1.一种鉴定光致发光安全标记的方法，其中真实的安全标记包括至少两种磷光体材料的掺和物，所述磷光体材料可由具有在380到780nm的波长范围内的选定波长的激发辐射激发，且其在被激发时具有已知的发射特征，所述方法包括：
a)用具有所述选定波长的激发辐射照射所述标记，
b)测量由所述标记发射的光的至少一个选定参数，以及
c)将所述至少一个测得参数与所述已知发射特征的对应参数进行比较，且在所述参数在规定限制内的情况下检验所述标记的真实性。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述标记包括仅可由具有第一波长范围内的波长的激发辐射激发的至少一种磷光体材料，和可由具有与所述第一波长范围重叠并包含所述第一波长范围的第二不同波长范围内的波长的激发辐射激发的至少一种磷光体材料，所述方法包括：
a)用具有所述第一波长范围内的波长的激发辐射照射所述标记，并测量由所述标记发射的光的至少一个选定参数，
b)用具有在所述第一和第二波长范围的重叠区内的波长的激发辐射照射所述标记，并测量由所述标记发射的光的至少一个选定参数，
c)用具有所述第二波长范围的不与所述第一波长范围重叠的一部分内的波长的激发辐射照射所述标记，并测量由所述标记发射的光的至少一个选定参数，以及d)将所述测得的至少一个测得参数与所述已知发射特征的对应参数进行比较，且在所述参数在规定限制内的情况下检验所述标记的所述真实性。
3.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少一个选定参数选自由以下各者组成的群组：选定波长区的强度、选定波长区的强度的比率、发射峰的强度、发射峰的波长、发射峰的上升速率、发射峰的下降速率、发射峰强度的比率、发射峰波长的比率、发射谷的强度、发射谷的波长、发射谷强度的比率、发射谷波长的比率、拐点的波长、拐点的强度、拐点强度的比率、拐点波长的比率、发射峰的数目、发射谷的数目、拐点的数目、发射峰的形状，及其组合。
4.一种鉴定光致发光安全标记的方法，其中真实的安全标记包括至少两种磷光体材料的掺和物，其中至少一种磷光体材料仅可由具有第一波长范围内的波长的激发辐射激发，且至少一种磷光体材料可由具有与所述第一波长范围重叠并包含所述第一波长范围的第二不同波长范围内的波长的激发辐射激发，所述方法包括：
a)用具有所述第一波长范围内的波长的激发辐射照射所述标记，并测量由所述标记发射的光的至少一个选定参数，
b)用具有在所述第一和第二波长范围的重叠区内的波长的激发辐射照射所述标记，并测量由所述标记发射的光的至少一个选定参数，
c)用具有所述第二波长范围的不与所述第一波长范围重叠的一部分内的波长的激发辐射照射所述标记，并测量由所述标记发射的光的至少一个选定参数，以及d)将在a)、b)和c)中测得的所述选定参数与已知发射特征的对应参数进行比较，且在所述参数在规定限制内的情况下检验所述标记的真实性。
5.根据权利要求4所述的方法，其中所述至少一个选定参数选自由以下各者组成的群组：选定波长区的强度、选定波长区的强度的比率、发射峰的强度、发射峰的波长、发射峰的上升速率、发射峰的下降速率、发射峰强度的比率、发射峰波长的比率、发射谷的强度、发射谷的波长、发射谷强度的比率、发射谷波长的比率、拐点的波长、拐点的强度、拐点强度的比率、拐点波长的比率、发射峰的数目、发射谷的数目、拐点的数目、发射峰的形状，及其组合。
6.一种用于鉴定光致发光安全标记的设备，其中真实的安全标记包括至少两种磷光体材料的掺和物，所述磷光体材料可由具有在380到780nm的波长范围内的选定波长的激发辐射激发，且其在被激发时具有已知的发射特征，所述设备包括：
至少一个激发源，其可操作以发射具有所述选定波长的激发辐射并用所述激发辐射照射所述标记；
检测器，其可操作以测量由所述标记发射的光的至少一个选定参数；以及
处理构件，其用于将所述至少一个测得参数与所述已知发射特征的对应参数进行比较，且在所述参数在规定限制内的情况下检验所述标记的真实性。
7.根据权利要求6所述的设备，且其进一步包括波长分离构件，所述波长分离构件用于将由所述光致发光安全标记发射的所述光划分为选定波长区，且其中所述检测器可操作以测量每一选定波长区的强度。
8.根据权利要求7所述的设备，其中所述波长分离构件选自由以下各者组成的群组：
光学滤光器、凝胶滤光器、二向色滤光器、光栅、光纤光栅和棱镜。
9.根据权利要求6所述的设备，其中所述至少一个选定参数选自由以下各者组成的群组：选定波长区的强度、选定波长区的强度的比率、发射峰的强度、发射峰的波长、发射峰的上升速率、发射峰的下降速率、发射峰强度的比率、发射峰波长的比率、发射谷的强度、发射谷的波长、发射谷强度的比率、发射谷波长的比率、拐点的波长、拐点的强度、拐点强度的比率、拐点波长的比率、发射峰的数目、发射谷的数目、拐点的数目、发射峰的形状，及其组合。
10.一种用于鉴定光致发光安全标记的设备，其中真实的标记包括仅可由具有第一波长范围内的波长的激发辐射激发的至少一种磷光体材料，和可由具有与所述第一波长范围重叠并包含所述第一波长范围的第二不同波长范围内的波长的激发辐射激发的至少一种磷光体材料，所述设备包括：
i)第一独立可操作激发源，其可操作以发射具有所述第一波长范围内的波长的激发辐射并用所述激发辐射照射所述标记；
ii)第二独立可操作激发源，其可操作以发射具有所述第二波长范围内的波长的激发辐射并用所述激发辐射照射所述标记；
iii)检测器，其可操作以测量由所述标记发射的光的至少一个选定参数；以及iv)处理构件，其用于将所述至少一个选定参数与已知发射特征的对应参数进行比较，且在所述参数在规定限制内的情况下检验所述标记的真实性；其中所述设备可操作以a)用具有所述第一波长范围内的波长的激发辐射照射所述标记，并测量由所述标记发射的光的所述至少一个选定参数，
b)用具有在所述第一和第二波长范围的重叠区内的波长的激发辐射照射所述标记，并测量由所述标记发射的光的所述至少一个选定参数，
c)用具有所述第二波长范围的不与所述第一波长范围重叠的一部分内的波长的激发辐射照射所述标记，并测量由所述标记发射的光的所述至少一个选定参数，以及d)将所述至少一个选定参数的值与所述已知发射特征的对应参数进行比较，且在所述参数在规定限制内的情况下检验所述标记的所述真实性。
11.根据权利要求10所述的设备，其中所述至少一个选定参数选自由以下各者组成的群组：选定波长区的强度、选定波长区的强度的比率、发射峰的强度、发射峰的波长、发射峰的上升速率、发射峰的下降速率、发射峰强度的比率、发射峰波长的比率、发射谷的强度、发射谷的波长、发射谷强度的比率、发射谷波长的比率、拐点的波长、拐点的强度、拐点强度的比率、拐点波长的比率、发射峰的数目、发射谷的数目、拐点的数目、发射峰的形状，及其组合。
12.根据权利要求6所述的设备，其中所述至少一个激发源可操作以产生具有400到
450nm的波长范围的激发辐射。
13.根据权利要求6所述的设备，其中所述至少一个激发源包括发光二极管。
14.一种光致发光安全标记，其包括至少两种磷光体材料的掺和物，其中每一磷光体材料可由具有在380到780nm的波长范围内的选定波长的激发辐射激发。
15.根据权利要求14所述的标记，其中所述磷光体材料具有相同的主晶格结构。
16.根据权利要求14所述的标记，其中每一磷光体材料可由具有相同波长范围的激发辐射激发。
17.根据权利要求14所述的标记，其中至少一种磷光体材料仅可由具有第一波长范围的激发辐射激发，且至少一种磷光体材料可由具有与所述第一波长范围重叠并包含所述第一波长范围的第二波长范围的激发辐射激发。
18.根据权利要求14所述的标记，其中所述标记包括至少三种磷光体材料的掺和物，其中至少一种磷光体材料可由具有第一波长范围的激发辐射激发，至少一种磷光体材料可由具有与所述第一波长范围重叠并包含所述第一波长范围的第二波长范围的激发辐射激发，且至少一种磷光体材料可由具有与所述第一和第二波长范围重叠并包含所述第一和第二波长范围的第三波长范围的激发辐射激发。
19.根据权利要求14所述的标记，其中掺和至少两种磷光体材料选自由以下各者组成的群组：用粘合剂材料并入、用墨水并入、并入聚合物材料中、并入到聚合物材料薄片中、并入到聚合物材料纤维中、层压于其中至少一个薄片对于所述激发辐射和由所述磷光体材料发射的光为透射性的材料薄片之间、施加到金属箔的表面、施加到金属箔的表面，和作为条形码的部分而并入。
20.根据权利要求14所述的标记，其中所述磷光体材料可用具有400到450nm的波长范围的激发辐射来激发。
21.根据权利要求14所述的标记，其中每一磷光体材料具有选自由以下各者组成的群组的平均微粒大小：五微米或五微米以下、二微米或二微米以下，以及一微米或一微米以下。
22.根据权利要求14所述的标记，其中所述磷光体材料选自由以下各者组成的群组：
铝酸盐、硅酸盐、氮化物、硫酸盐、氧氮化物、含氧硫酸盐和石榴石材料。
23.一种光致发光安全标记，其包括至少两种磷光体材料的掺和物，其中至少一种磷光体材料仅可由具有第一波长范围的激发辐射激发，且至少一种磷光体材料可由具有与所述第一波长范围重叠并包含所述第一波长范围的第二波长范围的激发辐射激发。