子分类：
| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 21 | 检测装置、检测方法、处理装置以及处理方法 | CN201580034955.1 | 2015-06-25 | CN106489073A | 2017-03-08 | 陈廷槐; 田中大充; 西原伸彦 |
| 本发明的检测装置(DA1)包括：支承体(B1)，具有对光学薄膜(OP1)的第一面(OP1a)进行支承的支承面(B1a)，在支承面(B1a)内的至少一部分具有反射面(RS1)；光源部(IL1)，从光学薄膜(OP1)的第二面(OP1b)侧朝向位于反射面(RS1)上的光学薄膜(OP1)照射光；摄像部(CM1)，从光学薄膜(OP1)的第二面(OP1b)侧拍摄位于反射面(RS1)上的光学薄膜(OP1)的反射光像；滤色器(CF1)，通过吸收或者反射给定的波长成分的光，来调整多个偏振图案列(OP12a、OP12b)的反射光像的对比度；和图案检测部(IP1)，基于光学薄膜(OP1)的反射光像来检测位于反射面(RS1)上的偏振图案列(OP12a、OP12b)。 | ||||||
| 22 | 光学特性测定装置以及光学特性测定方法 | CN201580027456.X | 2015-05-26 | CN106461465A | 2017-02-22 | 鹤谷克敏 |
| 在本发明的光学特性测定装置以及该方法中，以相互不同的精度，通过第1及第2分光测定部对被测定光进行分光来测定，根据它们的第1及第2测定结果来求出所述被测定光的预定的光学特性，所述第1及第2分光测定部中的第1及第2测定角中的至少一方能够通过测定角可变光学系统而可变。 | ||||||
| 23 | 一种基于光谱分析的偏振特性测试方法 | CN201610768509.X | 2016-08-22 | CN106442336A | 2017-02-22 | 李国超; 吴斌; 王恒飞; 应承平; 杨延召; 姜斌 |
| 本发明提供一种基于光谱分析的偏振特性测试方法，待测信号光通过λ/4延迟波片、起偏器进入偏振分析模块，根据实际测试需求设置合适的波长间隔；控制λ/4延迟波片同方向转动多次，在与初始位置的角度差逐渐增大至180°时停止；λ/4延迟波片在若干次转动完成后，记录光谱分析模块的光谱测试结果；λ/4延迟波片在完成多次转动后，利用记录的光谱测试数据结合λ/4延迟波片的波长相关延迟量、转动角度，计算得到待测信号光中每个波长点的斯托克斯矢量；旋转起偏器并重复以上步骤，计算得到物质在宽波段范围内多波长点的琼斯矩阵。本发明能够有效克服光学介质色散因素的影响，在一次独立测量中能够实现对信号光中的多波长点多偏振态进行分析测试。 | ||||||
| 24 | 光电设备及其激光检测调节系统 | CN201610807823.4 | 2016-09-07 | CN106441815A | 2017-02-22 | 马亚坤; 乔健; 曹立华; 邵帅; 张晨 |
| 本发明公开了一种光电设备的激光检测调节系统，包括用于检测激光光束质量的检测装置、用于调节激光光路的调节装置和分析控制装置，所述分析控制装置分别通信连接相对安装设定的所述检测装置和所述调节装置，且所述分析控制装置能够根据分析所述检测装置的检测结果控制所述调节装置调节激光光路。本发明解决了外场恶劣环境条件对激光光束质量修正调节的难题，提高设备工作效率和可靠性，成本低廉。本发明还公开了一种包括上述激光检测调节系统的光电设备。 | ||||||
| 25 | 一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置和方法 | CN201610895419.7 | 2016-10-14 | CN106441808A | 2017-02-22 | 张长兴; 谢锋; 刘成玉; 邵红兰; 刘智慧; 杨贵 |
| 本发明涉及一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置和方法，本发明装置包括黑体控制器、标准黑体、热红外高光谱成像仪和计算机模块，该装置通过步骤(1)将热红外高光谱成像仪对准标准黑体并充满视场，通过黑体控制器将标准黑体温度设置为N个不同的温度，待温度稳定后发射的辐射光被热红外高光谱成像仪接收，计算机模块控制热红外高光谱成像仪采集N组数据；(2)将N组数据按照温升进行波段叠加，生成温升黑体热红外高光谱数据；(3)采集非盲元温升光谱，通过光谱匹配途径进行盲元检测，标记盲元生成盲元检测结果。本发明从光谱维角度考虑实现热红外高光谱成像仪的盲元高精度检测，对热红外高光谱成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。 | ||||||
| 26 | 一种氙气灯测试装置 | CN201611055243.0 | 2016-11-25 | CN106404350A | 2017-02-15 | 卢云芳 |
| 本发明公开了一种氙气灯测试装置，包括：雾化箱，其设有箱盖，箱盖的两侧设有透雾口；加热器、造雾机及制冷设备，三者分别设于雾化箱的底部；水箱，其与造雾机连接；散雾盖，其设于造雾机的喷雾口的上方，散雾盖设有多个散雾孔；导轨，其设于雾化箱底部；小车，其设于导轨上，并通过第一驱动装置驱动，小车的一侧设有第一滑槽；X型伸缩架，其下部的一端以能够滑动地设于第一滑槽内，另一端与第二驱动装置铰接；托盘，其底部的两侧设有两个第二滑槽，伸缩架上部的两端分别以能够滑动地设于一个第二滑槽内；投影屏，其设于雾化箱的一侧；温度传感器及雾霾浓度检测仪，两者分别设于雾化箱的顶部。该装置能为氙气灯的雾中测试提供较好的测试环境。 | ||||||
| 27 | 一种信号灯综合性能检测装置 | CN201610753000.8 | 2016-08-30 | CN106197948A | 2016-12-07 | 冷荣飞 |
| 一种信号灯综合性能检测装置，包含机架1），所述的机架（1）为框架结构；其特征在于：所述的置物柜（3）内设有摄像头Ⅰ（4）；摄像头Ⅰ（4）上方的工作台（2）上设有对应的检测窗口；产品支撑工装架（5）固定在工作台（2）上位于检测窗口上方，产品支撑工装架（5）中间设有与检测窗口对应的出光孔；所述的机架（1）顶端下表面中间设有摄像头Ⅱ（6），机架（1）顶端上表面固定安装有气缸（7），气缸（7）活塞上连接有挡光门（8），气缸（7）活塞带动挡光门（8）下移，使机架（1）形成一个封闭的暗室。本发明，结构简单，操作方便快捷，大大提高了检测效率与质量，降低了测量成本。 | ||||||
| 28 | 光学装置的测试 | CN201380001506.8 | 2013-08-26 | CN103842790B | 2016-12-07 | 哈特穆特·拉德曼; 马蒂亚斯·葛鲁尔 |
| 本公开内容描述用于测试光学装置的技术，该技术在一些实施方式中用模拟在将光学装置整合至最终产品或系统中时这些装置将被使用的环境的方式测试这些光学装置。例如，一方面包含用模拟在将该光学装置并入该最终产品或系统中时的环境的至少一些方面的方式提供定位于该装置附近的透明片。例如，能在生产这些光学装置时或在将这些光学装置整合至最终产品或系统中之前的某一其他时间进行该测试。 | ||||||
| 29 | 一种大口径光栅衍射效率的测量装置和测量方法 | CN201610427140.6 | 2016-06-16 | CN106124166A | 2016-11-16 | 邵建达; 刘世杰; 王圣浩; 王微微; 张志刚; 周游; 徐天柱; 鲁棋 |
| 本发明专利提出了一种大口径光栅衍射效率的测量装置和测量方法,包括光源、单色器、传输光纤、分束镜、二维扫描机构、样品台、参考光探测器和测试光探测器，根据测量光强度和参考光光强的比值，以及衍射光强度和参考光强度的比值，计算得到大口径光栅单个位置处的衍射效率值，接着利用二维扫描机构在水平和垂直方向扫描光纤测量头，依次得到大口径光栅各个位置处的衍射效率值，从而完成大口径光栅衍射效率的测量。本发明实现了大口径光栅衍射效率的测量，降低了测量系统的构建成本，消除了测量过程中的安全隐患，显著加快了大口径光栅衍射效率的测量速度，同时能保证大口径光栅衍射效率的测量数据具有较好的重复性和复现性。 | ||||||
| 30 | 一种后视镜综合性能检测装置 | CN201610753162.1 | 2016-08-30 | CN106124164A | 2016-11-16 | 冷荣飞 |
| 一种后视镜综合性能检测装置，包含机架，所述的机架（1）为框架结构；机架（1）中间设有工作台（2），所述的工作台（2）下方为置物柜（3），置物柜（3）内设有集气包（4）；其特征在于：所述的工作台（2）上安装有工件装夹（5），工件装夹（5）上侧的工作台（2）上安装有电子陀螺仪部件（6），电子陀螺仪部件（6）上设有与工作装夹（5）垂直的电子陀螺仪（61），电子陀螺仪部件（6）一侧的工作台（2）上安装有支撑台（7），支撑台（7）上安装有工控机（8），工控机（8）上放置有显示屏（9）。本发明，结构简单，操作方便快捷，一台装置就可以完成后视镜的综合性能检测，大大提高了检测效率，降低了测量成本。 | ||||||
| 31 | 一种电子显示器旋转检测装置 | CN201610676068.0 | 2016-08-17 | CN106092513A | 2016-11-09 | 周建宏 |
| 本发明公开了一种电子显示器旋转检测装置，所述旋转检测装置包括机架，所述机架上且位于两侧位置设置有输送滚轮，所述机架上且位于所述输送滚轮的下方设置有转盘机构，所述转盘机构包括用于安装电子显示器的旋转盘以及固定盘，所述旋转盘可转动的安装在所述固定盘上，所述转盘机构还包括顶升气缸，所述顶升气缸的活塞部与所述固定盘连接，所述固定盘的下方还设置有通电顶升气缸，所述通电顶升气缸的顶部伸出时与所述固定盘接触。本发明的工作更加安全平稳，提高检测效率。 | ||||||
| 32 | 用于指示灯状态监控的电子标签及指示灯状态监控系统 | CN201610398057.0 | 2016-06-07 | CN106092511A | 2016-11-09 | 闫泽涛; 刘瑞涛 |
| 本发明提供了一种用于指示灯状态监控的电子标签，包括感应指示灯所发射光照的光敏器件、处理器、射频发射器件、天线和可更换电池，所述光敏器件的输出端与所述处理器连接，所述处理器的输出端与所述射频发射器件连接。本发明还提供了一种指示灯状态监控系统。本发明的有益效果是：可通过光敏器件感应指示灯所发射的光照，实现了对指示灯信号状态的实时、远程、无干扰、非硬件侵入的状态监控功能，不仅提高了设备状态监控的实时性，还大幅减轻了设备维护和巡检人员的工作强度，为无法实现网络接入监控的设备的运行状态远程监控提供了一种新的装置，在能源、交通、通讯、金融、化工等领域有广泛应用。 | ||||||
| 33 | 触摸屏检修工艺流程 | CN201610351174.1 | 2016-05-25 | CN106066237A | 2016-11-02 | 崔建武 |
| 本发明公开了触摸屏检修工艺流程，属于触摸屏检修技术领域；它包含以下步骤：表面检查；检查表面是否有划痕，是否影响触摸屏的使用，确定是否更换表层；透光性的检查；反光性的检查；坐标定位系统的检查；传感器的检查；电路板的检查；工艺设计合理，操作方便，灵活性好，流程化的检测避免了漏洞，检测的稳定性好，可保持使用的时间长，减少了检修周期，提高了触摸屏的使用寿命，避免了现有技术中存在的弊端。 | ||||||
| 34 | LED显示设备 | CN201610370265.X | 2016-05-30 | CN106057089A | 2016-10-26 | 张玉欣 |
| 本发明是关于一种LED显示设备，其中，所述LED显示设备包括LED显示屏、滑轨组件和数据采集模组；所述滑轨组件设置在所述LED显示屏上；所述数据采集模组设置在所述滑轨组件上，所述数据采集模组的采集方向垂直朝向所述LED显示屏；所述滑轨组件可移动，所述数据采集模组可在所述滑轨组件上移动。采用本发明的设备，能够高精准的扫描所述LED显示屏的色度和亮度信息，从而提高对LED显示屏的亮度和色度进行校正的精准度，同时，避免完全由人工方式进行扫描检测，减少人工成本的同时也提高的对LED显示设备的扫描检测效率。 | ||||||
| 35 | 一种LED显示屏的坏点检测系统 | CN201610370222.1 | 2016-05-30 | CN106053019A | 2016-10-26 | 侯民 |
| 本发明公开了一种LED显示屏的坏点检测系统，包括检测探头、探测器、扫描器、光源吸收器、传感管、连接器、端盖、信号处理器、感应线圈、感应小块、传感线、位点接触器、光感器和指示灯，所述检测探头右侧设置有探测器，所述探测器内侧设置有扫描器，所述扫描器右侧设置有光源吸收器，所述光源吸收器通过传感管与信号处理器相连接，且光源吸收器右侧设置有连接器，所述连接器右侧安装有端盖，所述信号处理器右侧安装有感应线圈，所述感应线圈上下两侧设置有感应小块，所述感应小块上侧安装有传感线，所述传感线与位点接触器相连接，所述位点接触器上侧设置有光感器，所述光感器和指示灯相连接；该LED显示屏的坏点检测系统，具有结构精简的特点。 | ||||||
| 36 | 一种同时测量微型光谱仪增益及读出噪声的方法 | CN201610630651.8 | 2016-08-03 | CN106017681A | 2016-10-12 | 夏果; 黄禅; 金施群; 胡明勇; 吴骕 |
| 本发明公开了一种同时测量微型光谱仪增益及读出噪声的方法，其特征是以积分球光源为检测光源，利用电压控制器调节积分球光源的输出信号的光强，将积分球光源的输出信号通过光纤传导至微型光谱仪，利用计算机采集获得微型光谱仪的输出信号，并经信号处理获得微型光谱仪的增益和读出噪声。本发明方法通过去除微型光谱仪的暗电流噪声及固定模式噪声使微型光谱仪增益及读出噪声的测量结果更加准确，精确度更高，能够同时完成对微型光谱仪的增益及读出噪声的测量。 | ||||||
| 37 | 一种基于粒子群算法的图像传感器关键性能参数的测试方法 | CN201610297894.4 | 2016-05-06 | CN105865748A | 2016-08-17 | 温强; 何立; 李立 |
| 本发明属于光电技术领域，具体为涉及一种基于粒子群算法的图像传感器关键性能参数的测试方法。具体包括：对图像传感器进行曝光操作，取n个不同的曝光时间，再分别采集n帧明场数据和n帧暗场数据，按照EMVAStandard1288要求，计算出明场值方差明场灰度值均值μy、暗场灰度值μydark；进行粒子群算法反演的具体步骤。本发明可以更加便捷地得到系统增益及暗噪声参数。 | ||||||
| 38 | 激光器寿命测试系统 | CN201610118650.5 | 2016-03-01 | CN105651489A | 2016-06-08 | 路国光; 谢少锋; 郝明明; 周振威; 肖庆中; 赖灿雄; 尧彬; 黄云 |
| 本发明公开了一种激光器寿命测试系统，所述系统包括电源驱动模块、样品池、温度控制模块、参数测试模块、故障诊断与健康管理模块和计算机控制模块，所述样品池用于承载激光器；电源驱动模块分别与样品池和故障诊断与健康管理模块连接，样品池设置在温度控制模块上，样品池和温度控制模块分别与故障诊断与健康管理模块连接，参数测试模块用于对装载在所述样品池中的激光器进行监测，电源驱动模块、温度控制模块、参数测试模块和故障诊断与健康管理模块分别与计算机控制模块连接。本发明为半导体激光器寿命评价、老化筛选提供了设备保障；具备故障诊断与健康管理功能，避免因寿命试验装置关键部件故障导致寿命试验中断或试验装置损伤。 | ||||||
| 39 | 一种红外探测器盲元检测系统及方法 | CN201610161545.X | 2016-03-18 | CN105628337A | 2016-06-01 | 戚栋栋; 黄星明; 刘岩 |
| 本发明涉及一种红外探测器盲元检测系统及方法，方法包括以下步骤：步骤S1.进行红外线探测，生成红外探测数据；步骤S2.按设定的时间间隔对红外探测数据进行采集，根据采集的红外探测数据对应生成探测图像；步骤S3.对探测图像中的每一个像元进行奇异检测，并将每一个像元出现奇异的概率记录进奇异概率表；步骤S4.奇异概率表中奇异概率高于或等于设定值的像元为盲元，进行盲元补偿。本发明相比上门维修和用户自行标定的方式效率高，检测精度高，不易发生误判。 | ||||||
| 40 | 一种二维色彩分析仪校准装置及校准方法 | CN201510980931.7 | 2015-12-24 | CN105571822A | 2016-05-11 | 孙权社; 王国权; 陈赤; 赵发财; 韩忠; 朱兴邦; 王少水; 郑祥亮 |
| 本发明提出了一种二维色彩分析仪校准装置，包括：主积分球球体及出光口、级联辅助积分球、积分球内壁涂层、挡光板、大功率标准光源、滤色片组合、可调孔径光阑、光纤光谱仪；其中，采用级联辅助积分球的方式，为主积分球提供入射光；在主积分球与级联辅助积分球之间设置一组滤色片，提供不同颜色均匀面光源的输出；可调孔径光阑对入射到主积分球的光通量进行大范围的控制；在主积分球球体出光口与可调孔径光阑之间设置挡光板，所有出射光均经过至少一次反射后出射；在主积分球侧壁设置监测窗口，通过光度探头及光纤光谱仪对光源输出亮度水平、光谱分布进行测量，为校准提供参考值。本发明具有结构简洁，功能完整，操作方便的优点。 | ||||||
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