一种有机电致发光器件的应力检测方法
| 专利类型 | 发明授权 | 法律事件 | 公开; 实质审查; 授权; |
| 专利有效性 | 有效专利 | 当前状态 | 授权 |
| 申请号 | CN202411074660.4 | 申请日 | 2024-08-07 |
| 公开(公告)号 | CN118583347B | 公开(公告)日 | 2024-10-15 |
| 申请人 | 国鲸科技(广东横琴粤澳深度合作区)有限公司; | 申请人类型 | 企业 |
| 发明人 | 李成明; 崔草香; 石超; 杨少延; 刘祥林; 朱瑞平; 郭柏君; 陈兆显; 李晓东; | 第一发明人 | 李成明 |
| 权利人 | 国鲸科技(广东横琴粤澳深度合作区)有限公司 | 权利人类型 | 企业 |
| 当前权利人 | 国鲸科技(广东横琴粤澳深度合作区)有限公司 | 当前权利人类型 | 企业 |
| 省份 | 当前专利权人所在省份：广东省 | 城市 | 当前专利权人所在城市：广东省珠海市 |
| 具体地址 | 当前专利权人所在详细地址：广东省珠海市横琴新区环岛北路2515号2单元907办公 | 邮编 | 当前专利权人邮编：519000 |
| 主IPC国际分类 | G06F17/00 | 所有IPC国际分类 | G06F17/00 ; G01L5/00 ; G06T7/64 ; G06T7/13 |
| 专利引用数量 | 3 | 专利被引用数量 | 0 |
| 专利权利要求数量 | 5 | 专利文献类型 | B |
| 专利代理机构 | 北京睿博行远知识产权代理有限公司 | 专利代理人 | 赵志勇; |
| 摘要 | 本 发明 提供一种有机电致发光器件的应 力 检测方法，属于控制系统技术领域，包括：步骤1：在有机电致发光器件表面布置若干个检测点，基于预设检测装置初步检测并记录各检测点的 应力 分布 数据；步骤2：基于各点的应力分布数据获取初步的应力点分布图；步骤3：基于初步的应力点分布图生成二维应力图像；步骤4：对生成的二维应力图像进行轮廓提取，并对二维应力图像轮廓进行 曲率 分析，基于分析结果确定应力集中区域；步骤5：对应力集中区域的检测点进行筛选，获取若干个有效应力点，进而基于有效应力点数据生成应力检测结果。提高了有机电致发光器件的应力检测的 精度 和效率。 | ||
| 权利要求 | 1.一种有机电致发光器件的应力检测方法，其特征在于，包括： |
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| 说明书全文 | 一种有机电致发光器件的应力检测方法技术领域背景技术[0003] 常用的技术是利用反射或透射光学显微镜检测器件表面的应力变化或者利用电极和传感器来测量器件表面的电学性质变化，然而，这些现有技术在应对有机电致发光器件的复杂应力分布时，存在操作复杂且检测精度不高的问题。 [0004] 因此，本发明提供一种有机电致发光器件的应力检测方法。 发明内容[0005] 本发明提供一种有机电致发光器件的应力检测方法，用以通过在有机电致发光器件表面布置多个检测点，并利用曲率分析等方法精确确定应力集中区域，进而提高了对有机电致发光器件应力集中区域的精确检测能力，提高了检测的效率，提高检测精度的同时，保持器件操作的简便性。 [0006] 本发明提供一种有机电致发光器件的应力检测方法，包括： [0007] 步骤1：在有机电致发光器件表面布置若干个检测点，基于预设检测装置初步检测并记录各检测点的应力分布数据； [0008] 步骤2：基于各点的应力分布数据获取初步的应力点分布图； [0009] 步骤3：基于初步的应力点分布图生成二维应力图像； [0010] 步骤4：对生成的二维应力图像进行轮廓提取，并对二维应力图像轮廓进行曲率分析，基于分析结果确定应力集中区域； [0011] 步骤5：对应力集中区域的检测点进行筛选，获取若干个有效应力点，进而基于有效应力点数据生成应力检测结果。 [0012] 本发明提供一种有机电致发光器件的应力检测方法，在有机电致发光器件表面布置若干个检测点，包括： [0013] 对有机电致发光器件表面进行几何形状分析，确定有机电致发光器件表面的几何形状信息； [0014] 基于有机电致发光器件表面的几何形状信息确定有机电致发光器件表面的参数空间； [0015] 基于有机电致发光器件表面的参数空间划分网格，获取有机电致发光器件表面网格； [0016] 在有机电致发光器件表面网格的所有节点布置检测点。 [0017] 本发明提供一种有机电致发光器件的应力检测方法，基于有机电致发光器件表面的参数空间划分网格，包括： [0018] 对有机电致发光器件表面的参数空间基于预设的划分方法进行初始划分，生成初始网格，将初始网格映射到有机电致发光器件表面生成初始点阵； [0019] 对初始点阵上各点几何特性进行分析，确定初始点阵上各点的几何属性值； [0021] 基于预设的误差标准确定二维曲面各区域的综合误差； [0022] 根据二维曲面各区域的综合误差对初始网格进行调整，进而确定有机电致发光器件表面网格。 [0023] 本发明提供一种有机电致发光器件的应力检测方法，对初始点阵上各点几何特性进行分析，确定初始点阵上各点的几何属性值，包括： [0024] 对初始点阵上各点几何特性进行分析,确定初始点阵上每个点对应的若干个几何属性向量； [0025] 基于每个点的几何属性向量确定每个点的几何属性值： [0026] ；其中， 为点i处的几何属性值， 为点i处的法向量， 是点i处的法向量 的模长， 为点i处的法向量的模长对应的权重系数， 为点i处的曲率变化系数， 为点i处的曲率变化系数的权重系数， 为点i的高度， 为点i的第j个邻接点的高度， 为点i处的高度差的权重系数， 为点i处的法向量之间的平均角度差， 为点i处的方向变化率的权重系数， 为点i的位置向量， 为点i的第j个邻接点的位置向量， 为点i的第j+1个邻接点的位置向量， 为点i处的法向量对应的权重系数， 是点i的邻接点的数量， 为点i与点i的所有邻接点之间的距离的平均值，为距离的平均值对应的预设调整系数， 为点i的第j个邻接点的法向量， 为点i的第j个邻接点的法向量的模长， 为点i和点i的第j个邻接点之间的曲率变化率， 为点i和点i的所有邻接点之间的曲率变化率的平均值， 和 分别为点i处的第一主曲率、第二主曲率。 [0027] 本发明提供一种有机电致发光器件的应力检测方法，基于预设的误差标准确定二维曲面各区域的综合误差，包括： [0028] 基于预设的误差标准获取二维曲面的拟合算法，并对二维曲面各区域进行拟合获取每个区域的每个点的高度拟合值； [0029] 基于各区域的所有点的高度拟合值确定各区域的综合误差： [0030] ；其中， 为第m个区域的综合误差， 为第m个区域内的数据点个数， 为第m个区域内第z个数据点的权重， 为第m个区域内第z个数据点的坐标， 为第m个区域内第z个 数据点的预设误差空间分布函数， 为第m个区域内的中心数据点的坐标， 为第m个区域内第z个数据点的曲率， 为第m个区域内第z个数据点的高度拟合值， 为第m个区域内第z个数据点的高度真实值，为控制距离因素的影响的预设参数，为控制曲率因素的影响的预设参数，为控制高度变化因素的影响的预设参数。 [0031] 本发明提供一种有机电致发光器件的应力检测方法，对生成的二维应力图像进行轮廓提取，并对二维应力图像轮廓进行曲率分析，基于分析结果确定应力集中区域，包括： [0032] 对二维应力图像进行预处理，基于预设边缘检测算法检测二维应力图像中的边缘； [0033] 基于边缘检测得到的结果以及预设的图像处理函数进行轮廓查找，获取二维应力图像轮廓； [0034] 对二维应力图像轮廓进行曲率分析，确定二维应力图像轮廓上每一个轮廓点的曲率得分： [0035] ；其中， 为第u个轮廓点的曲率得分， 为所有轮廓点曲率的平均值， 为第u‑1、u以及u+1个轮廓点三点围成的三角区域面积， 为第u‑1个轮廓点的坐标， 为第u个轮廓点的坐标，为第u+1个轮廓点的坐标， 为第u个轮廓点的第一曲率， 为第u个轮廓点的第二曲率，为通过拟合第u个轮廓点和第u个轮廓点的若干个邻接点得到的圆的半径； 为第u‑1个轮廓点和第u个轮廓点之间的欧氏距离， 为第u个轮廓点和第u+1个轮廓点之间的欧氏距离， 为第u‑1个轮廓点和第u+1个轮廓点之间的欧氏距离； [0036] 将二维应力图像轮廓上每一个轮廓点的曲率得分与预设曲率得分阈值进行比较，将大于预设曲率得分阈值的轮廓点确定为有效轮廓点； [0037] 连接所有的有效轮廓点获取若干个闭合区域，进而将若干个闭合区域确定为有效应力区域，并确定每个有效应力区域的面积； [0038] 基于预设区域面积阈值对每个有效应力区域进行筛选，当有效应力区域的面积大于预设区域面积阈值时则确定对应的有效应力区域为应力集中区域。 [0039] 本发明提供一种有机电致发光器件的应力检测方法，对确定的应力集中区域的检测点进行筛选，获取若干个有效应力点，包括： [0040] 基于预设算法确定每个应力集中区域的检测点的应力系数； [0041] 将每个应力集中区域的检测点的应力系数与预设应力系数阈值进行比较，当应力系数大于预设应力系数阈值则将检测点确定为有效应力点。 [0042] 本发明提供一种有机电致发光器件的应力检测方法，应力检测结果，包括：应力数值报告、应力分布图以及应力性能关联分析结果。 [0043] 与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：本发明提供的一种有机电致发光器件的应力检测方法，通过在有机电致发光器件表面布置多个检测点，并利用曲率分析等方法精确确定应力集中区域，进而提高了对有机电致发光器件应力集中区域的精确检测能力，提高了检测的效率，提高检测精度的同时，保持器件操作的简便性。附图说明 [0044] 为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。 [0045] 图1是本发明实施例提供的一种有机电致发光器件的应力检测方法的流程示意图。 具体实施方式[0046] 为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。 [0047] 实施例1 [0048] 如图1所示，本发明实施例提供的一种有机电致发光器件的应力检测方法，包括： [0049] 步骤1：在有机电致发光器件表面布置若干个检测点，基于预设检测装置初步检测并记录各检测点的应力分布数据； [0050] 步骤2：基于各点的应力分布数据获取初步的应力点分布图； [0051] 步骤3：基于初步的应力点分布图生成二维应力图像； [0052] 步骤4：对生成的二维应力图像进行轮廓提取，并对二维应力图像轮廓进行曲率分析，基于分析结果确定应力集中区域； [0053] 步骤5：对应力集中区域的检测点进行筛选，获取若干个有效应力点，进而基于有效应力点数据生成应力检测结果。 [0054] 该实施例中，预设检测装置是指事先设计和设置好的用于测量和记录数据的高精度的应变计或压电传感器，包括：高精度应变计、压电传感器、数据记录仪、专用的应力传感器阵列以及表面应力显微镜； [0055] 该实施例中，应力分布数据是指记录在有机电致发光器件表面各点处的应力强度或向量的数据，例如，测得的应力分布数据显示在器件表面某些区域存在较大的张应力，而其他区域则受到较小的压应力影响。 [0056] 该实施例中，应力点分布图是根据应力分布数据绘制的图表或图像，用于展示不同位置上应力强度或方向的分布情况，例如，应力点分布图显示有机电致发光器件表面各点处的应力大小和方向。 [0057] 该实施例中，二维应力图像是基于应力点分布图进一步处理而得到的二维图像，通常用于更清晰地显示应力分布的总体特征，是基于应力分析软件（如ANSYS、COMSOL）进行处理获取的，二维应力图像显示出器件表面上不同区域的应力强度等级，通过颜色编码或密度变化来表示不同的应力状态。 [0058] 该实施例中，轮廓提取是指从二维应力图像中提取出明显的边界或轮廓线； [0059] 该实施例中，曲率分析是对轮廓进行曲率分析可以确定曲率较大或变化明显的区域，这些区域可能表示应力集中的位置； [0060] 该实施例中，应力集中区域是指在器件表面或结构中，应力明显高于周围区域的局部区域，通过轮廓提取和曲率分析，可以确定出器件表面的应力集中区域，例如在某个角部或结构转折处。 [0061] 该实施例中，有效应力点指的是在应力分析中具有重要意义或特定关注的点，包括：关键位置、最大应力点以及决定性影响点，例如，在一个器件的角部或接合处应力集中明显，那么这些区域的测量点就可以被选为有效应力点。例如，角部的一个点A测得的应力为50 MPa，而平面上的一个点B的应力仅为10MPa，则点A就是一个有效应力点； [0062] 该实施例中，应力检测结果是基于有效应力点数据得出的应力数值报告、应力分布图以及应力性能关联分析结果，包括应力大小、应力方向、应力集中区域等信息，用于评估器件的性能、可靠性以及潜在的故障风险，例如，在检测一个有机电致发光器件后，得到如下应力检测结果：在器件表面某一角部的应力为60MPa，显示出显著的应力集中，在器件中央区域的应力较低，平均为15MPa，在边缘区域发现多个应力集中点，最大应力为45MPa，应力方向在某些区域指向特定方向，可能与器件的安装或使用方式有关。 [0063] 上述技术方案的有益效果是：通过在有机电致发光器件表面布置多个检测点，并利用曲率分析等方法精确确定应力集中区域，进而提高了对有机电致发光器件应力集中区域的精确检测能力，提高了检测的效率，提高检测精度的同时，保持器件操作的简便性。 [0064] 实施例2 [0065] 本发明实施例提供的一种有机电致发光器件的应力检测方法，在有机电致发光器件表面布置若干个检测点，包括： [0066] 对有机电致发光器件表面进行几何形状分析，确定有机电致发光器件表面的几何形状信息； [0067] 基于有机电致发光器件表面的几何形状信息确定有机电致发光器件表面的参数空间； [0068] 基于有机电致发光器件表面的参数空间划分网格，获取有机电致发光器件表面网格； [0069] 在有机电致发光器件表面网格的所有节点布置检测点。 [0070] 该实施例中，几何形状分析是指对有机电致发光器件表面的形状和结构进行详细的测量和计算，以确定其几何特性，基于三维扫描、显微镜成像、计算机辅助设计（CAD）软件进行分析，包括测量有机电致发光器件的表面曲率、凹凸不平程度、边缘形状等。例如，通过使用三维扫描仪，工程师可以生成器件表面的三维模型，并分析其表面的微小凸起和凹陷； [0071] 该实施例中，几何形状信息是通过几何形状分析获得的数据和信息，描述了有机电致发光器件表面的几何特征，包括曲率、角度、边界形状、表面面积、体积等参数，例如，一个有机电致发光器件的几何形状信息可以显示其表面包含若干微小的凸起，这些凸起可能影响应力分布。 [0072] 该实施例中，参数空间是指将有机电致发光器件的表面几何形状信息转换成一个数学模型或空间，包括多个维度，每个维度代表几何形状的某个特征或参数，例如，一个有机电致发光器件的表面是一个复杂的三维曲面，其参数空间可能包括表面的曲率、法线方向、各点的三维坐标等。在这个参数空间中，每个点对应于表面上的一个位置，并包含该位置的所有几何信息； [0073] 该实施例中，基于有机电致发光器件表面的几何形状信息确定有机电致发光器件表面的参数空间是使用适当的数学模型（如三维曲面方程、网格划分等）将几何形状信息转化为参数空间中的数据。 [0074] 上述技术方案的有益效果是：通过几何形状分析和参数空间建模，有效地将器件表面的复杂几何特征转化为数学描述，实现了对整个表面的全面覆盖和精确监测，通过网格化布置检测点，确保了对应力分布的全面掌握，为进一步的器件性能评估和优化提供了可靠的基础。 [0075] 实施例3 [0076] 本发明实施例提供的一种有机电致发光器件的应力检测方法，基于有机电致发光器件表面的参数空间划分网格，包括： [0077] 对有机电致发光器件表面的参数空间基于预设的划分方法进行初始划分，生成初始网格，将初始网格映射到有机电致发光器件表面生成初始点阵； [0078] 对初始点阵上各点几何特性进行分析，确定初始点阵上各点的几何属性值； [0079] 将初始点阵基于预设拟合算法拟合成二维曲面，并基于初始点阵上各点的几何属性值将二维曲面分为若干个区域； [0080] 基于预设的误差标准确定二维曲面各区域的综合误差； [0081] 根据二维曲面各区域的综合误差对初始网格进行调整，进而确定有机电致发光器件表面网格。 [0082] 该实施例中，对有机电致发光器件表面的参数空间基于预设的划分方法进行初始划分是将有机电致发光器件表面的参数空间根据特定的算法或规则进行第一次划分，定义了初始网格的分布和密度； [0083] 该实施例中，预设的划分方法是均匀划分方法，例如，使用均匀划分方法将其划分为10x10的网格； [0084] 该实施例中，初始网格是对参数空间进行首次划分后得到的网格，由若干网格单元组成，每个网格单元表示参数空间中的一个小区域，例如，10x10的网格划分得到100个小方格，每个方格代表参数空间的一部分； [0085] 该实施例中，初始网格映射到有机电致发光器件表面是将参数空间中的初始网格映射到实际的器件表面上，使得每个网格单元对应到表面上的一个位置，例如，将参数空间中的100个小方格分别映射到器件表面上的100个区域； [0086] 该实施例中，初始点阵是映射后的网格在器件表面上的表示，每个网格单元的顶点即为一个初始点，例如，在映射后的器件表面上，形成一个由100个顶点组成的初始点阵。 [0087] 该实施例中，对每个初始点进行几何特性分析，包括曲率、法向量等，获取每个点的详细几何信息，例如，对初始点阵中的每个点，计算其曲率值和法向量方向； [0088] 该实施例中，几何属性值是每个初始点的几何特性分析结果，包括曲率、法向量、相对高度等信息，例如，初始点A的几何属性值可能为：曲率0.02，法向量(0,0,1)，高度1.5mm。 [0089] 该实施例中，预设拟合算法是根据初始点阵上的几何属性值，使用特定算法将这些点拟合成一个光滑的二维曲面，例如，使用最小二乘法拟合算法，将初始点阵拟合成一个光滑的曲面方程； [0090] 该实施例中，基于初始点阵上各点的几何属性值将二维曲面分为若干个区域是根据初始点阵的几何属性值，将拟合后的二维曲面划分为多个区域，每个区域的几何特性相对一致，例如，根据曲率值，将拟合后的二维曲面划分为10个区域，每个区域的曲率变化在一个特定范围内。 [0091] 该实施例中，预设的误差标准是用于评估曲面拟合精度的标准，定义了允许的误差范围，例如，预设误差标准为每个区域内曲率误差不超过0.005； [0092] 该实施例中，综合误差是根据预设误差标准计算出的每个区域的实际误差值，用于评估拟合的准确性，例如，区域1的综合误差为0.003，区域2的综合误差为0.004。 [0093] 该实施例中，根据二维曲面各区域的综合误差对初始网格进行调整是基于各区域的综合误差，对初始网格进行细化或粗化，以提高拟合精度，例如，如果区域1的综合误差为0.003，低于预设误差标准，则保持不变；如果区域2的综合误差为0.004，接近预设标准，则对该区域进行网格细化，将其划分为更小的网格单元； [0094] 该实施例中，有机电致发光器件表面网格是通过调整初始网格后，最终得到的用于应力检测的器件表面网格，例如，经过调整后，器件表面最终形成的网格包含200个小方格，每个方格的几何特性更加一致，满足误差标准。 [0095] 上述技术方案的有益效果是：通过预设的划分方法对器件表面的参数空间进行初始划分，生成初始网格，并映射到器件表面形成初始点阵，对点阵上各点的几何特性进行分析，确定其几何属性值，并使用拟合算法将这些点拟合成二维曲面，根据几何属性值将曲面分为若干区域，依据预设误差标准计算各区域的综合误差，根据这些综合误差调整初始网格，最终确定精确的表面网格，提高了检测精度和可靠性，为器件的优化设计提供了有效支持。 [0096] 实施例4 [0097] 本发明实施例提供的一种有机电致发光器件的应力检测方法，对初始点阵上各点几何特性进行分析，确定初始点阵上各点的几何属性值，包括： [0098] 对初始点阵上各点几何特性进行分析,确定初始点阵上每个点对应的若干个几何属性向量； [0099] 基于每个点的几何属性向量确定每个点的几何属性值： [0100] ；其中， 为点i处的几何属性值， 为点i处的法向量， 是点i处的法向量 的模长， 为点i处的法向量的模长对应的权重系数， 为点i处的曲率变化系数， 为点i处的曲率变化系数的权重系数， 为点i的高度， 为点i的第j个邻接点的高度， 为点i处的高度差的权重系数， 为点i处的法向量之间的平均角度差， 为点i处的方向变化率的权重系数， 为点i的位置向量， 为点i的第j个邻接点的位置向量， 为点i的第j+1个邻接点的位置向量， 为点i处的法向量对应的权重系数， 是点i的邻接点的数量， 为点i与点i的所有邻接点之间的距离的平均值，为距离的平均值对应的预设调整系数， 为点i的第j个邻接点的法向量， 为点i的第j个邻接点的法向量的模长， 为点i和点i的第j个邻接点之间的曲率变化率， 为点i和点i的所有邻接点之间的曲率变化率的平均值， 和 分别为点i处的第一主曲率、第二主曲率。 [0101] 该实施例中，对初始点阵上各点几何特性进行分析，确定初始点阵上每个点对应的若干个几何属性向量是对初始点阵中的每个点进行几何特性分析，确定每个点的几何属性向量，如法向量、曲率变化、位置向量等，用于描述点的几何特性，并为后续计算几何属性值提供基础，例如：假设点A在初始点阵上，其几何属性向量包括法向量(0,0,1)、位置向量(1,1,0)、曲率变化向量(0.1,0.2)。 [0102] 该实施例中，几何属性值是基于每个点的几何属性向量计算得出的综合指标，用于描述该点的几何特性，例如，点A的几何属性值可能综合考虑了其法向量的模长、曲率变化系数、高度差等因素，最终计算得出一个几何属性值； [0103] 该实施例中， 是点i与第j个邻接点的高度差； [0104] 该实施例中，曲率变化系数是描述点i处的曲率变化程度。曲率变化系数反映了该点的曲率变化速率，是计算几何属性值的重要参数之一，例如，点A的曲率变化系数为0.1，表示该点处曲率变化较缓； [0105] 该实施例中，法向量之间的角度差是点与其邻接点之间的法向量的角度差，反映了点的法向量变化情况，例如，点A与其邻接点B之间的法向量角度差为10度； [0106] 该实施例中，距离的平均值对应的预设调整系数是用于调整点i与其所有邻接点之间距离的平均值的系数，反映了在计算几何属性值时对距离的考虑程度，例如，预设调整系数为0.5，则表示在计算几何属性值时，点与邻接点之间距离的平均值会乘以0.5进行调整； [0107] 该实施例中， 为第一主曲率，是在曲面上通过点i的曲面上某一方向上的最大曲率，是沿着曲面上某个方向上曲率变化最快的曲率； [0108] 该实施例中， 为第二主曲率，是在曲面上通过点i的曲面上另一方向上的最小曲率，是沿着曲面上另一个方向上曲率变化较慢的曲率。 [0109] 上述技术方案的有益效果是：通过对器件表面初始点阵的几何特性进行深入分析和多维度评估，确定每个点的几何属性值。这种方法利用法向量、曲率变化、高度差等多个几何属性向量，并结合权重系数和预设调整，有效地提升了应力检测的精度和可靠性。通过综合考虑各点的主曲率及其与邻接点的关系，实现了对器件表面网格的精确调整，为优化设计和性能评估提供了重要支持。 [0110] 实施例5 [0111] 本发明实施例提供的一种有机电致发光器件的应力检测方法，基于预设的误差标准确定二维曲面各区域的综合误差，包括： [0112] 基于预设的误差标准获取二维曲面的拟合算法，并对二维曲面各区域进行拟合获取每个区域的每个点的高度拟合值； [0113] 基于各区域的所有点的高度拟合值确定各区域的综合误差： [0114] ；其中， 为第m个区域的综合误差， 为第m个区域内的数据点个数， 为第m个区域内第z个数据点的权重， 为第m个区域内第z个数据点的坐标， 为第m个区域内第z个 数据点的预设误差空间分布函数， 为第m个区域内的中心数据点的坐标， 为第m个区域内第z个数据点的曲率， 为第m个区域内第z个数据点的高度拟合值， 为第m个区域内第z个数据点的高度真实值，为控制距离因素的影响的预设参数，为控制曲率因素的影响的预设参数，为控制高度变化因素的影响的预设参数。 [0115] 该实施例中，二维曲面的拟合算法是用于根据预设的误差标准对二维曲面进行拟合，以获得每个区域内每个点的高度拟合值，基于数学模型，可以是多项式拟合、样条曲线拟合或其他复杂的数学函数拟合，例如，采用二次多项式拟合算法对某二维曲面进行拟合，以获取每个区域内数据点的高度拟合值； [0116] 该实施例中，高度拟合值是指二维曲面上每个数据点经过拟合算法计算得出的高度值，用于与实际测量值进行比较，评估拟合的精度和误差，例如，某区域内数据点经过二次多项式拟合算法得到的高度拟合值为0.5mm。 [0117] 该实施例中，预设误差空间分布函数描述了误差在空间中分布的函数或模型，用于在误差评估中考虑不同区域和不同数据点的误差分布特性； [0118] 该实施例中，控制距离因素的影响的预设参数是预设参数，用于控制在误差计算中距离因素对误差的影响程度，通常通过权重或系数来调节，例如，设置距离因素影响的预设参数为0.1，表示在误差计算中距离越远的数据点对综合误差的贡献较小； [0119] 该实施例中，控制曲率因素的影响的预设参数是预设参数，用于调节曲率变化对误差的影响程度，根据曲面的弯曲程度和曲率变化来调整误差的计算权重，例如，设定曲率因素影响的预设参数为0.2，表示在误差计算中考虑曲率变化对高度拟合误差的影响； [0120] 该实施例中，控制高度变化因素的影响的预设参数是预设参数，用于调节高度变化对误差的影响程度，通常根据区域内高度变化的幅度来调整误差的计算权，例如，设置高度变化因素影响的预设参数为0.15，用于在误差计算中考虑不同区域内高度变化对综合误差的贡献。 [0121] 上述技术方案的有益效果是：通过基于预设的误差标准，利用高效的二维曲面拟合算法对各区域进行精确拟合，获取每个数据点的高度拟合值，并据此计算各区域的综合误差，结合了预设误差空间分布函数和多参数控制，有效评估器件表面的误差分布特性，通过精细分析和综合误差计算，提升了器件应力检测的精度和稳定性。 [0122] 实施例6 [0123] 本发明实施例提供的一种有机电致发光器件的应力检测方法，对生成的二维应力图像进行轮廓提取，并对二维应力图像轮廓进行曲率分析，基于分析结果确定应力集中区域，包括： [0124] 对二维应力图像进行预处理，基于预设边缘检测算法检测二维应力图像中的边缘； [0125] 基于边缘检测得到的结果以及预设的图像处理函数进行轮廓查找，获取二维应力图像轮廓； [0126] 对二维应力图像轮廓进行曲率分析，确定二维应力图像轮廓上每一个轮廓点的曲率得分： [0127] ；其中， 为第u个轮廓点的曲率得分， 为所有轮廓点曲率的平均值， 为第u‑1、u以及u+1个轮廓点三点围成的三角区域面积， 为第u‑1个轮廓点的坐标， 为第u个轮廓点的坐标，为第u+1个轮廓点的坐标， 为第u个轮廓点的第一曲率， 为第u个轮廓点的第二曲率， 为通过拟合第u个轮廓点和第u个轮廓点的若干个邻接点得到的圆的半径； 为第u‑1个轮廓点和第u个轮廓点之间的欧氏距离， 为第u个轮廓 点和第u+1个轮廓点之间的欧氏距离， 为第u‑1个轮廓点和第u+1个轮廓点之间的欧氏距离； [0128] 将二维应力图像轮廓上每一个轮廓点的曲率得分与预设曲率得分阈值进行比较，将大于预设曲率得分阈值的轮廓点确定为有效轮廓点； [0129] 连接所有的有效轮廓点获取若干个闭合区域，进而将若干个闭合区域确定为有效应力区域，并确定每个有效应力区域的面积； [0130] 基于预设区域面积阈值对每个有效应力区域进行筛选，当有效应力区域的面积大于预设区域面积阈值时则确定对应的有效应力区域为应力集中区域。 [0131] 该实施例中，预处理是对二维应力图像进行初始处理，以便后续准确提取图像的边缘和特征，包括去噪、平滑、增强对比度等操作，目的是为了提高边缘检测的准确性和效率，例如，对于有机电致发光器件的二维应力图像，可以先进行高斯平滑和灰度变换，以减少噪声并增强边缘的对比度，为后续的边缘检测算法提供更清晰的输入图像； [0132] 该实施例中，基于预设边缘检测算法检测二维应力图像中的边缘是图像处理中的基本步骤，用于识别图像中明显变化的区域，通常通过检测像素强度的不连续性来实现，例如，使用Canny边缘检测算法对预处理后的有机电致发光器件的二维应力图像进行边缘检测，以获取图像中边缘的位置和形状信息； [0133] 该实施例中，预设的图像处理函数是用于在边缘检测后进一步处理图像以便于轮廓查找的函数或操作序列，包括二值化、形态学操作、边缘填充等，例如，设定一个图像处理函数，包括二值化和形态学闭运算，以便于从边缘检测结果中准确提取出二维应力图像的轮廓信息； [0134] 该实施例中，轮廓查找是指在处理后的图像中检测并提取所有连续的边缘轮廓，通常作为图像分析和特征提取的关键步骤，例如，利用OpenCV中的轮廓查找函数对预处理和边缘检测后的二维应力图像进行轮廓提取，得到图像中所有的边界曲线； [0135] 该实施例中，二维应力图像轮廓是指通过边缘检测和轮廓查找得到的图像中的连续边界线条，反映了应力分布的边界和形状，例如，从有机电致发光器件的应力图像中成功提取出了轮廓，每条轮廓表示了不同应力水平的分界线。 [0136] 该实施例中，曲率得分用于衡量二维应力图像轮廓上每一个轮廓点的曲率大小，以此来分析曲线的弯曲程度和形状变化，对于提取出的二维应力图像轮廓，计算每个轮廓点处的曲率得分。例如，使用曲率计算公式来评估每个轮廓点的曲率，进而识别出应力集中区域的可能位置； [0137] 该实施例中，第一曲率和第二曲率是基于两种方法计算得到的曲率，第一曲率是选择一个点和其前后各一个点，用三点法计算曲率，第二曲率是用拟合曲率圆的方法计算曲率。 [0138] 上述技术方案的有益效果是：通过对生成的二维应力图像进行预处理、边缘检测、轮廓提取和曲率分析，精确确定应力集中区域。首先，基于预设边缘检测算法识别图像中的边缘，并通过图像处理函数查找轮廓，对提取的轮廓进行曲率分析，计算每个轮廓点的曲率得分，将这些得分与预设阈值比较，筛选出有效轮廓点，并连接形成闭合区域，通过对这些闭合区域的面积进行筛选，确定应力集中区域。该方法精确、高效，能够有效识别应力集中区域，为器件的应力检测提供可靠依据。 [0139] 实施例7 [0140] 本发明实施例提供的一种有机电致发光器件的应力检测方法，对确定的应力集中区域的检测点进行筛选，获取若干个有效应力点，包括： [0141] 基于预设算法确定每个应力集中区域的检测点的应力系数； [0142] 将每个应力集中区域的检测点的应力系数与预设应力系数阈值进行比较，当应力系数大于预设应力系数阈值则将检测点确定为有效应力点。 [0143] 该实施例中，应力系数是基于等效应力、最大主应力、最大剪应力以及安全系数（根据最大主应力理论）得到的； [0144] 该实施例中，预设应力系数阈值是用于筛选应力检测点的一个预先设定的数值，反映了应力点的重要性或显著性程度。通过将检测点的应力系数与该阈值进行比较，可以筛选出具有较高应力的有效应力点。这种阈值通常根据具体应用场景和实验数据确定，以确保筛选结果的可靠性和准确性； [0145] 该实施例中，将每个应力集中区域的检测点的应力系数与预设应力系数阈值进行比较是将检测点的应力系数与预设阈值进行比较，例如，在一个应力集中区域中，有多个检测点，其应力系数分别为0.3、0.6、0.8。设定的应力系数阈值为0.5，因此应力系数为0.6和0.8的检测点被筛选为有效应力点，而应力系数为0.3的检测点被排除。 [0146] 上述技术方案的有益效果是：通过预设算法和应力系数阈值的设定，有效筛选出有机电致发光器件中关键的应力集中区域和高应力点，帮助提前发现潜在的器件应力问题，为器件的应力检测提供可靠依据。 [0147] 实施例8 [0148] 本发明实施例提供的一种有机电致发光器件的应力检测方法，应力检测结果，包括：应力数值报告、应力分布图以及应力性能关联分析结果。 [0149] 该实施例中，应力数值报告包含检测区域内各点的应力值的详细数据。报告格式可以是表格形式，列出每个检测点的坐标、对应的应力值以及其他相关参数； [0150] 该实施例中，应力分布图是一种二维图像，展示检测区域内应力的分布情况。不同应力值通过颜色或灰度等级表示，直观地反映出应力集中和分布的区域，通过颜色梯度表示应力大小。例如，蓝色表示低应力区域，红色表示高应力区域，中间的颜色表示中等应力区域； [0151] 该实施例中，应力性能关联分析结果展示应力分布与器件性能之间的关系。这部分内容通常包含统计分析、曲线拟合、相关性评估等，帮助理解应力对器件性能的影响，例如，应力值与器件亮度呈负相关，应力值越高，器件亮度越低。同时，应力值与器件失效率呈正相关，应力值越高，失效率越高。这表明高应力区域是器件失效的主要原因之一。 [0152] 上述技术方案的有益效果是：通过详尽的应力数值报告、直观的应力分布图和深入的应力性能关联分析结果，有效评估器件内部应力分布及其对性能的影响，不仅有助于精确定位应力集中区域和高应力点，还能揭示应力与器件性能之间的关系，从而为优化设计、提升器件稳定性和延长使用寿命提供科学依据。 [0153] 最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。 |
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