1.用于识别存储介质上的可重现位置的电路，该电路包括：
介质缺陷检测器，其中该介质缺陷检测器操作用于识别介质缺陷；以及锚固定电路，其中该锚固定电路操作用于识别与所述介质缺陷有关的位置，并且其中该位置是可重现的。
2.如权利要求1所述的电路，其中所述介质缺陷检测器包括离散傅里叶变换电路。
3.如权利要求2所述的电路，其中所述离散傅里叶变换电路被调谐用于2T码型。
4.如权利要求1所述的电路，其中所述介质缺陷检测器操作用于利用由存储介质获得的一系列的数据采样来识别介质缺陷，并且其中所述电路进一步包括：
数据处理电路，其中所述数据处理电路操作用于利用距所述位置固定距离的强迫数据同步标记来处理所述系列的数据采样的子集。
5.如权利要求4所述的电路，其中所述电路进一步包括：
同步强迫电路，其中所述同步强迫电路操作用于每当所述数据处理电路不收敛时重复地识别强迫数据同步标记，以及用于在所述数据处理电路收敛时存储所述强迫数据同步标记。
6.如权利要求5所述的电路，其中所述电路进一步包括：
数据缓存器，其中所述数据缓存器存储能够用在后续的从所述存储介质的读取上的、用于指示所述存储介质上的可解码的数据集的开始的所述强迫数据同步标记。
7.如权利要求1所述的电路，其中所述介质缺陷检测器包括前同步码结束检测器电路。
8.用于识别存储介质上的可重现位置的方法，所述方法包括：
接收由存储介质获得的一系列的数据采样；
利用所述系列的数据采样识别所述存储介质上的介质缺陷；以及
固定所述存储介质上的与所述介质缺陷有关的位置，其中所述位置是可重现的。
9.如权利要求8所述的方法，其中所述方法进一步包括：
利用所述位置作为用于可解码数据集的开始的基准，对所述系列的数据采样的子集应用解码算法。
10.如权利要求9所述的方法，其中所述解码算法收敛，并且其中所述方法进一步包括：
将强迫数据同步标记存储在存储器中，其中所述强迫数据同步标记指示所述位置，并且所述强迫数据同步标记能够用在后续的从所述存储介质的读取上以指示所述存储介质上的可解码数据集的开始。
11.如权利要求8所述的方法，其中所述位置是第一位置，并且其中所述方法进一步包括：
利用所述第一位置作为用于可解码数据集的开始的基准对所述系列的数据采样的第一子集应用解码算法，其中所述解码算法不收敛；
固定所述存储介质上的与所述介质缺陷有关的第二位置，其中所述第二位置是可重现的；以及
利用所述第二位置作为用于所述可解码数据集的开始的基准对所述系列的数据采样的第二子集应用所述解码算法。
12.如权利要求11所述的方法，其中利用所述第二位置的所述解码算法的应用收敛，并且其中所述方法进一步包括：
将强迫数据同步标记存储在存储器中，其中所述强迫数据同步标记指示所述第二位置，并且所述强迫数据同步标记能够用在后续的从所述存储介质的读取上以指示所述存储介质上的所述可解码数据集的开始。
13.如权利要求11所述的方法，其中所述第二位置比所述第一位置远离所述介质缺陷。
14.如权利要求11所述的方法，其中所述解码算法是低密度奇偶校验算法。
15.如权利要求8所述的方法，其中接收由存储介质获得的一系列的数据采样包括从数据缓存器获得所述系列的数据采样。
16.如权利要求8所述的方法，其中所述方法进一步包括：
从所述存储介质获得信息；以及
基于所述信息产生所述系列的数据采样。
17.一种硬盘驱动器系统，所述硬盘驱动器系统包括：
存储介质；
介质缺陷检测器，其中所述介质缺陷检测器操作用于利用由所述存储介质获得的一系列的数据采样来识别所述存储介质上的介质缺陷；以及
锚固定电路，其中该锚固定电路操作用于识别与所述介质缺陷有关的位置，并且其中该位置是可重现的。
18.如权利要求17所述的系统，其中所述介质缺陷检测器包括从以下中选择的电路：
离散傅里叶变换电路、以及前同步码结束检测器电路。
19.如权利要求17所述的系统，其中所述系统进一步包括：
数据处理电路，其中所述数据处理电路操作用于利用距所述位置固定距离的强迫数据同步标记来处理所述系列的数据采样的子集。
20.如权利要求19所述的系统，其中所述系统进一步包括：
同步强迫电路，其中所述同步强迫电路操作用于每当所述数据处理电路不收敛时重复地识别强迫数据同步标记，以及用于在所述数据处理电路收敛时存储所述强迫数据同步标记。
21.如权利要求20所述的系统，其中所述系统进一步包括：
数据缓存器，其中所述数据缓存器存储能够用在后续的从所述存储介质的读取上的用于指示所述存储介质上的可解码的数据集的开始的所述强迫数据同步标记。