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面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法及电路

申请号 CN202210593542.9 申请日 2022-05-27 公开(公告)号 CN114924475B 公开(公告)日 2024-01-19
申请人 合肥中科君达视界技术股份有限公司; 发明人 周友权; 吕盼稂; 卢小银; 钱昊; 潘洋; 王亚奎;
摘要
权利要求

1.一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法,其特征在于,包括:
接收第一时统信号和第二时统信号,所述第二时统信号表征设备中始终存在的固有本地时统信号;
基于接收的第一时统信号分析第一时统信号的状态和类型并输出分析结果,所述第一时统信号的状态类型包括第一时统信号为空、第一时统信号不为空且为第一类第一时统信号、第一时统信号不为空且为第二类第一时统信号;
基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,同时将目标时统信号采用对应匹配的时统信号解析方法进行解析;
所述第一时统信号的优先级大于第二时统信号,所述基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,包括:在第一时统信号为空时确定第二时统信号为目标时统信号,在第一时统信号不为空时,确定第一时统信号为目标时统信号;
将解析后的目标时统信号作为授时信号传输到设备处理器;
所述基于接收的第一时统信号分析第一时统信号的状态和类型并输出分析结果,包括:基于接收的第一时统信号分别传输给两个电容,根据第一时统信号在两个电容中的通过情况得到表征第一时统信号的状态和类型的两个检测电平信号作为分析结果输出,两个所述电容的通过频率范围不同且通过频率范围分别对应第一类第一时统信号的频率和第二类第一时统信号的频率,分析第一时统信号的状态和类型并输出分析结果采用第一时统信号类型检测电路实现,所述第一时统信号类型检测电路模块包括:第一时统信号输入接口,第一时统信号输入接口的一端接地,另一端分别连接了第一检测电路和第二检测电路,所述第一检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第一电容C1,所述第一电容C1的另一端分别连接第一二极管D1的负极和第二二极管D2的正极,所述一二极管D1的正极分别连接第二电容C2的一端、第一电阻R1的一端和第一PMOS管的栅极,所述第二二极管D2的负极、第二电容C2的另一端、第一电阻R1的另一端、第一PMOS管的漏极接地,所述第一PMOS管的源极输出第一检测电平信号同时第一PMOS管的源极通过第三电阻R3连接到电源;所述第二检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第四电容C4,所述第四电容C4的另一端分别连接第三二极管D3的正极和第四二极管D4的负极,所述第三二极管D3的负极分别连接第三电容C3的一端、第二电阻R2的一端和第二NMOS管的栅极,所述第四二极管D4的正极、第三电容C3的另一端、第二电阻R2的另一端、第二NMOS管的源极接地,所述第二NMOS管的漏极输出第二检测电平信号同时第二NMOS管的漏极通过第四电阻R4连接到电源。
2.根据权利要求1所述的一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法,其特征在于,所述第一类第一时统信号为直流B码,第二类第一时统信号为交流B码。
3.根据权利要求1所述的一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法,其特征在于,所述基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,同时将目标时统信号采用对应匹配的时统信号解析方法进行解析,包括:
基于两个检测电平信号中的一个检测电平信号的高低在第一时统信号解析电路和第二时统信号解析电路中选择一个信号处理电路对第一时统信号进行解析;
基于两个检测电平信号中的另一个检测电平信号的高低在第三时统信号解析电路和第四时统信号解析电路中选择一个信号处理电路对第二时统信号进行解析,所述第四时统信号解析电路为开路。
4.根据权利要求3所述的一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法,其特征在于,所述基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,同时将目标时统信号采用对应匹配的时统信号处理方法进行处理,采用时统信号切换电路模块实现,所述时统信号切换电路模块包括:第一光电继电器和第二光电继电器,所述第一光电继电器的输入引脚接收第一检测电平信号,COM引脚接收第一时统信号,NC引脚连接第一时统信号解析电路,NO引脚连接第二时统信号解析电路;
所述第二光电继电器的输入引脚接收第二检测电平信号,COM引脚接收第二时统信号,NC引脚连接第四时统信号解析电路,NO引脚连接第三时统信号解析电路;
所述第一时统信号解析电路、第二时统信号解析电路、第三时统信号解析电路的输出端连接设备处理器。
5.一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取电路,其特征在于,包括:
时统信号源第一接口电路,用于接收第一时统信号并传输到第一时统信号类型检测电路模块;
时统信号源第二接口电路,用于接收第二时统信号,所述第二时统信号表征设备中始终存在的固有本地时统信号;
第一时统信号类型检测电路模块,与所述时统信号源第一接口电路的输出端连接,用于基于输入的第一时统信号输出用于表征第一时统信号的状态和类型的检测电平信号;
时统信号切换电路模块,与所述时统信号源第一接口电路、时统信号源第二接口电路、第一时统信号类型检测电路模块的输出端连接,用于基于第一时统信号类型检测电路模块输出的检测电平信号在自身接收的至少一路时统信号中确定唯一一路时统信号作为目标时统信号输出并连接至对应的时统信号解析电路;所述第一时统信号的优先级大于第二时统信号,目标时统信号的确定方法包括:在第一时统信号为空时确定第二时统信号为目标时统信号,在第一时统信号不为空时,确定第一时统信号为目标时统信号;
所述第一时统信号类型检测电路模块,包括:第一时统信号输入接口,第一时统信号输入接口的一端接地,另一端分别连接了第一检测电路和第二检测电路;所述第一检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第一电容C1,所述第一电容C1的另一端分别连接第一二极管D1的负极和第二二极管D2的正极,所述一二极管D1的正极分别连接第二电容C2的一端、第一电阻R1的一端和第一PMOS管的栅极,所述第二二极管D2的负极、第二电容C2的另一端、第一电阻R1的另一端、第一PMOS管的漏极接地,所述第一PMOS管的源极输出第一检测电平信号同时第一PMOS管的源极通过第三电阻R3连接到电源;所述第二检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第四电容C4,所述第四电容C4的另一端分别连接第三二极管D3的正极和第四二极管D4的负极,所述第三二极管D3的负极分别连接第三电容C3的一端、第二电阻R2的一端和第二NMOS管的栅极,所述第四二极管D4的正极、第三电容C3的另一端、第二电阻R2的另一端、第二NMOS管的源极接地,所述第二NMOS管的漏极输出第二检测电平信号同时第二NMOS管的漏极通过第四电阻R4连接到电源。
6.根据权利要求5所述的一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取电路,其特征在于,所述时统信号切换电路模块,包括:
第一光电继电器和第二光电继电器,所述第一光电继电器的输入引脚接收第一检测电平信号,COM引脚接收第一时统信号,NC引脚连接第一时统信号解析电路,NO引脚连接第二时统信号解析电路;
所述第二光电继电器的输入引脚接收第二检测电平信号,COM引脚接收第二时统信号,NC引脚连接第四时统信号解析电路,NO引脚连接第三时统信号解析电路;
所述第一时统信号解析电路、第二时统信号解析电路、第三时统信号解析电路的输出端连接设备处理器。

说明书全文

面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法及电路

技术领域

[0001] 本发明涉及授时时统技术领域,具体涉及一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法及电路。

背景技术

[0002] 在许多试验任务的测控过程中,需要将各试验场区的测控设备统一在同一时间标准下,以便于对设备的性能及测试数据更好的进行分析与验证,从而提出“时统”概念。时统为设备提供守时功能,获取更好的测试数据。
[0003] 当设备外部B码信号丢失时,设备丢失守时能,时间同步精度将会迅速变差,故设计一种在外部B码信号丢失时,需设计一种可以迅速切换至本地时统提供设备的守时能力。
[0004] 直流IRIG‑B码能够高精度传递时间信息,为了满足不同场合的需要或通过网络传输更远的距离,经常会在直流B码和交流B码间互相使用。由于交流B码是由直流B码经过一定的调制得到,且一般使用交流B码都是应用在传输距离较长场景,故对交流B码在系统内需要进行一定的滤波和ADC采样后才能输出给CPU进行解调。在系统内部接口分为交流B码的滤波采样电路接口和电平转化电路接口两种,在更换B码输入类型时,需对设备进行拆机后更换接口,该种操作较为麻烦且会出现人工带来的插错接口的问题。

发明内容

[0005] 针对上述现有技术存在的问题,本发明提供了一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法及电路,实现基于对接收的第一时统信号的不同分析结果确定对应匹配的时统信号解析电路进行解析并传输至设备处理器为设备提供授时信号。
[0006] 第一方面,本发明提供了一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法,包括:
[0007] 接收第一时统信号和第二时统信号,所述第二时统信号表征设备中始终存在的固有本地时统信号;
[0008] 基于接收的第一时统信号分析第一时统信号的状态和类型并输出分析结果,所述第一时统信号的状态类型包括第一时统信号为空、第一时统信号不为空且为第一类第一时统信号、第一时统信号不为空且为第二类第一时统信号;
[0009] 基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,同时将目标时统信号采用对应匹配的时统信号解析方法进行解析;
[0010] 将解析后的目标时统信号作为授时信号传输到设备处理器。
[0011] 在一些实施方式中,所述第一类第一时统信号为直流B码,第二类第一时统信号为交流B码。
[0012] 在一些实施方式中,所述基于接收的第一时统信号分析第一时统信号的状态和类型并输出分析结果,包括:
[0013] 基于接收的第一时统信号分别传输给两个电容,根据第一时统信号在两个电容中的通过情况得到表征第一时统信号的状态和类型的两个检测电平信号作为分析结果输出,两个所述电容的通过频率范围不同且通过频率范围分别对应第一类第一时统信号的频率和第二类第一时统信号的频率。
[0014] 在一些实施方式中,所述基于接收的第一时统信号分析第一时统信号的状态和类型并输出分析结果,采用第一时统信号类型检测电路模实现,所述第一时统信号类型检测电路模块包括:
[0015] 第一时统信号输入接口,第一时统信号输入接口的一端接地,另一端分别连接了第一检测电路和第二检测电路,所述第一检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第一电容C1,所述第一电容C1的另一端分别连接第一二极管D1的负极和第二二极管D2的正极,所述一二极管D1的正极分别连接第二电容C2的一端、第一电阻R1的一端和第一PMOS管的栅极,所述第二二极管D2的负极、第二电容C2的另一端、第一电阻R1的另一端、第一PMOS管的漏极接地,所述第一PMOS管的源极输出第一检测电平信号同时第一PMOS管的源极通过第三电阻R3连接到电源;
[0016] 所述第二检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第四电容C4,所述第四电容C4的另一端分别连接第三二极管D3的正极和第四二极管D4的负极,所述第三二极管D3的负极分别连接第三电容C3的一端、第二电阻R2的一端和第二NMOS管的栅极,所述第四二极管D4的正极、第三电容C3的另一端、第二电阻R2的另一端、第二NMOS管的源极接地,所述第二NMOS管的漏极输出第二检测电平信号同时第二NMOS管的漏极通过第四电阻R4连接到电源。
[0017] 在一些实施方式中,所述第一时统信号的优先级大于第二时统信号,[0018] 所述基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,包括:
[0019] 在第一时统信号为空时确定第二时统信号为目标时统信号,在第一时统信号不为空时,确定第一时统信号为目标时统信号。
[0020] 在一些实施方式中,所述基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,同时将目标时统信号采用对应匹配的时统信号解析方法进行解析,包括:
[0021] 基于两个检测电平信号中的一个检测电平信号的高低在第一时统信号解析电路和第二时统信号解析电路中选择一个信号处理电路对第一时统信号进行解析;
[0022] 基于两个检测电平信号中的另一个检测电平信号的高低在第三时统信号解析电路和第四时统信号解析电路中选择一个信号处理电路对第二时统信号进行解析,所述第四时统信号解析电路为开路。
[0023] 在一些实施方式中,所述基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,同时将目标时统信号采用对应匹配的时统信号处理方法进行处理,采用时统信号切换电路模块实现,所述时统信号切换电路模块包括:第一光电继电器和第二光电继电器,所述第一光电继电器的输入引脚接收第一检测电平信号,COM引脚接收第一时统信号,NC引脚连接第一时统信号解析电路,NO引脚连接第二时统信号解析电路;
[0024] 所述第二光电继电器的输入引脚接收第二检测电平信号,COM引脚接收第二时统信号,NC引脚连接第四时统信号解析电路,NO引脚连接第三时统信号解析电路;
[0025] 所述第一时统信号解析电路、第二时统信号解析电路、第三时统信号解析电路的输出端连接设备处理器。
[0026] 第二方面,提供了一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取电路,包括:
[0027] 时统信号源第一接口电路,用于接收第一时统信号并传输到第一时统信号类型检测电路模块;
[0028] 时统信号源第二接口电路,用于接收第二时统信号,所述第二时统信号表征设备中始终存在的固有本地时统信号;
[0029] 第一时统信号类型检测电路模块,与所述时统信号源第一接口电路的输出端连接,用于基于输入的第一时统信号输出用于表征第一时统信号的状态和类型的检测电平信号;
[0030] 时统信号切换电路模块,与所述时统信号源第一接口电路、时统信号源第二接口电路、第一时统信号类型检测电路模块的输出端连接,用于基于第一时统信号类型检测电路模块输出的检测电平信号在自身接收的至少一路时统信号中确定唯一一路时统信号作为目标时统信号输出并连接至对应的时统信号解析电路。
[0031] 在一些实施方式中,所述第一时统信号类型检测电路模块,包括:
[0032] 第一时统信号输入接口,第一时统信号输入接口的一端接地,另一端分别连接了第一检测电路和第二检测电路,
[0033] 所述第一检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第一电容C1,所述第一电容C1的另一端分别连接第一二极管D1的负极和第二二极管D2的正极,所述一二极管D1的正极分别连接第二电容C2的一端、第一电阻R1的一端和第一PMOS管的栅极,所述第二二极管D2的负极、第二电容C2的另一端、第一电阻R1的另一端、第一PMOS管的漏极接地,所述第一PMOS管的源极输出第一检测电平信号同时第一PMOS管的源极通过第三电阻R3连接到电源;
[0034] 所述第二检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第四电容C4,所述第四电容C4的另一端分别连接第三二极管D3的正极和第四二极管D4的负极,所述第三二极管D3的负极分别连接第三电容C3的一端、第二电阻R2的一端和第二NMOS管的栅极,所述第四二极管D4的正极、第三电容C3的另一端、第二电阻R2的另一端、第二NMOS管的源极接地,所述第二NMOS管的漏极输出第二检测电平信号同时第二NMOS管的漏极通过第四电阻R4连接到电源。
[0035] 在一些实施方式中,所述时统信号切换电路模块,包括:
[0036] 第一光电继电器和第二光电继电器,所述第一光电继电器的输入引脚接收第一检测电平信号,COM引脚接收第一时统信号,NC引脚连接第一时统信号解析电路,NO引脚连接第二时统信号解析电路;
[0037] 所述第二光电继电器的输入引脚接收第二检测电平信号,COM引脚接收第二时统信号,NC引脚连接第四时统信号解析电路,NO引脚连接第三时统信号解析电路;
[0038] 所述第一时统信号解析电路、第二时统信号解析电路、第三时统信号解析电路的输出端连接设备处理器。
[0039] 本发明的一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法及电路,具备如下有益效果:本发明提供了一种灵活适应于多种类型时统信号源使用场景下的设备授时信号获取方法,提供了多种类型时统信号的接收接口,在内部通过对接收的多种或者多个时统信号进行分析确定唯一一个时统信号作为优选的目标时统信号,并匹配对应的时统信号解析方法进行解析后传输到设备处理器,为设备提供授时信号,实现了获取设备授时信号的多场景灵活适应性。附图说明
[0040] 图1是本申请实施例中面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法的流程图
[0041] 图2是本申请实施例中第一时统信号类型检测电路模块和时统信号切换电路模块实现第一时统信号检测和时统信号解析电路切换的方法流程图;
[0042] 图3是本申请实施例中面向多类型时统信号源的设备授时信号获取电路的模块结构图;
[0043] 图4是本申请实施例中第一时统信号类型检测电路模块的电路原理图;
[0044] 图5是本申请实施例中时统信号切换电路模块的电路原理图。

具体实施方式

[0045] 针对现有技术中面向不同场景下的不同类型的时统信号源,设备获取授时信号时需根据时统信号源类型对设备进行拆机后更换接口的弊端,本申请实施例提供了一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法及电路,通过对接收的外部时统信号源的时统信号的分析结果确定匹配的时统信号解析方法并在解析后作为设备授时信号,实现了面向不同场景下的不同类型的时统信号源灵活获取设备授时信号。
[0046] 参见图1,本申请实施例提供了一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法,该方法包括如下步骤:
[0047] 步骤1:接收第一时统信号和第二时统信号,所述第二时统信号表征设备中始终存在的固有本地时统信号;
[0048] 步骤2:基于接收的第一时统信号分析第一时统信号的状态和类型并输出分析结果,所述第一时统信号的状态类型包括第一时统信号为空、第一时统信号不为空且为第一类第一时统信号、第一时统信号不为空且为第二类第一时统信号;
[0049] 步骤3:基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,同时将目标时统信号采用对应匹配的时统信号解析方法进行解析;
[0050] 步骤4:将解析后的目标时统信号作为授时信号传输到设备处理器。
[0051] 本申请实施例中,提供了一种灵活适应于多种类型时统信号源使用场景下的设备授时信号获取方法,简单来说,提供了多种类型时统信号的接收接口,在内部通过对接收的多种或者多个时统信号进行分析确定唯一一个时统信号作为优选的目标时统信号,并匹配对应的时统信号解析方法进行解析后传输到设备处理器,为设备提供授时信号,实现了获取设备授时信号的多场景灵活适应性。
[0052] 本申请实施例中,上述第一类第一时统信号为直流B码,第二类第一时统信号为交流B码。
[0053] 具体来说,本申请实施例中提供的设备授时信号获取方法可以灵活适用于直流B码、交流B码、本地时统信号三种时统信号源应用场景下,在直流B码、交流B码、本地时统信号三者之间选择一个并进行对应的解析处理后为设备提供授时信号。
[0054] 具体来说,本地时统模块在通过网络与上位机取得连接后获取上位机本地时间,通过一定的编码进行抗噪后输出本地时统信号作为第二时统信号。
[0055] 具体来说,上述步骤2中,基于接收的第一时统信号分析第一时统信号的状态和类型并输出分析结果,包括:
[0056] 基于接收的第一时统信号分别传输给两个电容,根据第一时统信号在两个电容中的通过情况得到表征第一时统信号的状态和类型的两个检测电平信号作为分析结果输出,两个所述电容的通过频率范围不同且通过频率范围分别对应第一类第一时统信号的频率和第二类第一时统信号的频率。
[0057] 本申请实施例中,将接收的第一时统信号分别传输给两个电容,两个电容的通过频率范围不同,可以理解,当接收的第一时统信号为空、或第一时统信号不为空且为直流B码、或第一时统信号不为空且为交流B码时,第一时统信号在两个电容中的通过情况不相同,对应会得到三种对应的分析结果,三种分析结果分别由两个检测电平信号的三种状态表示。可以理解,两个检测电平信号的状态可以有4个状态,两个检测电平信号均为高、第一个检测电平信号为高第二个检测电平信号为低、第一个检测电平信号为低第二个检测电平信号为高、两个检测电平信号均为低,本申请实施例中,采用其中三个状态分别用于表示三种第一时统信号的状态类型:第一时统信号为空、第一时统信号不为空且为第一类第一时统信号、第一时统信号不为空且为第二类第一时统信号。
[0058] 进一步的,上述步骤2中,基于接收的第一时统信号分析第一时统信号的状态和类型并输出分析结果,采用第一时统信号类型检测电路模块实现,参见图4,所述第一时统信号类型检测电路模块包括:
[0059] 第一时统信号输入接口,第一时统信号输入接口的一端接地,另一端分别连接了第一检测电路和第二检测电路,所述第一检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第一电容C1,所述第一电容C1的另一端分别连接第一二极管D1的负极和第二二极管D2的正极,所述一二极管D1的正极分别连接第二电容C2的一端、第一电阻R1的一端和第一PMOS管的栅极,所述第二二极管D2的负极、第二电容C2的另一端、第一电阻R1的另一端、第一PMOS管的漏极接地,所述第一PMOS管的源极输出第一检测电平信号同时第一PMOS管的源极通过第三电阻R3连接到电源;
[0060] 所述第二检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第四电容C4,所述第四电容C4的另一端分别连接第三二极管D3的正极和第四二极管D4的负极,所述第三二极管D3的负极分别连接第三电容C3的一端、第二电阻R2的一端和第二NMOS管的栅极,所述第四二极管D4的正极、第三电容C3的另一端、第二电阻R2的另一端、第二NMOS管的源极接地,所述第二NMOS管的漏极输出第二检测电平信号同时第二NMOS管的漏极通过第四电阻R4连接到电源。
[0061] 本申请实施例中,假设第一检测电路中的第一电容C1能通过频率范围高于第二检测电路中的第四电容C4,则:
[0062] 在第一时统信号输入接口无第一时统信号时,第一检测电平信号为高电平信号,第二检测电平信号为高电平信号;
[0063] 在第一时统信号输入接口有第一时统信号且为第一类第一时统信号时,即为直流B码时,C1不导通,C4导通,第一检测电平信号为低电平信号,第二检测电平信号为低电平信号;
[0064] 在第一时统信号输入接口有第一时统信号且为第二类第一时统信号时,即为交流B码时,C1导通,C4不导通,第一检测电平信号为高电平信号,第二检测电平信号为低电平信号。
[0065] 本申请实施例中的第一时统信号类型检测电路模块,实现基于一个第一时统信号输入接口接收的第一时统信号,通过两个检测电路输出两个检测电平信号,即基于第一时统信号输入接口接收第一时统信号的三种状态,通过两个检测电路输出三种状态的检测电平信号。
[0066] 优选的,本申请实施例中的第一时统信号的优先级大于第二时统信号,[0067] 可以理解,上述步骤3中,基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,包括:
[0068] 在第一时统信号为空时确定第二时统信号为目标时统信号,在第一时统信号不为空时,确定第一时统信号为目标时统信号。
[0069] 本申请实施例中,优选第一时统信号作为设备的授时信号,在不存在第一时统信号时,选择第二时统信号即本地时统信号作为目标时统信号即设备授时信号,在存在第一时统信号时,由于第二时统信号即本地时统信号是固定存在的,此时同时具有第一时统信号和第二时统信号,在第一时统信号的优先级大于第二时统信号的情况下,选择第一时统信号作为目标时统信号即设备授时信号。
[0070] 具体来说,上述步骤3中,基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,同时将目标时统信号采用对应匹配的时统信号解析方法进行解析,包括:
[0071] 基于两个检测电平信号中的一个检测电平信号的高低在第一时统信号解析电路和第二时统信号解析电路中选择一个信号处理电路对第一时统信号进行解析;
[0072] 基于两个检测电平信号中的另一个检测电平信号的高低在第三时统信号解析电路和第四时统信号解析电路中选择一个信号处理电路对第二时统信号进行解析,所述第四时统信号解析电路为开路。
[0073] 可以理解,基于上述步骤,当第一时统信号为空时,第一时统信号解析电路和第二时统信号解析电路中均不存在对第一时统信号的解析处理,则第一时统信号解析电路和第二时统信号解析电路均不会输出解析后的时统信号传输到设备处理器,此时,设置对第二时统信号选择第三时统信号解析电路进行解析,即相当于选择第二时统信号作为目标时统信号同时将目标时统信号传输至第三时统信号解析电路进行解析;
[0074] 第一时统信号不为空时,设置对第二时统信号采用第四时统信号解析电路的开路进行下一步处理,即不对第二时统信号进行下一步传输处理,相当于将接收的第一时统信号作为目标时统信号同时将目标时统信号传输至第一时统信号解析电路和第二时统信号解析电路中的一个时统信号解析电路进行解析。
[0075] 即相当于实现第一时统信号的优先级大于第二时统信号,当仅仅存在第二时统信号时,采用第二时统信号作为目标时统信号,当同时存在第一时统信号和第二时统信号时,采用第一时统信号作为目标时统信号。
[0076] 可以理解,时统信号解析电路可以是用于直流B码解析电路,包括电平转化电路,时统信号解析电路可以是用于交流B码解析电路,包括ADC滤波采样电路,时统信号解析电路可以是用于传输第二时统信号即本地时统信号的电路,即本地时统信号传输电路。
[0077] 进一步的,上述步骤3中,基于针对第一时统信号的分析结果在第一时统信号和第二时统信号中确定一个时统信号为目标时统信号,同时将目标时统信号采用对应匹配的时统信号处理方法进行处理,采用时统信号切换电路模块实现,参见图5,所述时统信号切换电路模块包括:第一光电继电器和第二光电继电器,所述第一光电继电器的输入引脚接收第一检测电平信号,COM引脚接收第一时统信号,NC引脚连接第一时统信号解析电路,NO引脚连接第二时统信号解析电路;
[0078] 所述第二光电继电器的输入引脚接收第二检测电平信号,COM引脚接收第二时统信号,NC引脚连接第四时统信号解析电路,NO引脚连接第三时统信号解析电路;
[0079] 所述第一时统信号解析电路、第二时统信号解析电路、第三时统信号解析电路的输出端连接设备处理器。
[0080] 参见图2,本申请实施例中第一时统信号类型检测电路模块和时统信号切换电路模块实现的工作流程为:
[0081] 1)在第一时统信号为空时:
[0082] 第一时统信号类型检测电路模块的第一检测电平信号为高电平,第二检测电平信号为高电平;
[0083] 此时,第一光电继电器的输入引脚接收高电平,第一光电继电器处于吸合状态,COM与NO处于连通状态,但是由于第一时统信号为空,即COM引脚不接收信号,则不存在信号传输至第二时统信号解析电路进行处理;
[0084] 此时,第二光电继电器的输入引脚接收高电平,第二光电继电器处于吸合状态,COM与NO处于连通状态,COM引脚接收的第二时统信号传输至第三时统信号解析电路,并在通过第三时统信号解析电路解析后进一步传输至设备处理器;
[0085] 2)在第一时统信号不为空且为第一类第一时统信号时,即为直流B码时:
[0086] 第一时统信号类型检测电路模块的第一检测电平信号为低电平,第二检测电平信号为低电平;
[0087] 此时,第一光电继电器的输入引脚接收低电平,第一光电继电器处于断开状态,COM与NC处于连通状态,COM引脚接收的第一时统信号传输至第一时统信号解析电路,并在通过第一时统信号解析电路解析后进一步传输至设备处理器;
[0088] 此时,第二光电继电器的输入引脚接收低电平,第二光电继电器处于断开状态,COM与NC处于连通状态,COM引脚接收的第二时统信号传输至第四时统信号解析电路,由于第四时统信号解析电路为开路,则第二时统信号不会传输至设备处理器;
[0089] 3)在第一时统信号不为空且为第二类第一时统信号时,即为交流B码时:
[0090] 第一时统信号类型检测电路模块的第一检测电平信号为高电平,第二检测电平信号为低电平;
[0091] 此时,第一光电继电器的输入引脚接收高电平,第一光电继电器处于吸合状态,COM与NO处于连通状态,COM引脚接收的第一时统信号传输至第二时统信号解析电路,并在通过第二时统信号解析电路解析后进一步传输至设备处理器;
[0092] 此时,第二光电继电器的输入引脚接收低电平,第二光电继电器处于断开状态,COM与NC处于连通状态,COM引脚接收的第二时统信号传输至第四时统信号解析电路,由于第四时统信号解析电路为开路,则第二时统信号不会传输至设备处理器。
[0093] 参见图3,本申请实施例还提供了一种面向多类型时统信号源的设备授时信号获取电路,该设备授时信号获取电路包括:
[0094] 时统信号源第一接口电路,用于接收第一时统信号并传输到第一时统信号类型检测电路模块;
[0095] 时统信号源第二接口电路,用于接收第二时统信号,所述第二时统信号表征设备中始终存在的固有本地时统信号;
[0096] 第一时统信号类型检测电路模块,与所述时统信号源第一接口电路的输出端连接,用于基于输入的第一时统信号输出用于表征第一时统信号的状态和类型的检测电平信号;
[0097] 时统信号切换电路模块,与所述时统信号源第一接口电路、时统信号源第二接口电路、第一时统信号类型检测电路模块的输出端连接,用于基于第一时统信号类型检测电路模块输出的检测电平信号在自身接收的至少一路时统信号中确定唯一一路时统信号作为目标时统信号输出并连接至对应的时统信号解析电路。
[0098] 可以理解,上述面向多类型时统信号源的设备授时信号获取电路,还包括:
[0099] 与时统信号切换电路模块信号输出端连接的第一时统信号解析电路、第二时统信号解析电路、第三时统信号解析电路、第四时统信号解析电路,所述时统信号解析电路连接至设备处理器,且其中第四时统信号解析电路为开路。
[0100] 进一步的,上述第一时统信号类型检测电路模块,包括:
[0101] 第一时统信号输入接口,第一时统信号输入接口的一端接地,另一端分别连接了第一检测电路和第二检测电路,
[0102] 所述第一检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第一电容C1,所述第一电容C1的另一端分别连接第一二极管D1的负极和第二二极管D2的正极,所述一二极管D1的正极分别连接第二电容C2的一端、第一电阻R1的一端和第一PMOS管的栅极,所述第二二极管D2的负极、第二电容C2的另一端、第一电阻R1的另一端、第一PMOS管的漏极接地,所述第一PMOS管的源极输出第一检测电平信号同时第一PMOS管的源极通过第三电阻R3连接到电源;
[0103] 所述第二检测电路包括:与所述第一时统信号输入接口另一端连接的第四电容C4,所述第四电容C4的另一端分别连接第三二极管D3的正极和第四二极管D4的负极,所述第三二极管D3的负极分别连接第三电容C3的一端、第二电阻R2的一端和第二NMOS管的栅极,所述第四二极管D4的正极、第三电容C3的另一端、第二电阻R2的另一端、第二NMOS管的源极接地,所述第二NMOS管的漏极输出第二检测电平信号同时第二NMOS管的漏极通过第四电阻R4连接到电源。
[0104] 进一步的,上述时统信号切换电路模块,包括:
[0105] 第一光电继电器和第二光电继电器,所述第一光电继电器的输入引脚接收第一检测电平信号,COM引脚接收第一时统信号,NC引脚连接第一时统信号解析电路,NO引脚连接第二时统信号解析电路;
[0106] 所述第二光电继电器的输入引脚接收第二检测电平信号,COM引脚接收第二时统信号,NC引脚连接第四时统信号解析电路,NO引脚连接第三时统信号解析电路;
[0107] 所述第一时统信号解析电路、第二时统信号解析电路、第三时统信号解析电路的输出端连接设备处理器。
[0108] 本申请实施例提供的面向多类型时统信号源的设备授时信号获取电路与上述实施例提供的面向多类型时统信号源的设备授时信号获取方法实施例属于同一构思,其具体实现过程详见方法实施例,这里不再赘述
[0109] 本发明不局限于上述具体的实施方式,本领域的普通技术人员从上述构思出发,不经过创造性的劳动,所做出的种种变换,均落在本发明的保护范围之内。
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