该申请人涉及专利文献:987,涉及专利:680件
覆盖主要的IPC大类包括:H01(233)、G01(93)、B24(85)、B08(39)、F16(38)、B28(36)、G03(36)、B25(34)、B23(31)、G05(31)
专利类型分布状况:发明公开(613)、实用新型(52)、发明申请(11)、外观设计(4)
专利不同法律状态数据分布状况:有效专利(216)、失效专利(167)、实质审查(161)、无效专利(119)、公开(17)
该领域主要的发明人有:陶利权(48)、陈苏伟(22)、刘永进(19)、姚立新(14)、高慧莹(13)、左宁(12)、杨师(10)、张世强(9)、杨志(9)、王文丽(9)
详细地址:中国 北京市 大兴区 北京市大兴区北京经济技术开发区泰河三街 1号 100176
专利类型 | 专利名称 | 文献号 |
---|---|---|
发明公开 | 一种晶圆厚度测量工装及测量方法 | CN118031825A |
发明授权 | 一种基片曝光方法、装置、电子设备及存储介质 | CN114563930B |
发明公开 | 磨削装置及磨削方法 | CN117984186A |
发明公开 | 晶片夹持机构及晶片传输装置 | CN117976604A |
发明授权 | 一种基于曝光系统的物镜焦平面倾斜值的检测方法及装置 | CN114518221B |
发明公开 | 芯片减薄装置及芯片封装系统 | CN117862983A |
发明授权 | 一种用于线缆的多方向扰动力测试装置及测试方法 | CN114427928B |
发明授权 | 一种红外探测芯片的平整度检测方法及水平检测台 | CN114754707B |
发明授权 | 掩模对准系统、掩模对准方法和光刻设备 | CN113093487B |
发明授权 | 电镀夹具 | CN114892248B |
排名 | 企业名称 | 专利 |
---|---|---|
1 | 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) | 586 |
2 | 中国电子科技集团公司第四十五研究所 | 405 |
3 | 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) | 7 |
排名 | 发明人 | 专利 |
---|---|---|
1 | 陶利权 | 48 |
2 | 陈苏伟 | 22 |
3 | 刘永进 | 19 |
4 | 姚立新 | 14 |
5 | 高慧莹 | 13 |
6 | 左宁 | 12 |
7 | 杨师 | 10 |
8 | 张世强 | 9 |
9 | 杨志 | 9 |
10 | 王文丽 | 9 |
排名 | 企业名称 | 专利 |
---|---|---|
1 | 北京超凡宏宇专利代理事务所 | 304 |
2 | 北京中建联合知识产权代理事务所 | 274 |
3 | 石家庄新世纪专利商标事务所有限公司 | 177 |
4 | 北京超凡志成知识产权代理事务所 | 131 |
5 | 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 | 72 |
6 | 工业和信息化部电子专利中心 | 23 |
7 | 甘肃省专利服务中心 | 6 |
8 | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) | 4 |
9 | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 4 |
10 | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) | 2 |
排名 | 代理人 | 专利 |
---|---|---|
1 | 朱丽岩 | 223 |
2 | 董金国 | 82 |
3 | 宋元松 | 60 |
4 | 高燕 | 54 |
5 | 张贰群 | 48 |
6 | 刘湘舟 | 36 |
7 | 严小艳 | 34 |
8 | 毕翔宇 | 29 |
9 | 王术兰 | 27 |
10 | 张杰 | 26 |