| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 1 | 波长调谐移相干涉系统 | CN201520297068.0 | 2015-05-04 | CN204881513U | 2015-12-16 | 王灵浩 |
| 本实用新型涉及一种波长调谐移相干涉系统，由激光器(1)、扩束透镜(2)、准直透镜(3)、分光棱镜(4)、参考镜(5)、成像透镜(6)和CCD(7)构成，按照激光光路方向依次设置激光器(1)、扩束透镜(2)、准直透镜(3)、分光棱镜(4)和参考镜(5)，在与激光光路方向相互垂直方向上的分光棱镜(4)两侧分别设置成像透镜(6)和被测镜(9)。本系统选用波长可调谐的半导体激光器作为光源，同时利用其波长可调谐的特点，控制注入电流，产生连续的、速率可调的相移，实现移相器的作用。 | ||||||
| 2 | 基于随机相长干涉原理的立体显示装置 | PCT/CN2010/077182 | 2010-09-21 | WO2011035711A1 | 2011-03-31 | 李志扬 |
| 3 | 基于随机相长干涉的三维显示方法及装置 | PCT/CN2009/000112 | 2009-01-23 | WO2009097746A1 | 2009-08-13 | 李志扬 |
| 4 | 采用来自环境条件的相长干涉 | CN201611102066.7 | 2016-11-29 | CN106814038B | 2021-03-05 | S·纳拉亚南; S·拉马斯瓦米; A·波利; A·沙玛 |
| 本申请公开一种光学系统(104)，该光学系统(104)包括光学照明源(202)、光学接收器(204)、相关性确定电路(206)以及环境条件控制电路(208)。光学照明源(202)被配置为在靶目标的方向上发射光(116)。光学接收器(204)被配置为接收组合光学信号(114)，该组合光学信号(114)包括与探询成分组合的环境光成分。相关性确定电路(206)被配置为比较组合光学信号(114)与环境光信号(112)以识别相关性因子。环境条件控制电路(208)被配置为比较相关性因子与低相关性阈值和高相关性阈值，并且基于相关性因子超过低阈值并小于高相关性阈值而从组合光学信号(114)中消除环境光成分以产生包括探询成分的探询信号(118)。 | ||||||
| 5 | 利用相长干涉电磁辐射的热处理系统 | CN201080025851.1 | 2010-06-10 | CN102802724B | 2015-04-22 | 格雷戈里·G·罗丝 |
| 方法和系统实现使用微波或其它电磁辐射来热处理主体的一部分而不危害所述主体的其它部分。在实施例中，多个电磁辐射发射器定位于热处理系统内且耦合到控制处理器。所述电磁辐射可作为伪随机波形来发射且可为微波辐射。所述控制处理器协调所述发射器以使得所发射电磁辐射在处理体积内相长地干涉，同时穿过所述主体的其余部分的辐射随机地干涉或表现为噪声。因此，在其中所述电磁辐射波形同相地到达的体积中，所有所述发射器的功率相长地相加，从而导致显著的温度上升，同时所述主体的其余部分暴露于低得多的平均功率电平且因此较低的温度上升。 | ||||||
| 6 | 利用相长干涉电磁辐射的热处理系统 | CN201080025851.1 | 2010-06-10 | CN102802724A | 2012-11-28 | 格雷戈里·G·罗丝 |
| 方法和系统实现使用微波或其它电磁辐射来热处理主体的一部分而不危害所述主体的其它部分。在实施例中，多个电磁辐射发射器定位于热处理系统内且耦合到控制处理器。所述电磁辐射可作为伪随机波形来发射且可为微波辐射。所述控制处理器协调所述发射器以使得所发射电磁辐射在处理体积内相长地干涉，同时穿过所述主体的其余部分的辐射随机地干涉或表现为噪声。因此，在其中所述电磁辐射波形同相地到达的体积中，所有所述发射器的功率相长地相加，从而导致显著的温度上升，同时所述主体的其余部分暴露于低得多的平均功率电平且因此较低的温度上升。 | ||||||
| 7 | 双波长二维空间相移电子散斑干涉仪 | CN200510025029.6 | 2005-04-13 | CN1670468A | 2005-09-21 | 张熹; 陆鹏; 吴君毅; 夏远富 |
| 一种双波长二维空间相移电子散斑干涉仪，它主要包括两组激光照射机构、干涉接收机构、四组激光反射机构和空间相移机构。两组激光照射机构为泵浦红激光照射机构和泵浦绿激光照射机构。本发明同时采用644.6nm泵浦红激光器和532nm泵浦绿激光器作为光源，分别对应得到U场和V场；采用不同波长通过的干涉滤光片，使得三维变形中的U场和V场可独立分离出来；并通过空间相移器(偏转载波片)实现条纹的数字化，可以直接、同时获得纯粹U场和V场的干涉条纹，加上空间相移功能，实现了条纹的数字化。 | ||||||
| 8 | 采用来自环境条件的相长干涉 | CN201611102066.7 | 2016-11-29 | CN106814038A | 2017-06-09 | S·纳拉亚南; S·拉马斯瓦米; A·波利; A·沙玛 |
| 本申请公开一种光学系统(104)，该光学系统(104)包括光学照明源(202)、光学接收器(204)、相关性确定电路(206)以及环境条件控制电路(208)。光学照明源(202)被配置为在靶目标的方向上发射光(116)。光学接收器(204)被配置为接收组合光学信号(114)，该组合光学信号(114)包括与探询成分组合的环境光成分。相关性确定电路(206)被配置为比较组合光学信号(114)与环境光信号(112)以识别相关性因子。环境条件控制电路(208)被配置为比较相关性因子与低相关性阈值和高相关性阈值，并且基于相关性因子超过低阈值并小于高相关性阈值而从组合光学信号(114)中消除环境光成分以产生包括探询成分的探询信号(118)。 | ||||||
| 9 | 双波长二维空间相移电子散斑干涉仪 | CN200510025029.6 | 2005-04-13 | CN1283976C | 2006-11-08 | 张熹; 陆鹏; 吴君毅; 夏远富 |
| 一种双波长二维空间相移电子散斑干涉仪，它主要包括两组激光照射机构、干涉接收机构、四组激光反射机构和空间相移机构。两组激光照射机构为泵浦红激光照射机构和泵浦绿激光照射机构。本发明同时采用644.6nm泵浦红激光器和532nm泵浦绿激光器作为光源，分别对应得到U场和V场；采用不同波长通过的干涉滤光片，使得三维变形中的U场和V场可独立分离出来；并通过空间相移器(偏转载波片)实现条纹的数字化，可以直接、同时获得纯粹U场和V场的干涉条纹，加上空间相移功能，实现了条纹的数字化。 | ||||||
| 10 | 波长调谐相移干涉测试装置 | CN202020104005.X | 2020-01-17 | CN211373498U | 2020-08-28 | 赵智亮; 陈立华; 刘敏; 张志华; 龚小康 |
| 本实用新型公开了一种波长调谐相移干涉测试装置及测试方法，包括波长调谐激光器、干涉测试系统、干涉图样采集系统三部分。本实用新型克服了常规干涉仪机械相移器安装繁琐、结构复杂等问题，通过采用自修正相位测试原理，可计算得到干涉腔腔长值，并修正相移误差，从而实现整体干涉仪系统的高精度、高效率检测。实验表明，本实用新型系统装置相位修正误差值为±π/50，系统重复性精度为λ/1000～λ/2000。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利 | ||||||
| 11 | 基于随机相长干涉的三维显示装置 | CN200820065606.3 | 2008-02-03 | CN201199289Y | 2009-02-25 | 李志扬 |
| 本实用新型公开了一种基于随机相长干涉的三维显示装置，它采用两块透射式液晶板、两块偏振片、两块半透半反镜、两块反射镜和一个投影镜头组成振幅位相调节器阵列，由该振幅位相调节器阵列产生离散子光源，通过离散子光源的相长干涉形成三维立体像，振幅位相调节器阵列与随机光斑发生器阵列对准，随机光斑发生器阵列由一块微孔挡光板和一块透射式散射屏或反射式散射屏或微透镜阵列组成，使子光源的位置呈随机分布，消除高阶衍射产生的多重像。它可采用低分辨率的液晶显示器实现大尺寸、大视角立体像的实时彩色显示，可广泛应用于计算机与电视三维显示，三维人机交换，机器人视觉等领域。 | ||||||
| 12 | 双波长二维空间相移电子散斑干涉仪 | CN200520040815.9 | 2005-04-13 | CN2826363Y | 2006-10-11 | 张熹; 陆鹏; 吴君毅; 夏远富 |
| 一种双波长二维空间相移电子散斑干涉仪，它主要包括两组激光照射机构、干涉接收机构、四组激光反射机构和空间相移机构。两组激光照射机构为泵浦红激光照射机构和泵浦绿激光照射机构。本实用新型同时采用644.6nm泵浦红激光器和532nm泵浦绿激光器作为光源，分别对应得到U场和V场；采用不同波长通过的干涉滤光片，使得三维变形中的U场和V场可独立分离出来；并通过空间相移器(偏转载波片)实现条纹的数字化，可以直接、同时获得纯粹U场和V场的干涉条纹，加上空间相移功能，实现了条纹的数字化。 | ||||||
| 13 | 处理波长移相干涉中超薄平行平板交叉式干涉条纹方法 | CN201710084247.X | 2017-02-16 | CN106949846A | 2017-07-14 | 董焰章; 孙涛; 于瀛洁; 牟柯冰 |
| 本发明涉及一种处理波长移相干涉中超薄平行平板交叉式干涉条纹方法，在波长移相干涉测量获得的超薄平行平板干涉图时引入sobel算子，通过空间方向滤波分离超薄平板前后表面干涉条纹，然后通过时域移相算法处理分离后的干涉条纹，从而得到前后表面的面形信息。该方法主要针前后表面产生交叉式干涉条纹的超薄平行平板的条纹图处理，可用于实现超薄平板前后表面面形的分离测量。 | ||||||
| 14 | 基于白光干涉彩色条纹处理的多波长相移干涉测量方法 | CN201610705193.X | 2016-08-22 | CN106247980A | 2016-12-21 | 郭彤; 顾玥; 边琰; 李峰; 陈津平; 傅星; 胡小唐 |
| 一种基于白光干涉彩色条纹处理的多波长相移干涉测量方法：对白光干涉测试系统初始化，选择硅片作为被测物体；调节被测物体在可视范围内的光路上的位置，在扫描范围内对被测物体进行垂直扫描，保存图像；利用MATLAB软件对图像进行Bayer反变换，得到真实的彩色图像信息；求解彩色图像三通道R、G、B的中心波长；重新调节被测物体在光路上的位置，使被测物体置于聚焦点处，采集并保存七幅不同相位处的白光干涉彩色图像，利用7步相移法准确求解相位信息；利用等效波长法得到物体高度的初步估计，再用条纹级次法精确求解物体的高度信息，得到物体表面三维形貌。本发明一次测量实现多波长相移干涉，减小测量过程受外界环境影响的程度，提高测量精度。 | ||||||
| 15 | 处理波长移相干涉中超薄平行平板交叉式干涉条纹方法 | CN201710084247.X | 2017-02-16 | CN106949846B | 2018-12-07 | 董焰章; 孙涛; 于瀛洁; 牟柯冰 |
| 本发明涉及一种处理波长移相干涉中超薄平行平板交叉式干涉条纹方法，在波长移相干涉测量获得的超薄平行平板干涉图时引入sobel算子，通过空间方向滤波分离超薄平板前后表面干涉条纹，然后通过时域移相算法处理分离后的干涉条纹，从而得到前后表面的面形信息。该方法主要针前后表面产生交叉式干涉条纹的超薄平行平板的条纹图处理，可用于实现超薄平板前后表面面形的分离测量。 | ||||||
| 16 | 基于相位补偿的光纤干涉光谱腔长校正方法 | CN202010751744.2 | 2020-07-30 | CN112050942B | 2021-06-15 | 赵勇; 郑洪坤; 吕日清 |
| 本发明涉及光纤传感器信号处理领域，公开了基于相位补偿的光纤干涉光谱腔长校正方法。在普通解调方法的基础上，提出了一种基于相位差补偿的腔长校正方法。该方法首先对原始光谱进行预处理得到真实光谱，利用普通解调方法得到腔长A；将腔长A带入到干涉公式中得到重构光谱A；通过互相关法计算真实光谱与重构光谱A之间的相位差A，利用相位差A进行第一次腔长校正，得到腔长B；通过腔长B得到重构光谱B，使用快速傅里叶变换(FFT)计算重构光谱B和真实光谱在频谱特征频率处的相位差B，利用相位差B对腔长B进行校正，得到最终腔长。应用本方法后，传感器腔长解调精度提高了近10000倍，极大的提高了运算效率与解调精度。 | ||||||
| 17 | 一种动态双波长移相干涉测量装置和测量方法 | CN202010609106.7 | 2020-06-29 | CN111947592A | 2020-11-17 | 刘世杰; 鲁棋; 周游; 白云波; 徐天柱; 倪开灶; 邵建达 |
| 一种动态双波长移相干涉测量装置，该装置中的包括：第一激光器、第二激光器、可调中性滤光片、光开关、反射镜、合束镜、扩束镜、二分之一波片、第一偏振分光棱镜、第一四分之一波片、参考镜、第二四分之一波片、近零位补偿镜、被测面、第三四分之一波片、成像镜、分束镜、第二偏振分光棱镜、第一探测器、第二探测器、第三偏振分光棱镜、第三探测器、第四探测器和计算机；以及测量方法。本发明装置隔振要求低，能实现对最大面形误差斜率小于3.5μm/pixel的非球面/自由曲面元件的面形进行全口径动态干涉测量。 | ||||||
| 18 | 紧凑型瞬态多波长移相干涉装置及其测量方法 | CN201910423482.4 | 2019-05-21 | CN110186390A | 2019-08-30 | 王道档; 朱其幸; 孔明; 许新科; 赵军; 刘维 |
| 本发明公开了一种紧凑型瞬态多波长移相干涉装置及其测量方法，包括RGB三色激光器、单模光纤、光纤准直器、扩束系统、偏振片、分光棱镜、四分之一波片、成像镜头、彩色偏振相机、偏振分光棱镜、参考镜、标准透镜和被测物；单模光纤的一端与RGB三色激光器相连，单模光纤的另一端与光纤准直器相连：本发明利用彩色偏振相机瞬时获得RGB三个颜色激光分别对应的4幅相位差为90°的移相干涉图，采用四步移相算法获得三个激光波长对应的瞬态相位分布，利用多波长技术测得大动态范围的面形。本发明的有益效果为：结构紧凑，测量速度快，具有很强的抗干扰能力，采取的瞬态多波长干涉技术动态测量范围大，测量精度高。 | ||||||
| 19 | 一种甚长基线干涉测量相关处理实现方法 | CN201410240777.5 | 2014-05-30 | CN104090993A | 2014-10-08 | 陈蓉; 王静温 |
| 本发明公开了一种甚长基线干涉测量相关处理实现方法，利用CPU和GPU协处理器组成的平台，基于MPI和CUDA混合并行模式以基线并行方式实现VLBI相关处理过程，为MPI+CUDA的高效计算模式在VLBI相关处理领域的应用提供了支撑。本发明以基线并行的方式有效实现了对VLBI相关处理过程的并行加速，充分利用了GPU高效的计算能力和多核CPU良好的任务分配和调度能力，提高了VLBI相关处理过程的运行效率，并且通过异构平台和混合并行模式保证了实现方法的灵活性和扩展性。 | ||||||
| 20 | 基于双波长相移干涉测量光学非均匀性的方法 | CN201110086719.8 | 2011-04-07 | CN102252823A | 2011-11-23 | 王玉荣; 郑箫逸; 李杰; 王青圃 |
| 本发明公开了一种基于双波长相移干涉测量光学非均匀性的方法，是根据材料的色散特性，采用带有光波长不同的两个激光器或波长可调谐激光器的干涉仪，将待测样品在两种波长光波下的折射率非均匀性等同于待测样品所要测量的光学非均匀性；利用相移干涉术得到待测样品放入干涉仪之前在两种波长光波下获得的相移干涉图以及待测样品放入干涉仪之后在两种波长光波下获得的相移干涉图；采用相移干涉相位恢复算法得到在两种波长光波下待测样品放入干涉仪前后的物光波相位之差，再求得待测样品的光学非均匀性。本发明自动消除了系统误差，测量过程无需调节待测样品，对待测样品前后表面的面形、平行度及加工精度无特殊要求，是一种真正的绝对测量方法，测量精度高。 | ||||||
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