전도성 미립자, 미립자 도금 방법 및 기판 구성체

申请号 KR1020037001621 申请日 2001-04-27 公开(公告)号 KR1020040030393A 公开(公告)日 2004-04-09
申请人 세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤; 发明人 구로다히로시; 오끼나가노부유끼;
摘要 본 발명은 기판 등의 회로에 적용되는 힘을 감퇴시킬 수 있는 전도성 미립자를 제공한다.
전도성 미립자에 있어서, 표면이 하나 이상의 금속층으로 덮힌 수지로 만들어진 코어 미립자를 포함하고, 수지의 선 팽창 계수가 3 ×10
-5 내지 7 ×10
-5 (1/K) 인 전도성 미립자가 제공된다.
权利要求
  • 표면이 하나 이상의 금속층으로 덮힌 수지로 만들어지는 코어 미립자를 포함하고, 수지의 선 팽창 계수가 3 ×10 -5 내지 7 ×10 -5 (1/K) 인 전도성 미립자.
  • 표면이 하나 이상의 금속층으로 덮힌 수지로 만들어지는 코어 미립자를 포함하고, 수지의 열 분해 온도가 300 ℃ 이상이고, 금속층을 구성하는 하나 이상의 금속(들)이, 융점이 150 내지 300 ℃ 인 금속 및/또는 합금인 전도성 미립자.
  • 표면이 하나 이상의 금속층으로 덮힌 수지로 만들어진 코어 미립자를 포함하고, 모든 금속층의 열 팽창 계수가 각각 1 ×10 -5 내지 3 ×10 -5 (1/K) 이고, 각각의 금속층의 열 팽창 계수 대 코어 미립자의 열 팽창 계수의 비, 즉 코어 미립자의 열 팽창 계수/금속층의 열 팽창 계수가 각각 0.1 내지 10 인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서, 금속층이 금, 은, 구리, 백금, 아연, 철, 납, 주석, 알루미늄, 코발트, 인듐, 니켈, 크롬, 안티몬, 비스무트, 게르마늄, 카드뮴 및 규소로 구성되는 군으로부터 선택된 1 종 이상의 금속을 포함하는 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 전도성 미립자의 외경이 200 내지 1000 ㎛ 이고, 금속층의 두께가 코어 미립자의 반경의 0.5 내지 30% 인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 전도성 미립자의 외경이 200 내지 1000 ㎛ 이고, 금속층의 두께가 코어 미립자의 반경에 대하여 하기 수학식 1 로 나타내는 관계를 갖는 전도성 미립자;
    [수학식 1]
    Y = (-25/100,000ㆍX + c) ×100
    [식 중, Y 는 금속층의 두께 대 코어 미립자의 반경의 비 (%) 를 나타내고, X 는 전도성 미립자의 외경 (㎛) 을 나타내고, c 는 0.10 내지 0.35 의 상수를 나타내고, 단, Y > 0 이다].
  • 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 전도성 미립자의 외경이 50 내지 200 ㎛ 이고, 금속층의 두께가 코어 미립자의 반경의 1 내지 100% 인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 전도성 미립자의 외경이 50 내지 200 ㎛ 이고, 금속층의 두께가 코어 미립자의 반경의 4 내지 40% 인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 거품을 포함하는 미립자를 포함하는 입자의 수가 입자의 전체 수의 1% 이하인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 코어 미립자의 외경이 50 내지 1000 ㎛ 이고, 직경이, 코어 미립자의 반경의 1% 이상인 거품을 포함하는 입자의 수가 입자의 전체 수의 1% 이하인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서, 코어 미립자에 포함된, 비점이 300 ℃ 이하인 물질의 합이 입자의 전체 중량의 1 중량% 이하인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서, 코어 미립자에 포함된 수분의 합이 입자의 전체 중량의 1 중량% 이하인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 있어서, 전도성 미립자의 구형도가 1.5% 이하인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 있어서, 전도성 미립자의 저항이 100 mΩ이하인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 있어서, -60 내지 200 ℃ 의 온도 범위에서 코어 미립자의 E' 의 최대값 대 최소값의 비가 1 내지 2 인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 15 항 중 어느 한 항에 있어서, 코어 미립자의 K 값이 1000 내지 10000 MPa 인 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 16 항 중 어느 한 항에 있어서, 코어 미립자의 외경이 700 내지 800 ㎛ 이고, 금속층이 2 내지 4 개의 층을 포함하고, 이의 최외측 층이 땜납 합금 및/또는 주석을 포함하는 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 17 항 중 어느 한 항에 있어서, 코어 미립자의 외경이 700 내지 800 ㎛ 이고, 금속층이, 최내측 층이 0.1 내지 0.5 ㎛ 두께의 니켈층이고, 제 2 최내측 층이 2 내지 12 ㎛ 두께의 구리층이고, 제 3 최내측 층이 82 내지 98% 의 납 및 2 내지 18% 의 주석을 포함하는, 2 내지 30 ㎛ 두께의 땜납 합금층이고, 최외측 층이 25 내지 50% 의 납 및 50 내지 75% 의 주석을 포함하는, 2 내지 30 ㎛ 두께의 땜납 합금층인 4 개의 층을 포함하는 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 16 항 중 어느 한 항에 있어서, 코어 미립자의 외경이 250내지 400 ㎛ 이고, 금속층이 2 내지 4 개의 층을 포함하고, 이의 최외측 층이 땜납 합금 및/또는 주석을 포함하는 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 16 항 중 어느 한 항에 있어서, 코어 미립자의 외경이 50 내지 150 ㎛ 이고, 금속층이 2 내지 4 개의 층을 포함하고, 이의 최외측 층이 땜납 합금 및/또는 주석을 포함하는 전도성 미립자.
  • 제 1 항 내지 제 20 항 중 어느 한 항에 따른 전도성 미립자에 의해 연결된 2 개 이상의 기판을 포함하고, 코어 미립자의 직경의 CV 값이 1.5% 이하인 기판 구성체.
  • 제 1 항 내지 제 20 항 중 어느 한 항에 따른 전도성 미립자에 의해 연결된 2 개 이상의 기판을 포함하고, 코어 미립자의 입경이 중심값으로부터 ±5% 이내인 기판 구성체.
  • 제 1 항 내지 제 20 항 중 어느 한 항에 따른 전도성 미립자에 의해 연결된 2 개 이상의 기판을 포함하고, 기판들 사이의 거리가 코어 미립자의 입경의 95 내지 120% 인 기판 구성체.
  • 제 1 항 내지 제 20 항 중 어느 한 항에 따른 전도성 미립자에 의해 연결된2 개 이상의 기판을 포함하고, 2 개 이상의 기판을 구성하는 물질 및/또는 조성이 상이한 기판 구성체.
  • 제 24 항에 있어서, 기판들의 선 팽창 계수 사이의 차이가 10 ppm 이상인 기판 구성체.
  • 코어 미립자의 표면을 2 종 이상의 금속 합금층으로 덮는 것을 포함하고, 금속 합금층이 전기도금에서 1 종 이상의 금속을 석출시킴으로써 수득될 수 있는 층이고, 다른 1 종 이상의 금속을 도금 배쓰에 분산된 금속의 혼입에 의해 형성할 수 있는 미립자 도금 방법.
  • 제 26 항에 있어서, 금속 합금층의 전기도금에 의해 석출된 하나 이상의 금속이 주석이고, 도금 배쓰에 분산시킴으로써 혼입된 하나 이상의 금속이 은인 미립자 도금 방법.
  • 제 27 항에 있어서, 염기성 조성물로서 하나 이상의 2가 주석 화합물, 1가 은 화합물 및 공융 안정화 보조제를 포함하는 합금 전기도금 배쓰에서 도금에 의해 금속 합금층이 수득될 수 있는 미립자 도금 방법.
  • 제 28 항에 있어서, 주변에 캐쏘드가 있고, 주 몸체 내에 도금 용액 및 도금미립자를 보유하고, 회전하면서 에너자이징 및 교반을 반복하는 회전 도금 장치를 사용함으로써 도금을 수행하는 미립자 도금 방법.
  • 제 26 항 내지 제 29 항 중 어느 한 항에 따른 미립자 도금 방법에 따라 도금시킴으로써 수득될 수 있는 전도성 미립자.
  • 제 30 항에 따른 전도성 미립자에 의해 연결이 형성될 수 있는 전도성 연결 구성체.
  • 표면이 하나 이상의 금속층으로 덮힌 코어 미립자를 포함하고, 금속층의 하나 이상의 층이 2 개 이상의 금속층을 열적 확산시킴으로써 수득될 수 있는 합금층인 전도성 미립자.
  • 제 32 항에 있어서, 합금층이 주석, 은, 구리, 아연, 비스무트, 인듐, 알루미늄, 코발트, 니켈, 크롬, 티탄, 안티몬, 게르마늄, 카드뮴 및 규소로 구성되는 군으로부터 선택된 금속을 포함하는 2 종 이상의 금속층을 열적 확산시킴으로써 수득될 수 있는 전도성 미립자.
  • 제 33 항에 있어서, 코어 미립자가 수지로 만들어진 전도성 미립자.
  • 제 34 항에 따른 전도성 미립자에 의해 연결이 형성될 수 있는 전도성 연결 구성체.
  • 주변에 캐쏘드 및 도금 용액이 통과하여 방출되는 필터가 장착된 회전가능한 돔 및 돔 내에서 캐쏘드와 접촉하지 않는 위치로 돔 내에 배치된 애노드를 포함하고, 돔의 회전에 의해 야기되는 원심력에 의해 캐쏘드와 미립자를 접촉시키면서 에너자이징 및 교반을 반복하는 회전 도금 장치를 사용하는 것을 포함하고, 도금되는 코어 미립자의 경도와 동일한 경도를 갖고, 도금되는 코어 미립자의 입경의 1.5 내지 30 배만큼 큰 입경을 갖는 모조 입자 및 미립자를 동시에 첨가하는 것을 포함하는 미립자 도금 방법.
  • 제 36 항에 있어서, 도금되는 코어 미립자가 수지로 만들어지고 입경이 1 내지 500 ㎛ 인 미립자 도금 방법.
  • 제 37 항에 있어서, 모조 입자가 수지로 만들어진 미립자 도금 방법.
  • 제 36 항 내지 제 38 항 중 어느 한 항에 따른 미립자 도금 방법에 따라 도금시킴으로써 수득될 수 있는 전도성 미립자.
  • 제 39 항에 따른 전도성 미립자에 의해 연결이 형성될 수 있는 전도성 연결구성체.
  • 说明书全文

    전도성 미립자, 미립자 도금 방법 및 기판 구성체 {CONDUCTIVE FINE PARTICLES, METHOD FOR PLATING FINE PARTICLES, AND SUBSTRATE STRUCTURAL BODY}

    지금까지, 전기 회로 기판에서 IC 또는 LSI 를 연결하기 위하여, 개별적인 핀을 인쇄 배선 보드에 납땜하는 방법이 사용되어 왔다. 그러나, 이 방법은 생산 효율성이 낮고 과밀화에 적합하지 않다.

    연결 신뢰성을 개선시키기 위하여, 구형으로 성형된 땜납인, 소위 땜납 볼로 기판을 연결하는 BGA (ball grid array: 볼 격자 배열) 와 같은 기술이 개발되었다. 이 기술에 따르면, 기판, 칩 및 기판 상에 세공된 (mounted) 땜납 볼을 고온에서 용융시키면서 이들을 연결시킴으로써, 높은 생산성 및 높은 연결 신뢰성을 만족시키면서 전기 회로를 생산할 수 있다.

    그러나, 기판의 다중층화가 최근 진척되고 있고, 이것은 외부 환경의 변화에 의해 기판 자체의 신장 또는 팽창 및 축소가 야기되고, 그 결과, 기판의 연결에 이같은 힘이 적용되면 선 (wire) 의 파손이 야기될 것이라는 문제를 야기시킨다.또한, 다중층화는 기판들 사이의 거리를 유지하는 것을 힘들게 한다; 그 거리의 유지에는 스페이서 등의 설치가 요구되므로, 많은 시간 및 비용이 필요하게 된다는 사실이 문제를 야기시킨다.

    이러한 문제를 해결하기 위한 수단으로서, 기판 등의 회로에 적용되는 힘의 감퇴에 대하여, 수지 등의 적용에 의해 기판 연결을 강화시키려는 시도가 있어왔고, 이것은 연결 신뢰성을 개선시키는데 특정 효과를 나타내어 왔다. 그러나, 이것은 많은 노동력이 요구되고, 적용 단계의 첨가에 의해 비용 증가가 야기된다는 문제가 있다. 다른 한편으로는, 기판들 사이의 거리의 유지에 대하여, 구리가 땜납으로 코팅된 볼을 사용하는 경우, 땜납처럼 용융되지 않는 구리는 지지체로서의 역할을 하고, 기판들 사이의 거리를 유지할 수 있게 한다. 그러나, 구리는 비싸고 무거워서, 저렴하고 가벼운 물질이 기대된다.

    발명의 요약

    상기 본 상황의 관점에서, 본 발명의 목적은 기판 등의 회로에 적용되는 힘을 감퇴시키는 능력이 있는 전도성 미립자, 및 기판들 사이의 거리를 일정하게 유지하는 방법을 제공하는 것이다.

    본 발명의 제 1 측면은 전도성 미립자에 있어서, 표면이 하나 이상의 금속층으로 덮힌 수지로 만들어진 코어 (core) 미립자를 포함하고, 수지의 선 팽창 계수가 3 ×10 -5 내지 7 ×10 -5 (1/K) 인 미립자이다.

    본 발명의 제 2 측면은 전도성 미립자에 있어서, 표면이 하나 이상의 금속층으로 덮힌 수지로 만들어진 코어 미립자를 포함하고, 수지의 열 분해 온도가 300℃ 이상이고, 금속층을 구성하는 하나 이상의 금속(들)이, 융점이 150 내지 300℃ 인 금속 및/또는 합금인 미립자이다.

    본 발명의 제 3 측면은 전도성 미립자에 있어서, 표면이 하나 이상의 금속층으로 덮힌 수지로 만들어진 코어 미립자를 포함하고, 모든 금속층의 열 팽창 계수가 각각 1 ×10 -5 내지 3 ×10 -5 (1/K) 이고, 각각의 금속층의 열 팽창 계수 대 코어 미립자의 열 팽창 계수의 비, 즉 코어 미립자의 열 팽창 계수/금속층의 열 팽창 계수가 각각 0.1 내지 10 인 미립자이다.

    본 발명의 제 4 측면은 미립자 도금 방법에 있어서, 코어 미립자의 표면을 2 종 이상의 금속 합금층으로 덮는 것을 포함하고, 금속 합금층이 전기 도금에서 1 종 이상의 금속을 석출시킴으로써 수득될 수 있는 층이고, 도금 배쓰에 분산된 금속을 혼입시킴으로써 다른 1 종 이상의 금속을 형성할 수 있는 방법이다.

    본 발명의 제 5 측면은 전도성 미립자에 있어서, 표면이 하나 이상의 금속층으로 덮힌 코어 미립자를 포함하고, 하나 이상의 금속층이 2 개 이상의 금속층을 열적 확산시킴으로써 수득될 수 있는 합금층인 미립자이다.

    본 발명의 제 6 측면은 미립자 도금 방법에 있어서, 외면 상에 캐쏘드 및 도금 용액이 통과하여 방출되는 필터가 장착된 회전가능한 돔 (dome) 및 돔 내에서 캐쏘드와 접촉하지 않는 위치로 돔 내에 배치된 애노드를 포함하고, 돔의 회전에 의해 야기되는 원심력에 의해 미립자를 캐쏘드와 접촉시키면서 에너자이징(energizing) 및 교반을 반복하는 회전 도금 장치를 사용하는 것을 포함하고, 도금되는 코어 미립자의 경도와 동일한 경도를 가지고, 도금되는 코어 미립자의 입경의 1.5 내지 30 배 만큼 큰 입경을 가지는 모조 입자 및 미립자를 동시에 첨가하는 것을 포함하는 방법이다.

    도면(들)의 간단한 설명

    도 1 은 본 발명에서 사용되는 도금 장치의 한 예를 나타내는 개략도이다.

    도면에서의 기호에 대하여, 1 은 덮개를 나타내고, 2 는 전극을 나타내고, 2a 는 애노드를 나타내고, 3 은 회전 축을 나타내고, 5 는 용기를 나타내고, 6 은 도금 용액 공급 방출 튜브를 나타내고, 7 은 도금 용액 방출 튜브를 나타내고, 8 은 통로를 나타내고, 11 은 바닥판을 나타내고, 12 는 접촉 고리를 나타내고, 13 은 다공성 고리를 나타낸다.

    본 발명은 전기 회로의 2 개 이상의 전극을 연결하는데 사용되는 전도성 미립자 및 기판 구성체에 관한 것이고, 이 전도성 미립자는 회로에 적용되는 힘의 감퇴로부터 기인하는, 개선된 연결 신뢰성을 가진다.

    본 발명은 하기에 상세하게 기술되어 있다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면은 전도성 미립자에 있어서, 표면이 하나 이상의 금속층으로 덮힌 수지로 만들어진 코어 미립자를 포함하는 미립자에 관한 것이다.

    본 발명의 제 1 측면에서 사용되는 수지의 선 팽창 계수는 3 ×10 -5 내지 7 ×10 -5 (1/K) 이다. 선 팽창 계수는 60 내지 280℃ 에 대하여 압축 하중법에 의해 측정된다. 선 팽창 계수가 7 ×10 -5 미만인 경우, 수지가 경질이 될 것이기때문에, 응력 감퇴 효과가 감소될 것이다. 3 ×10 -5 을 초과하는 경우, 수지의 큰 변형이 발생할 것이기 때문에, 회로의 신장을 무시할 수 없다. 본 발명의 제 1 측면에 따른 전도성 미립자는, 코어 미립자에 사용되는 수지의 선 팽창 계수가 상기 언급된 범위 내이기 때문에, 온도 변화에 의해 영향을 받지 않으면서 기판들 사이의 거리를 일정하게 유지할 수 있다.

    본 발명의 제 2 측면에 사용되는 수지의 열 분해 온도는 300℃ 이상이다. 열 분해 온도는 TGA (열무게 분석) 를 사용하여 측정되고, 대상물의 중량 손실이 시작되는 온도를 나타낸다. 열 분해 온도가 300℃ 미만인 경우, 전도성 미립자는 파손될 것이고, 이것은 전도성을 확보하는 것을 불가능하게 할 것이고, 이 때 기판 등의 온도는 전도성에 기인하여 상승된다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면에 사용되는 수지는, 수지가 상기 언급된 조건을 만족시키는 경우, 특별히 제한되지 않고, 가교결합 또는 비가교결합 합성 수지, 예컨대, 페놀 수지, 아미노 수지, 아크릴계 수지, 폴리에스테르 수지, 요소 수지, 멜라민 수지, 알키드 수지, 폴리이미드 수지, 우레탄 수지 및 에폭시 수지; 및 유기-무기 혼성 중합체로 예시된다. 이들은 단독으로 또는 이들의 2 개 이상의 배합물로, 예를 들어, 공중합체의 형태로 사용될 수 있다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면에서의 금속층은 특별히 제한되지 않고, 금, 은, 구리, 백금, 아연, 철, 납, 주석, 알루미늄, 코발트, 인듐, 니켈, 크롬, 안티몬, 비스무트, 게르마늄, 카드뮴, 및 규소로 구성되는 군으로부터 선택된 하나이상의 금속을 포함하는 것으로 예시된다. 금속층 각각은 단일층 또는 2 개 이상의 층을 포함할 수 있다. 상기 열거된 금속을 단독으로 또는 이들의 2 개 이상의 배합물로 사용할 수 있다. 상기 나열된, 2 개 이상의 금속을 배합하여 사용하는 경우, 이들을 사용하여 복수층을 포함하는 구성제를 형성할 수 있거나, 합금의 형태로 사용할 수 있다.

    본 발명의 제 2 측면에서, 금속층을 구성하는 하나 이상의 금속은 융점이 150 내지 300℃ 인 금속 및/또는 합금이다. 금속층을 구성하는 하나 이상의 금속이, 융점이 150 내지 300℃ 인 금속 및/또는 합금인 경우, 합금 및/또는 금속이 용융될 경우, 온도 상승에 의해 야기되는 기판의 신장 또는 수축이 도모될 것이고, 이것은 기판들 사이에 적용되는 힘을 감퇴시킨다. 융점이 150 내지 300℃ 인 금속 및/또는 합금은 특별히 제한되지 않고, 상기 열거된 금속 및 합금 중, 땜납 합금, 주석 등이 범주에 포함된다.

    본 발명의 제 3 측면에서, 모든 금속층 각각의 열 팽창 계수는 1 ×10 -5 내지 3 ×10 -5 (1/K) 이고, 각각의 금속층의 열 팽창 계수 대 코어 미립자의 열 팽창 계수의 비, 즉 코어 미립자의 열 팽창 계수/금속층의 열 팽창 계수는 각각 0.1 내지 10 이다. 본 발명의 제 3 측면에 따른 전도성 미립자는 상기 언급된 조건을 만족시킨다. 따라서, 온도가 변하여도, 코어 미립자의 팽창 및 수축이 금속층의 파손을 막을 것이고, 또한 코어 미립자 및 금속층 사이의 박리를 막을 것이고, 이것은 연결의 안정성을 확보한다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면에 따른 전도성 미립자에서, 금속층의 두께는, 전도성 미립자의 외경이 200 내지 1000 ㎛ 인 경우, 바람직하게는 코어 미립자의 반경의 0.5 내지 30% 이다. 0.5% 미만인 경우, 운반 도중 전도성 미립자의 내구성 또는 초기의 연결 신뢰성이 저하될 수 있다. 30% 를 초과하는 경우, 응력 감퇴 효과가 저하될 수 있다. 금속층의 두께가, 코어 미립자의 반경에 대하여 상기 언급된 범위 내인 경우, 전도성 미립자의 응력 감퇴 효과 및 입자 자체의 내구성은 최대가 된다.

    또한, 금속층의 두께는 바람직하게는 하기 수학식 1 로 나타내는, 코어 미립자의 반경에 관한 관계를 만족시킨다:

    Y = (-25/100,000ㆍX + c) ×100

    [식 중, Y 는 코어 미립자의 반경에 대한 금속층의 두께의 비 (%) 를 나타내고, X 는 전도성 미립자의 외경 (㎛) 을 나타내고, c 는 0.10 내지 0.35 의 상수를 나타내고, 단, Y > 0 이다].

    상기 수학식 1 을 만족시키는 경우, 전도성 미립자의 응력 감퇴 효과 및 입자 자체의 내구성은 최대가 될 것이다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면에 따른 전도성 미립자에서, 금속층의 두께는, 전도성 미립자의 외경이 50 내지 200 ㎛ 인 경우, 바람직하게는 코어 미립자의 반경의 1 내지 100% 이다. 1% 미만인 경우, 운반 도중 입자의 내구성 또는 초기 연결 신뢰성이 저하될 수 있다. 100% 를 초과하는 경우, 응력 감퇴 효과가 저하될 수 있다. 금속층의 두께가 코어 미립자의 반경에 대하여 상기 언급된 범위 내인 경우, 전도성 미립자의 응력 감퇴 효과 및 입자 자체의 내구성은 최대가 된다. 더욱 바람직하게는, 두께는 4 내지 40% 이다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면에 따른 전도성 미립자에 있어서, 거품을 포함하는 코어 미립자를 포함하는 입자의 수는 입자의 전체 수의 1% 이하인 것이 바람직하다. 그 안에 거품을 포함하는 코어 미립자를 포함하는 입자는 표면이 울퉁불퉁하기 때문에, 그 부분에서 금속 코팅이 박리되기 쉽고, 기판 세공 도중, 예를 들어, 선의 파손을 야기시킬 것이다. 또한, 이것은 환류와 같은 가열 도중, 거품이 팽창하기 때문에, 예를 들어 땜납 내에 미세균열의 형성을 야기시킬 것이다. 거품이 선의 파손 또는 미세균열을 야기시킬 것이기 때문에, 거품을 포함하는 입자의 수가 적은 것이 더욱 바람직하다. 1% 를 초과하는 경우는, 불량 비율이 무시할 수 없는 수준에 도달할 것이기 때문에 바람직하지 않다. 0.5% 이하가 더욱 바람직하다.

    또한, 본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면의 전도성 미립자에서 코어 미립자의 외경이 50 내지 1000 ㎛ 인 경우, 직경이 코어 미립자의 반경의 1% 이상인 거품을 포함하는 입자의 수가 입자의 전체 수의 1% 이하인 것이 바람직하다.

    거품처럼, 물과 같이 비점이 300 ℃ 이하인 물질이 코어 미립자에 포함되는 경우, 이것은 환류와 같은 가열 도중, 거품이 팽창하기 때문에, 예를 들어 땜납 내에 미세균열의 형성을 야기시킬 것이다. 이 이유로, 본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면의 전도성 미립자에 있어서, 코어 미립자에 포함되는, 물과 같이 비점이300 ℃ 이하인 물질의 합이 입자의 전체 중량의 1 중량% 이하인 것이 바람직하다. 1% 를 초과하는 경우, 불량 비율이 무시할 수 없는 수준에 도달할 것이기 때문에 바람직하지 않다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면의 전도성 미립자의 구형도 (sphericity) 는 바람직하게는 1.5% 이하이다. 구형도는 하기 수학식 2 로 나타내는 변수이다:

    구형도 (%) = (구의 최대 직경 - 구의 최소 직경) / (구의 최대 직경 + 구의 최소 직경) ×2 ×100

    구형도가 1.5% 이하인 경우, 전도성 미립자는 조작이 쉽고, 운반 도중 또는 세공 단계 도중, 손상이 덜 발생할 것이다. 다른 한편으로는, 구형도가 1.5% 를 초과하는 경우, 운반 도중 손상이 더 발생할 것이고, 이 단계 도중 입자 조각이 흩어질 수 있다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면의 전도성 미립자의 저항은 바람직하게는 100 mΩ이하이다. 100 mΩ이하인 경우, 회로에 열이 발생하지 않고, 전력을 덜 소비하는 모듈 (module) 을 생산할 수 있다. 100 mΩ을 초과하는 경우, 전도성 미립자를 사용하는 모듈의 전력 소비가 빠르게 증가하고, 생성되는 열 발생을 무시할 수 없기 때문에 바람직하지 않다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면의 전도성 미립자에 있어서, -60 내지 200℃ 의 온도 범위에서, 코어 미립자의 최대 E' 값 대 최소 E' 값의 비는 1 내지2 인 것이 바람직하다. 상기 언급된 온도 범위에서 최대값 대 최소값의 비가 1 내지 2 인 경우, 점탄성에서의 변화가 작게 발생할 것이고, 세공에 사용되는 경우에도, 열에 의해 야기되는 제품의 악화가 작게 발생할 것이다. 그러나, 소정의 비를 초과하는 경우, 점탄성이 감소할 때, 제품의 파손 또는 악화가 발생할 수 있다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면의 전도성 미립자에 있어서, 코어 미립자의 K 값이 1000 내지 10000 (MPa) 인 것이 바람직하다. K 값 (MPa) 은 10% 변형시의 압축 경도를 의미하고, (3/

    )ㆍFㆍS

    -3/2 ㆍR

    -1/2 (식 중, F 는 20℃ 에서 10% 압축 변형시 하중 (MPa ×㎟) 값을 나타내고, S 는 압축 변위를 나타내고, R 은 반경 (mm) 으로 나타내는 값이다) 로서 정의된다. K 값은 일본 공표 공보 평-6-503180 의 기재에 따라, 미세 압축 시험기 (Shimadzu Corporation 제조의 PCT-200) 를 사용하여, 다이아몬드로 만들어진, 말단 표면이 평활하고 직경이 50 ㎛ 인 실린더로 0.27 g/초의 압축 경도 및 10 g 의 최대 시험 하중으로 전도성 미립자를 압축시킴으로써 계산되는 것이다. K 값이 작을수록, 미립자의 변형이 쉬워진다. K 값이 1000 MPa 미만인 경우, 너무 연질이므로 생산 도중 예를 들어, 응집 문제가 야기될 수 있다. 또한, 기판들 사이의 틈이 유지되지 않고 기판들 사이에서 접합 부분 이외의 위치에서 충돌이 발생할 수 있기 때문에, 비실용적이다. 10000 MPA 를 초과하는 경우, 너무 경질이고, 접합 기판에 사용하는 경우, 접합 부분에 응력이 쉽게 적용된다. 더욱 바람직하게는 1500 내지 6500 (MPa) 이다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면의 전도성 미립자에 있어서, 금속층이 2 내지 4 개의 층을 포함하고, 이의 최외측 층이 땜납 합금 및/또는 주석을 포함하는 것이 바람직하다. 코어 미립자의 외경은 적용물에 따라 임의로 선택될 수 있다. 예를 들어, 외경이 700 내지 800 ㎛, 250 내지 400 ㎛, 50 내지 150 ㎛ 인 코어 미립자를 사용할 수 있다.

    코어 미립자의 외경이 700 내지 800 ㎛ 인 전도성 미립자를 사용하는 경우, 온도 상승에 의해 야기된 기판의 신장 또는 수축을 더욱 효과적으로 완화시키고, 기판에 적용된 힘을 감퇴시킬 수 있고, 금속층은 4 개의 층을 포함하고, 최내측 층은 0.1 내지 0.5 ㎛ 두께의 니켈층이고, 제 2 최내측 층은 2 내지 12 ㎛ 두께의 구리층이고, 제 3 최내측 층은 82 내지 98% 의 납 및 2 내지 18% 의 주석을 포함하는, 2 내지 30 ㎛ 두께의 땜납 합금층이고, 최외측 층은 25 내지 50% 의 납 및 50 내지 75% 의 주석을 포함하는, 2 내지 30 ㎛ 두께의 땜납 합금층이다.

    본 발명의 제 1, 제 2 및 제 3 측면의 전도성 미립자에 의해 연결된 2 개 이상의 기판을 포함하는 기판 구성체는 또한 본 발명의 것이다.

    상기 언급된 기판 구성체에 사용되는 전도성 미립자에 있어서, 코어 미립자의 입경의 CV 값이 1.5% 이하인 것이 바람직하다. 본원에 사용되는 CV 값은 하기 수학식 3 으로 나타내는 것이다:

    CV 값 = (σ/Dn) ×100

    [식 중, σ는 입경의 표준 편차를 나타내고, Dn 은 수평균 입경을 나타낸다].

    상기 표준 편차 및 수평균 입경은 무작위의 전도성 미립자의 입자 100 개를 전자현미경으로 관찰하고 측정함으로써 수득된 값이다. CV 값이 1.5% 를 초과하는 경우, 입경의 편차가 커지고, 전도성 미립자를 통해 전극을 접합시킨 경우, 접합에 참여하지 않는 전도성 미립자가 증가하고, 이것은 전극들 사이에 누출 현상을 일으킬 수 있다.

    상기 언급된 기판 구성체에 사용되는 전도성 미립자에 있어서, 코어 미립자의 입경이 중심값으로부터 ±5% 이내인 것이 바람직하다. ±5% 범위 밖인 경우, 입경의 편차는 또한 커지고, 전도성 미립자를 통해 전극을 접합시킨 경우, 접합에 참여하지 않는 전도성 미립자가 증가하고, 이것은 전극들 사이에 누출 현상을 일으킬 수 있다.

    상기 언급된 기판 구성체에서, 기판들 사이의 거리가 본 발명의 전도성 미립자 내의 코어 미립자의 입경의 95 내지 120% 인 것이 바람직하다. 95% 미만인 경우, 기판은 손상될 수 있다. 120% 를 초과하는 경우, 연결 안정성이 저하될 수 있다.

    기판 구성체에서, 2 개 이상의 기판을 구성하는 물질 및/또는 조성물은 동일하거나 상이할 수 있다. 기판 구성체를 구성하는 복수의 기판이 서로 상이한 경우에도, 외부 환경의 변화에 의한 기판 자체의 신장 또는 팽창 및 수축에 의해 야기된, 예를 들어, 기판의 회로에 적용되는 힘은 본 발명의 전도성 미립자를 사용하여 연결시킴으로써 감퇴될 수 있다.

    상기 언급된 기판 구성체에서, 기판들 사이의 선 팽창 계수 사이의 차이는10 ppm 이상일 수 있다. 10 ppm 이상인 경우, 외부 환경의 변화에 의한 기판 자체의 신장 또는 팽창 및 수축에 의해 야기된, 예를 들어 기판의 회로에 적용된 힘은 본 발명의 전도성 미립자를 사용하여 연결시킴으로써 감퇴될 수 있다.

    본 발명의 제 4 측면은 코어 미립자의 표면을 2 종 이상의 금속 합금층으로 덮는 것을 포함하는, 미립자 도금 방법이다.

    본 발명의 제 4 측면에서의 금속 합금층은 전기 도금에서 1 종 이상의 금속을 석출시킴으로써 수득될 수 있는 층이고, 도금 배쓰에 분산된 금속을 혼입시킴으로써 다른 1 종 이상의 금속을 형성할 수 있다.

    본 발명의 제 4 측면에 의해 수득될 수 있는 전도성 미립자는 수지로 만들어진 코어 미립자의 표면 및 금속 볼이 2 종 이상의 금속 합금층으로 덮힌 미립자이다. 상기 언급된 수지로는 폴리스티렌, 폴리스티렌 공중합체, 폴리아크릴계 에스테르, 폴리아크릴계 에스테르 중합체, 페놀 수지, 폴리에스테르 수지 및 폴리비닐 클로라이드가 예시된다. 이들은 단독으로 또는 이들의 2 개 이상의 배합물로 사용될 수 있다. 코어 미립자는 구형인 한, 형상에 있어서 특별히 제한되지 않는다. 예를 들어, 공동 (hollow) 형태일 수 있다. 금속 볼의 예로는 은, 구리, 니켈, 규소, 금 및 티탄과 같이 융점이 높은 금속의 것들이 포함된다.

    코어 미립자는 평균 입경에 있어서 제한되지 않지만, BGA 및 CSP 와 같은 세공 물질의 적용을 고려하여, 평균 입경이 1 내지 1000 ㎛ 인 것이 유용하고 바람직하다.

    본 발명의 전도성 미립자는 상기 언급된 코어 미립자가 2 종 이상의 금속 합금층으로 덮힌 것이다. 코팅되는 금속의 예로는 금, 은, 구리, 백금, 아연, 철, 주석, 알루미늄, 코발트, 인듐, 니켈, 크롬, 티탄, 안티몬, 비스무트, 게르마늄, 카드뮴 및 규소가 포함된다. 이러한 금속을 단독으로 사용할 수 있거나, 도금층을 이들의 2 종 이상의 합금 조성물로 형성할 수 있다. 예를 들어, 폴리스티렌 수지로 만들어진 코어 미립자에 니켈층을 도금한 후, 그 위에 주석-은 합금층을 형성할 수 있는 구조를 언급할 수 있다.

    이러한 금속층 중, 하나 이상의 층을 바람직하게는 복합 도금 방법에 의해 도금함으로써 수득될 수 있는 합금층으로 둔다. 복합 도금층에서, 납이 없기를 원하는 최근의 요구에 따라, 주석, 예컨대 주석-은, 주석-구리, 및 주석-은-구리로 주로 구성되는 도금 조성물이 언급된다. 특히, 실용성의 달성 및 도금 배쓰의 조건으로부터, 주석-은이 바람직하다.

    상기 언급된 금속층의 두께는 특별히 제한되지 않지만, 전도성 접합 및 기판 접합과 같은 적용을 고려하여, 0.01 내지 500 ㎛ 가 바람직하다. 0.01 ㎛ 미만인 경우, 바람직한 전도성을 달성하기가 어렵다. 500 ㎛ 를 초과하는 경우, 입자는 서로 응집하거나, 기판들 사이의 거리를 유지하거나 기판과 같은 회로에 적용되는 힘을 감퇴시키는 효과가 감소될 수 있다.

    본 발명의 제 4 측면에서, 예를 들어, 2가 주석 화합물, 1가 은 화합물 및 공융 (eutectoid) 안정화 보조제를 기본 조성물로서 포함하는 도금 배쓰를 사용하면, 합금 조성물 내의 주석을 이온으로서 전기도금시킬 수 있고, 은이 도금 배쓰에 분산된 금속 은으로서 도금 코팅물 내에서 고형화된다.

    도금 배쓰에서, 금속 은 입자는 분해 반응인, 하기 식의 반응을 통해 자연히 형성될 수 있다.

    Sn 2+ + 2Ag + →Sn 4+ + 2Ag↓

    은 입자는 도금 배쓰 내에서 입경이 약 5 nm 만큼 큰 크기로 형성될 수 있고, 응집 또는 침전을 야기시키지 않으면서 안정성을 가지고 존재한다는 사실이 확인되었다.

    다시 말해서, 본 발명의 도금 방법은 주석 이온 및 은 이온이 캐쏘드에서 동시에 환원되어 합금을 형성하는 종래의 주석-은 합금 코팅 도금 방법과 기본적으로 상이하기 때문에, 본 발명의 도금 방법은, 주석 및 은의 석출 전위 사이의 상당한 차이가 있다는 사실로부터 기인한 종래의 모든 문제를 해결할 수 있다. 따라서, 귀금속 성분인 은이 저전류 밀도에서 우선적으로 석출되어, 도금 코팅물의 비균질 합금 조성물을 생성하는 결점이 없다.

    또한, 동일한 원리로, 주석-구리와 같이, 상당히 상이한 석출 전위를 가지는 합금 조성물에서도 복합 도금 방법을 사용하여, 저전류 밀도에서 코팅 조성물을 조절할 수 있다.

    본 발명의 제 4 측면에 사용되는 2가 주석 화합물로서, 공지된 비시안화물 이외의 임의의 것을 사용할 수 있다. 예를 들어, 주석 술페이트, 주석 클로라이드, 주석 브로마이드, 주석 옥시드, 주석 보로플루오라이드, 주석 실리코플루오라이드, 주석 술파메이트, 주석 옥살레이트, 주석 타르타레이트, 주석 글루코네이트, 주석 피로포스페이트, 주석 메탄술포네이트 및 주석 알칸올술포네이트와 같은 유기산염 및 무기산염을 사용할 수 있다.

    사용되는 주석 화합물의 양은 주석의 양에 있어서, 적당하게는 5 내지 100 g/L, 바람직하게는 10 내지 20 g/L 이다. 상기 언급된 주석 화합물을 이들의 2 개 이상의 배합물로 사용할 수 있다.

    본 발명의 제 4 측면에서 사용되는 공융 안정화 보조제로는 하기의 것을 예시할 수 있다:

    (a) 옥살산, 말론산, 글루타르산, 아디프산을 포함하는, 탄소수가 0 내지 4 인 아릴기를 가지는 지방족 디카르복실산.

    (b) 글리콜산, 락트산, 말산, 타르타르산, 시트르산, 글루콘산, 글루코헵톤산을 포함하는, 지방족 옥시카르복실산.

    (c) 농축 포스포르산: 피로포스포르산 및 트리폴리포스포르산.

    (d) 아민 카르복실산: 에틸렌디아민테트라아세트산 (EDTA), 이미노디아세트산, 니트릴로트리아세트산, 디에틸렌트리아민펜타아세트산, 및 트리에틸렌테트라민헥사아세트산.

    이러한 공융 안정화 보조제의 양은 사용되는 첨가 화합물의 종류에 따라 임의로 선택될 수 있지만, 2가 주석 화합물을 이의 수용액 내에서 안정화시키기 위해서 도금 배쓰에 포함된 주석의 1 몰 당 1 몰 이상의 양으로 이들을 사용하는 것이 바람직하다. 2 내지 5 몰이 더욱 바람직하다. 또한, 상기 언급된 화합물을 이들의 2 개 이상의 배합물로 사용할 수 있다.

    본 발명의 제 4 측면에서 도금 배쓰 내에서 사용되는 1가 은 화합물로서, 공지된 비시안화물 이외의 임의의 것을 사용할 수 있다. 예를 들어, 은 옥시드, 은 니트레이트, 은 술페이트, 은 클로라이드, 은 술파메이트, 은 시트레이트, 은 락테이트, 은 피로포스페이트, 은 메탄술포네이트, 은 알칸올술포네이트 등을 사용할 수 있다.

    사용되는 이러한 은 화합물의 양은 바람직하게는 2 내지 50 g/L, 더욱 바람직하게는 2 내지 10 g/L 이고, 바람직하게는 사용되는 주석 화합물의 양에 대하여 몰수로, 주석의 양의 1/2 이하이다. 상기 언급된 화합물은 이들의 2 개 이상의 배합물로 사용될 수 있다.

    도금 코팅물 내의 은 함량을 조절하기 위하여, 산성 도금 배쓰 내에서 공융적으로 고형화된 은의 양을 증가시키는 작용이 있는 아민 화합물 또는 이의 염을 본 발명의 제 4 측면의 도금 배쓰에 첨가할 수 있다. 아민 화합물로서, 임의의 공지된 것을 사용할 수 있다. 이의 예로는 (모노, 디, 트리)메틸아민, (모노, 디, 트리)에틸아민, (모노, 디, 트리)부틸아민, 에틸렌디아민, 트리에틸테트라아민, (모노, 디, 트리)에탄올아민, 이미다졸, 옥신, 비피리딜, 페난트롤린 및 숙신이미드가 포함된다. 이들의 첨가량은 사용되는 화합물의 종류에 따라 변하지만, 바람직하게는 1 내지 100 g/L, 더욱 바람직하게는 2 내지 50 g/L 이다. 상기 언급된 화합물은 이들의 2 개 이상의 배합물로 사용할 수 있다.

    또한, 본 발명의 제 4 측면의 도금 배쓰로부터 전기분해에 의해 수득된 주석-은 합금 코팅물의 표면에 광택을 부여하기 위한 표면 조절제로서, 예를 들어,폴리에틸렌 글리콜, 폴리옥시에틸렌 알킬페닐 에테르, 폴리옥시에틸렌 알킬 에테르, 및 폴리옥시에틸렌 지방산 에스테르를 사용할 수 있다.

    폴리에틸렌 글리콜로서, 임의의 분자량을 가지는 것을 사용할 수 있다. 예를 들어, 평균 분자량이 200 내지 4000000 인 것을 사용할 수 있다.

    이들의 사용량은 적당하게는 0.1 내지 50 g/L, 더욱 바람직하게는 0.2 내지 5 g/L 이다. 또한, 폴리옥시에틸렌 알킬페닐 에테르, 폴리옥시에틸렌 알킬 에테르 및 폴리옥시에틸렌 지방산 에스테르로부터 선택되는 1 종 이상을 사용할 수 있다. 이러한 표면 조절제는 또한 0.2 내지 10 g/L 의 범위로 도금 배쓰에서 사용될 수 있다.

    본 발명의 제 4 측면의 도금 방법은 특별히 제한되지 않지만, 크기가 500 ㎛ 이하인 입자에 대하여, 불규칙성 및 응집성의 관점에서, 외면 상에 캐쏘드를 갖고, 주 몸체 내부에 도금 용액 및 도금 코어 미립자를 보유하고, 회전하면서 전기를 켜고 교반하는 것을 반복하는 회전 도금 장치 (이후, 회전 도금 장치로 언급됨) 를 사용하여 도금을 수행하는 것이 바람직하다.

    이 회전 도금 장치의 한 가지 예의 개략도가 도 1 에 설명되어 있다. 도금 장치 A 에서, 플라스틱으로 만들어지고, 수직 운행 축 3 의 상부 말단에 고정되어 있는 디스크형 바닥판 11 이 제공되고, 처리 용액만이 통과하는 필터로서 다공성 고리 13 이 바닥판 11 의 외면 상부 표면에 배열되어 있다. 다공성 고리 13 의 상부 표면 상에, 전기를 충전시키기 위한 접촉 고리 12 가 캐쏘드로서 배열되어 있다. 처리 챔버 4 는 상부 중심에 통로 8 을 갖는 절단된 옥수수 형상의 플라스틱 공동 덮개 1 의 외면 및 바닥판 11 사이에 다공성 고리 13 및 접촉 고리 12 를 끼워 넣음으로써 형성된다. 도금 장치 A 는 통로 8 로부터 처리 챔버 4 로 처리 용액 등이 공급되는 공급 튜브 6, 다공성 물질 창으로부터 흩어진 처리 용액을 받기 위한 플라스틱 용기 5, 용기 5 에 누적된 처리 용액이 방출되는 방출 튜브 7, 및 통로 8 로부터 삽입되어 도금 용액과 접촉되는 애노드 2a 를 갖는다.

    도금 용액 내에 미립자를 함침시키고, 운행 축 3 을 회전시키면서 전도성 베이스 층이 형성되어 있는 도금 용액 및 미립자를 처리 챔버 4 에 존재시킴으로써 전기적 전류는 양쪽 전극, 즉, 접촉 고리 12 (캐쏘드) 및 애노드 2a 사이를 통과한다. 원심력의 작용으로 미립자는 접촉 고리 12 에 압착되고, 애노드 2a 를 마주하는 미립자 상에 도금층이 형성된다. 운행 축 3 이 정지할 때, 미립자는 중력 및 도금 용액의 관성에 의해 야기된 유동의 작용으로 당겨짐으로써 바닥판 중심의 평평한 표면으로 흘러내린다. 미립자는 혼합되는 동안 원심력의 작용에 의해 또다른 위치에서 접촉 고리 12 에 압착된다. 따라서, 애노드 2a 를 마주하는 또다른 미립자 상에 도금층이 형성된다. 운행 축 3 의 회전 및 정지를 반복함으로써, 처리 챔버 4 에 포함된 모든 미립자에 균일하게 도금을 적용한다.

    본 발명의 제 4 측면의 미립자 도금 방법에 의해 도금됨으로써 수득될 수 있는 전도성 미립자는 또한 본 발명의 것이다. 상기 언급된 전도성 미립자를 전극이 연결될 때 사용하는 경우, 이것은 회로에 적용되는 힘을 감퇴시킬 수 있고, 전도성 연결 구성체로서의 양호한 제품을 생성한다. 이같은 전도성 연결 구성체는 또한 본 발명의 것이다.

    본 발명의 제 5 측면은 전도성 미립자에 있어서, 하나 이상의 금속층으로 표면이 덮힌 코어 미립자를 포함하는 미립자이다. 본 발명의 제 5 측면은 금속층의 하나 이상의 층이 2 개 이상의 금속층을 열적 확산시킴으로써 수득될 수 있는 합금층인 것을 특징으로 한다.

    상기 언급된 코어 미립자는 특별히 제한되지 않고, 수지, 금속 등으로 만들어진 것으로 예시된다.

    상기 언급된 수지는 폴리스티렌, 폴리스티렌 공중합체, 폴리아크릴계 에스테르, 폴리아크릴계 에스테르 중합체, 페놀 수지, 폴리에스테르 수지 및 폴리비닐 클로라이드로 예시된다. 이들은 단독으로 또는 이들의 2 개 이상의 배합물로 사용될 수 있다. 상기 언급된 금속의 예로는 은, 구리, 니켈, 규소, 금 및 티탄과 같이, 융점이 높은 금속이 포함된다.

    상기 언급된 코어 미립자로서, 수지로 만들어진 것을 바람직하게 사용한다.

    상기 언급된 코어 미립자는 구형인 한, 형상에 있어서 특별히 제한되지 않는다. 예를 들어, 이것은 공동 형태일 수 있다.

    상기 언급된 코어 미립자의 평균 입경은 바람직하게는 1 내지 1000 ㎛ 이다. 1 ㎛ 미만인 경우, 수득되는 전도성 미립자의 입경은 너무 작으므로, 전극을 연결할 때 양호한 연결이 거의 달성되지 않는다. 1000 ㎛ 를 초과하는 경우, 좁은 피치 (pitch) 연결에 대한 최근의 요구를 만족시키기 어렵다.

    상기 언급된 금속층의 예로는 금, 은, 구리, 백금, 아연, 철, 주석, 알루미늄, 코발트, 인듐, 니켈, 크롬, 티탄, 안티몬, 비스무트, 게르마늄, 카드뮴 또는규소로 만들어진 것이 포함된다.

    금속층의 두께는 특별히 제한되지 않지만, 전도성 접합 및 기판 접합과 같은 적용을 고려하면, 0.01 내지 500 ㎛ 이 바람직하다. 0.01 ㎛ 미만인 경우, 바람직한 전도성을 달성하기 어렵다. 500 ㎛ 를 초과하는 경우, 입자는 서로 응집할 수 있거나, 기판들 사이의 거리를 유지하거나 기판과 같은 회로에 적용되는 힘을 감퇴시키는 효과가 감소할 수 있다.

    상기 언급된 코어 미립자의 표면에 금속층을 형성하는 방법은 특별히 제한되지 않고, 무전해 도금을 사용하는 방법, 전기도금을 사용하는 방법, 금속 미세 분말 단독으로 또는 금속 미세 분말과 결합제를 혼합시킴으로써 수득된 페이스트로 미립자를 코팅하는 것을 포함하는 방법, 또는 진공 증기화, 이온 도금 및 이온 스퍼터링 (sputtering) 과 같은 물리적 증기 석출로 예시된다.

    본 발명의 제 5 측면의 전도성 미립자는 하나 이상의 상기 언급된 금속층이 2 개 이상의 금속층을 열적 확산시킴으로써 수득될 수 있는 합금층인 것을 특징으로 한다.

    상기 언급된 합금층은 주석, 은, 구리, 아연, 비스무트, 인듐, 알루미늄, 코발트, 니켈, 크롬, 티탄, 안티몬, 게르마늄, 카드뮴 및 규소로 구성되는 군으로부터 선택된 2 종 이상의 금속층을 열적 확산시킴으로써 수득될 수 있는 것이다. 특히, 주석을 베이스로 사용하여 은, 구리, 아연, 비스무트 및 인듐으로부터 선택된 금속을 열적 확산시킴으로써 수득될 수 있는 합금층이 바람직하다.

    2 종 이상의 금속층을 열적 확산시키는 방법은 특별히 제한되지 않는다.예를 들어, 바람직한 금속 조성물을 갖는 합금층을 갖는 전도성 미립자는 자동 온도 조절 오븐에서 특정 기간 동안 미립자를 다중층 구성체로 유지함으로써 도금을 수행함으로써 수득될 수 있다. 열 처리 도중, 열에 의해 야기되는 산화에 의한 열화를 억제하기 위하여 자동 온도 조절 오븐 내부를 질소 및 아르곤과 같은 비활성 대기 또는 진공으로 하면서 열적 확산을 수행하는 것이 바람직하다.

    열 처리 온도는 특별히 제한되지 않고, 확산되는 금속에 따라 임의로 선택될 수 있지만, 저융점 금속의 융점보다 대략 20 내지 100℃ 낮은 온도에서 열 처리를 수행하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 주석 및 은의 다중층 구성체를 확산시키는 경우, 주석의 융점인 232℃ 보다 20 내지 100 ℃ 낮은, 대략 132 내지 212 ℃ 의 온도에서 열적 확산을 수행하는 것이 바람직하다.

    상기 언급된 합금층은 2 개 이상의 금속층을 열적 확산시킴으로써 수득될 수 있기 때문에, 합금층의 금속 조성을 조절하는 것이 쉽고, 원하는 금속 조성을 갖는 합금층을 형성할 수 있다.

    합금층은 위치에 대하여 특별히 제한되지 않지만, 최외측 층이 바람직하다. 최외측 층으로 함으로써, 그 층을 땜납 층으로서 사용할 수 있다.

    본 발명의 제 5 측면에 따른 전도성 미립자는 BGA 의 땜납 볼, 이방성 전도성 시트 또는 기판 상에 IC, LSI 등의 접합용 이방성 전도성 접착제로서 사용되고, 기판 또는 부품 접합에 사용된다.

    기판 또는 부품의 접합 방법은 전도성 미립자를 사용하는 접합 방법인 한 특별히 제한되지 않고, 하기 방법으로 예시된다.

    (1) 표면에 전극이 형성된 기판 또는 부품 상에 이방성 전도성 시트를 놓고, 이어서 또다른 전극 표면이 있는 기판 또는 부품을 가열 및 압축함으로써 접합시키는 것을 포함하는 방법.

    (2) 이방성 전도성 시트 대신에 스크린 인쇄 또는 디스펜서와 같은 수단으로 이방성 전도성 접착제를 공급함으로써 접합시키는 것을 포함하는 방법.

    (3) 전도성 미립자를 통해 접착된 전극들 사이의 틈에 액체 결합제를 공급한 후, 결합제를 고형화시킴으로써 접합시키는 것을 포함하는 방법.

    상기 기술된 방식으로, 기판 또는 부품의 접합체, 즉 전도성 연결 구성체를 수득할 수 있다. 이같은 전도성 연결 구성체는 또한 본 발명의 것이다.

    본 발명의 제 6 측면은 미립자 도금 방법에 있어서, 외면 상에 캐쏘드 및 도금 용액이 통과하여 방출되는 필터가 장착된 회전가능한 돔 및 돔 내에서 캐쏘드와 접촉하지 않는 위치로 돔 내에 배치된 애노드를 포함하고, 돔의 회전에 의해 야기되는 원심력에 의해 미립자를 캐쏘드와 접촉시키면서 에너자이징 및 교반을 반복하는 회전 도금 장치를 사용하는 것을 포함하는 방법이다. 이 방법은 도금되는 코어 미립자의 경도와 동일한 경도를 가지고, 도금되는 코어 미립자의 입경의 1.5 내지 30 배 만큼 큰 입경을 가지는 모조 입자를 동시에 첨가함으로써 도금을 수행하는 것을 특징으로 한다.

    본 발명의 제 6 측면에서 수득될 수 있는 전도성 미립자는 표면이 하나 이상의 금속층으로 덮힌 코어 미립자이고, 코어 미립자는 수지 및 금속 볼을 포함한다. 코어 미립자의 조성물은 특별히 제한되지 않지만, 세공될 때 응력 감퇴 작용을 부여하는 작용을 고려하여, 수지가 바람직하다. 수지는 폴리스티렌, 폴리스티렌 공중합체, 폴리아크릴계 에스테르, 폴리아크릴계 에스테르 중합체, 페놀 수지, 폴리에스테르 수지 및 폴리비닐 클로라이드로 예시된다. 이들을 단독으로 또는 이들의 2 개 이상의 배합물로 사용할 수 있다. 코어 미립자는 구형인 한 형상에 있어서 특별히 제한되지 않는다. 예를 들어, 공동 형태일 수 있다. 금속 볼의 예로는 은, 구리, 니켈, 규소, 금 및 티탄과 같이 융점이 높은 금속의 것이 포함된다.

    코어 미립자는 입경에 있어서 제한되지 않지만, BGA 및 CSP 와 같이 세공된 물질의 적용을 고려하여, 입경이 1 내지 1000 ㎛ 인 것이 유용하다. 회전 도금 장치에서의 응집이 쉽기 때문에, 크기가 1 내지 500 ㎛ 인 입자가 효과적이다.

    본 발명의 제 6 측면에서 수득될 수 있는 전도성 미립자는 상기 언급된 코어 미립자가 하나 이상의 금속층으로 덮힌 것이다. 코팅되는 금속의 예로는 금, 은, 구리, 백금, 아연, 철, 주석, 납, 알루미늄, 코발트, 인듐, 니켈, 크롬, 티탄, 안티몬, 비스무트, 게르마늄, 카드뮴 및 규소가 포함된다. 이러한 금속은 단독으로 사용할 수 있고, 이들의 2 종 이상의 합금 조성물로 도금층을 형성할 수 있다.

    예를 들어, 폴리스티렌 수지의 코어 미립자 상에 니켈층을 도금한 후, 구리 또는 주석을 추가로 그 위에 도금하는 구조가 언급된다.

    금속층의 두께는 특별히 제한되지 않지만, 전도성 접합 및 기판 접합과 같은 적용을 고려하여, 0.01 내지 500 ㎛ 가 바람직하다. 0.01 ㎛ 미만인 경우, 바람직한 전도성을 달성하기가 어렵다. 500 ㎛ 를 초과하는 경우, 입자는 서로 응집할 수 있거나, 기판들 사이의 거리를 유지하거나 기판과 같은 회로에 적용되는 힘을 감퇴시키는 효과가 감소할 수 있다.

    본 발명의 제 6 측면에 따른, 미립자 도금 방법에서, 도금 용액이 통과하여 방출되는 필터가 장착된 회전가능한 돔 및 캐쏘드와 접촉하지 않는 위치로 돔 내에 배치된 애노드를 포함하고, 돔의 회전에 의해 야기되는 원심력에 의해 미립자를 캐쏘드와 접촉시키면서 에너자이징 및 교반을 반복하는 회전 도금 장치가 사용된다. 이것은 본 발명의 제 4 측면에서 사용되는 것과 동일하다.

    본 발명의 제 6 측면에서, 도금되는 코어 미립자의 경도와 동일한 경도를 가지고, 도금되는 코어 미립자의 입경의 1.5 내지 30 배 만큼 큰 입경을 가지는 모조 입자를 동시에 첨가함으로써 도금을 수행한다.

    모조 입자의 경도는 압축탄성률을 사용하여 정의되고, 바람직하게는 대략 200 내지 500 ±100 kgf/㎟ 이다.

    스테인레스 스틸 및 철과 같은 금속, 또는 지르코니아 및 알루미나와 같은 무기 물질을 사용하지 않으면서 수지 조성물의 모조 입자를 사용하는 것이 바람직하다. 수지 조성물은 특별히 제한되지 않고, 폴리스티렌, 폴리스티렌 공중합체, 폴리아크릴계 에스테르, 폴리아크릴계 에스테르 공중합체, 페놀 수지, 폴리에스테르 수지, 폴리비닐 클로라이드 및 나일론으로 예시된다. 이들은 단독으로 또는 이들의 2 개 이상의 배합물로 사용될 수 있다.

    모조 입자의 바람직한 입경은 도금되는 코어 미립자의 입경의 대략 1.5 내지30 배이다.

    1.5 배 미만의 모조 입자의 입경은 도금된 입자를 모조 입자로부터 분리하기 어렵기 때문에 바람직하지 않다. 30 배를 초과하는 것은 도금되는 코어 미립자가 모조 입자 사이의 틈으로 파고들어 실질적인 분쇄 효과를 달성하는 것이 어렵기 때문에 바람직하지 않다.

    본 발명의 제 6 측면에 따른, 미립자 도금 방법에 의해 도금된 미립자는 연결 전극에 사용되는 전도성 입자로서 사용될 수 있다. 이같은 전도성 입자는 또한 본 발명의 것이다. 상기 언급된 전도성 미립자는 회로에 적용되는 힘의 감퇴를 통해 연결의 신뢰성을 개선시킬 수 있다. 상기 언급된 전도성 미립자를 사용하는 전도성 연결 구성체는 또한 본 발명의 것이다.

    본 발명을 수행하기 위한 최량의 형태

    본 발명을 하기 실시예에 의해 더욱 상세하게 기술할 것이지만, 본 발명은 단지 이러한 실시예에 제한되지 않는다.

    (실시예 1)

    스티렌 및 벤젠을 공중합시킴으로써 수득된 코어 미립자 상에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성함으로써 평균 입경이 698.5 ㎛ 이고, 표준 편차가 17.5 ㎛ 인 니켈-도금 미립자를 수득하였다. 생성된 30 g 의 니켈-도금 미립자의 무게를 재고 통 (barrel) 도금 장치를 사용하여 표면을 구리 도금한 후, 그 위에 공융 납땜 도금하였다.

    도금 통은 직경이 50 mm 이고 높이가 50 mm 인 정 5 각형 프리즘 형상이고, 이것은 한 면에만 틈 크기가 20 ㎛ 인 망 필터가 제공되었다.

    이 장치를 구리 도금 용액 내에서 1 시간 동안 전기 충전시켜, 정 5 각형의 중심을 통과하는 축 주위로 50 rpm 으로 용기를 회전시킴으로써 구리 도금한 후, 세정하였다. 이어서, 도금 통을 회전시키면서 공융 납땜 도금 용액 내에서 8 시간 동안 전기 충전시킴으로써 공융 납땜 도금하였다.

    이와 같이 수득된, 최외측 쉘 (shell) 이 공융 납땜 도금층인 공융 납땜-도금 수지 미립자를 현미경을 통해 관찰하여, 응집이 발생하지 않으며, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 100 개의 공융 납땜-도금 수지 미립자의 입자를 확대경을 통해 관찰하고 측정하여 평균 입경이 749.2 ㎛ 이고, 표준 편차가 18.1 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 현미경을 통한 입자 단면의 측정으로부터, Ni 도금 두께, Cu 도금 두께 및 공융 납땜 도금 두께가 각각 약 0.3 ㎛, 5 ㎛ 및 20 ㎛ 로 계산되었다. 입경의 변화율은 2.4% 였다.

    다른 한편으로는, 도금 전의 코어 미립자를 보드 형상으로 형성한 후, 압축 중량법에 의해 60 내지 280 ℃ 에서 선 팽창 비율을 측정하였다. 60 내지 200 ℃ 에서 선 팽창 비율은 6.0 ×10 -6 (1/K) 였고, 200 내지 280 ℃ 에서는 4.0 ×10 -5 (1/K) 였다.

    또한, 어떠한 도금 입자에서도 자국 및 쌍극성은 발견되지 않았다.

    (비교예 1)

    폴리우레탄 수지로 만들어진 코어 미립자 상에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성함으로써 평균 입경이 704.5 ㎛ 이고, 표준 편차가 19.8 ㎛ 인 니켈-도금 미립자를 수득하였다. 생성된 30 g 의 니켈-도금 미립자의 무게를 재고 실시예 1 에서와 동일한 방식으로 표면을 구리 도금한 후, 그 위에 공융 납땜 도금하였다.

    이와 같이 수득된, 최외측 쉘이 공융 납땜 도금층인 공융 납땜-도금 수지 미립자를 현미경을 통해 관찰하여, 응집이 발생하지 않으며, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 100 개의 공융 납땜-도금 수지 미립자의 입자를 확대경을 통해 관찰하고 측정하여 평균 입경이 755.5 ㎛ 이고, 표준 편차가 25.1 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 현미경을 통한 입자 단면의 측정으로부터, Ni 도금 두께, Cu 도금 두께 및 공융 납땜 도금 두께가 각각 약 0.3 ㎛, 5 ㎛ 및 20 ㎛ 로 계산되었다. 입경의 변화율은 3.3% 였다.

    다른 한편으로는, 실시예 1 에서와 동일한 방식으로 60 내지 280 ℃ 에서 선 팽창 비율을 측정하였다. 60 내지 200 ℃ 에서 선 팽창 비율은 13.5 ×10 -5 (1/K) 였고, 200 내지 280 ℃ 에서는 11.7 ×10 -5 (1/K) 였다.

    또한, 어떠한 도금 입자에서도 자국 및 쌍극성은 발견되지 않았다.

    (실시예 2)

    테트라메틸올메탄 테트라아크릴레이트 및 디비닐벤젠을 공중합시킴으로써 수득된 코어 미립자 상에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성함으로써 평균입경이 748.2 ㎛ 이고, 표준 편차가 24.5 ㎛ 인 니켈-도금 미립자를 수득하였다. 생성된 30 g 의 니켈-도금 미립자의 무게를 재고 실시예 1 에서와 동일한 방식으로 표면을 구리 도금한 후, 그 위에 공융 납땜 도금하였다.

    이와 같이 수득된, 최외측 쉘이 공융 납땜 도금층인 공융 납땜-도금 수지 미립자를 현미경을 통해 관찰하여, 응집이 발생하지 않으며, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 100 개의 공융 납땜-도금 수지 미립자의 입자를 확대경을 통해 관찰하고 측정하여 평균 입경이 800.5 ㎛ 이고, 표준 편차가 24.1 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 현미경을 통한 입자 단면의 측정으로부터, Ni 도금 두께, Cu 도금 두께 및 공융 납땜 도금 두께가 각각 약 0.3 ㎛, 6 ㎛ 및 20 ㎛ 로 계산되었다. 입경의 변화율은 3.0% 였다.

    다른 한편으로는, 실시예 1 에서와 동일한 방식으로 60 내지 280 ℃ 에서 선 팽창 비율을 측정하였다. 60 내지 200 ℃ 에서 선 팽창 비율은 5.4 ×10 -5 (1/K) 였고, 200 내지 280 ℃ 에서는 3.7 ×10 -5 (1/K) 였다.

    또한, 어떠한 도금 입자에서도 자국 및 쌍극성은 발견되지 않았다.

    (비교예 2)

    에틸렌비닐 아세테이트 공중합체 수지로 만들어진 코어 미립자 상에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성함으로써 평균 입경이 748.5 ㎛ 이고, 표준 편차가 23.8 ㎛ 인 니켈-도금 미립자를 수득하였다. 생성된 30 g 의 니켈-도금 미립자의 무게를 재고 실시예 1 에서와 동일한 방식으로 표면을 구리 도금한 후,그 위에 공융 납땜 도금하였다.

    이와 같이 수득된, 최외측 쉘이 공융 납땜 도금층인 공융 납땜-도금 수지 미립자를 현미경을 통해 관찰하여, 응집이 발생하지 않으며, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 100 개의 공융 납땜-도금 수지 미립자의 입자를 확대경을 통해 관찰하고 측정하여 평균 입경이 800.7 ㎛ 이고, 표준 편차가 26.1 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 현미경을 통한 입자 단면의 측정으로부터, Ni 도금 두께, Cu 도금 두께 및 공융 납땜 도금 두께가 각각 약 0.3 ㎛, 6 ㎛ 및 20 ㎛ 라고 계산되었다. 입경의 변화율은 3.3% 였다.

    다른 한편으로는, 실시예 1 에서와 동일한 방식으로 60 내지 280 ℃ 에서 선 팽창 비율을 측정하였다. 60 내지 200 ℃ 에서 선 팽창 비율은 18.9 ×10 -5 (1/K) 였고, 200 내지 280 ℃ 에서는 15.4 ×10 -5 (1/K) 였다.

    또한, 어떠한 도금 입자에서도 자국 및 쌍극성은 발견되지 않았다.

    (실시예 3 내지 5)

    평균 입경이 398.2 ㎛ 이고, 표준 편차가 5.8 ㎛ 인 것을 제외하고는, 실시예 2 의 것과 동일한 코어 미립자를 제조하였다. 이것을 실시예 3 이라 하였다.

    평균 입경이 122.8 ㎛ 이고, 표준 편차가 1.6 ㎛ 인 것을 제외하고는, 상기와 동일한 방식으로 실시예 2 의 것과 동일한 코어 미립자를 제조하였다. 이것을 실시예 4 라 하였다.

    실시예 2 의 금속층이 최내측 층이 Ni 도금, 그 외측 층이 Cu 도금, 그 외측 층이 납 9 : 주석 1 의 땜납 합금 도금 (고온 납땜), 그 최외측 층이 공융 납땜 도금을 포함하는 것으로 바뀌고, 현미경을 통한 입자 단면의 개별 층의 측정이 약 0.3 ㎛ 두께의 Ni 도금, 5 ㎛ 두께의 Cu 도금, 10 ㎛ 두께의 고온 납땜 도금 및 10 ㎛ 두께의 공융 납땜 도금인 코어 미립자를 제조하였다. 이것을 실시예 5 라 하였다.

    (비교예 3 내지 5)

    평균 입경이 401.2 ㎛ 이고, 표준 편차가 16.2 ㎛ 인 것을 제외하고는, 비교예 2 의 것과 동일한 코어 미립자를 제조하였다. 이것을 비교예 3 이라 하였다.

    평균 입경이 135.3 ㎛ 이고, 표준 편차가 4.7 ㎛ 인 것을 제외하고는, 상기와 동일한 방식으로 비교예 2 의 것과 동일한 코어 미립자를 제조하였다. 이것을 비교예 4 라 하였다.

    비교예 2 의 금속층이 최내측 층이 Ni 도금, 그 외측 층이 Cu 도금, 그 외측 층이 납 9 : 주석 1 의 땜납 합금 도금 (고온 납땜), 그 최외측 층이 공융 납땜 도금을 포함하는 것으로 바뀌고, 현미경을 통한 입자 단면의 개별 층의 측정이 약 0.3 ㎛ 두께의 Ni 도금, 5 ㎛ 두께의 Cu 도금, 10 ㎛ 두께의 고온 납땜 도금 및 10 ㎛ 두께의 공융 납땜 도금인 코어 미립자를 제조하였다. 이것을 비교예 5 라 하였다.

    (실시예 6)

    테트라메틸올메탄 테트라아크릴레이트 및 디비닐벤젠을 공중합시킴으로써 수득된 코어 미립자 상에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성함으로써 평균 입경이 148.2 ㎛ 이고, 표준 편차가 4.5 ㎛ 인 니켈-도금 미립자를 수득하였다. 생성된 30 g 의 니켈-도금 미립자의 무게를 재고 실시예 1 에서와 동일한 방식으로 표면을 구리 도금한 후, 그 위에 공융 납땜 도금하였다.

    이와 같이 수득된, 최외측 쉘이 공융 납땜 도금층인 공융 납땜-도금 수지 미립자를 현미경을 통해 관찰하여, 응집이 발생하지 않으며, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 100 개의 공융 납땜-도금 수지 미립자의 입자를 확대경을 통해 관찰하고 측정하여 평균 입경이 175.5 ㎛ 이고, 표준 편차가 6.1 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 현미경을 통한 입자 단면의 측정으로부터, Ni 도금 두께, Cu 도금 두께 및 공융 납땜 도금 두께가 각각 약 0.3 ㎛, 3 ㎛ 및 10 ㎛ 로 계산되었다. 입경의 변화율은 3.0% 였다.

    상기 언급된 합성 수지 코어 미립자 내의 거품의 존재를 미리 체크하였다. 1 ㎛ 이상의 거품을 10000 개의 입자 중 15 개의 입자에서 발견하였다.

    또한, TGA/TDA 에 의한 측정을 통해 도금 전의 코어 미립자는 공기 중에서 330 ℃ 의 열 분해 온도를 갖는다는 것을 발견하였다.

    또한, 어떠한 도금 입자에서도 자국 및 쌍극성은 발견되지 않았다.

    (비교예 6)

    에틸렌비닐 아세테이트 공중합체 수지로 만들어진 코어 미립자 상에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성함으로써 평균 입경이 148.5 ㎛ 이고, 표준 편차가 3.8 ㎛ 인 니켈-도금 미립자를 수득하였다. 생성된 30 g 의 니켈-도금 미립자의 무게를 재고 실시예 1 에서와 동일한 방식으로 표면을 구리 도금한 후, 그 위에 공융 납땜 도금하였다.

    이와 같이 수득된, 최외측 쉘이 공융 납땜 도금층인 공융 납땜-도금 수지 미립자를 현미경을 통해 관찰하여, 응집이 발생하지 않으며, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 100 개의 공융 납땜-도금 수지 미립자의 입자를 확대경을 통해 관찰하고 측정하여 평균 입경이 800.7 ㎛ 이고, 표준 편차가 26.1 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 현미경을 통한 입자 단면의 측정으로부터, Ni 도금 두께, Cu 도금 두께 및 공융 납땜 도금 두께가 각각 약 0.3 ㎛, 1 ㎛ 및 2 ㎛ 로 계산되었다. 입경의 변화율은 3.3% 였다.

    상기 언급된 합성 수지 코어 미립자 내의 거품의 존재를 미리 체크하였다. 1 ㎛ 이상의 거품을 10000 개의 입자 중 63 개의 입자에서 발견하였다.

    또한, 어떠한 도금 입자에서도 자국 및 쌍극성은 발견되지 않았다.

    (실시예 7)

    테트라메틸올메탄 테트라아크릴레이트 및 디비닐벤젠을 공중합시킴으로써 수득된 코어 미립자 상에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성함으로써 평균 입경이 748.2 ㎛ 이고, 표준 편차가 24.5 ㎛ 인 니켈-도금 미립자를 수득하였다. 생성된 30 g 의 니켈-도금 미립자의 무게를 재고 실시예 1 에서와 동일한 방식으로 표면을 구리 도금한 후, 그 위에 공융 납땜 도금하였다.

    이와 같이 수득된, 최외측 쉘이 공융 납땜 도금층인 공융 납땜-도금 수지 미립자를 현미경을 통해 관찰하여, 응집이 발생하지 않으며, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 100 개의 공융 납땜-도금 수지 미립자의 입자를 확대경을 통해 관찰하고 측정하여 평균 입경이 800.5 ㎛ 이고, 표준 편차가 24.1 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 현미경을 통한 입자 단면의 측정으로부터, Ni 도금 두께, Cu 도금 두께 및 공융 납땜 도금 두께가 각각 약 0.3 ㎛, 6 ㎛ 및 20 ㎛ 로 계산되었다. 입경의 변화율은 3.0% 였다.

    본 발명의 E' (-60 내지 200 ℃) 를 측정하였다. 최대값 대 최소값의 비는 1.78 이었다. 코어 미립자의 저항은 87 mΩ이었다.

    이 입자에서, 코어 미립자의 열 팽창 비율은 9.8 ×10 -5 (1/K) 였고, 금속층의 열 팽창 비율은 1.68 ×10 -5 (1/K) 였다. 두 열 팽창 비율의 비는 5.83 이었다. 금속층은 구리에 대하여 측정하였다는 것에 주의하였다.

    또한, 어떠한 도금 입자에서도 자국 및 쌍극성은 발견되지 않았다.

    (비교예 7)

    에틸렌비닐 아세테이트 공중합체 수지로 만들어진 코어 미립자 상에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성함으로써 평균 입경이 748.5 ㎛ 이고, 표준 편차가 23.8 ㎛ 인 니켈-도금 미립자를 수득하였다. 생성된 30 g 의 니켈-도금 미립자의 무게를 재고 실시예 1 에서와 동일한 방식으로 표면을 구리 도금한 후, 그 위에 공융 납땜 도금하였다.

    이와 같이 수득된, 최외측 쉘이 공융 납땜 도금층인 공융 납땜-도금 수지 미립자를 현미경을 통해 관찰하여, 응집이 발생하지 않으며, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 100 개의 공융 납땜-도금 수지 미립자의 입자를 확대경을 통해 관찰하고 측정하여 평균 입경이 800.7 ㎛ 이고, 표준 편차가 26.1 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 현미경을 통한 입자 단면의 측정으로부터, Ni 도금 두께, Cu 도금 두께 및 공융 납땜 도금 두께가 각각 약 0.3 ㎛, 6 ㎛ 및 20 ㎛ 로 계산되었다. 입경의 변화율은 3.3% 였다.

    본 발명의 E' (-60 내지 200 ℃) 를 측정하였다. 최대값 대 최소값의 비는 2.37 이었다. 코어 미립자의 저항은 137 mΩ이었다.

    또한, 어떠한 도금 입자에서도 자국 및 쌍극성은 발견되지 않았다.

    (측정예)

    4 가지 유형 및 총 24 개 입자의, 실시예 1 내지 7 및 비교예 1 내지 10 의 도금 입자를 모조 칩 위에 놓은 후, 적외선 환류 장치를 사용하여 인쇄 배선 보드에 접합시켰다. 접합 조건은 185 ℃ - 1 분 내지 245 ℃ - 3 분으로 설정하였다. 이같은 방식으로, 각각의 유형의, 10 개의 모조 칩이 접합된 기판을 제조하였다. 이것을 프로그램상 -40 내지 125 ℃ 로 조절 (30 분/주기) 되는 자동 온도 조절 오븐에 놓았다. 모든 100 주기마다 모든 구를 전도성에 대하여 체크하였다. 표 1 에서, 주기의 수 및 전도성이 소멸된 기판의 수 사이의 관계를 나타내었다.

    주기의 수 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000
    실시예 1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 4
    실시예 2 0 0 0 0 0 0 0 0 1 5
    실시예 3 0 0 0 0 0 0 1 2 4 4
    실시예 4 0 0 0 1 2 4 4 6 6 8
    실시예 5 0 0 0 2 3 5 6 8 8 10
    실시예 6 0 0 0 1 2 3 3 5 7 10
    실시예 7 0 0 0 0 0 0 0 0 1 2
    비교예 1 0 0 0 1 1 2 4 5 8 10
    비교예 2 0 0 0 0 2 2 3 3 5 6
    비교예 3 0 0 1 1 2 3 3 3 5 8
    비교예 4 0 1 1 3 3 6 6 8 8 10
    비교예 5 0 1 2 4 5 8 8 9 9 10
    비교예 6 0 1 3 5 5 5 7 7 10 10
    비교예 7 0 0 1 1 2 2 3 4 6 8
    비교예 8 0 9 10 10 10 10 10 10 10 10
    비교예 9 0 7 9 10 10 10 10 10 10 10
    비교예 10 0 5 9 9 10 10 10 10 10 10

    상기 나타낸 바와 같이, 비교예에서, 상대적으로 작은 주기 수에서 전도성을 잃은 샘플이 실시예에서보다 많았다. 특히, 비교예 2 에서, 모든 기판은 200 주기에서 이들의 전도성을 잃었다. 도금 입자에서 구의 큰 팽창이 구리층 및 납땜층의 파손을 야기시킨다고 보였다. 또한, 비교예 1 에서, 약 300 주기에서 모두 파손되었다.

    (실시예 8)

    분리가능한 플라스크에서, 중합 개시제로서 1.3 중량부의 벤조일 퍼옥시드를 20 중량부의 디비닐벤젠과 균질하게 혼합하였다. 여기에 20 중량부의 3% 폴리비닐 알콜 수용액 및 0.5 중량부의 나트륨 도데실술페이트를 충전시킨 후, 충분히 교반하고, 140 중량부의 이온 교환수를 첨가하였다. 이 용액을 교반하면서, 질소 유동 하에 80 ℃ 에서 15 시간 동안 반응을 수행하였다. 생성된 미립자를 온수 및 아세톤으로 세정한 후, 체로 입자를 분류시킴으로써 중심 입경이 710 ㎛ 인 입자를 수득하였다. 이 위에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다.

    이어서, 도금 용액으로서 하기를 제조하였다. 25 L 의 물에, 537 g 의 주석 술페이트 (SnSO 4 ), 1652 g 의 칼륨 피로포스페이트 (K 4 P 2 O 7 ) 및 25 g 의 폴리에틸렌 글리콜 (분자량: 6000) 을 균질하게 용해시켰다. 이 용액에 42.5 g 의 은 니트레이트 (AgNO 3 ) 를 첨가하고 용액을 2 시간 동안 교반하였다.

    상기 언급된 도금 용액을 회전 도금 장치의 배쓰에 놓고, 40 g 의 710 ㎛ 니켈-도금 입자를 도금하였다. 도금 동안의 조건은 50 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 10 초마다 역전시켰다.

    이와 같이 수득된 도금 입자를 현미경을 통해 관찰하여 응집이 발생하지 않고, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 외관은 은 백색이었고, 연소 침전물 및 반점은 발견되지 않았다.

    입자의 단면을 관찰하였을 때, 최외측 층의 두께는 6 ㎛ 였다. 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Sn 층이 Ni 베이스 층 상에 존재하고, Ag 가 Sn 층에 분산되어 있다는 것을 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 원자 흡수 분석에 의해 조성비를 측정하였을 때, 비는 거의 주석/은 공융 조성인 Sn:Ag = 96.0:4.0 이었다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag 의 합금 융점인 221 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 9)

    디비닐벤젠 및 4-관능성 아크릴계 단량체를 사용하여, 실시예 8 과 동일한 방식으로 중합을 수행하고, 710 ㎛ 입자를 코어 미립자로서 수득하였다. 이어서, 도금 처리를 실시예 8 과 동일한 방식으로 수행하였다.

    이와 같이 수득된 도금 입자를 현미경을 통해 관찰하여 응집이 발생하지 않고, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 외관은 은 백색이었고, 연소 침전물 및 반점은 발견되지 않았다.

    입자의 단면을 관찰하였을 때, 최외측 층의 두께는 6 ㎛ 였다. 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Sn 층이 Ni 베이스 층 상에 존재하고, Ag 가 Sn 층에 분산되어 있다는 것을 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 원자 흡수 분석에 의해 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 96.0:4.0 이었다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag 의 합금 융점인 221 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 10)

    코어 미립자로서, 수지 입자 대신에 입경이 500 ㎛ 인 구리 볼을 사용하여, 실시예 8 과 동일한 방식으로, 회전 도금 장치로 주석-은 도금 처리를 수행하였다.

    이와 같이 수득된 도금 입자를 현미경을 통해 관찰하여 응집이 발생하지 않고, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 외관은 은 백색이었고, 연소 침전물 및 반점은 발견되지 않았다.

    입자의 단면을 관찰하였을 때, 최외측 층의 두께는 4 ㎛ 였다. 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Sn 층이 Ni 베이스 층 상에 존재하고,Ag 가 Sn 층에 분산되어 있다는 것을 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 원자 흡수 분석에 의해 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 96.2:3.8 이었다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag/Cu 의 합금 융점인 218 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 11)

    실시예 8 과 동일한 방식으로 코어 미립자를 중합하였다. 이어서, 체를 사용하여 입자 분류를 수행하여, 310 ㎛ 입자를 수득하였다. 실시예 8 과 동일한 방식으로, 이러한 입자에 도금 처리를 적용하였다.

    이와 같이 수득된 도금 입자를 현미경을 통해 관찰하여 응집이 발생하지 않고, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 외관은 은 백색이었고, 연소 침전물 및 반점은 발견되지 않았다.

    입자의 단면을 관찰하였을 때, 최외측 층의 두께는 4 ㎛ 였다. 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Sn 층이 Ni 베이스 층 상에 존재하고, Ag 가 Sn 층에 분산되어 있다는 것을 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 원자 흡수 분석에 의해 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 96.3:3.7 이었다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag 의 합금 융점인 221 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 12)

    실시예 8 과 동일한 방식으로 코어 미립자를 중합하였다. 이어서, 체를 사용하여 입자 분류를 수행하여, 105 ㎛ 입자를 수득하였다. 실시예 8 과 동일한 방식으로, 이러한 입자에 도금 처리를 적용하였다.

    이와 같이 수득된 도금 입자를 현미경을 통해 관찰하여 응집이 발생하지 않고, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 외관은 은 백색이었고, 연소 침전물 및 반점은 발견되지 않았다.

    입자의 단면을 관찰하였을 때, 최외측 층의 두께는 4 ㎛ 였다. 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Sn 층이 Ni 베이스 층 상에 존재하고, Ag 가 Sn 층에 분산되어 있다는 것을 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 원자 흡수 분석에 의해 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 96.3:3.7 이었다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag 의 합금 융점인 221 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 13)

    실시예 8 과 동일한 방식으로 코어 미립자를 중합하여, 710 ㎛ 입자를 수득하였다. 입자를 니켈 및 구리로 전도층으로서 무전해 도금하였다. 이어서, 실시예 8 과 동일한 방식으로 주석-은 도금 처리를 수행하였다.

    이와 같이 수득된 도금 입자를 현미경을 통해 관찰하여 응집이 발생하지 않고, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 외관은 은 백색이었고, 연소 침전물 및 반점은 발견되지 않았다.

    입자의 단면을 관찰하였을 때, 최외측 층의 두께는 4 ㎛ 였다. 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Sn 층이 Ni 베이스 층 상에 존재하고, Ag 가 Sn 층에 분산되어 있다는 것을 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 원자 흡수 분석에 의해 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 96.2:3.8 이었다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag/Cu 의 합금 융점인 218 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 14)

    실시예 8 과 동일한 방식으로 코어 미립자를 중합하여, 710 ㎛ 입자를 수득하였다. 입자를 니켈로 전도층으로서 무전해 도금하였다.

    도금 용액으로서 하기를 제조하였다. 25 L 의 물에, 537 g 의 주석 술페이트 (SnSO 4 ), 1652 g 의 칼륨 피로포스페이트 (K 4 P 2 O 7 ), 25 g 의 폴리에틸렌 글리콜 (분자량: 6000) 및 500 g 의 트리에탄올아민을 균질하게 용해시켰다. 이 용액에 42.5 g 의 은 니트레이트 (AgNO 3 ) 를 첨가하고 용액을 2 시간 동안 교반하였다. 상기 언급된 도금 용액을 사용하여, 실시예 8 에서의 것과 동일한 조건 하에서 주석-은 도금 처리를 수행하였다.

    000000 이와 같이 수득된 도금 입자를 현미경을 통해 관찰하여 응집이 발생하지 않고, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 외관은 은 백색이었고, 연소 침전물 및 반점은 발견되지 않았다.

    입자의 단면을 관찰하였을 때, 최외측 층의 두께는 4 ㎛ 였다. 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Sn 층이 Ni 베이스 층 상에 존재하고, Ag 가 Sn 층에 분산되어 있다는 것을 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 원자 흡수 분석에 의해 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 90.2:9.8이었다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag 의 합금 융점인 221 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (비교예 8)

    입경이 800 ㎛ 인 시판 땜납 볼 상에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다.

    이어서, 도금 용액으로서 하기를 제조하였다.

    도금 배쓰에 포함된 20 L 의 물에, 0.2 몰/L 의 주석 메탄술포네이트 ((CH 3 SO 3 )2Sn), 0.008 몰/L 의 은 메탄술포네이트 (CH 3 SO 3 Ag), 2 몰/L 의 메탄술폰산 (CH 3 SO 3 H), 0.04 몰/L 의 L-시스테인, 0.002 몰/L 의 2,2'-디티오디아닐린 및 3 g/L 의 폴리옥시에틸렌-α나프톨올을 첨가하였다.

    상기 언급된 도금 용액을 회전 도금 장치의 배쓰에 놓고, 40 g 의 710 ㎛ 니켈-도금 입자를 도금하였다. 도금 동안의 조건은 25 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 10 초마다 역전시켰다.

    이와 같이 수득된 도금 입자를 현미경을 통해 관찰하여 응집이 발생하지 않고, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 외관은 흑색이었고, 입자 사이에 반점이 발견되었다.

    입자의 단면을 관찰하였을 때, 최외측 층의 두께는 6 ㎛ 였다. 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Sn 층이 Ni 베이스 층 상에 존재하고,Ag 가 Sn 층에 분산되어 있다는 것을 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 원자 흡수 분석에 의해 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 64.0:36.0 이었고, Ag 함량이 극도로 높은 조성이 수득되었다.

    (비교예 9)

    입경이 400 ㎛ 인 시판 땜납 볼 상에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다.

    실시예 8 에서 사용한 것과 동일한 도금 배쓰를 사용하여, 통상적인 통에서 주석-은 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 50 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 3 rpm 의 통 회전 회수로 설정하였다.

    도금 도중 통을 회전시킬 때, 입자의 비등이 관찰되었다. 생성된 도금 입자를 현미경을 통해 관찰하였을 때, 외관은 백색이지만, 약 10% 의 입자가 도금되지 않은 노출된 입자라는 것이 관찰되었다.

    입자의 단면을 관찰하였을 때, 최외측 층의 두께는 4 ㎛ 였다. 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Sn 층이 Ni 베이스 층 상에 존재하고, Ag 가 Sn 층에 분산되어 있지만, 주변 구역에는 존재하지 않는다는 것을 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 원자 흡수 분석에 의해 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 99.0:1.0 이었고, Ag 함량이 극도로 낮은 조성이 수득되었다.

    (실시예 15)

    스티렌 및 디비닐벤젠을 공중합시켜 수득된 코어 미립자 상에 전도성 베이스층으로서 니켈 도금층을 형성함으로써 평균 입경이 710.5 ㎛ 이고, 표준 편차가 32.5 ㎛ 인 입자를 수득하였다. 생성된 미립자를 실시예 1 과 동일한 방식으로 주석으로 도금하였다.

    이와 같이 수득된 도금 수지 미립자를 현미경을 통해 관찰하여 응집이 발생하지 않고, 모든 입자가 단일 입자의 형태로 존재한다는 것을 확인하였다. 100 개의 입자를 확대경을 통해 관찰 및 측정하여 평균 입경이 720 ㎛ 이고, 표준 편차가 18.1 ㎛ 라는 것을 발견하였다.

    생성된 입자를 은 도금 용액에 분산시키고, 50 ℃ 에서 30 분 동안 교반하면서 은으로 치환 도금하였다. 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ni, Sn 및 Ag 의 3 개 층 구조를 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 원자 흡수 분석에 의해 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 96.0:4.0 이었다.

    입자를 자동 온도 조절 오븐에 놓고, 질소를 충전시킨 후, 온도를 200 ℃ 로 상승시킨 후, 12 시간 동안 가열 처리하였다. 가열 처리된 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ag 층 및 Sn 층이 확산되었다는 것을 확인하였다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag 의 합금 융점인 221 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 16)

    실시예 15 와 동일한 방식으로 니켈 도금을 수행한 후, 구리 도금 용액에서 1 시간 동안 전기 충전한 통으로 구리 도금하였다. 이어서, 통 도금에 의해 주석 도금을 수행하였다.

    입자의 단면을 X-선 극초단파 분석으로 조성 분석하여 Ni, Cu 및 Sn 의 3 개 층 구조를 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Cu = 99.0:1.0 이었다.

    입자를 자동 온도 조절 오븐에 놓고, 질소를 충전시킨 후, 온도를 200 ℃ 로 상승시킨 후, 12 시간 동안 가열 처리하였다. 가열 처리된 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Cu 층 및 Sn 층이 확산되었다는 것을 확인하였다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, 227 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 17)

    실시예 16 에서 수득된 니켈-구리-주석 다중층 도금 입자를 추가로 은 치환 도금하였다. 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ni, Cu, Sn 및 Ag 의 4 개 층 구조를 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag:Cu = 95.0:4.0:1.0 이었다.

    입자를 자동 온도 조절 오븐에 놓고, 질소를 충전시킨 후, 온도를 200 ℃ 로 상승시킨 후, 12 시간 동안 가열 처리하였다. 가열 처리된 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Cu 층, Ag 층 및 Sn 층이 확산되었다는 것을 확인하였다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, 217 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 18)

    실시예 15 와 동일한 방식으로 니켈 도금 및 주석 도금을 수행하였다. 이어서, 통을 사용하여 비스무트로 도금을 수행하였다.

    입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ni, Sn 및 Bi 의 3 개 층 구조를 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Bi = 40:60 이었다.

    입자를 자동 온도 조절 오븐에 놓고, 질소를 충전시킨 후, 온도를 180 ℃ 로 상승시킨 후, 12 시간 동안 가열 처리하였다. 가열 처리된 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Bi 층 및 Sn 층이 확산되었다는 것을 확인하였다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, 139 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 19)

    디비닐벤젠 및 테트라메틸올메탄 테트라메타크릴레이트를 공중합시킴으로써 수득된 코어 미립자를 사용하는 것을 제외하고는, 실시예 15 와 동일한 방식으로 니켈 도금, 주석 도금 및 은 도금을 수행하였다.

    입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ni, Sn 및 Ag 의 3 개 층 구조를 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 96.0:4.0 이었다.

    입자를 자동 온도 조절 오븐에 놓고, 질소를 충전시킨 후, 온도를 200 ℃ 로 상승시킨 후, 12 시간 동안 가열 처리하였다. 가열 처리된 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ag 층 및 Sn 층이 확산되었다는 것을 확인하였다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag 의 합금 융점인 221 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 20)

    디비닐벤젠 및 폴리테트라메틸렌 글리콜 디아크릴레이트를 공중합시킴으로써 수득된 코어 미립자를 사용하는 것을 제외하고는, 실시예 15 와 동일한 방식으로 니켈 도금, 주석 도금 및 은 도금을 수행하였다.

    입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ni, Sn 및 Ag 의 3 개 층 구조를 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 96.0:4.0 이었다.

    입자를 자동 온도 조절 오븐에 놓고, 질소를 충전시킨 후, 온도를 200 ℃ 로 상승시킨 후, 12 시간 동안 가열 처리하였다. 가열 처리된 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ag 층 및 Sn 층이 확산되었다는 것을 확인하였다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag 의 합금 융점인 221 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 21)

    코어로서 입경이 500 ㎛ 인 구리 볼을 사용하여, 실시예 15 와 동일한 방식으로 니켈 도금, 주석 도금 및 은 도금을 수행하였다. 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ni, Sn 및 Ag 의 3 개 층 구조를 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 96.0:4.0 이었다.

    입자를 자동 온도 조절 오븐에 놓고, 질소를 충전시킨 후, 온도를 200 ℃ 로 상승시킨 후, 12 시간 동안 가열 처리하였다. 가열 처리된 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ag 층 및 Sn 층이 확산되었다는 것을 확인하였다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag 의 합금 융점인 221 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (실시예 22)

    입경이 400 ㎛ 인 페놀 수지 코어 미립자를 사용하는 것을 제외하고는, 실시예 15 와 동일한 방식으로 니켈 도금, 주석 도금 및 은 도금을 수행하였다.

    입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ni, Sn 및 Ag 의 3 개 층 구조를 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 96.0:4.0 이었다.

    입자를 자동 온도 조절 오븐에 놓고, 질소를 충전시킨 후, 온도를 200 ℃ 로 상승시킨 후, 12 시간 동안 가열 처리하였다. 가열 처리된 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Ag 층 및 Sn 층이 확산되었다는 것을 확인하였다. 이 입자를 DSC 에 의해 열적 분석하였을 때, Sn/Ag 의 합금 융점인 221 ℃ 에서 융점을 발견하였다.

    (비교예 10)

    입경이 150 ㎛ 인 시판 땜납 볼을 무전해 니켈 도금하였다. 생성된 입자를 주석 및 은을 포함하는 배쓰에서 합금 도금하였다. 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Sn/Ag 합금층을 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Ag = 75:25 이고, Ag 함량이 극도로 높은 조성물이 수득되었다.

    (비교예 11)

    실시예 15 에서 사용한 것과 동일한 코어 미립자를 무전해 니켈 도금하였다. 생성된 입자를 주석 및 구리를 포함하는 배쓰에서 합금 도금하였다. 입자의 단면을 X-선 극초단파 분석에 의해 조성 분석하여 Sn/Cu 합금층을 확인하였다. 이 도금 코팅물을 강산에 용해시키고, 조성비를 측정하였을 때, 비는 Sn:Cu = 80:20 이고, Cu 함량이 극도로 높은 조성물이 수득되었다.

    (비교예 12)

    실시예 15 에서 제조한 니켈, 주석 및 은 입자를 가열 처리 전에, DSC 에 의해 열적 분석할 때, 순수 주석의 융점인 232 ℃ 에서 융점을 관찰하였다.

    (실시예 23)

    분리가능한 플라스크에서, 중합 개시제로서 1.3 중량부의 벤조일 퍼옥시드를 20 중량부의 디비닐벤젠과 균질하게 혼합하였다. 여기에 20 중량부의 3% 폴리비닐 알콜 수용액 및 0.5 중량부의 나트륨 도데실술페이트를 충전시킨 후, 충분히 교반하고, 140 중량부의 이온 교환수를 첨가하였다. 이 용액을 교반하면서, 질소 유동 하에 80 ℃ 에서 15 시간 동안 반응을 수행하였다. 생성된 미립자를 온수 및 아세톤으로 세정한 후, 체로 입자를 분류시킴으로써 중심 입경이 300 ㎛ 인 코어 미립자를 수득하였다. 무전해 도금에 의해, 이 위에 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 동일한 방식으로 중심 입경이 800 ㎛ 인 니켈-도금 모조 입자를 제조하였다.

    이어서, 40 g 의 300 ㎛ 니켈-도금 입자 및 20 ㎖ 의 800 ㎛ 모조 입자를 회전 도금 장치에 충전시키고, 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    수득된 입자를 틈이 700 ㎛ 인 체를 통해 통과시킴으로써 800 ㎛ 모조 입자 및 도금 입자를 분리하였다. 이와 같이 도금된 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 3 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된 입자를 틈이 350 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 1% 이하였고, 큰 응집은 인식되지 않았다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 나는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 2% 라는 것을 나타내었다.

    (실시예 24)

    디비닐벤젠 및 4 관능성 아크릴계 단량체를 사용하여, 실시예 23 과 동일한 방식으로 중합을 수행하고, 300 ㎛ 입자를 코어 미립자로서 수득하였다. 이 위에 무전해 도금에 의해 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 동일한 방식으로, 디비닐벤젠 및 4 관능성 아크릴계 단량체로부터 제조된, 중심 입경이 800 ㎛ 인 니켈-도금 모조 입자를 수득하였다.

    이어서, 40 g 의 300 ㎛ 니켈-도금 입자 및 20 ㎖ 의 800 ㎛ 모조 입자를 회전 도금 장치에 충전시키고, 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    수득된 입자를 틈이 700 ㎛ 인 체를 통해 통과시킴으로써 800 ㎛ 모조 입자 및 도금 입자를 분리하였다. 이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 3 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된 입자를 틈이 350 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 1% 이하였고, 큰 응집은 인식되지 않았다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 나는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 2% 라는 것이 나타났다.

    (실시예 25)

    실시예 23 과 동일한 방식으로 300 ㎛ 입자를 수득하였다. 이 위에 무전해 도금에 의해, 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 동일한 방식으로 중심 입경이 2000 ㎛ 인 니켈-도금 모조 입자를 제조하였다.

    이어서, 40 g 의 300 ㎛ 니켈-도금 입자 및 30 ㎖ 의 2000 ㎛ 모조 입자를 회전 도금 장치에 충전시키고, 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    수득된 입자를 틈이 1500 ㎛ 인 체를 통해 통과시킴으로써 2000 ㎛ 모조 입자 및 도금 입자를 분리하였다. 이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 3 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된입자를 틈이 350 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 1% 이하였고, 큰 응집은 인식되지 않았다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 나는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 2% 라는 것이 나타났다.

    (실시예 26)

    실시예 23 과 동일한 방식으로 300 ㎛ 입자를 수득하였다. 이 위에 무전해 도금에 의해, 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 동일한 방식으로 중심 입경이 500 ㎛ 인 니켈-도금 모조 입자를 제조하였다.

    이어서, 40 g 의 300 ㎛ 니켈-도금 입자 및 20 ㎖ 의 500 ㎛ 모조 입자를 회전 도금 장치에 충전시키고, 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    수득된 입자를 틈이 450 ㎛ 인 체를 통해 통과시킴으로써 500 ㎛ 모조 입자 및 도금 입자를 분리하였다. 이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 3 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된 입자를 틈이 350 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 약 1% 였고, 큰 응집은 인식되지 않았다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 나는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 2% 라는 것이 나타났다.

    (실시예 27)

    실시예 23 과 동일한 방식으로 500 ㎛ 입자를 수득하였다. 이 위에 무전해 도금에 의해, 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 동일한 방식으로 중심 입경이 800 ㎛ 인 니켈-도금 모조 입자를 제조하였다.

    이어서, 40 g 의 500 ㎛ 니켈-도금 입자 및 20 ㎖ 의 800 ㎛ 모조 입자를 회전 도금 장치에 충전시키고, 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    수득된 입자를 틈이 700 ㎛ 인 체를 통해 통과시킴으로써 800 ㎛ 모조 입자 및 도금 입자를 분리하였다. 이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 2 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된 입자를 틈이 450 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 약 1% 였고, 큰 응집은 인식되지 않았다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 나는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 2% 라는 것이 나타났다.

    (실시예 28)

    실시예 23 과 동일한 방식으로 100 ㎛ 입자를 수득하였다. 이 위에 무전해 도금에 의해, 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 동일한 방식으로 중심 입경이 500 ㎛ 인 니켈-도금 모조 입자를 제조하였다.

    이어서, 40 g 의 100 ㎛ 니켈-도금 입자 및 20 ㎖ 의 500 ㎛ 모조 입자를 회전 도금 장치에 충전시키고, 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    수득된 입자를 틈이 450 ㎛ 인 체를 통해 통과시킴으로써 500 ㎛ 모조 입자 및 도금 입자를 분리하였다. 이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 2 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된 입자를 틈이 150 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 약 1% 였고, 큰 응집은 인식되지 않았다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 나는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 1% 라는 것이 나타났다.

    (실시예 29)

    실시예 28 과 동일한 방식으로 100 ㎛ 입자를 수득하였다. 이 위에 무전해 도금에 의해, 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 동일한 방식으로 중심 입경이 2000 ㎛ 인 니켈-도금 모조 입자를 제조하였다.

    이어서, 40 g 의 100 ㎛ 니켈-도금 입자 및 30 ㎖ 의 2000 ㎛ 모조 입자를 회전 도금 장치에 충전시키고, 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    수득된 입자를 틈이 1500 ㎛ 인 체를 통해 통과시킴으로써 2000 ㎛ 모조 입자 및 도금 입자를 분리하였다. 이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 2 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된입자를 틈이 150 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 약 2% 였고, 큰 응집은 인식되지 않았다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 나는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 1% 라는 것이 나타났다.

    (실시예 30)

    실시예 23 과 동일한 방식으로 50 ㎛ 입자를 수득하였다. 이 위에 무전해 도금에 의해, 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 동일한 방식으로 중심 입경이 500 ㎛ 인 니켈-도금 모조 입자를 제조하였다.

    이어서, 40 g 의 50 ㎛ 니켈-도금 입자 및 30 ㎖ 의 500 ㎛ 모조 입자를 회전 도금 장치에 충전시키고, 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    수득된 입자를 틈이 450 ㎛ 인 체를 통해 통과시킴으로써 500 ㎛ 모조 입자 및 도금 입자를 분리하였다. 이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 2 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된 입자를 틈이 100 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 약 4% 였고, 큰 응집은 인식되지 않았다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 나는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 1% 라는 것이 나타났다.

    (실시예 31)

    실시예 23 에서 수득된 40 g 의 304 ㎛ 구리-도금 입자 및 실시예 23 에서 수득된 20 ㎖ 의 800 ㎛ 니켈-도금 모조 입자를 충전시키고, 공융 납땜 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    수득된 입자를 틈이 700 ㎛ 인 체를 통해 통과시킴으로써 800 ㎛ 모조 입자 및 도금 입자를 분리하였다. 이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 공융 납땜층의 두께가 6 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된 입자를 틈이 350 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 약 2% 였고, 큰 응집은 인식되지 않았다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 나는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 2% 라는 것이 나타났다.

    (비교예 13)

    실시예 23 과 동일한 방식으로, 300 ㎛ 입자를 수득하였다. 이 위에 무전해 도금에 의해 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 이어서, 40 g 의 300 ㎛ 니켈-도금 모조 입자만을 회전 도금 장치에 충전시키고 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 3 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된 입자를 틈이 350 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 약 10% 였고, 약 2 ㎣ 의 큰 응집이 인식되었다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 나는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 1% 라는 것이 나타났다.

    (비교예 14)

    실시예 28 과 동일한 방식으로, 100 ㎛ 입자를 수득하였다. 이 위에 무전해 도금에 의해 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 이어서, 40 g 의 100 ㎛ 니켈-도금 입자만을 회전 도금 장치에 충전시키고 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 2 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된 입자를 틈이 350 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 약 20% 였고, 약 5 ㎣ 의 큰 응집이 인식되었다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 나는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 1% 라는 것이 나타났다.

    (비교예 15)

    실시예 23 과 동일한 방식으로, 300 ㎛ 입자를 수득하였다. 이 위에 무전해 도금에 의해 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 이어서, 40 g 의 100 ㎛ 니켈-도금 입자 및 20 ㎖ 의, 입경이 1000 ㎛ 인 지르코니아 볼 모조 입자를 회전 도금 장치에 충전시키고 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    수득된 입자를 틈이 900 ㎛ 인 체를 통해 통과시킴으로써 1000 ㎛ 모조 입자 및 도금 입자를 분리하였다. 이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 3 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된 입자를 틈이 350 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 약 1% 였고, 큰 응집은 인식되지 않았다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 없는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 40% 라는 것이 나타났다.

    (비교예 16)

    실시예 23 과 동일한 방식으로, 300 ㎛ 입자를 수득하였다. 이 위에 무전해 도금에 의해 전도성 베이스 층으로서 니켈 도금층을 형성하였다. 이어서, 40 g 의 300 ㎛ 니켈-도금 입자 및 20 ㎖ 의, 입경이 1000 ㎛ 인 스테인레스 스틸 볼 모조 입자를 회전 도금 장치에 충전시키고 구리 도금을 수행하였다. 도금 동안의 조건은 30 ℃ 의 배쓰 온도, 0.5 A/d㎡ 의 전류 밀도, 및 18 Hz 의 주변 속도로 설정하였다. 회전 방향은 매 40 초마다 역전시켰다.

    수득된 입자를 틈이 900 ㎛ 인 체를 통해 통과시킴으로써 1000 ㎛ 모조 입자 및 도금 입자를 분리하였다. 이와 같이 수득된 도금 입자의 단면을 관찰하였을 때, 이들의 구리층의 두께가 3 ㎛ 라는 것을 발견하였다. 또한, 수득된 입자를틈이 350 ㎛ 인 체를 통해 통과시켰을 때, 체에 남는 것들의 양은 전체 중량의 약 1% 였고, 큰 응집은 인식되지 않았다. 이러한 입자 2000 개를 현미경을 통해 관찰하면 외관은 광택이 없는 구리 색이고, 균열 또는 갈라짐이 있는 입자의 합이 전체의 약 40% 라는 것이 나타났다.

    본 발명이 상기 언급된 구조를 가지기 때문에, 기판들 또는 기판 및 칩의 접합 방법을 제공할 수 있고, 상기 방법은 심한 가열 주기 조건 하에서도 장시간 동안 기판의 연속성을 보유할 수 있다.

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