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序号 专利名 申请号 申请日 公开(公告)号 公开(公告)日 发明人
1 三次衍射式光栅光谱 CN201811351172.8 2018-11-13 CN109489819B 2020-12-18 高飞; 黄波; 华灯鑫; 汪丽; 石冬晨
发明提供一种三次衍射式光栅光谱仪,涉及光谱分光技术领域。具体地,包括接收传输部、一级分光鉴频部、二级分光鉴频部和采集部;所述一级分光鉴频部包括第一准直透镜、第一光栅和反射镜;所述二级分光鉴频部包括第二准直透镜和第二光栅;所述第一准直透镜位于所述第一光栅与所述接收传输部之间;所述第二准直透镜位于所述第二光栅与所述接收传输部之间;所述反射镜设置于所述第一准直透镜一侧,用于反射所述第一光栅衍射出的光线;所述采集部位于所述第一准直透镜、所述第二准直透镜之间,且位于二级分光系统的焦平面上,用于接收所述第二准直透镜聚焦的光线。相对于现有技术可以对大气回波信号进行高精度的光谱分离。
2 一种衍射光栅光谱 CN200910114415.0 2009-09-23 CN101672695A 2010-03-17 董建杰; 张卫平
发明涉及一种衍射光栅光谱仪,包括带有狭缝的平板、平面光栅和光谱采集装置。所述平板上的狭缝的缝宽可以调节,平面光栅作为一个衍射成像元件对平板上的狭缝成像,除零级衍射光外从平面光栅出射的每一级衍射光分别在狭缝的虚像面上成一组虚光谱,光谱采集装置是数码相机、胶片相机、摄像机其中一种,或者是正透镜和CCD组成的装置,或者是正透镜和感光板组成的装置,光谱采集装置对某一非零级衍射光衍射所成的像进行采集,从而采集到光谱。本发明不仅结构简单、易于调节,而且便于使用不同的采集系统采集光谱。
3 三次衍射式光栅光谱 CN201811351172.8 2018-11-13 CN109489819A 2019-03-19 高飞; 黄波; 华灯鑫; 汪丽; 石冬晨
发明提供一种三次衍射式光栅光谱仪,涉及光谱分光技术领域。具体地,包括接收传输部、一级分光鉴频部、二级分光鉴频部和采集部;所述一级分光鉴频部包括第一准直透镜、第一光栅和反射镜;所述二级分光鉴频部包括第二准直透镜和第二光栅;所述第一准直透镜位于所述第一光栅与所述接收传输部之间;所述第二准直透镜位于所述第二光栅与所述接收传输部之间;所述反射镜设置于所述第一准直透镜一侧,用于反射所述第一光栅衍射出的光线;所述采集部位于所述第一准直透镜、所述第二准直透镜之间,且位于二级分光系统的焦平面上,用于接收所述第二准直透镜聚焦的光线。相对于现有技术可以对大气回波信号进行高精度的光谱分离。
4 一种衍射光谱测量系统 CN200610102110.4 2006-10-27 CN1945241A 2007-04-11 李捷
一种衍射光谱测量系统,属于光学测量、光学仪器和教学仪器设备等技术领域,该衍射光谱测量系统由活动式可折叠支架A和具有相同水平基面两个底座组成;其特征在于具有相同水平基面两个底座基本成钝设置,双面反射平面镜B两个面都有半反射膜;背面镀膜反射光栅C由刻有高密透射光栅的光栅条纹面I和镀有起半反射功能的析光膜对望远镜内的辅助光起反射作用的半反射面II两个面组成;本发明衍射光谱测量系统,代替分光计光栅衍射光谱测量过程中的用于光路调节的平面镜和用于光谱测量的光栅,使得光路调节和光谱测量的两个步骤同时完成,而且尤为重要的是避免了将双面反射平面镜B从活动式可折叠水平支架A的底座上取出,就可直接进行光谱测量,同时确保光栅衍射光谱测量的精度
5 具有多个衍射级的光谱编码探测器 CN201780043802.2 2017-07-14 CN109561811A 2019-04-02 都德镐; G·提尔尼; 井久田光弘; 姜东均
一种光谱编码的内窥镜探测器。该探测器具有光导部件、光聚焦部件和光栅部件。该探测器被配置成使得多个波长的一组光束由光栅部件在基本相同的度以不同的级衍射。该组光束包括至少3条光束。该组光束中的每条光束与不同的波长相关联。
6 基于蚀刻衍射光栅的成像光谱 CN201610056326.5 2016-01-27 CN105547478B 2018-02-16 何建军; 杨旻岳; 李明宇
发明公开了一种基于蚀刻衍射光栅的成像光谱仪。包括推扫式扫描的成像系统和主要集成有第一分光系统或者第二分光系统的集成芯片,输入光经成像系统成像为空间光后,空间光经第一分光系统分光输出,或者空间光依次经数字微镜阵列光开关、柱面镜处理聚焦后再经第二分光系统分光输出。本发明极大减轻了成像光谱仪的重量和体积,具有高集成度,增强了系统的稳定性,具有大范围光谱和较好的系统功能扩展性,可用于小型无人机的遥感探测。
7 一种基于衍射孔阵列的微型光谱 CN201210391637.9 2012-10-16 CN102928079A 2013-02-13 杨涛; 李兴鳌; 何浩培; 黄维; 周源; 李伟
发明公开了一种基于衍射孔阵列的微型光谱仪,沿入射光方向依次包括:入射光准直装置;一层基底,采用透明材料制作;一个构建在所述基底其中一个表面上的挡光层中的衍射孔二维阵列,所述挡光层由不透明材料制作,所述衍射孔二维阵列包括一系列具有不同孔径尺寸的衍射孔,且各衍射孔孔径尺寸与入射光波长接近,各衍射孔的深度与挡光层厚度相同;包括多个探测像素元的探测阵列芯片,所述探测阵列芯片的探测信号输出端与一计算分析部件连接;所述衍射孔二维阵列中各个衍射孔与所述探测阵列芯片中的探测像素元的位置非一一对应。本发明在保证与现有衍射孔阵列结构微型光谱仪性能相当的前提下,更易于加工,制作成本更低。
8 高速流场光谱的参数无衍射激发装置 CN202211062668.X 2022-08-31 CN115541541A 2022-12-30 宋子军; 赵涌; 薛原; 刘盾盾; 张志宏; 袁世辉
发明公开的高速流场光谱的参数无衍射激发装置,涉及到高速场中光谱超快激发方法的技术领域,解决高温高速流场中因其流速过快高能激光束因作用时间短,颗粒物未能吸收足够能量而无法实现原子跃迁而发射光谱,无法捕获到高速流场中颗粒物的光谱信息。采用三级无衍射光束生成器,一级进行对高能激发光束进行汇聚,为颗粒的光谱提供激发能量;二级与三级通过辅助激光束形成势差实现对颗粒物的空间约束,即使颗粒物在高速运行情况下,该激光束形成的无衍射空腔也能将颗粒物进行捕获。
9 一种衍射快照光谱成像方法 CN202111635615.8 2021-12-29 CN114353946A 2022-04-15 王立志; 李林根; 黄华
发明公开的一种衍射快照光谱成像方法,属于计算摄像学领域。本发明应用于衍射快照光谱成像系统,通过数据驱动的方式对衍射光学元件的编码结构和重建解码神经网络进行联合优化,得到相对最优的光学编码结构及其对应的计算解码模型,使得编码和解码部分更加与彼此契合;光学编码结构在优化阶段考虑实际制造中的量化要求,使得优化得到的衍射光学元件结构和制造的衍射光学元件结构一致,提升重建图像精度;采用编码自由度高的衍射光学元件作为编码部分,具有体积小巧、结构紧凑的优点,具有实时成像的能。采用可微分的模型对整个编码和解码过程进行建模,进而在任何机器学习自动微分框架中均可实现模型并进行优化,提升本发明的通用性。
10 一种衍射光谱光场计算成像系统 CN201711002254.7 2017-10-24 CN107884070B 2020-08-04 苏云; 刘彦丽; 焦建超
发明公开了一种衍射光谱光场计算成像系统。光线输入光谱色散模后,形成轴向色散光线;聚焦成像模块接收轴向色散光线,采用衍射光学计算复原法,对轴向色散光线的色散范围进行压缩,形成期望轴向色散光线;光场采样模块对期望轴向色散光线进行调制,形成调制色散光线;探测器模块对调制色散光线进行光电转换处理,得到模糊图像;光谱图像重构模块对模糊图像进行解调处理,最终得到清晰光谱图像。本发明能够降低系统硬件复杂度,具有系统数据量低的优点,从而使衍射计算光谱成像更易实现。
11 双衍射级次Offner成像光谱 CN201310521220.4 2013-10-29 CN103592024A 2014-02-19 方伟; 张浩; 叶新
双衍射级次Offner成像光谱仪属于高光谱成像技术领域,包括:Offner凸面光栅光谱成像系统和双波段面阵光电探测器,双波段面阵光电探测器由两种不同响应波段的光敏元同轴叠层或者平行隔行制作而成;光谱成像系统中的光栅同时使用一级和二级衍射光作为有效工作级次,光电探测器同时分别接收对应的一级和二级衍射光。本发明通过使用双波段探测器与光栅双衍射级次的谱段匹配,实现一二级衍射波段的同时探测,扩展了仪器的工作光谱范围、提高了衍射效率;有助于降低仪器的整体偏振灵敏性;双波段探测器简化了光路结构,降低了仪器体积和重量,并且自动实现两个波段的空间维像素的对齐及一二级衍射倍频波长的对准。
12 谐衍射红外双波段超光谱成像系统 CN200810051552.X 2008-12-09 CN101424571A 2009-05-06 刘英; 孙强; 卢振武; 王健
谐衍射红外双波段超光谱成像系统,属于光学成像系统。该系统包括中红外波段3.2-4.8μm和长红外波段8-12μm双波段超光谱成像系统,其中包括谐衍射透镜,孔径光阑,制冷型焦平面探测器或非制冷型焦平面探测器;各部件的位置及连接关系:在同一光轴上沿入射光传播方向依次放置谐衍射透镜,孔径光阑,制冷型焦平面探测器或者非制冷型焦平面探测器;入射的中、长红外波段通过谐衍射透镜分光和会聚后,经孔径光阑,分别成像在制冷型焦平面探测器或者非制冷型焦平面探测器上。本发明的优点;通过优化设计谐衍射面的面形参数和谐衍射透镜和孔径光阑之间的距离,使系统的单色像差达到最佳分配,满足光学系统在中、长波红外各个波长的成像要求。
13 一种衍射光谱测量系统 CN200620128014.2 2006-10-27 CN201016805Y 2008-02-06 李捷
一种光栅平面镜衍射光谱测量系统,属于光学测量、光学仪器等技术领域,其特征在于活动式可折叠支架1具有相同水平基面两个底座组成;双面反射平面镜2两个面都有半反射膜;背面镀膜反射光栅3由刻有高密透射光栅的光栅条纹面4和镀有起半反射功能的析光膜对望远镜内的辅助光起反射作用的半反射5两个面组成;本实用新型用光栅平面镜衍射光谱测量系统,代替分光计光栅衍射光谱测量过程中的用于光路调节的平面镜和用于光谱测量的光栅,使得光路调节和光谱测量的两个步骤同时完成,并可直接进行光谱测量,同时确保光栅衍射光谱测量的精度
14 一种衍射快照光谱成像方法 CN202111635615.8 2021-12-29 CN114353946B 2023-05-05 王立志; 李林根; 黄华
发明公开的一种衍射快照光谱成像方法,属于计算摄像学领域。本发明应用于衍射快照光谱成像系统,通过数据驱动的方式对衍射光学元件的编码结构和重建解码神经网络进行联合优化,得到相对最优的光学编码结构及其对应的计算解码模型,使得编码和解码部分更加与彼此契合;光学编码结构在优化阶段考虑实际制造中的量化要求,使得优化得到的衍射光学元件结构和制造的衍射光学元件结构一致,提升重建图像精度;采用编码自由度高的衍射光学元件作为编码部分,具有体积小巧、结构紧凑的优点,具有实时成像的能。采用可微分的模型对整个编码和解码过程进行建模,进而在任何机器学习自动微分框架中均可实现模型并进行优化,提升本发明的通用性。
15 一种光谱低功率可调的刻蚀衍射光栅 CN202211068415.3 2022-09-02 CN115166883A 2022-10-11 刘楠; 马蔚; 骆瑞琦; 刘冠东; 侯茂菁; 储涛
发明公开了一种光谱低功率可调的刻蚀衍射光栅,所述刻蚀衍射光栅包括输入信道波导、输出信道波导、平板波导、过渡波导、反射光栅面及设计的赫‑曾德尔干涉仪,所述输入信道波导与平板波导间通过设计的马赫‑曾德尔干涉仪连接,所述输出信道波导与平板波导间通过过渡波导连接,入射光由入射信道波导进入马赫‑曾德尔干涉仪,经马赫‑曾德尔干涉仪调节在输出端叠加输出,进入平板波导,入射度发生偏转,从而实现通道光谱位置的调节。本发明基于平面光波导技术及标准CMOS工艺,仅需较低外加电压对局部区域加热,即可实现刻蚀衍射光栅整体光谱的调节,简单易行,无特殊工艺,可适用于大面积、多通道的刻蚀衍射光栅。
16 一种衍射光谱光场计算成像系统 CN201711002254.7 2017-10-24 CN107884070A 2018-04-06 苏云; 刘彦丽; 焦建超
发明公开了一种衍射光谱光场计算成像系统。光线输入光谱色散模后,形成轴向色散光线;聚焦成像模块接收轴向色散光线,采用衍射光学计算复原法,对轴向色散光线的色散范围进行压缩,形成期望轴向色散光线;光场采样模块对期望轴向色散光线进行调制,形成调制色散光线;探测器模块对调制色散光线进行光电转换处理,得到模糊图像;光谱图像重构模块对模糊图像进行解调处理,最终得到清晰光谱图像。本发明能够降低系统硬件复杂度,具有系统数据量低的优点,从而使衍射计算光谱成像更易实现。
17 基于蚀刻衍射光栅的成像光谱 CN201610056326.5 2016-01-27 CN105547478A 2016-05-04 何建军; 杨旻岳; 李明宇
发明公开了一种基于蚀刻衍射光栅的成像光谱仪。包括推扫式扫描的成像系统和主要集成有第一分光系统或者第二分光系统的集成芯片,输入光经成像系统成像为空间光后,空间光经第一分光系统分光输出,或者空间光依次经数字微镜阵列光开关、柱面镜处理聚焦后再经第二分光系统分光输出。本发明极大减轻了成像光谱仪的重量和体积,具有高集成度,增强了系统的稳定性,具有大范围光谱和较好的系统功能扩展性,可用于小型无人机的遥感探测。
18 基于三衍射光栅的光谱合束系统 CN201510224501.2 2015-05-05 CN104901149A 2015-09-09 何兵; 郑也; 周军; 杨依枫; 胡曼; 刘广柏
一种基于三衍射光栅的光谱合束系统,包括M个不同波长种子源、M个光纤放大器阵列和M个准直输出器、第一块衍射光栅、第二块衍射光栅、第三块衍射光栅、平面反射镜、傅里叶透镜和CCD相机。本发明将多路光纤激光束组合成一束激光输出,实现高功率高光束质量的输出。本发明克服了传统光谱合成系统合成光光束质量退化严重以及单块衍射光栅路数扩展困难的问题,是实现光纤激光器更高功率扩展的可行的光谱合束系统。
19 能量色散类型X射线衍射光谱 CN200480019929.3 2004-07-05 CN1823270B 2011-11-23 宇田广之
分别把连续谱X射线发生装置(2)和X射线检测装置(3)移动到分离的第一位置(图中用实线表示出)和第二位置(图中用点划线表示出),获得用X射线检测装置在各自的位置上对每个能量所检测的X射线强度作为第一数据和第二数据,根据第一数据和第二数据之差获得第三数据,也就是衍射X射线仅有的数据以及从第一或第二数据与第三数据之差获得有关荧光X射线的数据。
20 能量色散类型X射线衍射/光谱 CN200480019929.3 2004-07-05 CN1823270A 2006-08-23 宇田广之
分别把连续谱X射线发生装置(2)和X射线检测装置(3)移动到分离的第一位置(图中用实线表示出)和第二位置(图中用点划线表示出),获得用X射线检测装置在各自的位置上对每个能量所检测的X射线强度作为第一数据和第二数据,根据第一数据和第二数据之差获得第三数据,也就是衍射X射线仅有的数据以及从第一或第二数据与第三数据之差获得有关荧光X射线的数据。
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