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用于TAC膜生产线的防断裂控制方法和系统

申请号 CN202410216794.9 申请日 2024-02-28 公开(公告)号 CN117775836B 公开(公告)日 2024-04-30
申请人 杉金光电(广州)有限公司; 发明人 龚光涛; 严是乐; 梁奋; 钟伟钊; 邓达;
摘要 本 发明 涉及卷材卷绕技术领域,具体涉及用于TAC膜生产线的防断裂控制方法和系统,其包括以下步骤:获取TAC膜卷材的固定测量点在连续时刻下的厚度值;响应于至少连续两时刻下的厚度值小于厚度 阈值 时,则执行厚度预测 算法 ;按照所述厚度预测算法,得到预测的横切时间,并进行TAC膜卷材的横切,以防止TAC膜卷材跑飞。即本发明的方案,通过对横切时间进行预测,能够有效地对工作人员进行提前提醒,能够及时地进行TAC膜卷材的横切,不仅避免了TAC膜卷材原料的浪费,还避免了TAC膜卷材跑飞,无法与下一个TAC膜卷材进行衔接的问题。
权利要求

1.用于TAC膜生产线的防断裂控制方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取TAC膜卷材的固定测量点在连续时刻下的厚度值;
响应于至少连续两时刻下的厚度值小于厚度阈值时,则执行厚度预测算法
按照所述厚度预测算法,得到预测的横切时间,控制TAC膜卷材进行横切,以防止TAC膜卷材跑飞;
其中,按照所述厚度预测算法,得到预测的横切时间的具体过程为:
基于预先获取的设定时序中多个转动周期的权重,对设定时序中多个转动周期的采样点的厚度值进行加权拟合,得到厚度函数;基于所述厚度函数,预测下一预测时序中预测转动周期的采样点的预测厚度值;
若相邻两预测厚度值中的前一个预测厚度值大于设定值,而后一个预测厚度值小于设定值,则将前一个预测厚度值对应的时间,作为预测的横切时间;
转动周期的权重为:
其中, 为第i个转动周期对应的权重, 为第i个转动周期对应的高斯函数, 为第j个转动周期对应的高斯函数,其中j=i+1, 为第i个转动周期对应的高斯函数与第j个转动周期对应的高斯函数的KL散度值; 函数为归一化函数, 为第i个转动周期对应的方差, 为第j个转动周期对应的方差, 函数为求最大值;
还包括对预测厚度值进行验证的步骤,具体为:
计算下一预测时序内的任意两相邻预测转动周期的固定测量点的厚度差值,得到下一预测时序内固定测量点的厚度差值序列;
选取厚度差值序列中前m个厚度差值,计算前m个厚度差值的方差,其中m大于等于2;
基于单层厚度值、厚度差值以及所述方差,得到准确度;
响应于准确度大于设定阈值时,则认为对预测厚度值的预测准确;反之,直接进行报警;
所述准确度为:
其中,K为准确度, 为m个厚度差值的标准差, 为单层厚度值,Hm为第m个厚度差值,mean( )函数为求均值函数,exp( )函数为以自然常数e为底的指数函数。
2.根据权利要求1所述的用于TAC膜生产线的防断裂控制方法,其特征在于,所述高斯函数的获取过程为:获取设定时序中多个转动周期内的不同采样点的厚度值序列,得到每个转动周期的厚度均值和方差,进而构建每个转动周期的高斯函数。
3.根据权利要求2所述的用于TAC膜生产线的防断裂控制方法,其特征在于,所述预测厚度值的获取过程为:
获取每个转动周期的所有采样点的厚度值序列的均值;
基于每个转动周期的均值以及对应转动周期的权重,采用最小二乘法拟合方法,得到对应的厚度函数;
根据厚度函数以及下一个预测时序中的预测转动周期,得到对应预测转动周期的预测厚度值。
4.根据权利要求1所述的用于TAC膜生产线的防断裂控制方法,其特征在于,还包括在启动厚度预测算法之前,实时对工作人员进行位置定位,得到工作人员到膜切设备之间的位置距离,基于所述位置距离,对工作人员进行提前提醒的步骤。
5.用于TAC膜生产线的防断裂控制系统,其特征在于,包括:
处理器;
存储器,其存储有用于TAC膜生产线的防断裂控制的计算机指令,当所述计算机指令由所述处理器运行时,使得设备执行根据权利要求1‑4中任意一项所述的用于TAC膜生产线的防断裂控制方法。

说明书全文

用于TAC膜生产线的防断裂控制方法和系统

技术领域

[0001] 本发明一般地涉及卷材卷绕技术领域。更具体地,本发明涉及用于TAC膜生产线的防断裂控制方法和系统。

背景技术

[0002] TAC膜(三醋酸纤维素酯薄膜,Triacetyl Cellulose)是偏光片的核心材料之一,是偏光片成本较高的部分,也是PVA保护膜的主要原料,占偏光片原材料总成本50%左右。因此TAC膜的生产以及成本控制是尤为重要的。
[0003] 目前,对于TAC膜生产线中的TAC膜卷材的切换操作过程,现有一般是通过现场工作人员进行人眼观察,以确定TAC膜的剩余厚度,并根据剩余厚度,确定是否进行TAC膜卷材的切换操作。其中的切换操作是在当前TAC膜卷材复合基本完成时,需要进行当前TAC膜卷材的横切(横切,是指把卷材或卷状产品沿横向进行切断,其中横向是垂直于卷材打开的方向,即卷材的宽度方向),以更换下一个TAC膜卷材,以便进行拼接,继续进行TAC膜的复合过程,在此过程中需要避免当前TAC膜卷材长度不足导致跑飞的现象,使得无法与下一个TAC膜卷材进行衔接。
[0004] 但是,由于TAC膜卷材的产品型号不同,TAC膜卷材厚度也不同,人眼难以准确判断TAC膜卷材的厚度,经常发生待切换的TAC膜卷材的剩余长度超过60‑70m,剩余厚度在2.6~5mm,使得TAC膜卷材的剩余长度过长,无法保证剩余长度在30m(剩余厚度在1.3 2.5mm)内~
的基准进行横切,造成了TAC膜原料浪费、损耗等。
[0005] 为了避免上述中的TAC膜卷材原料浪费、损耗的问题,现有技术通常根据一批卷材的总长度确定对应的厚度,并在生产线的膜切设备上设置声波传感器,可以时刻对放料导辊上的TAC膜卷材的剩余厚度进行监测,当放料导辊上的TAC膜卷材的剩余厚度减小到一定程度(报警设定值)时,膜切设备上的报警器即可发出警报,以提醒工作人员停止膜切设备,更换提前准备的TAC膜卷材。
[0006] 但是,对于工作人员来说,在接收到警报的同时,其需要一定的反应时间,而在此时间段内,膜切设备仍在进行工作,这就使得膜切设备停止时的TAC膜的剩余长度可能小于基准值(30m),从而导致当前TAC膜卷材的剩余长度不足,存在TAC膜卷材跑飞的问题,无法与下一个TAC膜卷材进行衔接。
[0007] 因此,如何在避免TAC膜卷材原料浪费、损耗的同时,还能避免TAC膜用完跑飞的问题,以降低成本,是尤为重要的。

发明内容

[0008] 为解决上述一个或多个技术问题,本发明提出用于TAC膜生产线的防断裂控制方法和系统,能够提前进行TAC膜卷材横切时间的预测,以提醒工作人员及时进行TAC膜卷材的切换,避免TAC膜卷材跑飞的问题。为此,本发明在如下的两个方面中提供方案。
[0009] 在第一方面中,用于TAC膜生产线的防断裂控制方法,包括以下步骤:
[0010] 获取TAC膜卷材的固定测量点在连续时刻下的厚度值;
[0011] 响应于至少连续两时刻下的厚度值小于厚度阈值时,则执行厚度预测算法
[0012] 按照所述厚度预测算法,得到预测的横切时间,控制TAC膜卷材进行横切,以防止TAC膜卷材跑飞;
[0013] 其中,按照所述厚度预测算法,得到预测的横切时间的具体过程为:
[0014] 基于预先获取的设定时序中多个转动周期的权重,对设定时序中多个转动周期的采样点的厚度值进行加权拟合,得到厚度函数;基于所述厚度函数,预测下一预测时序中预测转动周期的采样点的预测厚度值;
[0015] 若相邻两预测厚度值中的前一个预测厚度值大于设定值,而后一个预测厚度值小于设定值,则将前一个预测厚度值对应的时间,作为预测的横切时间;
[0016] 转动周期的权重为:
[0017]
[0018] 其中, 为第i个转动周期对应的权重, 为第i个转动周期对应的高斯函数,为第j个转动周期对应的高斯函数,其中j=i+1, 为第i个转动周期对应的高斯函数与第j个转动周期对应的高斯函数的KL散度值; 函数为归一化函数,为第i个转动周期对应的方差, 为第j个转动周期对应的方差, 函数为求最大值。
[0019] 可选地,所述高斯函数的获取过程为:获取设定时序中多个转动周期内的不同采样点的厚度值序列,得到每个转动周期的厚度均值和方差,进而构建每个转动周期的高斯函数。
[0020] 可选地,所述预测厚度值的获取过程为:
[0021] 获取每个转动周期的所有采样点的厚度值序列的均值;
[0022] 基于每个转动周期的均值以及对应转动周期的权重,采用加权最小二乘法拟合方法,得到对应的厚度函数;
[0023] 根据厚度函数以及下一个预测时序中的预测转动周期,得到对应预测转动周期的预测厚度值。
[0024] 可选地,还包括对预测厚度值进行验证的步骤,具体为:
[0025] 计算下一预测时序内的任意两相邻预测转动周期的固定测量点的厚度差值,得到下一预测时序内固定测量点的厚度差值序列;
[0026] 选取厚度差值序列中前m个厚度差值,计算前m个厚度差值的方差,其中m大于等于2;
[0027] 基于单层厚度值、厚度差值以及所述方差,得到准确度;
[0028] 响应于准确度大于设定阈值时,则认为对预测厚度值的预测准确;反之,直接进行报警。
[0029] 可选地,所述准确度为:
[0030]
[0031] 其中,K为准确度,δm为m个厚度差值的标准差, 为单层厚度值,Hm为第m个厚度差值,mean()函数为求均值函数,exp()函数为以自然常数e为底的指数函数。
[0032] 可选地,还包括在启动横切时间预测算法之前,实时对工作人员进行位置定位,基于所述位置距离,对所述工作人员进行提前提醒的步骤。
[0033] 在第二方面中,用于TAC膜生产线的防断裂控制系统,包括:
[0034] 处理器;
[0035] 存储器,其存储有用于TAC膜生产线的防断裂控制的计算机指令,当所述计算机指令由所述处理器运行时,使得设备执行根据上述用于TAC膜生产线的防断裂控制方法。
[0036] 本发明的有益效果为:
[0037] 本发明的方案,通过引入了提前预测TAC膜卷材剩余厚度的厚度预测算法,进行TAC膜卷材的剩余厚度的提前预测,对工作人员进行提前预警,避免工作人员对横切时间的延误,在尽可能节省原料的基础上,避免了TAC膜容易跑飞的问题,实现了及时预防的目的。
[0038] 进一步地,本发明还引入了工作人员的位置因素,通过考虑到工作人员的位置,从而对工作人员进行提前提醒,便于能够对横切时间进行合理安排,避免原料的浪费。附图说明
[0039] 通过参考附图阅读下文的详细描述,本发明示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中,以示例性而非限制性的方式示出了本发明的若干实施方式,并且相同或对应的标号表示相同或对应的部分,其中:
[0040] 图1示意性示出了膜切设备中放料导辊进行放料的示意图;
[0041] 图2示意性示出了膜切设备进行TAC膜卷材切换的过程示意图;
[0042] 图3示意性示出了本实施例中的用于TAC膜生产线的防断裂控制方法的步骤流程图
[0043] 图4示意性示出了本实施例中的用于TAC膜生产线的防断裂控制方法的获取预测的横切时间的步骤流程图;
[0044] 图5示意性示出了本实施例中的用于TAC膜生产线的防断裂控制系统的结构框图
[0045] 附图说明:1、第一TAC膜卷材;2、放料导辊;3、第二TAC膜卷材;4、中心转轴;5、超声波传感器。

具体实施方式

[0046] 下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
[0047] 下面结合附图来详细描述本发明的具体实施方式。
[0048] 图1示意性示出了膜切设备中放料导辊进行放料的示意图。图2示意性示出了膜切设备进行TAC膜卷材切换的过程示意图。
[0049] 具体地,如图1所示,现有的膜切设备包括中心转轴4和两个放料导辊2;两个放料导辊2分别设置有第一TAC膜卷材1和第二TAC膜卷材3。
[0050] 其中,两个放料导辊2是可以自转的,以带动TAC膜卷材进行放料;同时,放料导辊2围绕中心转轴4进行设置,以通过中心转轴4的转动实现放料导辊2位置的切换。
[0051] 需要说明的是,膜切设备上设置的放料导辊2并不局限于两个,其还可以为三个、四个或者五个等等,具体个数是根据膜切设备本身的型号确定的。
[0052] 在中心转轴4上设置有超声波传感器5,用于实时监测TAC膜卷材在放料过程中不断变化的厚度值。示例性的,超声波传感器5设置在中心转轴4的轴向方向靠近中部的位置。
[0053] 其中,膜切设备的工作过程为:
[0054] TAC膜卷材的放料:放料导辊2能够通过自转对放料导辊2上的第一TAC膜卷材1上的薄膜进行放料;随着放料膜切的进行,第一TAC膜卷材1的剩余厚度减小到一定厚度后,停止放料导辊2的自转,进行第一TAC膜卷材1的横切;
[0055] TAC膜卷材的切换:通过转动中心转轴4使得第二TAC膜卷材3转动至之前第一TAC膜卷材1的位置,实现了TAC膜卷材的切换,具体见图2中的切换过程。
[0056] 基于上述膜切设备的工作过程,由于在膜切设备停止的过程中,因工作人员的反应时间,可能使得横切的时机延迟,造成剩余长度小于基准值(30m),从而导致TAC膜容易跑飞的问题。因此,本发明提供了用于TAC膜生产线的防断裂控制方法,即结合超声波传感器5实时监测到的TAC膜卷材的剩余厚度数据,进行TAC膜卷材的剩余厚度的横切时间的提前预测,对工作人员进行提前预警,避免工作人员对横切时间的延误,在尽可能节省原料的基础上,避免了TAC膜容易跑飞的问题,实现了精准预防的目的。
[0057] 图3示意性示出了本实施例中的用于TAC膜生产线的防断裂控制方法的步骤流程图。图4示意性示出了本实施例中的用于TAC膜生产线的防断裂控制方法的获取预测的横切时间的步骤流程图。
[0058] 具体地,如图3所示,本实施例中的用于TAC膜生产线的防断裂控制方法,包括以下步骤:
[0059] 在步骤S1处,获取TAC膜卷材的固定测量点在连续时刻下的厚度值。具体地,本实施例中的固定测量点可以设置在放料导辊2的一端上,由于本实施例中的TAC膜卷材是卷绕在放料导辊2上的,且随着放料导辊2的转动而进行TAC膜在长度方向上的放料,因此,该固定测量点可以设置在放料导辊2一端的侧面位置,用于表征TAC膜卷材上的某一采样点。其中,固定测量点的确定,可以通过在选取的放料导辊2一端的侧面位置处设置接收器,在与固定测量点所处位置相对应的中心转轴4(此时的中心转轴4是固定不动的)上的位置处设置发射器,当接收器接收到发射器发射的信号时,则认为此时通过超声波传感器5测量到的厚度值为TAC膜卷材上的固定测量点的厚度值,也确定了固定测量点。
[0060] 本实施例中以固定测量点为基准点,测量不同时刻下的固定测量点的厚度值。
[0061] 在步骤S2处,响应于至少连续两时刻的厚度值小于厚度阈值时,则执行厚度预测算法。本实施例中设置的厚度阈值是启动厚度预测算法开始的条件,即当实时监测到的固定测量点的厚度值小于厚度阈值时,则开始执行横切时间预测算法。具体地,厚度阈值可以为2.6 5mm(剩余长度为60‑70m);当然也可以选取剩余长度稍长一点,如100m,具体可以根~据卷材的实际长度进行确定。
[0062] 上述厚度阈值的设置可以通过历史经验数据进行确定。
[0063] 需要说明的是设置的厚度阈值不能过大也不能过小,这是由于当设置的厚度阈值过小时,没有足够的剩余厚度以及时间,进行横切时间的预测;而当设置的厚度阈值过大时,其可能由于TAC膜卷材卷曲的松紧程度的不均匀,导致过早地进行横切时间预测,可能存在不准确的问题;因此,厚度阈值的设置需要保证充分预留预测横切时间的同时,还需要更靠近基准值。
[0064] 在步骤S3处,按照厚度预测算法,得到预测的横切时间,控制TAC膜卷材进行横切,以防止TAC膜卷材跑飞。
[0065] 其中,如图4所示,按照厚度预测算法,得到预测的横切时间的具体过程为:
[0066] 在步骤S31处,基于预先获取的设定时序中多个转动周期的权重,对设定时序中多个转动周期的采样点的厚度值进行加权拟合,得到厚度函数;基于厚度函数,预测下一预测时序中预测转动周期的采样点的预测厚度值。
[0067] 在一个实施例中,转动周期的权重为:
[0068]
[0069] 其中, 为第i个转动周期对应的权重, 为第i个转动周期对应的高斯函数,为第j个转动周期对应的高斯函数,其中j=i+1, 为第i个转动周期对应的高斯函数与第j个转动周期对应的高斯函数的KL散度值; 函数为归一化函数,为第i个转动周期对应的方差, 为第j个转动周期对应的方差, 函数为求最大值。
[0070] 其中, 是根据两个高斯函数的均值和方差计算得到的,用于表示两个高斯函数的差异值,从而衡量相邻两个转动周期的数据之间的厚度检测波动差异,如果波动越大,则表示两个高斯函数的差异越大。需要说明的是,方差的大小,影响 的大小,如方差大,导致 增大,因此,本实施例中通过引入方差这一参数,即选取两者之间的最大值 ,其中, 的最大值越小,越表示周期厚度数据波动小,用于限制KL散度值计算的误差,保证差异值的有效性。
[0071] 上述中的两个高斯函数的KL散度值的计算为现有技术,此处不再赘述。
[0072] 需要说明的是,本实施例中采用高斯函数表示一个转动周期内数据分布,如果两个高斯函数之间的差异越大,则KL散度值就越大,两个转动周期内数据分布差异就大,此时赋予第i个转动周期的权重就小,表示该转动周期数据不重要,在后续拟合时尽量少依赖该数据;反之,若两个转动周期内数据分布差异较小,则第i个转动周期的数据在拟合时可以依赖。所以本实施例中通过高斯函数分析相邻两转动周期的数据,得到权重,确定数据的重要性。
[0073] 进一步地,利用 函数对 进行归一化后,对其利用1减去该部分进行映射,使得上部分值越接近于0时,Z的值越大,越接近于1。
[0074] 上述中的每个转动周期的权重,是基于相邻两转动周期的差异进行确定的;其可以作为一个转动周期内的所有采样点的权重,且该权重的取值一般是0‑1。
[0075] 上述中的高斯函数的获取过程为:获取设定时序中多个转动周期内的不同采样点的厚度值序列,得到每个转动周期的厚度均值和方差,进而构建每个转动周期的高斯函数。具体地,转动周期是以固定测量点为起点,旋转一周的时间,即在一个转动周期内,能够测量TAC膜卷材在放料过程的多个采样点的厚度值数据,构成一个转动周期内的厚度值序列。
其中的采样点可以为选取的多个采样点,示例性的本实施例中的采样点的个数可以为3个、
5个或10个。
[0076] 示例性的,本实施例中的高斯函数 是由均值Gi和方差Fi构成;高斯函数 是由均值Gj和方差Fj构成。其中高斯函数 的均值,理论上是由均值Gi减去一层厚度值得到的。也即第i个转动周期的均值减去一层厚度值,应当接近第j个转动周期的均值,而如果不接近,则会使得Z值变大,则证明两转动周期数据具有差异。其中的一层厚度值是预先对TAC膜卷材的单层薄膜进行测量得到的。
[0077] 示例性的,本实施例中的设定时序为连续的一段时间,如设定时序包括10个连续的转动周期,每个转动周期包括多个时刻(其中周期的大小与卷材的直径有关),因此,可以获取10个转动周期内的厚度值序列,对每个转动周期内的厚度值序列进行分析,得到厚度均值和方差,进而基于厚度均值和方差,构建对应的高斯函数;至此,可以得到多个转动周期对应的高斯函数。
[0078] 在一个实施例中,预测厚度值的获取过程为:
[0079] 获取每个转动周期的所有采样点的厚度值序列的均值;
[0080] 基于每个转动周期的均值以及对应转动周期的权重,采用加权最小二乘法拟合方法,得到对应的厚度函数;
[0081] 根据厚度函数以及下一个预测时序中的预测转动周期,得到对应预测转动周期的预测厚度值。
[0082] 需要说明是,上述中的预测转动周期的预测厚度值表征的是预测转动周期的所有采样点的均值。
[0083] 进一步地,为了更精细化、准确地进行预测,本实施例中在进行厚度函数的拟合时,还可直接采用每个转动周期中的所有采样时刻以及采样点的厚度数据进行拟合。需要说明的是,由于一个转动周期仅对应一个权重,此时,每个转动周期中的采样点均对应同一权重,那么,可以将每个转动周期的所有采样点均赋予共同的权重,得到权重序列;对所有转动周期的所有采样点的厚度值序列以及对应的权重序列进行加权拟合,得到对应的厚度函数;并根据下一个预测时序中的某采样点对应的预测转动周期的时刻,得到预测厚度值;至此,可以得到下一个预测时序中所有采样点对应的厚度值。
[0084] 上述实施例中的加权拟合采用加权最小二乘法拟合。
[0085] 在步骤S32处,若相邻两预测厚度值中的前一个预测厚度值大于设定值,而后一个预测厚度值小于设定值,则将前一个预测厚度值对应的时间,作为预测的横切时间。
[0086] 在一个实施例中,在选取横切时间时,可以根据预先设定的设定值确定,即当存在两相邻预测厚度值,前者大于设定值,后者小于设定值时,选取大于设定值的预测厚度值对应的时间,作为预测的横切时间。其中设定值可以根据当前TAC膜卷材的单层厚度以及周期计算得到;也可以根据历史数据记录进行设置,如TAC膜卷材的设定值,可以是基准值,其可取1.3mm 2.5mm的范围内中的任意值,因此,可以根据当前TAC膜卷材的实际情况,从中选取~合适的基准值即可。
[0087] 进一步地,为了确定预测厚度值是否准确,本实施例中还包括对预测厚度值进行验证的步骤,具体如下:
[0088] 计算下一预测时序内的任意两相邻预测转动周期的固定测量点的厚度差值,得到下一预测时序内固定测量点的厚度差值序列;
[0089] 选取厚度差值序列中前m个厚度差值,计算前m个厚度差值的方差,其中m大于等于2;
[0090] 基于单层厚度值、厚度差值以及方差,得到准确度;
[0091] 响应于准确度大于设定阈值时,则认为对预测厚度值的预测准确;反之,直接进行报警。
[0092] 其中准确度为:
[0093]
[0094] 其中,K为准确度,δm为m个厚度差值的标准差, 为单层厚度值,Hm为第m个厚度差值,mean()函数为求均值函数,exp()函数为以自然常数e为底的指数函数。
[0095] 其中,δm表示m个厚度差值的标准差,其实际是预测的横切时间点之前的前m个时间对应预测厚度之间连续厚度差值的标准差,其值越小,表示预测的厚度数据越稳定,预测效果相对较好。 越接近于0,则表示预测厚度数据准确性越高,能够验证预测数据的稳和准; 为m个厚度差值与单层厚度值差值的均值。因此,δm越小,越小。
[0096] 其中,exp()函数是为了防止δm或 中的一个为0时,另一个无法进行有效评估,从而失效;因此利用exp()函数进行映射。
[0097] 上述中的单层厚度值为已知的单层薄膜的厚度,其可以通过历史经验数据获取,也可以针对当前的TAC膜卷材进行计算或预先测量,从而得到单层厚度值。
[0098] 本实施例中,通过上述步骤获取相邻两个预测转动周期内的厚度差值,将其与单层厚度进行比较,获取预测时间下的厚度差值变化量,其中如果厚度差值变化量较大,则表示预测结果不准确,这是因为转动一周后厚度差值变化量应当趋近于一个定值。
[0099] 上述公式中的K值越大,证明预测准确率越大。
[0100] 本实施例中通过设置设定阈值,对准确率进行定量分析,即当准确度大于0.8时,则认为预测厚度值准确,可以根据预测的横切时间进行TAC膜卷材的横向切割;当准确度小于等于0.8时,则认为预测厚度值不准确,此时对应的预测的横切时间也不准确,因此,需要向工作人员进行报警,以提示横切时间预测不准确,需要工作人员结合当前情况采取相应的措施。
[0101] 本发明的方案,通过引入提前预测TAC膜卷材剩余厚度的厚度预测算法,进行TAC膜卷材的剩余厚度的提前预测,对工作人员进行提前预警,避免工作人员对横切时间的延误,在尽可能节省原料的基础上,避免了TAC膜容易跑飞的问题,实现了及时预防的目的。
[0102] 进一步地,本发明在启动厚度预测算法之前,还包括实时对工作人员进行位置定位,得到工作人员到膜切设备之间的位置距离,基于位置距离,对工作人员进行提前提醒的步骤。具体地,实时对工作人员进行位置定位,当工作人员处于当前膜切设备附近时,则无需进行提醒,直接启动厚度预测算法;反之,当工作人员距离膜切设备有一定的距离时,则需要结合当前工作人员所需时间,进行提前提醒,便于后续的厚度预测算法的启动。
[0103] 上述中的工作人员是否处于当前膜切设备附近,可以通过设置设定距离来进行判断,如工作人员在设定距离以内,则认为是处于当前膜切设备附近。示例性的,设定距离可以为2m或者3m。
[0104] 若处于设定距离之外,则需要进行提前对工作人员进行提醒;具体地,提前提醒的时间可以通过获取该工作人员距离膜切设备的位置距离,并结合当前工作人员的移动速度,得到该工作人员从当前位置移动至膜切设备的所需时间,对工作人员进行提前预警。
[0105] 在一个实施例中,上述中的移动速度可以采用该工作人员的行走速度,一般来说行走速度为1.5m/s;当然也可以统计该工作人员的历史移动速度数据,获取平均移动速度,将其作为移动速度。
[0106] 需要说明的是,上述提前提醒时间是为了工作人员能够预留足够的时间,及时地进行TAC膜卷材的切换。
[0107] 图5示意性示出了本实施例中的用于TAC膜生产线的防断裂控制系统的结构框图。
[0108] 本发明还提供了用于TAC膜生产线的防断裂控制系统。如图5所示,防断裂控制系统包括处理器和存储器,存储器存储有计算机程序指令,当计算机程序指令被所述处理器执行时实现用于TAC膜生产线的防断裂控制方法。
[0109] 防断裂控制系统还包括通信总线和通信接口等本领域技术人员熟知的其他组件,其设置和功能为本领域中已知,因此在此不再赘述。
[0110] 在本发明中,前述的存储器可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。例如,计算机可读存储介质可以是任何适当的磁存储介质或者磁光存储介质,比如,阻变式存储器RRAM(Resistive Random Access Memory)、动态随机存取存储器DRAM(Dynamic Random Access Memory)、静态随机存取存储器SRAM(Static Random‑Access Memory)、增强动态随机存取存储器EDRAM(Enhanced Dynamic Random Access Memory)、高带宽内存HBM(High‑Bandwidth Memory)、混合存储立方HMC(Hybrid Memory Cube)等等,或者可以用于存储所需信息并且可以由应用程序、模或两者访问的任何其他介质。任何这样的计算机存储介质可以是设备的一部分或可访问或可连接到设备。本发明描述的任何应用或模块可以使用可以由这样的计算机可读介质存储或以其他方式保持的计算机可读/可执行指令来实现。
[0111] 在本说明书的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个或更多个等,除非另有明确具体的限定。
[0112] 虽然本说明书已经示出和描述了本发明的多个实施例,但对于本领域技术人员显而易见的是,这样的实施例只是以示例的方式提供的。本领域技术人员会在不偏离本发明思想和精神的情况下想到许多更改、改变和替代的方式。应当理解的是在实践本发明的过程中,可以采用对本文所描述的本发明实施例的各种替代方案。
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