1.一种用于检测加压容器的泄漏的泄漏检测系统，所述系统包括用于移动每个容器的泄漏测试传送带和积聚隧道，所述泄漏测试传送带延伸通过所述积聚隧道，其中所述积聚隧道和泄漏测试传送带一起限定至少一个封闭的积聚容积，每个封闭的积聚容积的尺寸被定制成仅能够容纳单个容器，从而允许从所述单个容器泄漏的气体积聚，以及用于感测积聚的从单个容器泄漏的气体的气体传感器。
2.根据权利要求1所述的泄漏检测系统，其中所述积聚容积可随着所述泄漏测试传送带以足够长的时间通过积聚隧道以允许泄漏气体的积聚。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的泄漏检测系统，其中所述积聚隧道和所述泄漏测试传送带限定多个独立的封闭积聚容积。
4.根据前述权利要求任一项所述的泄漏检测系统，其中所述泄漏测试传送带包括多个袋状部，每个袋状部至少部分地限定积聚容积。
5.根据权利要求4所述的泄漏检测系统，其中每个袋状部的前缘是具有一定锥度的。
6.根据前述权利要求任一项所述的泄漏检测系统，其中所述泄漏测试传送带包括传送带。
7.根据权利要求6所述的泄漏检测系统，其中所述泄漏测试传送带是竖直取向的。
8.根据前述权利要求任一项所述的泄漏检测系统，其中所述泄漏测试传送带包括环形回路。
9.根据前述权利要求任一项所述的泄漏检测系统，包括用于移除泄漏罐的移除机构。
10.根据前述权利要求任一项所述的泄漏检测系统，其中所述气体传感器包括光学传感器。
11.根据权利要求10所述的泄漏检测系统，其中所述光学传感器包括激光器，例如半导体二极管激光器，任选的量子级联激光器，例如脉冲的啁啾量子级联激光器。
12.根据前述权利要求任一项所述的泄漏检测系统，其中该系统适于将罐从生产线传送带转移到所述泄漏检测传送带上。
13.根据权利要求12所述的泄漏检测系统，其中所述泄漏检测传送带横过所述生产线传送带。
14.根据权利要求13所述的泄漏检测系统，其中泄漏检测传送带大体垂直地横过所述生产线传送带。
15.一种用于检测压力容器的泄漏的泄漏检测系统，所述系统包括泄漏测试传送带，其用于将容器从生产线传送带转移到泄漏检测测试回路内，所述泄漏测试传送带包括具有多个袋状部的传送带，每个袋状部的尺寸被定制成容纳单个容器，以及用于感测从容器泄漏的气体的传感器。
16.根据权利要求15所述的泄漏检测系统，其中所述泄漏测试传送带被布置成将容器移动到大体上封闭的积聚容积内，所述封闭的积聚容积的尺寸被定制成仪容纳单个容器，从而允许从单个容器泄漏的气体积聚，其中所述积聚容积至少部分地由单个袋状部限定。
17.根据权利要求16所述的泄漏检测系统，其中所述积聚容积可随着所述泄漏测试传送带移动足够长的时间以允许泄漏气体的积聚。
18.根据权利要求16或权利要求17所述的泄漏检测系统，其中所述积聚容积可至少部分地由所述泄漏测试传送带限定。
19.根据权利要求15至18任一项所述的泄漏检测系统，其中每个袋状部的前缘是具有一定锥度的。
20.根据权利要求15至19任一项所述的泄漏检测系统，其中所述泄漏检测系统包括积聚隧道，所述积聚隧道移动通过泄漏测试传送带，其中所述积聚隧道和所述泄漏测试传送带一起限定封闭的积聚容积。
21.根据权利要求15至20任一项所述的泄漏检测系统，其中所述测试传送带是竖直取向的。
22.根据权利要求15至21任一项所述的泄漏检测系统，其中所述泄漏测试传送带包括环形回路。
23.根据权利要求15至22任一项所述的泄漏检测系统，包括用于移除泄漏罐的移除机构。
24.根据权利要求15至23任一项所述的泄漏检测系统，其中所述传感器包括光学传感器。
25.根据权利要求24所述的泄漏检测系统，其中所述光学传感器包括激光器，例如半导体二极管激光器，任选的量子级联激光器，例如脉冲的啁啾量子级联激光器。
26.根据权利要求15至25任一项所述的泄漏检测系统，其中所述泄漏检测传送带横过生产线传送带。
27.根据权利要求26所述的泄漏检测系统，其中所述泄漏检测传送带大体垂直地横过生产线传送带。
28.根据前述权利要求任一项所述的泄漏检测系统，其中所述传感器包括多个检测器。
29.根据权利要求28所述的泄漏检测系统，其中提供选择器，其用于选择性地将每个所述检测器耦联到积聚容积。
30.根据权利要求28所述的泄漏检测系统，其中在任何时刻仅一个检测器被耦联到积聚容积。
31.一种适于在根据前述权利要求任一项所述的泄漏检测系统中使用的传送带，其中所述传送带包括具有多个袋状部的传送带，每个袋状部的尺寸被定制成容纳单个容器。
32.根据权利要求31所述的传送带，其中在使用中所述传送带被布置成竖直取向，并且每个袋状部的尺寸被定制成容纳单个竖直取向的容器。
33.根据权利要求31或权利要求32所述的传送带，其中所述传送带为环形回路传送带。
34.根据权利要求31至33任一项所述的传送带，其中所述袋状部由附接到传送带的多个块限定。