| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 1 | 获得图像的点扩展函数的方法和装置 | CN201410055963.1 | 2014-02-18 | CN103927740B | 2017-06-23 | 不公告发明人 |
| 本发明提供了一种获得图像的点扩展函数的方法和装置，其中，该方法包括:沿所述图像的法向量方向在所述图像上制作多条切割线；对于所述多条切割线中的每一条切割线，根据该切割线所经过的每个像素的属性值形成观测序列；对形成的多个观测序列进行数学变换得到多个多项式，计算所述多个多项式的最大公因子作为所述图像的点扩展函数。本发明的有益效果在于，以图像的法向量方向为基础形成切割线观测序列，再进行数学计算获得PSF，能够在图像上构建非相关信道模型，从而在图像解码时参考PSF的形式在相当大的程度上消除成像系统不理想的影响。 | ||||||
| 2 | 用于扩展函数的增强型浮点单元 | CN200610063928.X | 2006-09-28 | CN1983161B | 2015-11-25 | D·多诺夫里奥; X·李 |
| 本发明的实施例是一种用于执行浮点运算的技术。浮点(FP)平方器对第一自变量进行平方以产生中间自变量。该第一和中间自变量具有第一和中间尾数与指数。FP乘加(MAD)单元对中间自变量、第二自变量和第三自变量执行乘加操作，以产生具有结果尾数和结果指数的结果。该第二和第三自变量分别具有第二和第三尾数与指数。 | ||||||
| 3 | 获得图像的点扩展函数的方法和装置 | CN201410055963.1 | 2014-02-18 | CN103927740A | 2014-07-16 | 不公告发明人 |
| 本发明提供了一种获得图像的点扩展函数的方法和装置，其中，该方法包括：沿所述图像的法向量方向在所述图像上制作多条切割线；对于所述多条切割线中的每一条切割线，根据该切割线所经过的每个像素的属性值形成观测序列；对形成的多个观测序列进行数学变换得到多个多项式，计算所述多个多项式的最大公因子作为所述图像的点扩展函数。本发明的有益效果在于，以图像的法向量方向为基础形成切割线观测序列，再进行数学计算获得PSF，能够在图像上构建非相关信道模型，从而在图像解码时参考PSF的形式在相当大的程度上消除成像系统不理想的影响。 | ||||||
| 4 | 具有扩展函数的混合模式浮点流水线 | CN200610063944.9 | 2006-09-27 | CN1983162A | 2007-06-20 | D·多诺夫里奥 |
| 本发明的实施例是一种执行混合模式浮点(FP)运算和扩展FP函数的技术。序列发生器控制发布对输入向量进行运算的指令。混合模式FP流水线使用扩展内部格式以及一系列乘加运算，计算输入向量的整数运算或者扩展FP函数。混合模式FP流水线生成流水线状态给序列发生器并生成FP结果。 | ||||||
| 5 | 具有扩展函数的混合模式浮点流水线 | CN200610063944.9 | 2006-09-27 | CN1983162B | 2012-07-18 | D·多诺夫里奥 |
| 本发明的实施例是一种执行混合模式浮点(FP)运算和扩展FP函数的技术。序列发生器控制发布对输入向量进行运算的指令。混合模式FP流水线使用扩展内部格式以及一系列乘加运算，计算输入向量的整数运算或者扩展FP函数。混合模式FP流水线生成流水线状态给序列发生器并生成FP结果。 | ||||||
| 6 | 用于扩展函数的增强型浮点单元 | CN200610063928.X | 2006-09-28 | CN1983161A | 2007-06-20 | D·多诺夫里奥; X·李 |
| 本发明的实施例是一种用于执行浮点运算的技术。浮点(FP)平方器对第一自变量进行平方以产生中间自变量。该第一和中间自变量具有第一和中间尾数与指数。FP乘加(MAD)单元对中间自变量、第二自变量和第三自变量执行乘加操作，以产生具有结果尾数和结果指数的结果。该第二和第三自变量分别具有第二和第三尾数与指数。 | ||||||
| 7 | 一种锥束CT系统点扩展函数的测量与建模方法 | CN201210273971.4 | 2012-08-02 | CN102759538B | 2014-04-16 | 黄魁东; 张定华; 卜昆; 张亮; 张华 |
| 本发明提供了一种锥束CT系统点扩展函数的测量与建模方法，在锥束CT系统点扩展函数测量方法中考虑了射线源焦点和平板探测器性能对针孔测量法测量点扩展函数的影响，并通过切片图像质量评价获取优化的点扩展函数，具有更好的准确性，且便于实施，可有效提高锥束CT系统的成像质量。另外，本发明通过锥束CT系统点扩展函数建模方法，建立了锥束CT系统点扩展函数的一般模型，根据该模型可直接计算出任意扫描条件下的点扩展函数，即在锥束CT的后续使用中无需额外测量就可以直接得到点扩展函数用于投影图像恢复，极大地提高了锥束CT应用的便捷性。 | ||||||
| 8 | 一种锥束CT系统点扩展函数的测量与建模方法 | CN201210273971.4 | 2012-08-02 | CN102759538A | 2012-10-31 | 黄魁东; 张定华; 卜昆; 张亮; 张华 |
| 本发明提供了一种锥束CT系统点扩展函数的测量与建模方法，在锥束CT系统点扩展函数测量方法中考虑了射线源焦点和平板探测器性能对针孔测量法测量点扩展函数的影响，并通过切片图像质量评价获取优化的点扩展函数，具有更好的准确性，且便于实施，可有效提高锥束CT系统的成像质量。另外，本发明通过锥束CT系统点扩展函数建模方法，建立了锥束CT系统点扩展函数的一般模型，根据该模型可直接计算出任意扫描条件下的点扩展函数，即在锥束CT的后续使用中无需额外测量就可以直接得到点扩展函数用于投影图像恢复，极大地提高了锥束CT应用的便捷性。 | ||||||
| 9 | 一种非侵入式散射介质点扩展函数获取装置及方法 | CN202110315440.6 | 2021-03-24 | CN113218914A | 2021-08-06 | 崔光茫; 曹超伟; 赵巨峰; 何镔韬 |
| 本发明公开了一种非侵入式散射介质点扩展函数获取装置及方法，包括同一直线上依次设置的光源、各种光路辅助器件、不透光薄板、散射介质辅助采集光路，所述不透光薄板中心设有透射型成像目标。方法包括：S1通过改变散射介质相对于中心位置的距离连续采集n次成像面的散斑；S2将采集到的散斑进行自相关表示；S3通过混合估计恢复算法对得到的自相关图案进行复原；S4利用混合估计恢复算法来对目标图像进行限制；S5获取散射介质的点扩展函数。上述技术方案在面对厚散射介质时，使用平移光学记忆效应替换传统光学记忆效应，克服了角度记忆效应的薄散射介质局限和自由衍射局限，能够突破传统记忆效应的限制，简化具体实验装置。 | ||||||
| 10 | 一种用于宽带电磁分布探测的点扩展函数估计方法 | CN201610260668.9 | 2016-04-25 | CN105956240B | 2019-05-17 | 谢树果; 董博宇; 郝旭春; 李雁雯; 朱谊龙 |
| 本发明是一种用于宽带电磁分布探测的点扩展函数估计方法，实现对于1～6GHz的辐射源对应的点扩展函数的估计。本发明根据未知辐射源的降质图像，确定辐射源的大致位置，在仿真软件中建立仿真模型，放置不同频率的辐射源获取电磁分布图像；对各电磁分布图像使用盲反卷积方法进行点扩展函数估计，画出频率‑宽度曲线图；计算降质图像经过盲反卷积方法估计的点扩展函数的3db波瓣宽度，在频率‑宽度曲线上找到对应的频率，通过仿真获取对应频率的点扩展函数，再通过L_R迭代方法对降质图像进行图像恢复。本发明克服了传统点扩展函数估计方法与电磁分布探测系统不兼容的情况，能对单频率的辐射源的频率进行识别并有效提高了图像的分辨率。 | ||||||
| 11 | 一种用于宽带电磁分布探测的点扩展函数估计方法 | CN201610260668.9 | 2016-04-25 | CN105956240A | 2016-09-21 | 谢树果; 董博宇; 郝旭春; 李雁雯; 朱谊龙 |
| 本发明是一种用于宽带电磁分布探测的点扩展函数估计方法，实现对于1～6GHz的辐射源对应的点扩展函数的估计。本发明根据未知辐射源的降质图像，确定辐射源的大致位置，在仿真软件中建立仿真模型，放置不同频率的辐射源获取电磁分布图像；对各电磁分布图像使用盲反卷积方法进行点扩展函数估计，画出频率‑宽度曲线图；计算降质图像经过盲反卷积方法估计的点扩展函数的3db波瓣宽度，在频率‑宽度曲线上找到对应的频率，通过仿真获取对应频率的点扩展函数，再通过L_R迭代方法对降质图像进行图像恢复。本发明克服了传统点扩展函数估计方法与电磁分布探测系统不兼容的情况，能对单频率的辐射源的频率进行识别并有效提高了图像的分辨率。 | ||||||
| 12 | 基于RISC-V浮点超越函数指令集扩展方法及装置 | CN202410510687.7 | 2024-04-26 | CN118092853A | 2024-05-28 | 覃博琛; 蔡刚; 黄志洪; 魏育成 |
| 本发明提供了基于RISC‑V浮点超越函数指令集扩展方法及装置，该装置包括：基于RISC‑V架构的处理器；所述处理器包括程序计数器、译码模块、多个执行单元、加载存储模块、寄存器堆、指令存储器和数据存储器；多个执行单元包括CORDIC单元和FPU单元；多个执行单元接收译码模块发送的指令控制信号，以执行超越函数的CORDIC浮点运算；CORDIC单元采用并行的浮点融合乘加、浮点加法、浮点乘法电路迭代结构；采用2行并行的浮点乘法电路缩放结构。本方案压缩了超越函数计算的指令数量，提高了编译速度，采用IEEE‑754标准的浮点数据格式，计算精度高，计算范围大。 | ||||||
| 13 | 一种非侵入式散射介质点扩展函数获取装置及方法 | CN202110315440.6 | 2021-03-24 | CN113218914B | 2023-11-10 | 崔光茫; 曹超伟; 赵巨峰; 何镔韬 |
| 本发明公开了一种非侵入式散射介质点扩展函数获取装置及方法，包括同一直线上依次设置的光源、各种光路辅助器件、不透光薄板、散射介质辅助采集光路，所述不透光薄板中心设有透射型成像目标。方法包括：S1通过改变散射介质相对于中心位置的距离连续采集n次成像面的散斑；S2将采集到的散斑进行自相关表示；S3通过混合估计恢复算法对得到的自相关图案进行复原；S4利用混合估计恢复算法来对目标图像进行限制；S5获取散射介质的点扩展函数。上述技术方案在面对厚散射介质时，使用平移光学记忆效应替换传统光学记忆效应，克服了角度记忆效应的薄散射介质局限和自由衍射局限，能够突破传统记忆效应的限制，简化具体实验装置。 | ||||||
| 14 | 一种基于点扩展函数的工业CT图像重建中心定位方法 | CN201310147927.3 | 2013-04-25 | CN103218834B | 2016-05-04 | 王珏; 刘明进; 蔡玉芳 |
| 一种基于点扩展函数的工业CT图像重建中心定位方法，涉及CT扫描图像构建领域，具体步骤如下：1）获取待测圆盘厚度方向中间部位断层投影数据，得到投影正弦图；2）计算边缘的质心位置x0；3）设圆盘旋转中心偏移量x为x0的±δ领域，依次运用滤波反投影重建算法重建各个偏移量x对应的CT图像；4）求出重建后每一幅CT图像中圆盘边缘的点扩展函数PSF的高度h，拟合图像重建中心偏移量x与中圆盘边缘的点扩展函数PSF的高度h之间的函数关系，计算图像重建中心偏移量。 | ||||||
| 15 | 一种基于点扩展函数的工业CT图像重建中心定位方法 | CN201310147927.3 | 2013-04-25 | CN103218834A | 2013-07-24 | 王珏; 刘明进; 蔡玉芳 |
| 一种基于点扩展函数的工业CT图像重建中心定位方法，涉及CT扫描图像构建领域，具体步骤如下：1）获取待测圆盘厚度方向中间部位断层投影数据，得到投影正弦图；2）计算边缘的质心位置x0；3）设圆盘旋转中心偏移量x为x0的±δ领域，依次运用滤波反投影重建算法重建各个偏移量x对应的CT图像；4）求出重建后每一幅CT图像中圆盘边缘的点扩展函数PSF的高度h，拟合图像重建中心偏移量x与中圆盘边缘的点扩展函数PSF的高度h之间的函数关系，计算图像重建中心偏移量。 | ||||||
| 16 | 使用全波场反演点扩展函数分析设计地球物理勘测的方法 | CN201680073838.0 | 2016-12-07 | CN108369289A | 2018-08-03 | W·A·伯内特; M·J·特勒尔; P·蒂姆特洛夫; T·A·狄更斯; 唐雅勋; P·S·劳斯; W·科里; D·E·维伦 |
| 一种方法，包括：利用计算机，通过执行迭代全波场反演过程的第一次迭代的至少一部分，确定多个参数位置的点扩展函数；为每个点扩展函数确定至少一个特性；以及基于每个点扩展函数的所述至少一个特性来评估候选勘测设计。 | ||||||
| 17 | 基于平行束投影数据滤波反投影重建的平板探测器点扩展函数的模型和测量方法 | CN201610144533.6 | 2016-03-15 | CN105761232A | 2016-07-13 | 邬冠华; 肖宇行; 吴伟; 敖波; 王婵; 李泽 |
| 一种基于平行束投影数据滤波反投影重建的平板探测器点扩展函数的模型和测量方法，主要步骤如下：设计制作阶梯试块；保证射线源中心与阶梯试块中心阶梯边缘对中；以5°为间隔分别透照0°~180°旋转角度的台阶试块，获得相应角度下的边扩展分布图像；对每个角度下的边扩展曲线进行拟合并对拟合函数做微分运算处理，进而获得线扩展的拟合线扩展函数；将各个角度下的线扩展函数曲线组成投影正弦图，采用滤波反投影算法重建点扩展分布。本发明的优点是：本发明相对其他方法，测试试块的要求降低许多，采用计算机算法降低试样加工材料和加工精度要求，测量精确，信噪比高，特别适合射线数字成像教学实验。 | ||||||
| 18 | 一种点扩散函数估计方法及系统 | PCT/CN2016/090336 | 2016-07-18 | WO2017012528A1 | 2017-01-26 | 康克军; 陈志强; 李元景; 张丽; 赵自然; 刘耀红; 顾建平; 王志明 |
本发明提供一种点扩散函数估计方法和系统，所述方法包括：对大小相同且紧密排列的多个矩形块利用扫描装置进行扫描成像，所述多个矩形块的制作材料不同和/或质量厚度不同，其中扫描成像时射线的入射角度与扫描方向垂直，且所述射线的入射角度垂直于所述多个矩形块的紧密排列的表面；根据扫描图像获取沿所述矩形块的长和宽两个方向的线扩散函数，并分别得到所述线扩散函数的标准差参数；将两个方向的标准差参数结合，得到二维点扩散函数的参数，以估计所述点扩散函数。本发明自动化程度高，执行速度快。 |
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| 19 | 전자빔 리소그라피에서 ＰＳＦ 측정 방법 | KR1020110055887 | 2011-06-10 | KR1020120136751A | 2012-12-20 | 이상희; 김병국; 김희범; 이수영; 다이칭 |
| PURPOSE: A point spread function(PSF) measuring method in electron beam lithography is provided to accurately set an electron beam lithography condition by applying an estimated PSF using a cross sectional profile of a resist pattern for test. CONSTITUTION: A line shaped resist pattern(12) for test is formed on a substrate(10). A line reaction function is obtained by using a cross sectional profile of the resist pattern for test. A development rate distribution in the X-direction perpendicular to the extension direction the resist pattern is calculated by using the line reaction function. A line spread function, which is light exposure distribution in the X-direction, is calculated using the development rate. A point spread function is estimated by the light exposure distribution. | ||||||
| 20 | POINT SPREAD FUNCTION COST FUNCTION WITH NON-UNIFORM WEIGHTS | PCT/US2013/031651 | 2013-03-14 | WO2013165595A1 | 2013-11-07 | TEZAUR, Radka |
A PSF cost function used for determining a PSF kernel (438) of at least a portion of an image (16) includes (i) a first fidelity term having a first direction derivative, (ii) a first fidelity term weight for the first fidelity term, (iii) a second fidelity term having a second direction derivative, and (iv) a second fidelity term weight for the second fidelity term. Another PSF cost function for determining a PSF kernel (638) includes (i) a first fidelity term with a first derivative in a dominant edge direction (d), and (ii) a second fidelity term having a second derivative in a perpendicular direction(p) to the dominant edge direction. |
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