针脚式电子器件属性值快速测试器 |
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| 申请号 | CN202110411578.6 | 申请日 | 2021-04-16 | 公开(公告)号 | CN113311232B | 公开(公告)日 | 2024-05-14 |
| 申请人 | 国网山东省电力公司淄博供电公司; | 发明人 | 田川; | ||||
| 摘要 | 本 发明 属于微 电子 领域技术领域，尤其是针脚式电子器件属性值快速测试器，包括壳体，所述壳体的顶端设置有顶 块 ，且顶块四周均为倾斜面，所述顶块的顶端设置的放置端，且放置端包括开设于顶块的检测条槽，所述检测条槽的两端均固定安装有探点块，且探点块顶端均开设有探点槽，所述顶块的两侧安装有提拉机构，所述壳体的内部固定安装有检测组件，且检测组件由电容检测模块、电感检测模块以及 电阻 检测模块组成，所述壳体内部靠近检测组件的一侧固定安装有 中央处理器 。本发明通过设置的 水 冷机构，能够利用 半导体 制冷器配合 冷却液 、水冷管的水冷作用，对中央处理器以及检测组件进行有效的降温处理，以避免其发生 过热 现象。 | ||||||
| 权利要求 | 1.针脚式电子器件属性值快速测试器，包括壳体(1)，所述壳体(1)的顶端设置有顶块(11)，且顶块(11)四周均为倾斜面，其特征在于，所述顶块(11)的顶端设置的放置端，且放置端包括开设于顶块(11)的检测条槽(8)，所述检测条槽(8)的两端均固定安装有探点块(9)，且探点块(9)顶端均开设有探点槽(15)，所述顶块(11)的两侧安装有提拉机构，所述壳体(1)的内部固定安装有检测组件(26)，且检测组件(26)由电容检测模块(27)、电感检测模块(28)以及电阻检测模块(29)组成，所述壳体(1)内部靠近检测组件(26)的一侧固定安装有中央处理器(17)，所述壳体(1)的一侧外壁固定安装有冷却机构(6)，所述壳体(1)靠近冷却机构(6)的一侧安装设置有显示屏(4)； |
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| 说明书全文 | 针脚式电子器件属性值快速测试器技术领域[0001] 本发明涉及微电子领域技术领域，尤其涉及针脚式电子器件属性值快速测试器。 背景技术[0002] 微电子技术是随着集成电路，尤其是超大型规模集成电路而发展起来的一门新的技术。微电子技术包括系统电路设计、器件物理、工艺技术、材料制备、自动测试以及封装、组装等一系列专门的技术，微电子技术是微电子学中的各项工艺技术的总和。微电子技术的关键在于研究集成电路的工作方式以及如何实际制造应用。集成电路的发展依赖于半导体器件的不断演化。微电子技术可在纳米级超小的区域内通过固体内的微观电子运动来实现信息的处理与传递，并且有着很好的集成性。现在无相应的针脚电子器件快速测试装置，需要通过记忆电阻本体色环、电抗器电容器本体数值来区分值得大小或通过查阅相关技术资料得到，对于色环不清晰，或大量使用时带来诸多不便。 [0003] 经检索，中国专利申请号为CN2018111537028的专利，公开了一种电力电子器件测试装置，包括电源模块、系统控制单元、阻抗测试单元、低压测试单元、触发回报单元、输出控制单元、采样单元和外设。电源模块与外部交流电连接为装置提供电源，系统控制单元与阻抗测试单元、电压测试单元、触发回报单元、输出控制单元及采样单元连接，控制其他单元的输出。该专利能够解决上述问题，但是该专利在长时间运行过程中，测试单元以及控制处理单元，均容易产生过热现象，从而影响检测作业的运行，故而存在一定的局限性。 发明内容[0004] 本发明的目的是为了解决现有技术中存在的问题，而提出的针脚式电子器件属性值快速测试器。 [0005] 为了实现上述目的，本发明采用的技术方案如下。 [0006] 针脚式电子器件属性值快速测试器，包括壳体，所述壳体的顶端设置有顶块，且顶块四周均为倾斜面，所述顶块的顶端设置的放置端，且放置端包括开设于顶块的检测条槽，所述检测条槽的两端均固定安装有探点块，且探点块顶端均开设有探点槽，所述顶块的两侧安装有提拉机构，所述壳体的内部固定安装有检测组件，且检测组件由电容检测模块、电感检测模块以及电阻检测模块组成，所述壳体内部靠近检测组件的一侧固定安装有中央处理器，所述壳体的一侧外壁固定安装有冷却机构，所述壳体靠近冷却机构的一侧安装设置有显示屏。 [0007] 优选地，所述冷却机构包括通过固定安装于壳体一侧的冷却侧盒，且冷却侧盒的一侧开设有安装槽口，所述安装槽口的内壁固定安装有半导体制冷器，且半导体制冷器的制冷端靠近冷却侧盒的内部。 [0008] 优选地，所述冷却侧盒靠近半导体制冷器的一侧固定安装有隔板，且隔板的剖面为C形结构，所述冷却侧盒靠近端部的两侧分别固定安装有隔片，且隔片与冷却侧盒构成冷却腔，所述冷却腔的内部填充有冷却液。 [0011] 优选地，所述换热铜片的四周外壁均固定连接有换热支脚，且换热支脚的中端均为半圆状，所述换热支脚的中端包裹在水冷管的底端外壁。 [0012] 优选地，所述提拉机构包括固定连接于壳体一侧外壁的提带，且壳体远离冷却机构的一侧固定安装有固定连接块。 [0013] 优选地，所述固定连接块开设有插槽，且插槽的两侧均开设有相连通的卡槽，所述提带的端部均固定连接有与卡槽相适配的插爪，且插爪的端部两侧均设置有斜凸端。 [0015] 优选地，所述壳体靠近固定连接块的一侧设置有电源仓，所述壳体的底部外壁粘接有橡胶座，且橡胶座的底部外壁开设有等距离分布的条槽。 [0016] 本发明中的有益效果为： [0017] 1、该针脚式电子器件属性值快速测试器，通过设置的放置端、检测组件，操作人员将电子元器件与顶端两个探点槽接触后，能够获得电阻、电容、电感数值并在下方显示屏进行清晰展示数值，使用更加方便。 [0018] 2、该针脚式电子器件属性值快速测试器，通过设置的水冷机构，能够利用半导体制冷器配合冷却液、水冷管的水冷作用，对中央处理器以及检测组件进行有效的降温处理，以避免其发生过热现象。 [0019] 3、该针脚式电子器件属性值快速测试器，通过设置的隔板，能够保证换热后的水冷液快速与半导体制冷器进行接触，从而进行快速降温；通过设置带有通孔的螺旋管，能够保证微型泵均匀抽动水冷液，保证冷却效果；通过设置的换热铜片以及与水冷管底端相包裹的换热支脚，能够有效提高对热量的换热效率，保证对中央处理器、检测组件的冷却效果。 [0020] 4、该针脚式电子器件属性值快速测试器，通过设置的提拉机构，能够在需要携带时，将插爪插入固定连接块中，并利用其斜凸端卡入卡槽，实现对提带另一端的固定，从而方便对该测试器进行快速携带。附图说明 [0021] 图1为本发明提出的针脚式电子器件属性值快速测试器的立体结构示意图； [0022] 图2为本发明提出的针脚式电子器件属性值快速测试器的侧视结构示意图； [0023] 图3为本发明提出的针脚式电子器件属性值快速测试器的剖视结构示意图； [0024] 图4为本发明提出的针脚式电子器件属性值快速测试器的螺旋管结构示意图； [0025] 图5为本发明提出的针脚式电子器件属性值快速测试器的检测流程示意图； [0026] 图6为本发明提出的针脚式电子器件属性值快速测试器的冷却机构作业示意图； [0027] 图7为本发明提出的针脚式电子器件属性值快速测试器的检测组件模块图。 [0028] 图中：1、壳体；2、橡胶座；3、开关按键；4、显示屏；5、透明保护盖；6、冷却机构；7、提带；8、检测条槽；9、探点块；10、插爪；11、顶块；12、固定连接块；13、电源仓；14、条槽；15、探点槽；16、半导体制冷器；17、中央处理器；18、冷却侧盒；19、微型泵；20、隔板；21、螺旋管；22、隔板；23、换热铜片；24、换热支脚；25、水冷管；26、检测组件；27、电容检测模块；28、电感检测模块；29、电阻检测模块；30、通孔。 具体实施方式[0029] 下面详细描述本专利的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利，而不能理解为对本专利的限制。 [0030] 在本专利的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利的限制。 [0031] 在本专利的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解，例如，可以是固定相连、设置，也可以是可拆卸连接、设置，或一体地连接、设置。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利中的具体含义。 [0032] 参照图1‑7，针脚式电子器件属性值快速测试器，包括壳体1，壳体1的顶端设置有顶块11，且顶块11四周均为倾斜面，顶块11的顶端设置的放置端，且放置端包括开设于顶块11的检测条槽8，检测条槽8的两端均固定安装有探点块9，且探点块9顶端均开设有探点槽 15，顶块11的两侧安装有提拉机构，壳体1的内部固定安装有检测组件26，且检测组件26由电容检测模块27、电感检测模块28以及电阻检测模块29组成，壳体1内部靠近检测组件26的一侧固定安装有中央处理器17，壳体1的一侧外壁固定安装有冷却机构6，壳体1靠近冷却机构6的一侧安装设置有显示屏4。 [0033] 进一步地，冷却机构6包括通过固定安装于壳体1一侧的冷却侧盒18，且冷却侧盒18的一侧开设有安装槽口，安装槽口的内壁固定安装有半导体制冷器16，且半导体制冷器 16的制冷端靠近冷却侧盒18的内部。 [0034] 进一步地，冷却侧盒18靠近半导体制冷器16的一侧固定安装有隔板20，且隔板20的剖面为C形结构，冷却侧盒18靠近端部的两侧分别固定安装有隔片22，且隔片22与冷却侧盒18构成冷却腔，冷却腔的内部填充有冷却液。 [0035] 进一步地，位于顶端隔片22的一侧固定安装有微型泵19，且微型泵19的输入端固定连接有螺旋管21，螺旋管21的外壁开设有等距离分布的通孔30，底端隔片22固定连接有水冷管25。 [0036] 进一步地，水冷管25的另一端与微型泵19的输出端固定连接，且水冷管25整体为U形结构，壳体1内部固定设置有换热铜片23，且换热铜片23与中央处理器17、检测组件26相接触；借由上述结构，长时间检测作业过程中，操作人员控制启动半导体制冷器16以及微型泵19，利用半导体制冷器16配合冷却液、水冷管25的水冷作用，对中央处理器17以及检测组件26进行有效的降温处理，以避免其发生过热现象；利用设置的隔板22，保证换热后的水冷液快速与半导体制冷器16进行接触，从而进行快速降温。 [0037] 进一步地，换热铜片23的四周外壁均固定连接有换热支脚24，且换热支脚24的中端均为半圆状，换热支脚24的中端包裹在水冷管25的底端外壁。 [0038] 进一步地，提拉机构包括固定连接于壳体1一侧外壁的提带7，且壳体1远离冷却机构6的一侧固定安装有固定连接块12。 [0039] 进一步地，固定连接块12开设有插槽，且插槽的两侧均开设有相连通的卡槽，提带7的端部均固定连接有与卡槽相适配的插爪10，且插爪10的端部两侧均设置有斜凸端；借由上述结构，能够在需要携带时，将插爪10插入固定连接块12中，并利用其斜凸端卡入卡槽，实现对提带7另一端的固定，从而方便对该测试器进行快速携带。 [0040] 进一步地，壳体1靠近显示屏4的一侧通过活动连接轴连接有透明保护盖5，且壳体1的一侧设置有用于控制电源开关的开关按键3。 [0041] 进一步地，壳体1靠近固定连接块12的一侧设置有电源仓13，壳体1的底部外壁粘接有橡胶座2，且橡胶座2的底部外壁开设有等距离分布的条槽14；通过设置的条槽14、橡胶座2，能够提高该测试器放置的稳定性。 [0042] 本发明使用时：操作人员将该测试器放在检测作业区，利用带有条槽14的橡胶座2实现稳定放置，操作人员将待测试的电子元器件与顶端两个探点块9中的探点槽15进行接触，分别利用电容检测模块27、电感检测模块28、电阻检测模块29，对电子元器件的电阻、电容、电感进行检测，并将经过信号放大器的检测信号，输送至中央处理器17，中央处理器17对检测信号进行处理后，经过信号转换器将其转换为数据信号，并在下方显示屏4进行清晰展示电阻、电容、电感数值；长时间检测作业过程中，操作人员控制启动半导体制冷器16以及微型泵19，利用半导体制冷器16配合冷却液、水冷管25的水冷作用，对中央处理器17以及检测组件26进行有效的降温处理，以避免其发生过热现象；利用设置的隔板22，保证换热后的水冷液快速与半导体制冷器16进行接触，从而进行快速降温；利用设置带有通孔30的螺旋管21，保证微型泵19均匀抽动水冷液，保证冷却效果；利用设置的换热铜片23以及与水冷管25底端相包裹的换热支脚24，利用增加接触面积，提高对热量的换热效率，保证对中央处理器17、检测组件26的冷却效果。 [0043] 该针脚式电子器件属性值快速测试器，通过设置的提拉机构，能够在需要携带时，将插爪插入固定连接块中，并利用其斜凸端卡入卡槽，实现对提带另一端的固定，从而方便对该测试器进行快速携带。 [0044] 以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。 |
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