[0001]

[0002] 本发明涉及一种灭弧装置，具体涉及一种三相火花灭弧器，用于对数控机床中没有灭弧功能的元器件的分断进行保护。

[0003]

[0004] 在机床配电中有一些开关元器件的分合并没有灭弧效果，如接触器，多用于开关元器件中控制电机的启停、加热器的通断等，接触器的电流较大的分断会引起较强的飞弧，特别是频繁地启动和停止，更易使交流接触器的触点粘合或烧毁，甚至会因触点飞弧或粘连而引发事故。

[0005] 长期以来，交流接触器的生产厂家在不断地寻求提高接触器使用寿命的各种途径，如研究新型触头材料、改进灭弧装置、提高灭弧效应等，虽有一定效果，但并不十分理想。随着可控硅技术的发展，有些用电设备采用可控硅作为电子开关，实现了无触点控制，工作时不产生电弧，，接触器的寿命可提高十倍甚至几十倍以上，但是可控硅具有工作时导通不彻底、约1～2V的导通压降的缺点，因此在大电流情况下工作时，热损耗问题相当严重；同时，为保证长时间可靠工作，还得增设散热装置，并且选用时通过可控硅的电流还应留有余量，因此造成整机设备的体积增大、整机价格昂贵。

[0006]

[0007] 本发明目的是提供一种三相火花灭弧器，可避免因拉弧造成的接触器触点的损坏，延长交流接触器的使用寿命。

[0008] 为达到上述目的，本发明采用的技术方案是：一种三相火花灭弧器，包括：连接于接触器电磁线圈的两端、检测同步信号的同步信号检测电路；
时序逻辑控制电路；
被所述同步信号检测电路和时序逻辑控制电路同步控制的可控硅触发电路；
由所述可控硅触发电路发出的控制信号导通的双向可控硅主回路；
所述双向可控硅主回路与所述接触器的触点相连。

[0009] 上述技术方案中，所述可控硅触发电路包括发出所述控制信号的脉冲分配单元，该脉冲分配单元被所述同步信号检测电路和时序逻辑控制电路同步控制，发出所述控制信号。

[0010] 进一步的技术方案，所述控制信号为由所述脉冲分配单元发出的脉冲信号。

[0011] 本发明的工作原理如下所述：在交流接触器断开状态时，由于没有同步信号的作用，脉冲分配单元不产生脉冲信号，双向可控硅主回路因没有触发脉冲而截止；在交流接触器处于闭合状态时，双向可控硅主回路的两端被交流接触器短路而不导通；只有当交流接触器在闭合及断开的瞬间，在同步信号检测电路和时序逻辑控制电路的共同控制下，脉冲分配单元发出脉冲信号，使双向可控硅主回路导通，交流接触器两触点之间的电压被控制在1V左右，彻底达到灭弧效果。

[0012] 由于上述技术方案运用，本发明与现有技术相比具有的优点是：1．本发明只有在交流接触器闭合或断开的瞬间，才导通双向可控硅主回路，起到灭弧作用，避免由于拉弧而造成的接触器触点的损坏，延长交流接触器的使用寿命。

[0013]附图说明

[0014] 图1是本发明实施例一的结构框图。

[0015] 其中：1、同步信号检测电路；2、时序逻辑控制电路；3、脉冲分配单元；4、双向可控硅主回路。

[0016]

[0017] 下面结合附图及实施例对本发明作进一步描述：实施例一：参见图1所示，一种三相火花灭弧器，由同步信号检测电路1、时序逻辑控制电路2、可控硅触发电路和双向可控硅主回路4组成。

[0018] 所述同步信号检测电路1连接于接触器电磁线圈的两端、检测同步信号。

[0019] 所述可控硅触发电路包括脉冲分配单元3，该脉冲分配单元3被所述同步信号检测电路1和时序逻辑控制电路2同步控制，发出控制信号。

[0020] 所述控制信号为脉冲信号。

[0021] 由所述控制信号导通的双向可控硅主回路4。

[0022] 所述双向可控硅主回路4与所述接触器的触点相连。

[0023] 本发明实施例一的工作原理如下所述：在交流接触器断开状态时，由于没有同步信号的作用，脉冲分配单元不产生脉冲信号，双向可控硅主回路因没有触发脉冲而截止；在交流接触器处于闭合状态时，双向可控硅主回路的两端被交流接触器短路而不导通；只有当交流接触器在闭合及断开的瞬间，在同步信号检测电路和时序逻辑控制电路的共同控制下，脉冲分配单元发出脉冲信号，使双向可控硅主回路导通，交流接触器两触点之间的电压被控制在1V左右，彻底达到灭弧效果。

[0024] 本发明只有在交流接触器闭合或断开的瞬间，才导通双向可控硅主回路，起到灭弧作用，避免由于拉弧而造成的接触器触点的损坏，延长交流接触器的使用寿命。

[0025] 以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进或替换，这些改进或替换也应视为本发明的保护范围。