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移动终端软故障测试方法和系统

申请号 CN202110238546.0 申请日 2021-03-04 公开(公告)号 CN113132521B 公开(公告)日 2024-04-23
申请人 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)); 发明人 雷志锋; 张战刚; 黄云; 彭超; 何玉娟; 肖庆中;
摘要 本 发明 涉及 辐射 效应评估技术领域,公开了一种移动终端软故障测试方法和系统,包括使得待测移动终端处于测试模式之下;使用 中子 束流对所述待测移动终端进行辐照测试;控制所述待测移动终端运行不同的应用功能;对所述待测移动终端进行监测,观察并统计所述待测移动终端在运行不同的应用功能时的错误情况;根据所述错误情况区分不同的软故障类型。使用中子束流模拟真实环境中大气中子对待测移动终端的辐照。观察并统计待测移动终端在不同运行模式下的错误情况,并基于待测移动终端的错误情况区分不同的软故障类型。通过高通量的中子源对待测移动终端进行辐照试验,快速激发待测移动终端中可能存在的软故障类型,向产品研发人员提供有效数据 支撑 。
权利要求

1.一种移动终端软故障测试方法,其特征在于,包括:
使得待测移动终端处于测试模式之下;
利用散裂中子源产生中子束流,所述散裂中子源可以对所述中子束流的注量率进行调节;
使用所述中子束流对所述待测移动终端进行辐照测试;
控制所述待测移动终端运行不同的应用功能;
对所述待测移动终端进行监测,观察并统计所述待测移动终端在运行不同的应用功能时的错误情况,所述错误情况包括通话过程中的断线、音乐播放时的码流异常、拍照时的图像错误;
根据所述待测移动终端占用所述待测移动终端的硬件资源的情况以及所述错误情况区分不同的软故障类型,以实现对潜在故障类型进行针对性的容错改进;
其中,所述软故障类型包括单粒子翻转、单粒子瞬态脉冲和多位翻转;
所述控制所述待测移动终端运行不同的应用功能,包括:
根据占用所述待测移动终端的硬件资源的情况,对所述应用功能进行分类;
根据分类结果利用所述待测移动终端中自带的测试程序,使得所述待测移动终端运行不同的应用功能;
所述控制所述待测移动终端运行不同的应用功能,还包括:
根据占用所述待测移动终端的硬件资源的情况,对所述应用功能进行分类;
开发占用所述待测移动终端各类硬件资源的预设测试程序;
根据分类结果利用所述预设测试程序,使得所述待测移动终端运行不同的应用功能;
所述控制所述待测移动终端运行不同的应用功能,还包括:
对待测移动终端的某一特定功能的出错情况进行测试,并使其处于特定的程序运行或测试模式之下。
2.根据权利要求1所述的移动终端软故障测试方法,其特征在于,所述中子束流的束斑面积覆盖整个所述待测移动终端。
3.根据权利要求1所述的移动终端软故障测试方法,其特征在于,所述待测移动终端包括智能手机。
4.根据权利要求3所述的移动终端软故障测试方法,其特征在于,所述智能手机的硬件资源包括存储器、处理器或者电源芯片,其中,所述硬件资源用于完成相应的引用功能。
5.根据权利要求1所述的移动终端软故障测试方法,其特征在于,所述根据所述错误情况区分不同的软故障类型之后,还包括:
基于不同的所述软故障类型分析所述待测移动终端中出错的数据流,并分析不同的所述软故障类型对应的所述待测移动终端中的底层问题。
6.一种移动终端软故障测试系统,其特征在于,包括:
辐照装置,用于利用散裂中子源产生中子束流对处于测试模式之下的待测移动终端进行辐照测试,所述散裂中子源可以对所述中子束流的注量率进行调节;
控制装置,用于使得待测移动终端处于测试模式之下,并控制所述待测移动终端运行不同的应用功能;
所述控制所述待测移动终端运行不同的应用功能,包括:
根据占用所述待测移动终端的硬件资源的情况,对所述应用功能进行分类;
根据分类结果利用所述待测移动终端中自带的测试程序,使得所述待测移动终端运行不同的应用功能;
所述控制所述待测移动终端运行不同的应用功能,还包括:
根据占用所述待测移动终端的硬件资源的情况,对所述应用功能进行分类;
开发占用所述待测移动终端各类硬件资源的预设测试程序;
根据分类结果利用所述预设测试程序,使得所述待测移动终端运行不同的应用功能;
所述控制所述待测移动终端运行不同的应用功能,还包括:
对待测移动终端的某一特定功能的出错情况进行测试,并使其处于特定的程序运行或测试模式之下;
数据采集装置,与所述控制装置相连接,用于对所述待测移动终端进行监测,观察并统计所述待测移动终端在运行不同的应用功能时的错误情况,所述错误情况包括通话过程中的断线、音乐播放时的码流异常、拍照时的图像错误;根据所述待测移动终端占用所述待测移动终端的硬件资源的情况以及所述错误情况区分不同的软故障类型,以实现对潜在故障类型进行针对性的容错改进;其中,所述软故障类型包括单粒子翻转、单粒子瞬态脉冲和多位翻转。
7.根据权利要求6所述的移动终端软故障测试系统,其特征在于,辐照装置为散裂中子源,所述散裂中子源提供具有宽能谱的中子束流,用于保证与真实环境大气中子的相似性。
8.根据权利要求6所述的移动终端软故障测试系统,其特征在于,所述控制装置包括主控计算机,所述主控计算机可以控制智能手机运行特定的程序,在线观察其错误情况,并对智能手机输出的数据进行记录。
9.根据权利要求6所述的移动终端软故障测试系统,其特征在于,所述待测移动终端为智能手机。
10.根据权利要求6所述的移动终端软故障测试系统,其特征在于,所述移动终端软故障测试系统还包括:
通信模,分别与所述控制装置和所述待测移动终端相连接,用于实现所述控制装置和所述待测移动终端之间的数据传输。

说明书全文

移动终端软故障测试方法和系统

技术领域

[0001] 本发明涉及辐射效应评估技术领域,特别是涉及一种移动终端软故障测试方法和系统。

背景技术

[0002] 在我们日常生活的环境中存在一种看不见、摸不着的危险粒子——大气中子,它来源于高能宇宙射线与地球大气的相互作用。大气中子的穿透性极强且广泛分布于地面和整个大气空间。大气中子轰击半导体器件和集成电路引发的单粒子效应,可能造成器件出现数据翻转、功能出错、死机甚至灾难性烧毁等问题。手机系统中处理器及内存芯片是大气中子单粒子效应的敏感部件,也是造成系统产生软故障的根源。地面环境中随机的大气中子入射手机系统,轰击到手机处理器可能造成手机的程序运算出错,轰击内存芯片可能造成手机的数据出错。因此在智能手机设计初期,需要充分考虑大气中子导致软故障的问题。因此,如何就快速暴露智能手机中软故障的问题进行针对性设计非常关键。

发明内容

[0003] 基于此,有必要针对如何快速暴露智能手机中软故障的问题,提供一种移动终端软故障测试方法和系统。
[0004] 一种移动终端软故障测试方法,包括使得待测移动终端处于测试模式之下;使用中子束流对所述待测移动终端进行辐照测试;控制所述待测移动终端运行不同的应用功能;对所述待测移动终端进行监测,观察并统计所述待测移动终端在运行不同的应用功能时的错误情况;根据所述错误情况区分不同的软故障类型。
[0005] 上述移动终端软故障测试方法,将待测移动终端处于测试模式之下。使用中子束流对待测移动终端进行辐照,模拟真实环境中大气中子作用于待测移动终端的情形。控制待测移动终端运行不同的应用功能,同时对待测移动终端进行实时测量,观察并统计不同运行模式下的错误情况。基于待测移动终端的错误情况区分不同的软故障类型。本发明提供的移动终端软故障测试方法通过采用中子源对待测移动终端进行辐照试验,来实现人工激发待测移动终端软故障的目的。在严苛的应条件下,激发待测移动终端中可能存在的软故障类型,明确故障形式,有助于设计师进行针对性的优化设计或针对性的容错处理。
[0006] 在其中一个实施例中,利用散裂中子源产生中子束流。
[0007] 在其中一个实施例中,所述中子束流的束斑面积覆盖整个所述待测移动终端。
[0008] 在其中一个实施例中,所述控制所述待测移动终端运行不同的应用功能,包括根据占用所述待测移动终端的硬件资源的情况,对所述应用功能进行分类;根据分类结果利用所述待测移动终端中自带的测试程序,使得所述待测移动终端运行不同的应用功能。
[0009] 在其中一个实施例中,所述控制所述待测移动终端运行不同的应用功能,包括根据占用所述待测移动终端的硬件资源的情况,对所述应用功能进行分类;开发占用所述待测移动终端各类硬件资源的预设测试程序;根据分类结果利用所述预设测试程序,使得所述待测移动终端运行不同的应用功能。
[0010] 在其中一个实施例中,所述待测移动终端包括智能手机。
[0011] 在其中一个实施例中,所述根据所述错误情况区分不同的软故障类型之后,还包括基于不同的所述软故障类型分析所述待测移动终端中出错的数据流,并分析不同的所述软故障类型对应的所述待测移动终端中的底层问题。
[0012] 一种移动终端软故障测试系统,包括辐照装置,用于产生中子束流对处于测试模式之下的待测移动终端进行辐照测试;控制装置,用于使得待测移动终端处于测试模式之下,并控制所述待测移动终端运行不同的应用功能;数据采集装置,与所述控制装置相连接,用于对所述待测移动终端进行监测,观察并统计所述待测移动终端在运行不同的应用功能时的错误情况;所述控制装置还用于根据所述错误情况区分不同的软故障类型。
[0013] 在其中一个实施例中,所述辐照装置包括散裂中子源。
[0014] 在其中一个实施例中,所述移动终端软故障测试系统还包括通信模,分别与所述控制装置和所述待测移动终端相连接,用于实现所述控制装置和所述待测移动终端之间的数据传输。附图说明
[0015] 为了更清楚地说明本说明书实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016] 图1为本发明其中一实施例的移动终端软故障测试方法的方法流程图
[0017] 图2为本发明其中一实施例的控制待测移动终端运行不同的应用功能的方法流程图;
[0018] 图3为本发明另一实施例的控制待测移动终端运行不同的应用功能的方法流程图;
[0019] 图4为本发明其中一实施例的移动终端软故障测试系统的结构框图

具体实施方式

[0020] 为了便于理解本发明,下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的优选实施方式。但是,本发明可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施方式。相反的,提供这些实施方式的目的是为了对本发明的公开内容理解得更加透彻全面。
[0021] 需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“平的”、“左”、“右”、“上”、“下”、“前”、“后”、“周向”以及类似的表述是基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
[0022] 除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0023] 目前智能手机系统功能越来越强大,具有越来越强大的运算和处理功能,这主要依赖于其先进的处理器。然而,以先进工艺超大规模集成电路处理器为核心“大脑”的智能手机面临着来自地面高能宇宙射线影响的的问题。集成电路处理器对于宇宙射线的敏感性,导致由宇宙射线引起的软故障成为了考察集成电路可靠性时必须考虑的重要因素。在地面环境中,大气中子引起集成电路发生单粒子效应,是造成电子系统软故障的最主要原因。单粒子翻转(SEU)现象可能导致器件存储信息错误、丢失,可能触发单粒子闩(SEL)导致集成电路出现大电流烧毁,也可能导致超大规模集成电路出现功能中断(SEFI)等错误。
[0024] 手机系统中处理器及内存芯片是大气中子单粒子效应的敏感部件,也是造成系统产生软故障的根源。地面环境中随机的大气中子入射手机系统,轰击到手机处理器可能造成程序运算出错,轰击内存芯片可能造成数据出错。一部分芯片的错误不能在系统功能中表现出来,为隐形错误,一部分可以表现为系统应用层面的功能错误,即为显性错误。显性错误可能引起严重的后果,比如通讯中的暂时中断、手机运算错误、死机等等。因此在智能手机设计初期,需要充分考虑软故障的问题。
[0025] 图1为本发明其中一实施例的移动终端软故障测试方法的方法流程图,在其中一个实施例中,所述移动终端软故障测试方法包括如下步骤S100至S500。
[0026] S100:使得待测移动终端处于测试模式之下。
[0027] S200:使用中子束流对所述待测移动终端进行辐照测试。
[0028] S300:控制所述待测移动终端运行不同的应用功能。
[0029] S400:对所述待测移动终端进行监测,观察并统计所述待测移动终端在运行不同的应用功能时的错误情况。
[0030] S500:根据所述错误情况区分不同的软故障类型。
[0031] 软故障(Soft Error)是指单粒子翻转、单粒子瞬态脉冲、多位翻转等不会对器件造成硬损伤的效应。
[0032] 提供需要进行软故障测试的移动终端,将待测移动终端调节至处于测试模式之下,并将其放置于中子辐照环境中进行辐照测试。由于移动终端的潜在故障最重要的一个诱发因素就是地面高能宇宙射线(主要是大气中子)。当地面高能宇宙射线打到手机芯片上时,可能造成内部的控制位数据翻转或功能中断,进而在移动终端的系统硬件之间传播导致了软故障。大气中子是普遍存在的,但是激发概率不高。因此,通过使用人工提供的高通量的中子源对移动终端进行辐照可以在短时间内激发移动终端的潜在故障类型,从而可以对潜在故障类型进行针对性的容错改进。令待测移动终端在辐照环境中运行不同的应用功能,辐照的同时对待测移动终端进行实时监测,观察并统计待测移动终端在运行不同的应用功能时的错误情况,根据错误情况区分不同的软故障类型。
[0033] 本发明提供的移动终端软故障测试方法通过采用人工中子源对待测移动终端进行辐照试验,来实现人工激发待测移动终端软故障的目的。在严苛的应力条件下,激发待测移动终端中可能存在的软故障类型,明确故障形式,有助于产品研发人员可以根据软故障类型进行针对性的优化设计。
[0034] 在其中一个实施例中,主要针对智能手机进行软故障测试,待测移动终端包括智能手机。通常,新研制的智能手机需要经过大量的长时间的调试和试用,才能找出其潜在的软故障并加以改进。本发明利用中子源对智能手机进行快速辐照,可以在短时间内激发智能手机中潜在的软故障类型,方便产品研发人员对潜在软故障进行针对性的容错设计。
[0035] 在其中一个实施例中,利用散裂中子源产生中子束流,即选用散裂中子源制造中子辐照环境。当一个中等能量的质子打到重核(钨、汞等元素)之后会导致重核的不稳定而“蒸发”出20‑30个中子,这样重核“裂开”并向各个方向“发散”出相当多的中子,大大提高了中子的产生效率,按这种原理工作的装置称为散裂中子源。散裂中子源提供的中子束流的主要特征包括:a)能谱宽,且覆盖高能中子,这样能够保证提供的中子辐照环境与真实环境6 2
中大气中子分布的相似性高;b)注量率高,散裂中子源的注量率通常在1*10个/cm /s以上,保证能够在短时间内快速暴露待测移动终端的故障模式。注量率指的是在每秒累积的中子
2
数量,单位通常为个/cm/s。散裂源在产生中子束流通常可以对注量率进行调节,因此在实际试验中可以基于试验要求选择合适的注量率。
[0036] 在其中一个实施例中,中子束流的束斑面积覆盖整个待测移动终端。中子束流的束斑面积是由散裂源调节决定的。因此可以在进行软故障测试之前,提前调节选定辐照面积可以覆盖待测移动终端的中子束流条件。保证在对待测移动终端进行辐照时,中子束流的束斑面积可以覆盖整个待测移动终端。
[0037] 图2为本发明其中一实施例的控制待测移动终端运行不同的应用功能的方法流程图,在其中一个实施例中,所述控制所述待测移动终端运行不同的应用功能,包括如下步骤S310至S320。
[0038] S310:根据占用所述待测移动终端的硬件资源的情况,对所述应用功能进行分类。
[0039] S320:根据分类结果利用所述待测移动终端中自带的测试程序,使得所述待测移动终端运行不同的应用功能。
[0040] 待测移动终端在使用时可能包括多种不同的应用功能。例如,当待测移动终端为智能手机时,智能手机包括拍照、通话、播放音乐等应用功能。不同的应用功能所占用的硬件资源不同,例如在拍照时可能会占用手机中的摄像头、存储器等硬件资源。根据各应用功能占用待测移动终端的硬件资源的情况对应用功能进行分类,例如可以将所有运行时需要占用到存储器的应用功能分为一类。
[0041] 根据分类结果对待测移动终端进行分类试验,令待测移动终端运行其自带的程序,使得该待测移动终端运行不同的应用功能。例如,控制智能手机启动其自带的相机程序,令该待测移动终端运行拍照功能,使其存储器处于运行状态下,对智能手机进行辐照试验。待测移动终端在运行某一应用功能的状态下,将其放置在中子辐照环境中进行辐照,同时观察统计待测移动终端此时出现的错误模式。错误模式可以是通话过程中的断线、音乐播放时的码流异常、拍照时的图像错误等。例如,观察手机在运行拍照功能情况下接收辐照时,观察手机是否出现了图像错误、闪退、黑屏等出错情况,对各种错误情况进行统计。根据待测移动终端占用所述待测移动终端的硬件资源的情况以及出现的各种错误情况,可以对应地分析判断待测移动终端中潜在的软故障类型。
[0042] 在其中一个实施例中,也可以只针对待测移动终端的某一特定功能的出错情况进行测试。准备待测移动终端,并使其处于特定的程序运行或测试模式之下,放置于中子辐照环境中进行辐照。辐照的同时对待测移动终端进行实时测量,观察并统计待测移动终端在特定运行模式下的错误情况,根据待测移动终端在特定运行模式下的出错情况,对应地判断待测移动终端中可能存在的软故障问题。
[0043] 图3为本发明另一实施例的控制待测移动终端运行不同的应用功能的方法流程图,在其中一个实施例中,所述控制所述待测移动终端运行不同的应用功能,包括如下步骤S330至S350。
[0044] S330:根据占用所述待测移动终端的硬件资源的情况,对所述应用功能进行分类。
[0045] S340:开发占用所述待测移动终端各类硬件资源的预设测试程序。
[0046] S350:根据分类结果利用所述预设测试程序,使得所述待测移动终端运行不同的应用功能。
[0047] 同样地,待测移动终端在使用时可能包括多种不同的应用功能。例如,当待测移动终端为智能手机时,智能手机包括拍照、通话、播放音乐等应用功能。不同的应用功能所占用的硬件资源不同,例如在拍照时可能会占用手机中的摄像头、存储器等硬件资源。根据各应用功能占用待测移动终端的硬件资源的情况对应用功能进行分类,例如可以将所有运行时需要占用到存储器的应用功能分为一类。
[0048] 针对待测移动终端中各类硬件资源,开发可以占用各类硬件资源的预设测试程序。即开发专的测试程序,使得该待测移动终端在运行该预设测试程序时,可以令该待测移动终端的硬件资源处于最大化运行状态之下。例如,智能手机中可能包括存储器、处理器或者电源芯片等硬件资源,不同的硬件资源可以完成相应的引用功能。可以针对存储器开发一种专用的测试程序,在运行该测试程序时可以令该待测移动终端运行某一特定的应用功能,并且保证存储器处于最大化运行状态之下。
[0049] 根据分类结果对待测移动终端进行分类试验,令待测移动终端运行其不同的预设测试程序,使得该待测移动终端运行不同的应用功能。待测移动终端运行某一预设测试程序时,将其放置在中子辐照环境中进行辐照,同时观察统计待测移动终端此时出现的错误模式,并对错误情况进行统计。根据待测移动终端占用所述待测移动终端的硬件资源的情况以及出现的各种错误情况,可以对应地分析判断待测移动终端中潜在的软故障类型。
[0050] 应该理解的是,虽然图1‑图3的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图1‑图3中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段,这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
[0051] 在其中一个实施例中,根据所述错误情况区分不同的软故障类型之后,移动终端软故障测试方法还包括基于不同的所述软故障类型分析所述待测移动终端中出错的数据流,并分析不同的所述软故障类型对应的所述待测移动终端中的底层问题。软故障包括单粒子翻转、单粒子瞬态脉冲、多位翻转等不会对器件造成硬损伤的效应。不同软故障类型所对应的底层问题不同,例如单粒子翻转时由于单粒子辐射引起电路的逻辑状态发生变化,即逻辑“1”变成逻辑“0”,或逻辑“0”变成逻辑“1”,造成了电路逻辑功能混乱。因此,在获取了待测移动终端中潜在的软故障类型后,可以根据软故障类型判断设备中哪里的数据流可能出错了,并对应了该待测移动终端中存在哪些底层问题。基于此,产品研发人员可以作出针对性的产品容错设计。
[0052] 本发明还提供一种移动终端软故障测试系统,图4为本发明其中一实施例的移动终端软故障测试系统的结构框图。在其中一个实施例中,所述移动终端软故障测试系统包括辐照装置100、控制装置200和数据采集装置300。辐照装置100,用于产生中子束流对处于测试模式之下的待测移动终端进行辐照测试。控制装置200,用于使得待测移动终端处于测试模式之下,并控制所述待测移动终端运行不同的应用功能。数据采集装置300,与所述控制装置200相连接,用于对所述待测移动终端进行监测,观察并统计所述待测移动终端在运行不同的应用功能时的错误情况。所述控制装置200还用于根据所述错误情况区分不同的软故障类型。
[0053] 提供需要进行软故障测试的移动终端,将控制装置200、数据采集装置300与待测移动终端10相连接,将待测移动终端10调节至处于测试模式之下。利用辐照装置100产生中子束流创造中子辐照环境,并将处于测试模式的待测移动终端10放置于中子辐照环境中,接收中子束流的辐照。控制装置200控制待测移动终端10运行不同的应用功能,同时,数据采集装置300对待测移动终端10的输出数据进行监测,观察并统计待测移动终端10在运行不同的应用功能时的错误情况。控制装置200根据数据采集装置300统计错误情况区分待测移动终端终可能存在的各种软故障类型。
[0054] 本发明提供的移动终端软故障测试装置通过使用人工提供的高通量的中子源对移动终端进行辐照,在严苛的应力条件下,可以在短时间内激发移动终端的潜在故障类型,从而可以对潜在故障类型进行针对性的容错改进。通过了解移动终端中存在故障形式,可以向产品研发人员提供有效数据支撑,帮助产品研发人员根据软故障类型对移动终端进行针对性的优化设计。
[0055] 在其中一个实施例中,辐照装置100为散裂中子源,控制装置200为主控计算机,待测移动终端10为智能手机。散裂中子源可以提供具有宽能谱的中子束流,保证与真实环境大气中子的相似性。主控计算机可以控制智能手机运行特定的程序,在线观察其错误情况,并对智能手机输出的数据进行记录。主控计算机还可以在完成对智能手机的辐照试验后,对记录的数据进行离线分析。
[0056] 在其中一个实施例中,移动终端软故障测试系统还包括通信模块。通信模块分别与控制装置200和待测移动终端10相连接,用于实现所述控制装置和所述待测移动终端之间的数据传输。在本实施例中,所述通信模块为USB数据线,在待测移动终端10和控制装置200上均设置有USB接口,利用USB数据线连接控制装置200和待测移动终端10。控制装置200通过USB数据线控制待测移动终端10运行特定的程序,在线观察其错误情况。待测移动终端
10通过USB数据线将输出的数据传输至控制装置200,控制装置200对数据进行实时记录。
[0057] 在本说明书的描述中,参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。
[0058] 以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
[0059] 以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
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