制结构具有结构简单，容易加工，波长适用范围广的优点，并且基于该偏振调制结构可设计出宽波段偏振测量系统，适应于宽波段精密偏振测量的需求。 | ||||||
| 14 | 线偏振角度和偏振效率自动测量装置 | CN202211234345.4 | 2022-10-10 | CN115420474A | 2022-12-02 | 廖亮举 |
| 本发明涉及镜片检测技术领域，尤其涉及线偏振角度和偏振效率自动测量装置，光源闭环控制器电信号连接于光源闭环接收硅光电池和两侧的测量光源，测量光源的照射方向上均设有光源对应匀光板，支架上放置待测线偏振样品，支架下方均设有用于安装线偏振母版的自转支架，线偏振母版位于待测线偏振样品的正下方，步进电机通过齿轮组和同步皮来带动自转支架转动，本发明的有益效果为：检测设备可大大提高线偏振材料的测试效率，尤其是提高测试准确性。传统线偏振角度测试精度仅0.5至1度，由于角度偏差相对较大因此偏振效率测试准确度也就偏低；本测试方案可以将角度精度准确性提升到0.05度。同时通过多项式数据拟合补偿，可以更精确的计算出对应的偏振效率。 | ||||||
| 15 | 线偏振角度和偏振效率自动测量装置 | CN202222657988.1 | 2022-10-10 | CN218098256U | 2022-12-20 | 廖亮举 |
| 本实用新型涉及镜片检测技术领域，尤其涉及线偏振角度和偏振效率自动测量装置，光源闭环控制器电信号连接于光源闭环接收硅光电池和两侧的测量光源，测量光源的照射方向上均设有光源对应匀光板，支架上放置待测线偏振样品，支架下方均设有用于安装线偏振母版的自转支架，线偏振母版位于待测线偏振样品的正下方，步进电机通过齿轮组和同步皮来带动自转支架转动，本实用新型的有益效果为：检测设备可大大提高线偏振材料的测试效率，尤其是提高测试准确性。传统线偏振角度测试精度仅0.5至1度，由于角度偏差相对较大因此偏振效率测试准确度也就偏低；本测试方案可以将角度精度准确性提升到0.05度。同时通过多项式数据拟合补偿，可以更精确的计算出对应的偏振效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利 | ||||||
| 16 | 一种偏振光谱测量装置 | CN202210370915.6 | 2022-04-11 | CN114739513A | 2022-07-12 | 张伟华; 余颖 |
| 本发明公开了一种偏振光谱测量装置。该装置包括入射狭缝、耦合元件、色散元件和探测设备，待测样品自发或受激所产生的信号光经入射狭缝后由耦合元件收集，耦合元件再将光束入射至色散元件分散成多束色散光，色散元件用于将光束的偏振相关量分离到不同的衍射级，然后由探测设备探测多束色散光，直接获得待测样品的偏振光谱。本发明通过调控光束和色散元件的位置可搭建不同光路形式的光谱仪，包括透射式、折射式和反射式。通过对光源的调控和探测信息的选择，该光谱仪可以实现在紫外、可见、红外波段的吸收、散射、发射、拉曼等光谱的检测，具有快速稳定、简单高效地获得光谱信息等优点。 | ||||||
| 17 | 测量对偏振光的敏感性 | CN201780009927.3 | 2017-02-01 | CN108601520B | 2021-11-02 | 谢尔比·坦普尔 |
| 提供了一种用于测试受试者视力的装置和对应方法。该装置包括偏振装置，该偏振装置被配置为使入射光偏振，并且围绕与入射光的路径基本共线的轴线旋转施加到入射光的偏振角。该装置还包括光学部件，其被配置为将光引导到所述偏振装置上，其中所述偏振装置被配置为产生光，所述光具有从多个可选偏振度中选择的偏振度并且具有用于受试者观察的旋转偏振角的光。由于光的偏振，受试者能够观察到被称为海丁格光刷的视觉现象，此外由于偏振角的旋转，眼睛适应该现象的趋势被抵消，从而效果持续存在并且可以更可靠地测试受试者。测试受试者在多种可选偏振度下来感知现象的能力使得能够评估受试者眼睛的健康状况，并且特别是可以用于估计受试者的黄斑色素光密度和受试者对与年龄有关的黄斑变性的易感性。 | ||||||
| 18 | 全偏振测量显微镜 | CN201710147924.8 | 2017-03-13 | CN108572143B | 2020-12-08 | 曹奇志; 张晶; 赵银军; 李建映; 邓婷; 樊东鑫; 王华华 |
| 本发明公开了一种全偏振测量显微镜，其特征在于，包括沿入射光方向依次设置的准直透镜、滤波片、物镜、偏振调制组合、成像镜以及CCD相机，待测样品设置在所述滤波片和所述物镜之间，所述物镜和成像镜具有放大倍数；其中，所述偏振调制组合包括沿入射光方向依次设置的第一改进型萨瓦偏光镜、半波片、第二改进型萨瓦偏光镜以及偏振片。本发明采用静态的偏振调制组合替代光电调制系统或者旋转系统，只需一次测量，便可获取目标全部的偏振信息。 | ||||||
| 19 | 散射测量中的偏振调谐 | CN201680082112.3 | 2016-11-30 | CN108700816A | 2018-10-23 | 毛瑞特斯·范德查尔; 帕特里克·沃纳阿; 张幼平; A·J·登博夫; 肖锋; M·埃伯特 |
| 一种方法包括：将辐射的照射束投影到衬底上的量测目标上；检测从衬底上的量测目标反射的辐射；和基于检测到的辐射来确定衬底上的特征的特性，其中，可控地选择检测到的辐射的偏振状态，以优化检测到的辐射的品质。 | ||||||
| 20 | 一种偏振测量装置 | CN201910194291.5 | 2019-03-14 | CN109883553A | 2019-06-14 | 李仲禹; 王政; 陈旻峰 |
| 本发明实施例公开了一种偏振测量装置，所述偏振测量装置包括沿光路依次设置的光束出射单元、测量镜组和光束测量单元；所述光束出射单元用于出射偏振入射光束；所述测量镜组包括相对设置的管镜和物镜，所述偏振入射光束依次经过所述管镜和所述物镜投射到被测量面上，且所述被测量面反射的偏振反射光束依次经过所述物镜和所述管镜传播；所述光束测量单元用于接收由所述管镜出射的所述偏振反射光束。采用上述技术方案，可以对被测量面的特性进行检测；同时偏振测量装置结构简单，横向尺寸小，利于集成调校。 | ||||||
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