Methods for protecting and managing the authenticity of the product

本発明は、 製品にその真正性を証明するマーキングを付し、そのマーキングの消去若しくは改ざんが試みられても、製品の真正性を保護するための方法に関する。

製品にナンバリングを付しその真正性を管理するためにマーキング、レーザ彫刻、機械的ナンバリング、多媒体多段暗号マーキング（multimedia multi-stage encrypted marking）等を利用する各種方法が知られている。 これら従来技術の方法では、各種証明書を併用しており、その管理は普通、裸眼での目視、或いは器具や自動読取機を用いて行われている。

上述の方法の欠点は、機械的ナンバリング或いはレーザ彫刻の場合、真正なマーキングや真正な証明書の精巧な複製品（所謂クローン）が作成されてしまうと、真正品と偽造品との区別を付けることができず、多段暗号マーキング自体も消去に対して抵抗できないことにある。 また、暗号マーキングが深く削り取られた場合には、その唯一性を判断できない。

本発明の目的は、 マーキングされた製品の真正性を、そのマーキングの消去若しくは改ざんが試みられても保護する方法を提供することである。 より具体的には、生産管理、兵器、小火器及びそのスペア部品、 並びに弾薬の管理、自動車及び自動車部品産業、航空機産業、機械製造産業、追跡可能とすることを目的としたその他の製品、 並びにこれら製品及びその部品の真正性の管理、これら製品の出所及び製造者の証明、これらの証明書の真正性の管理において、付設(deposited)されたマーキングの精巧な複製、模造、コピー或いは消去が行われようとした場合であっても達成可能な、マーキングされた製品の真正性を保護する方法を提供することである。

本発明によれば、マーキングされた製品（１）の真正性を、そのマーキングの消去若しくは改ざんが試みられても保護する方法であって、ａ）製品（１）の表面におけるマーキング領域に、薄いアロイ層（２）を付設する工程を含む方法において、
ｂ）製品を構成する材料をそれ以上深く機械的に除去すると、その製品が破壊されてしまったり、使用できなくなってしまう、という限界深さ（６）よりも深いところまで、制御されたビーム若しくはジェットビーム（３）を用いてアロイ層（２）の元素を侵入させて製品材料の構造を変化（５）させるように、前記マーキング領域に多段暗号マーキング（４）を記録する工程と、
ｃ）マーキング領域における製品材料の表面状態、導電性、及び構造を、読取機（７）によってスキャンして、そのパラメータを得る工程と、
ｄ）該パラメータをデータベース（９）に記録する工程と、
ｅ）マーキングの消去若しくは改ざんが試みられた後に、マーキング領域における製品材料の表面状態、導電性、及び構造を読取機（７）によってスキャンし、そのパラメータを、データベース（９）に記録されている前記パラメータと比較して、製品の真正性を証明する工程と
を含むことを特徴とする、マーキングされた製品の真正性を保護する方法が提供される。

復元可能な多段暗号マーキングの

付設方法を示す説明図である 。

復元可能な多段暗号マーキング

の読み取

り方法を示す説明図である 。

消去或いは改ざん

が試みられた後

でも復元可能な多段暗号マーキングを

、製品及び添付証明書の真正性を保護するために記録し

、読み取る

方法を示す説明図である 。

図面を参照して、本発明を説明する。

製品（１）上に、その構造に応じて薄いアロイ層（２）を付設する 。 アロイ層（２）は、製品（１）を構成する材料に応じて異なるものを使用する 。 制御されたビーム（レーザビーム、電子ビーム、イオンビーム等） （３）により行われるマーキング過程において、温度上昇により、アロイ層（２）の元素が製品材料内に深く侵入して、多段暗号マーキング（４）が記録されると同時に、製品材料の構造がマーキング点周辺及び内部まで変化（５）する 。 マーキングを行うビーム（３）のパワーやアロイ層（２）の厚さ及び種類を制御及び調節することによって、特定のマーキング暗号化点におけるアロイ元素の侵入深さ及び製品材料の構造変化（５）を制御することができる 。 この制御は、 それ以上深く製品材料を機械的に除去する（つまりマーキングを消去する）と、その製品（１）が破壊されてしまったり、使用できなくなってしまう、という限界深さ（６）よりも深いところまで、アロイ元素侵入深さ及び製品材料変化（５）深さが到達するように行う。 このように作成されたマーキング（４）は、消去やクローン作成が試みられても復元でき、その読み取り及び管理は、マーキング領域（マーキングが消去されている場合はマーキングが記録されていた領域） における製品材料の表面状態 、導電性、或いは構造を、 読取機 （ＣＣＤ、ＡＦＭ、ＣＭＯＳ等）（７）によりスキャンすることによって行われる。 このようにして得られた表面状態、導電性、及び構造のパラメータを処理し、その後、 真正なマーキングを最初に作成した時点でデータベース（９）に記録しておいた暗号化要素のパラメータと比較する 。 このデータベース（９）には、 真正なマーキング（４）とその暗号化要素との関係が記録されている 。 得られたマーキングのパラメータが、データベース（９）内に記録されているパラメータと一致すれば、 そのマーキングは、たとえ消去されていても復元することができ、その真正性を証明できる。 製品（１）にマーキング（４）を付す際、 製品（１）に添付する電子的に読み取り可能な証明書（１２）にも、視認可能な真正なマーキング（４）と隠れている暗号化要素との関係を記録しておく 。 その後、証明書（１２）の認証チップや証明書の材料にも同様に、復元可能な多段暗号マーキングを付して、証明書を改ざんや偽物から保護する 。 証明書には、視認可能な元のマーキングと隠れている暗号化要素との関係が記録されているため、 そのマーキングによって真正性が証明されれば 、対応する製品に記録されたマーキングの管理工程に利用できる。

１． 製品２． アロイ層３． 制御されたビーム（レーザビーム、電子ビーム、イオンビーム等）
４． 復元可能な多段暗号マーキング５． 材料の構造変化部６． 限界深さ線７． 読取機 （ＣＣＤ、ＡＦＭ、ＣＭＯＳ等）
８． コンピュータ９． データベース１０． 多段暗号マーキング１１． 製品１２． 電子キャリアを有する証明書１３． 証明書及び電子キャリア上に設けた復元可能な多段暗号マーキング