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一种显示屏自动测试方法、装置及存储介质

申请号 CN202410106583.X 申请日 2024-01-25 公开(公告)号 CN117935702A 公开(公告)日 2024-04-26
申请人 深圳市广晟德科技发展有限公司; 发明人 胡君榕; 胡稳; 周泽华; 颜周林;
摘要 本 申请 涉及一种显示屏自动测试方法、装置及存储介质,涉及显示屏测试技术领域,其包括:接收采集到的显示屏灯珠分布图像;根据灯珠分布 图像识别 显示屏的灯珠 位置 和灯珠基色;获取所需的测试条件和采集到的环境数据,根据测试条件和环境数据生成测试条件控制 信号 ;根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号,和/或,根据显示屏的灯珠位置生成直线扫描测试信号;接收显示屏分批点亮测试过程中采集到的测试数据,和/或,接收显示屏直线扫描测试过程中采集到的测试数据;根据测试数据得到显示屏测试结果。本申请具有提升显示屏测试效率的效果。
权利要求

1.一种显示屏自动测试方法,其特征在于,包括:
接收采集到的显示屏灯珠分布图像;
根据灯珠分布图像识别显示屏的灯珠位置和灯珠基色;
获取所需的测试条件和采集到的环境数据,根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号
根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号,和/或,根据显示屏的灯珠位置生成直线扫描测试信号;
接收显示屏分批点亮测试过程中采集到的测试数据,和/或,接收显示屏直线扫描测试过程中采集到的测试数据;
根据测试数据得到显示屏测试结果。
2.根据权利要求1所述的一种显示屏自动测试方法,其特征在于,所述根据灯珠分布图像识别显示屏的灯珠位置和灯珠基色,具体包括:
构建显示屏灯珠分布模型;
提取采集到的显示屏灯珠分布图像的特征图像;
将特征图像与显示屏灯珠分布模型进行匹配,得到显示屏的灯珠位置和灯珠基色。
3.根据权利要求1所述的一种显示屏自动测试方法,其特征在于,所述根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号,具体包括:
获取不同基色的灯珠的重要性和历史故障率;
根据重要性和历史故障率生成每个基色的灯珠的点亮优先级;
根据点亮优先级生成分批点亮测试信号。
4.根据权利要求3所述的一种显示屏自动测试方法,其特征在于,所述根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号,还包括:当接收到某基色的灯珠的故障反馈信号时,生成对该基色的灯珠的隔离信号,并生成对其他基色的灯珠的分批点亮测试信号。
5.根据权利要求1所述的一种显示屏自动测试方法,其特征在于,所述根据显示屏的灯珠位置生成直线扫描测试信号,具体包括:
获取灯珠性能参数和老化程度;
根据灯珠老化程度得到直线扫描速度;
根据直线扫描速度生成直线扫描信号。
6.根据权利要求1‑5任一项所述的一种显示屏自动测试方法,其特征在于,所述获取所需的测试条件和采集到的环境数据,根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号,具体包括:
获取所需的温度测试条件和采集到的温度环境数据,根据温度测试条件和温度环境数据生成温度测试控制信号。
7.根据权利要求6所述的一种显示屏自动测试方法,其特征在于,所述获取所需的测试条件和采集到的环境数据,根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号,还包括:
获取所需的湿度测试条件和采集到的湿度环境数据,根据湿度测试条件和湿度环境数据生成湿度测试控制信号。
8.根据权利要求7所述的一种显示屏自动测试方法,其特征在于,所述根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号,还包括:
根据光照环境数据和光照测试条件生成光照测试控制信号;
和/或,根据电气信号环境数据和电气信号测试条件生成电气信号测试控制信号;
和/或,根据机械应环境数据和机械应力测试条件生成机械应力测试控制信号。
9.一种显示屏自动测试装置,其特征在于,包括处理器(1),处理器(1)用于执行权利要求1‑8任一项所述的一种显示屏自动测试方法,还包括:
图像采集设备(2),用于采集显示屏灯珠分布图像,并将显示屏灯珠分布图像上传至处理器(1);
环境数据采集设备(3),用于采集环境数据,并将环境数据上传至处理器(1);
测试条件控制设备(4),用于接收处理器(1)发送的测试条件控制信号,根据测试条件控制信号对环境进行调节,使其满足所需的测试条件;
点亮控制设备(5),用于接收处理器(1)发送的分批点亮测试信号,并根据分批点亮测试信号控制显示屏灯珠点亮;
直线扫描设备(6),用于接收处理器(1)发送的直线扫描测试信号,并根据直线扫描测试信号对显示屏;
测试数据采集设备(7),用于采集显示屏分批点亮测试过程中的测试数据,和/或,采集显示屏直线扫描测试过程中的测试数据,并将测试数据上传至处理器(1)。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有能够被处理器(1)加载并执行如权利要求1‑8任一项所述的一种显示屏自动测试方法的计算机程序

说明书全文

一种显示屏自动测试方法、装置及存储介质

技术领域

[0001] 本申请涉及显示屏测试领域,尤其是涉及一种显示屏自动测试方法、装置及存储介质。

背景技术

[0002] Mini LED是指尺寸在100μm量级的LED芯片,尺寸介于小间距LED与Micro LED之间,是小间距LED进一步精细化的结果。Mini LED显示屏与LED显示屏相比,具备更加优良的显示效果,响应速度有着数量级的提升,并且Mini LED显示屏更轻薄,能够大幅度降低功耗。Mini LED显示屏与OLED显示屏对比,Mini LED显示屏在保持着出色的显示效果和柔性的同时,拥有更快的响应速度、更高的高温可靠性。
[0003] Mini LED显示屏在显示屏中具有明显的优势,在Mini LED显示屏的生产和使用过程中,为了确保其稳定性需要对Mini LED显示屏进行测试,但是由于Mini LED显示屏具有尺寸小、灯珠之间间距小的特性,如果依靠人工进行测试可能会产生人工疲劳度高导致测试效率低下的问题。发明内容
[0004] 本申请的目的是提供一种显示屏自动测试方法、装置及存储介质,能够提升显示屏测试的效率。
[0005] 第一方面,本申请提供的一种显示屏自动测试方法采用如下的技术方案:一种显示屏自动测试方法,包括:
接收采集到的显示屏灯珠分布图像;
根据灯珠分布图像识别显示屏的灯珠位置和灯珠基色;
获取所需的测试条件和采集到的环境数据,根据测试条件和环境数据生成测试条
件控制信号
根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号,和/或,根据显示屏的灯珠位置生成直线扫描测试信号;
接收显示屏分批点亮测试过程中采集到的测试数据,和/或,接收显示屏直线扫描测试过程中采集到的测试数据;
根据测试数据得到显示屏测试结果。
[0006] 通过采用上述技术方案,本申请通过采集显示屏的灯珠分布图像,利用图像识别方法自动识别灯珠位置和灯珠基色,再根据灯珠位置和灯珠基色进行显示屏测试,实现显示屏的自动化测试,无需人工操作,能够有效提升测试效率,降低人工成本。同时,可以根据实际情况选择分批点亮测试或直线扫描测试,进一步提升测试效率。
[0007] 进一步的,所述根据灯珠分布图像识别显示屏的灯珠位置和灯珠基色,具体包括:构建显示屏灯珠分布模型;
提取采集到的显示屏灯珠分布图像的特征图像;
将特征图像与显示屏灯珠分布模型进行匹配,得到显示屏的灯珠位置和灯珠基
色。
[0008] 通过采用上述技术方案,本申请使用了图像识别方法,通过将显示屏灯珠分布图像的特征图像与显示屏灯珠分布模型进行匹配,能够识别出显示屏灯珠分布图像中每个灯珠对应的灯珠位置和灯珠基色,无需通过人工对灯珠位置和灯珠基色进行确认,有效提升显示屏测试的效率。
[0009] 进一步的,所述根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号,具体包括:获取不同基色的灯珠的重要性和历史故障率;
根据重要性和历史故障率生成每个基色的灯珠的点亮优先级;
根据点亮优先级生成分批点亮测试信号。
[0010] 通过采用上述技术方案,本申请采用分批点亮的测试方法,可以对不同基色的灯珠进行分批点亮,按照点亮优先级逐步测试,点亮优先级可以根据实际使用时对各个基色的灯珠的重要性需求和以往测试或使用过程中记录的历史故障率来确认,具体为重要性越高、历史故障率越高的基色的灯珠的点亮优先级越高,能够对不同基色的灯珠进行针对性测试,增加测试过程的可靠性以及测试结果的准确性。
[0011] 进一步的,所述根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号,还包括:当接收到某基色的灯珠的故障反馈信号时,生成对该基色的灯珠的隔离信号,并生成对其他基色的灯珠的分批点亮测试信号。
[0012] 通过采用上述技术方案,本申请采用分批点亮的测试方法,当某个基色的灯珠出现故障时,对该基色的灯珠进行隔离,对除了该基色之外的基色的灯珠进行正常的点亮测试,以避免故障基色的灯珠对其他基色的灯珠产生影响,同时能够节约显示屏测试的时间。
[0013] 进一步的,所述根据显示屏的灯珠位置生成直线扫描测试信号,具体包括:获取灯珠性能参数和老化程度;
根据灯珠老化程度得到直线扫描速度;
根据直线扫描速度生成直线扫描信号。
[0014] 通过采用上述技术方案,本申请在进行直线扫描时考虑到灯珠的性能和老化程度,对于性能较好、老化程度较低的灯珠,可以采用较快的直线扫描速度,以提升测试的效率;而对于性能较差、老化程度较高的灯珠,则采用较慢的直线扫描速度,以确保测试过程的准确性。
[0015] 进一步的,所述获取所需的测试条件和采集到的环境数据,根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号,具体包括:获取所需的温度测试条件和采集到的温度环境数据,根据温度测试条件和温度环
境数据生成温度测试控制信号。
[0016] 通过采用上述技术方案,本申请的测试条件包括温度,温度对显示屏的老化存在一定的影响,通过温度测试能够模拟显示屏在不同温度测试条件下的使用情况,通过监测其性能变化进而得到温度对显示屏的性能影响是否能够满足标准。本申请能够根据温度测试条件和温度环境数据自动生成温度测试控制信号,进一步实现显示屏的自动化测试,提升测试效率。
[0017] 进一步的,所述获取所需的测试条件和采集到的环境数据,根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号,还包括:获取所需的湿度测试条件和采集到的湿度环境数据,根据湿度测试条件和湿度环
境数据生成湿度测试控制信号。
[0018] 通过采用上述技术方案,本申请的测试条件包括湿度,湿度对显示屏的老化存在一定的影响,通过湿度测试能够模拟显示屏在不同湿度条件下的使用情况,通过监测其性能变化进而得到湿度对显示屏的性能影响是否能够满足标准。本申请能够根据湿度测试条件和湿度环境数据自动生成湿度测试控制信号,进一步实现显示屏的自动化测试,提升测试效率。
[0019] 进一步的,根据光照环境数据和光照测试条件生成光照测试控制信号;和/或,根据电气信号环境数据和电气信号测试条件生成电气信号测试控制信号;
和/或,根据机械应环境数据和机械应力测试条件生成机械应力测试控制信号。
[0020] 通过采用上述技术方案,本申请的测试条件还包括光照、电气信号和机械应力,通过光照测试、电气信号测试和机械应力测试能够全面测试并评估显示屏的性能,提升测试的可靠性和准确性。
[0021] 第二方面,本申请提供的一种显示屏自动测试装置采用如下的技术方案:一种显示屏自动测试装置,包括处理器,处理器用于执行第一方面所述的一种显
示屏自动测试方法,还包括:
图像采集设备,用于采集显示屏灯珠分布图像,并将显示屏灯珠分布图像上传至
处理器;
环境数据采集设备,用于采集环境数据,并将环境数据上传至处理器;
测试条件控制设备,用于接收处理器发送的测试条件控制信号,根据测试条件控
制信号对环境进行调节,使其满足所需的测试条件;
点亮控制设备,用于接收处理器发送的分批点亮测试信号,并根据分批点亮测试
信号控制显示屏灯珠点亮;
直线扫描设备,用于接收处理器发送的直线扫描测试信号,并根据直线扫描测试
信号对显示屏;
测试数据采集设备,用于采集显示屏分批点亮测试过程中的测试数据,和/或,采集显示屏直线扫描测试过程中的测试数据,并将测试数据上传至处理器。
[0022] 通过采用上述技术方案,本申请的显示屏自动测试装置能够实现对显示屏的自动化测试,图像采集、图像识别、环境数据采集、测试条件控制、灯珠点亮、直线扫描和测试数据采集的全过程都可以在处理器的控制下自动进行,无需人工参与操作,提升测试的效率,减少人工成本。
[0023] 第二方面,本申请提供的一种计算机可读存储介质采用如下的技术方案:一种计算机可读存储介质,存储有能够被处理器加载并执行如第一方面所述的一
种显示屏自动测试方法的计算机程序
[0024] 综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:1.本申请通过采集显示屏的灯珠分布图像,利用图像识别方法自动识别灯珠位置
和灯珠基色,再根据灯珠位置和灯珠基色进行显示屏测试,实现显示屏的自动化测试,无需人工操作,能够有效提升测试效率,降低人工成本;
2.本申请采用分批点亮的测试方法,可以对不同基色的灯珠进行分批点亮,按照
点亮优先级逐步测试,能够对不同基色的灯珠进行针对性测试,增加测试过程的可靠性以及测试结果的准确性;
3.本申请当某个基色的灯珠出现故障时,对该基色的灯珠进行隔离,对除了该基
色之外的基色的灯珠进行正常的点亮测试,以避免故障基色的灯珠对其他基色的灯珠产生影响,同时能够节约显示屏测试的时间;
4.本申请在进行直线扫描时考虑到灯珠的性能和老化程度对于性能较好、老化程
度较低的灯珠,可以采用较快的直线扫描速度,以提升测试的效率;而对于性能较差、老化程度较高的灯珠,则采用较慢的直线扫描速度,以确保测试过程的准确性。
附图说明
[0025] 图1是本申请实施例的显示屏自动测试方法流程图;图2是本申请实施例的分批点亮测试方法流程图;
图3是本申请实施例的直线扫描测试方法流程图;
图4是本申请实施例的显示屏自动测试设备连接示意图;
图中,1、处理器;2、图像采集设备;3、环境数据采集设备;4、测试条件控制设备;5、点亮控制设备;6、直线扫描设备;7、测试数据采集设备。

具体实施方式

[0026] 以下结合附图1‑附图4,对本申请作进一步详细说明。
[0027] 在Mini LED显示屏的生产和使用过程中,为了确保其稳定性需要对Mini LED显示屏进行测试,但是由于Mini LED显示屏具有尺寸小、灯珠之间间距小的特性,如果依靠人工进行测试可能会人工疲劳度高导致测试效率低下的问题,因此本申请实施例针对Mini LED显示屏的测试过程提供一种显示屏自动测试方法,参照图1,包括:S1、接收采集到的显示屏灯珠分布图像。
[0028] 具体的,使用图像采集设备采集显示屏的完整图像,即可得到显示屏灯珠分布图像,在具体实施过程中,图像采集设备可以使用摄像头。
[0029] S2、根据灯珠分布图像识别显示屏的灯珠位置和灯珠基色。
[0030] 具体的,预先构建显示屏灯珠分布模型,提取采集到的显示屏灯珠分布图像的特征图像,将特征图像与显示屏灯珠分布模型进行匹配,即可得到显示屏的灯珠位置和灯珠基色。
[0031] S3、获取所需的测试条件和采集到的环境数据,根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号。
[0032] 具体的,基于显示屏在不同测试条件下对其性能的影响得到所需的测试条件,再通过环境数据采集设备采集当前的环境数据,根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号,将测试条件控制信号发送至测试条件控制设备,环境调节设备根据测试条件控制信号对环境进行调节,使其满足所需的测试条件,从而能够在所需的测试条件下开始进行测试。
[0033] S41、根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号。
[0034] 具体的,生成分批点亮测试信号并发送至点亮控制设备,点亮控制设备根据分批点亮测试信号进行分批点亮测试,可以根据灯珠位置和灯珠基色对灯珠进行分批点亮,使测试过程更加精准和高效。
[0035] S42、根据显示屏的灯珠位置生成直线扫描测试信号。
[0036] 具体的,生成直线扫描测试信号并发送至直线扫描设备,直线扫描设备根据直线扫描测试信号进行直线扫描测试,可以在测试过程中对灯珠进行更为快速和准确的性能测试,为了进一步提高测试效率,本实施例还可以支持多线程直线扫描,即同时启动多个直线扫描线程,分别对不同区域的灯珠进行性能测试,可以充分利用资源,缩短整体的测试时间。
[0037] S51、接收显示屏分批点亮测试过程中采集到的测试数据。
[0038] S52、接收显示屏直线扫描测试过程中采集到的测试数据。
[0039] 具体的,通过测试数据采集设备采集分批点亮测试和直线扫描测试过程中采集到的测试数据并上传。
[0040] S6、根据测试数据得到显示屏测试结果。
[0041] 具体的,对采集到的测试数据进行分析可以得到显示屏在不同测试条件下的性能变化情况,进而评估显示屏性能是否满足标准,得到评估的测试结果。
[0042] 本申请实施例的实施原理为:通过采集显示屏的灯珠分布图像,利用图像识别方法自动识别灯珠位置和灯珠基色,再根据灯珠位置和灯珠基色进行显示屏测试,实现显示屏的自动化测试,无需人工操作,能够有效提升测试效率,降低人工成本。
[0043] 本实施例主要通过在不同测试条件下对显示屏进行测试,模拟显示屏实际使用时的情况,以达到对显示屏进行老化测试的效果,在现有技术中,通常需要人工对测试条件进行调整,本实施例可以实现自动生成测试条件控制信号,以使测试条件控制设备对所需的测试条件进行精准把控。
[0044] 由于环境温度对显示屏的性能具有一定的影响,显示屏的材料在高温下可能会发生变化,导致颜色的不稳定。温度还可能会影响显示屏的发光效率,高温会导致发光材料的衰减加速,使颜色变得黯淡或偏移。显示屏材料的尺寸会随温度的变化而发生微小的变化,例如在高温下可能会膨胀,这种热膨胀可能会影响显示屏中的光学层或像素结构,从而导致颜色的偏移或失真。高温也可能影响显示屏的驱动电路稳定性,不稳定的驱动信号可能会导致颜色的闪烁或不均匀。因此本实施例的测试条件包括温度,本实施例步骤S3具体包括:获取所需的温度测试条件和采集到的温度环境数据,根据温度测试条件和温度环境数据生成温度测试控制信号。
[0045] 在具体实施过程中,温度采集设备采集环境温度,将环境温度转化为电信号并进行上传,从而获取环境温度数据,实时监测环境温度数据,并与所需的温度测试条件进行比较,得到温度偏差。根据温度偏差生成温度测试控制信号,通过温度测试控制信号控制温度控制设备的功率输出,实现温度的精确控制和稳定,使当前温度能够满足所需的温度测试条件。在具体实施过程中,温度采集设备可以采用温度传感器,温度控制设备可以采用加热器或空调等可以用于加热或冷却的设备。
[0046] 在另一种实施方式中,可以使用PID控制算法,PID控制算法在温度控制中的工作原理是通过不断计算环境温度数据与所需的温度测试条件之间的误差,并根据误差的大小来调整控制输出,从而使得环境温度逐渐接近所需的温度测试条件。具体来说,PID控制算法会根据误差的大小计算出一个控制量,这个控制量会决定加热或冷却设备的功率输出,从而调整环境温度。PID控制算法由比例、积分和微分三个部分组成,其中比例部分根据当前的误差大小来调整控制输出;积分部分考虑了过去一段时间的误差累积,用于消除静态误差;微分部分则预测未来误差的变化趋势,提前进行调整,以提高最终得到的环境温度的稳定性。通过合理调整PID控制算法的参数,可以实现环境温度的高精度和快速稳定控制。
[0047] 在得到温度测试的测试结果后,如果发现温度对显示屏性能影响较大,则可以采取以下措施减轻温度对显示屏颜色偏移和色差问题的影响:通过改进显示屏的散热设计,确保其在工作过程中能够有效地散发热量。在显示屏的制造过程中,选择具有良好热稳定性的材料,以减少温度变化对颜色的影响。采用温度补偿技术对显示屏的颜色进行实时调整,以抵消温度变化引起的颜色偏移和色差。在使用显示屏的环境中,采取措施控制环境温度的波动,以确保显示屏工作在稳定的温度范围内。
[0048] 由于环境湿度对显示屏的性能具有一定的影响,因此本实施例的测试条件包括湿度,因此本实施例步骤S3还包括:获取所需的湿度测试条件和采集到的湿度环境数据,根据湿度测试条件和湿度环境数据生成湿度测试控制信号。
[0049] 在具体实施过程中,湿度采集设备采集环境湿度,并将环境湿度转化为电信号并进行上传,从而获取环境湿度数据,实时监测环境湿度数据,并与所需的湿度测试条件进行比较,得到湿度偏差。根据湿度偏差生成湿度测试控制信号,通过湿度测试控制信号控制湿度控制设备的功率输出,实现湿度的精确控制和稳定,使当前湿度能够满足所需的湿度测试条件。在具体实施过程中,湿度采集设备可以采用湿度传感器,湿度控制设备可以采用加湿器或除湿器等可以用于加湿或除湿设备。
[0050] 在另一种实施方式中,可以采用反馈控制算法,根据环境湿度数据和所需的湿度测试条件得到湿度偏差,根据湿度偏差调整加湿或除湿设备的输出,以保持环境湿度的稳定性。
[0051] 在具体实施过程中,需要自动记录温度和湿度的历史变化数据,并通过数据分析工具进行分析。通过对历史变化数据的分析,可以优化控制算法和参数设置,进一步提高温度和湿度的控制精确度。当温度或湿度超出预设的误差范围时,系统可以自动触发误差诊断机制,并通过报警提示技术人员,有助于协助技术人员及时发现并解决问题,确保测试条件的稳定性和可靠性。还可以通过与平台连接,实现远程监控和控制功能,技术人员可以通过手机、平板或电脑等终端设备,实时监测和调整当前的环境温度和湿度。
[0052] 本申请实施例的实施原理为:通过环境数据监测、控制算法和数据分析,实现对测试条件中温度和湿度的精确控制和自动调整,有助于提高测试的准确性和效率,并降低人为误差的可能性。
[0053] 除了温度和湿度会对显示屏的性能产生影响之外,光照也会对显示屏造成老化,长时间的光照会导致显示屏的亮度逐渐降低,影响显示效果。光照中的紫外线和红外线辐射会引起显示屏材料的物理和化学变化,导致其性能下降。光照还可能引起显示屏的颜色偏移和色差问题,影响视觉体验。因此需要对显示屏进行光照测试,光照测试可以模拟不同光照条件下的使用情况,以评估显示屏的耐光性能。因此本实施例步骤S3还包括:根据光照环境数据和光照测试条件生成光照测试控制信号。
[0054] 光照环境数据可以使用光照环境数据采集设备采集,采集当前的光照强度,并将光照强度转化为电信号进行上传,得到光照环境数据,光照测试条件根据需要进行测试的光照强度等条件所设置,生成光照测试控制信号后传输至光照控制设备,光照控制设备根据光照测试控制信号调节当前的光照,使其符合所需的光照测试条件,从而能够进行光照测试。在具体实施过程中,光照环境数据采集设备可以采用光照传感器,光照控制设备可以采用不同种类的照明灯等。
[0055] 光照引起的显示屏颜色偏移和色差问题可能由以下因素导致:长时间暴露在强烈的光照下会导致显示屏材料的老化,进而引发颜色偏移和色差问题;不同类型的光源,如紫外线、红外线等对显示屏材料的影响程度不同,可能会引起不同程度的颜色偏移和色差;显示屏材料的物理和化学性质会直接影响其对光照的抵抗能力,某些材料可能更容易受到光照老化的影响,导致颜色偏移和色差问题。因此在设置光照测试条件时,需要考虑到显示屏的材料、光照的光源类型、光照强度和光照时间等。
[0056] 显示屏在长时间使用过程中,还可能会受到电气信号的影响,如电压波动、电流冲击等。这些影响可能导致显示屏产生像素失效、驱动电路故障等问题。因此还需要对显示屏进行电气信号测试,电气信号测试可以模拟不同电气信号测试条件下的使用情况,以评估显示屏的电气性能和稳定性。因此本实施例步骤S3还包括:根据电气信号环境数据和电气信号测试条件生成电气信号测试控制信号。
[0057] 电气信号环境数据可以使用电气信号环境数据采集设备采集,采集当前的电气信号,并将电气信号转化为电信号进行上传,得到电气信号环境数据,电气信号测试条件根据需要进行测试的电气信号等条件所设置,生成电气信号测试控制信号后传输至电气信号控制设备,电气信号控制设备根据电气信号测试控制信号调节当前的电气信号,使其符合所需的电气信号测试条件,从而能够进行电气信号测试。在具体实施过程中,电气信号环境数据采集设备可以采用电流表、电压表或示波器,电气信号控制设备采用电源和信号发生器,通过电源和信号发生器给显示屏施加不同电压、电流和频率的电气信号,以模拟显示屏实际工作过程中的各种电气信号情况。
[0058] 在设置电气信号测试条件时,可以通过以下方式进行考虑:根据显示屏制造商提供的技术规格和推荐的操作条件,这些技术规格通常会提供关于最大电压、电流和功率等电气参数的限制,以及建议的工作范围。还可以考虑显示屏在实际应用中的工作条件,例如,如果显示屏将用于户外广告牌,则需要能够承受更高的电气信号和更长的持续时间,以应对恶劣的环境条件。还可以参考过去类似产品的电气信号测试数据和经验,从而协助了解在特定电气信号下,显示屏可能出现的问题和故障模式。在进行了初步的电气信号测试后,观察视频在不同电气信号测试条件和不同持续时间下的性能表现,得到初步测试结果,根据初步测试结果,可以调整电气信号测试条件和持续时间,以更准确地模拟显示屏实际的工作条件。根据显示屏的重要性、成本和应用场景等因素,对显示屏进行险评估,确定可接受的故障率和性能下降范围,并据此设定适当的电气信号测试条件和测试的持续时间。
[0059] 在电气信号测试过程中,还需要根据得到的测试结果不断调整和优化电气信号测试条件和测试的持续时间,可以通过迭代测试逐步逼近最佳的电气信号测试条件,以更准确地评估显示屏的电气性能和稳定性。
[0060] 显示屏在运输、安装、使用过程中可能会受到振动、冲击等机械应力的影响,从而导致结构变形、连接松动等问题,导致显示屏的性能受到影响。因此本实施例需要对显示屏进行机械应力测试,通过模拟不同机械应力条件下的使用情况,以评估显示屏机械强度和耐久性。因此本实施例步骤S3还包括:根据机械应力环境数据和机械应力测试条件生成机械应力测试控制信号。
[0061] 机械应力环境数据可以使用机械应力环境数据采集设备采集,采集当前的机械应力,并将机械应力转化为电信号进行上传,得到机械应力环境数据,机械应力测试条件根据需要进行测试的机械应力等条件所设置,生成机械应力测试控制信号后传输至机械应力控制设备,机械应力控制设备根据机械应力测试控制信号调节当前的机械应力,使其符合所需的机械应力测试条件,从而能够进行机械应力测试。在具体实施过程中,机械应力环境数据采集设备可以采用应力检测仪,机械应力控制设备采用振动、冲击、跌落等检测设备,以评估显示屏在振动、冲击、跌落等机械应力下的性能和耐久性,这些测试可以模拟显示屏在实际使用过程中可能遇到的机械损伤情况。
[0062] 本实施例从温度、湿度、光照、电气信号和机械应力等多个方面考虑显示屏的测试条件,在具体实施过程中,当进行某一测试条件的测试任务时,需要保持其他测试条件的一致性,以避免其他测试条件对测试结果产生影响,因此需要通过监测设备实时监测测试条件,在测试条件不符合要求时及时进行调整或提示技术人员。
[0063] 确定测试条件保持稳定后,通过分批点亮测试或直线扫描测试的测试手段对显示屏进行性能测试。
[0064] 在基于灯珠基色进行分批点亮测试时,需要先确认不同灯珠基色点亮的优先级,参照图2,本申请步骤S41具体包括:S411、获取不同基色的灯珠的重要性和历史故障率。
[0065] 具体的,重要性根据实际使用时对各个基色的灯珠的需求所获取,历史故障率根据以往测试或使用过程中不同基色的灯珠故障的记录所获取。
[0066] S412、根据重要性和历史故障率生成每个基色的灯珠的点亮优先级。
[0067] 具体的,重要性越高的基色的灯珠点亮优先级越高,历史故障率越高的基色的灯珠点亮优先级越高。
[0068] S413、根据点亮优先级生成分批点亮测试信号。
[0069] 具体的,根据点亮优先级进行分批点亮,能够对不同基色的灯珠进行针对性测试,增加测试过程的可靠性以及测试结果的准确性。
[0070] 分批点亮测试还能够隔离已经故障的基色的灯珠,以避免其对其他正常工作的基色的灯珠测试过程产生影响,同时能够起到节约测试时间的效果,因此本实施例还包括:当接收到某基色的灯珠的故障反馈信号时,生成对该基色的灯珠的隔离信号,并生成对其他基色的灯珠的分批点亮测试信号。
[0071] 在进行直线扫描测试时,需要先确认直线扫描速度,参照图3,本实施例步骤S42具体包括:S421、获取灯珠性能参数和老化程度。
[0072] 具体的,灯珠性能参数为灯珠的出厂性能,能够反映灯珠的质量,老化程度能够反映灯珠在已经使用过后对性能产生的影响。
[0073] S422、根据灯珠老化程度得到直线扫描速度。
[0074] 具体的,对于性能较好、老化程度较低的灯珠,可以采用较快的直线扫描速度,以提升测试的效率;而对于性能较差、老化程度较高的灯珠,则采用较慢的直线扫描速度,以确保测试过程的准确性。
[0075] S423、根据直线扫描速度生成直线扫描信号。
[0076] 具体的,在进行直线扫描时考虑到灯珠的性能和老化程度控制直线扫描速度,提升直线扫描测试的可靠性和准确性。
[0077] 在分批点亮测试和直线扫描测试的过程中,还需要详细记录每个步骤的操作和结果,包括分批点亮的基色顺序、直线扫描的速度、最终的测试结果等,这些数据可以用于后续对显示屏的问题诊断和性能分析。同时,通过对测试数据的实时监测和分析,在出现故障迹象时及时发出预警,有助于及时发现潜在问题并采取相应的措施。
[0078] 本申请实施例还提供一种显示屏自动测试装置,如图4所示,包括处理器1,处理器1用于执行一种显示屏自动测试方法:
S1、接收采集到的显示屏灯珠分布图像。
[0079] S2、根据灯珠分布图像识别显示屏的灯珠位置和灯珠基色。
[0080] S3、获取所需的测试条件和采集到的环境数据,根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号。
[0081] S41、根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号。
[0082] S42、根据显示屏的灯珠位置生成直线扫描测试信号。
[0083] S51、接收显示屏分批点亮测试过程中采集到的测试数据。
[0084] S52、接收显示屏直线扫描测试过程中采集到的测试数据。
[0085] S6、根据测试数据得到显示屏测试结果。
[0086] 还包括分别与处理器1通信连接的图像采集设备2、环境数据采集设备3、测试条件控制设备4、点亮控制设备5、直线扫描设备6、测试数据采集设备7。
[0087] 图像采集设备2用于采集显示屏灯珠分布图像,并将显示屏灯珠分布图像上传至处理器1。在具体实施过程中,图像采集设备2可以采用摄像头。
[0088] 环境数据采集设备3用于采集环境数据,并将环境数据上传至处理器1。在具体实施过程中,温度测试的环境数据采集设备3可以采用温度传感器等温度采集设备,湿度测试的环境数据采集设备3可以采用湿度传感器等湿度采集设备,光照测试的环境数据采集设备3可以采用光照传感器等光照采集设备,电气信号测试的环境数据采集设备3可以采用电流表、电压表或示波器等电气信号采集设备,机械应力测试的环境数据采集设备3可以采用应力检测仪等机械应力采集设备。
[0089] 测试条件控制设备4用于接收处理器发送的测试条件控制信号,根据测试条件控制信号对环境进行调节,使其满足所需的测试条件。在具体实施过程中,温度测试的测试条件控制设备4可以采用加热器或空调等温度控制设备,湿度测试的测试条件控制设备4可以采用加湿器或除湿器等湿度控制设备,光照测试的测试条件控制设备4可以采用照明灯等光照控制设备,电气信号测试的测试条件控制设备4可以采用信号发生器等电气信号控制设备,机械应力测试的测试条件控制设备4可以采用振动检测设备、冲击检测设备、跌落检测设备等机械应力控制设备。
[0090] 点亮控制设备5用于接收处理器1发送的分批点亮测试信号,并根据分批点亮测试信号控制显示屏灯珠点亮。在具体实施过程中,通过对灯珠施加电流即可点亮灯珠。
[0091] 直线扫描设备6用于接收处理器1发送的直线扫描测试信号,并根据直线扫描测试信号对显示屏。在具体实施过程中,直线扫描设备6采用直线扫描仪
[0092] 测试数据采集设备7用于采集显示屏分批点亮测试过程中的测试数据,和/或,采集显示屏直线扫描测试过程中的测试数据,并将测试数据上传至处理器1。在具体实施过程中,采集能够反映显示屏性能的测试数据,例如显示屏电流、电压、功率、灯珠亮度等数据。
[0093] 本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器1执行时实现以下步骤:S1、接收采集到的显示屏灯珠分布图像。
[0094] S2、根据灯珠分布图像识别显示屏的灯珠位置和灯珠基色。
[0095] S3、获取所需的测试条件和采集到的环境数据,根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号。
[0096] S41、根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号。
[0097] S42、根据显示屏的灯珠位置生成直线扫描测试信号。
[0098] S51、接收显示屏分批点亮测试过程中采集到的测试数据。
[0099] S52、接收显示屏直线扫描测试过程中采集到的测试数据。
[0100] S6、根据测试数据得到显示屏测试结果。
[0101] 处理器1执行计算机程序时还能够执行上述任意实施例中关于显示屏自动测试方法的步骤。
[0102] 本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
[0103] 所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。
[0104] 本具体实施方式的实施例均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,其中相同的零部件用相同的附图标记表示。故:凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本申请的保护范围之内。
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