1.一种试样夹持器组件，适合于在透射电子显微镜中断层照相检验试样，包括：
主体部分，所述主体部分取细长件的形式，设置成可拆卸地插入显微镜的支柱中；
和
具有第一轴线的操纵器部分，该操纵器部分包括：
试样安装部分，该试样安装部分配置成支承试样；
试样平移组件，该试样平移组件可操纵以便相对于主体部分平移试样安装部分；和试样旋转组件，该试样旋转组件结合到主体部分和试样平移组件上，试样旋转组件可操纵以便绕第一轴线相对于主体部分旋转试样平移组件。
2.如权利要求1所述的夹持器组件，其中主体部分取基本上是管状件的形式。
3.如权利要求1或权利要求2所述的夹持器组件，其中试样平移组件基本上设在主体部分内。
4.如任一上述权利要求所述的组件，其中试样旋转组件基本上设在主体部分内。
5.如任一上述权利要求所述的夹持器，其中试样平移组件可操纵以便在基本上平行于第一轴线的平面中沿着两个非平行的方向相对于主体部分平移试样安装部分。
6.如权利要求5所述的夹持器，其中试样平移组件可操纵以便沿着三个基本上相互正交的方向相对于主体部分平移试样安装部分。
7.如任一上述权利要求所述的夹持器，其中平移组件包括初级平移组件和次级平移组件。
8.如权利要求7所述的夹持器，其中初级平移组件包括至少一个压电促动器。
9.如权利要求8所述的夹持器，其中初级平移组件的该至少一个压电促动器配置成用粘滑方式运行。
10.如权利要求8或权利要求9所述的夹持器，其中初级平移组件的该至少一个压电促动器包括四象限压电促动器。
11.如权利要求7-10其中之一所述的夹持器，其中次级平移组件包括至少一个压电促动器。
12.如权利要求11所述的夹持器，其中次级平移组件的该至少一个压电促动器配置成用粘滑方式运行。
13.如权利要求11或权利要求12所述的夹持器，其中次级平移组件的该至少一个压电促动器包括四象限压电促动器。
14.如权利要求7-13其中之一所述的夹持器，其中试样安装部分结合到次级平移组件上，和次级平移组件结合到初级平移组件上，因此初级平移组件可操纵以便平移次级平移组件。
15.如任一上述权利要求所述的夹持器，其中试样旋转组件包括压电促动器，该压电促动器安排成使旋转组件的轴构件旋转，该轴构件基本上与第一轴线一致，该轴构件结合到初级平移组件上从而使轴构件的旋转引起初级平移组件绕第一轴线的旋转。
16.如权利要求15所述的夹持器，其中夹持器组件还包括第三级平移器，该第三级平移器安排成引起操纵器部分的旋转，因此第一轴线绕基本上垂直于第一轴线的轴线旋转。
17.如权利要求16所述的夹持器，其中第三级平移器安排成引起操纵器部分相对于主体部分的旋转。
18.如权利要求16或权利要求17所述的夹持器，其中第三级平移器包括压电促动器组件，该压电促动器组件在操纵器部分的第一位置处结合到操纵器部分上，并安排成在基本上垂直于第一轴线的平面中相对于主体部分平移操作器部分的一部分，操纵器安排成绕操纵器部分的第二位置枢转，该第二位置沿着第一轴线从第一位置移开。
19.如任一上述权利要求所述的夹持器，其中试样旋转组件配置成允许试样安装部分绕第一轴线旋转穿过一角度为至少大体上是250°。
20.如权利要求19所述的夹持器，其中试样旋转组件配置成允许试样固定部分绕第一轴线旋转穿过一角度为大体上是360°。
21.如任一上述权利要求所述的夹持器，其中试样旋转组件可操纵以便以小于大体上，优选地小于大体上 ，更优选地小于大体上 为级别旋转试样安装部分。
22.如任一上述权利要求所述的夹持器，设有用于确定试样安装部分的旋转位置的机构。
23.如权利要求22所述的夹持器，其中该用于测定旋转位置的机构包括磁场源和磁场传感器。
24.如权利要求23所述的夹持器，其中磁场源和磁场传感器的其中之一安排成与试样夹持器部分一起旋转，而磁场源和磁场传感器的其中另一个安排成相对于主体部分保持处于基本上固定的方位。
25.如权利要求23或24所述的夹持器，其中磁场传感器包括Hall探头。
26.如任一上述权利要求所述的夹持器，其中试样平移组件可操纵以便以小于大体上
10nm，更优选地小于大体上1nm，还更优选地小于大体上0.1nm为级别平移试样安装部分。
27.如任一上述权利要求所述的夹持器，其中夹持器可操纵以便将试样安装部分平移到一位置，由此安装在试样安装部分中的试样部分与第一轴线相交。
28.如任一上述权利要求所述的夹持器，还包括辅助试样安装部分，该辅助试样安装部分安排成支承第二试样。
29.如权利要求28所述的夹持器，其中辅助安装部分结合到主体部分上。
30.如权利要求28或29所述的夹持器，该夹持器可操纵以便将由试样安装部分所支承的第一试样平移到与由辅助试样安装部分所支承的第二试样成物理接触。
31.如权利要求28-30其中之一所述的夹持器，该夹持器可操纵以便将由试样安装部分所支承的第一试样平移到与第二试样成叠加关系，如在显微镜中投影所看到的。
32.如任一上述权利要求所述的夹持器，该夹持器适合于插入透射电子显微镜的测角计部分中。
33.如任一上述权利要求所述的夹持器，该夹持器配置成允许将试样安装部分可拆卸地插入常规侧入式透射电子显微镜的物镜中。
34.如权利要求33所述的夹持器，该夹持器配置成允许通过真空加载锁将试样安装部分可拆卸地插入物镜中。
35.如任一上述权利要求所述的夹持器，该夹持器具有控制器，所述控制器安排成通过试样平移组件或试样旋转组件控制试样安装部分，以便将试样安装部分支承在规定部位中。
36.如权利要求1-34其中之一所述的夹持器，其中控制器安排成将设在试样安装部分中的试样保持在规定部位中。
37.如权利要求35或36所述的夹持器，其中规定部位是相对于试样的图像的视场的部位。
38.如权利要求35或36所述的夹持器，其中规定部位是相对于夹持器的主体部分的部位。
39.如从属于权利要求28-31的其中之一的权利要求35或36所述的夹持器，其中规定部位对应于距由辅助试样夹持器所支承的试样的规定距离。
40.材料分析设备，与如任一上述权利要求所述的试样夹持器相结合。
41.如权利要求40所述的设备，其中设备是从透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描透射电子显微镜、X射线显微镜、X射线衍射仪、质子束显微镜、离子束显微镜和同步加速器辐射束线中选定的一种。
42.试样夹持器组件，基本上如上面参照附图所述。
43.材料分析设备，基本上如上面参照附图所述。
44.透射电子显微镜，基本上如上面参照附图所述。