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炉架打磨方法及系统

申请号 CN202410082146.9 申请日 2024-01-19 公开(公告)号 CN117911372A 公开(公告)日 2024-04-19
申请人 河北省科学院应用数学研究所; 发明人 吴立龙; 任亚恒; 张伟平; 姚利彬; 赵航; 王景;
摘要 本公开提供了一种炉架打磨方法及系统,属于炉架生产技术领域,该方法包括:根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对第一图像进行识别,确定目标炉架中各个结构的 位置 信息;基于位置信息对目标炉架进行扫描,得到目标炉架的点 云 数据;对点云数据进行 三维重建 ,拟合得到目标炉架的底面,确定目标炉架的底面的正投影图像;对投影图像的外边缘进行拟合,确定投影图像中目标炉架的外边缘位置;基于外边缘位置以及目标炉架的型号信息确定投影图像中目标炉架的内边缘位置;对投影图像中内边缘位置的各个连通域进行识别,得到目标炉架的 缺陷 信息;基于缺陷信息对目标炉架进行打磨。本公开提供的炉架打磨方法及系统可自动识别目标炉架并对炉架进行打磨。
权利要求

1.一种炉架打磨方法,其特征在于,包括:
根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对第一图像进行识别,确定目标炉架中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息;所述第一图像为拍摄得到目标炉架的图像;
基于所述位置信息对所述目标炉架进行扫描,得到所述目标炉架的点数据;
对所述点云数据进行三维重建,拟合得到所述目标炉架的底面,确定所述目标炉架的底面的正投影图像;
对所述投影图像的外边缘进行拟合,确定所述投影图像中所述目标炉架的外边缘位置;
基于所述外边缘位置以及所述目标炉架的型号信息确定所述投影图像中所述目标炉架的内边缘位置;
对所述投影图像中内边缘位置的各个连通域进行识别,得到所述目标炉架的缺陷信息;基于所述缺陷信息对所述目标炉架进行打磨。
2.如权利要求1所述的炉架打磨方法,其特征在于,还包括:
根据第二图像确定不同型号的炉架的尺寸信息,所述第二图像为预先绘制的不同型号的炉架图像。
3.如权利要求1所述的炉架打磨方法,其特征在于,所述根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对第一图像进行识别,确定目标炉架中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息,包括:
将所述第一图像输入至预先训练的图像识别模型中,得到所述目标炉架的尺寸信息;
将所述目标炉架的尺寸信息与不同型号炉架的尺寸信息进行匹配,确定所述目标中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息。
4.如权利要求1所述的炉架打磨方法,其特征在于,所述基于所述位置信息对所述目标炉架进行扫描,得到所述目标炉架的点云数据,包括:
基于所述位置信息生成所述目标炉架对应的扫描路径;
基于所述扫描路径对所述目标炉架进行扫描,得到所述目标炉架的点云数据。
5.如权利要求1所述的炉架打磨方法,其特征在于,所述确定所述目标炉架的底面的正投影图像,包括:
以所述目标炉架的底面为xoy面建立三维坐标系,确定所述目标炉架的底面在所述三维坐标系z轴方向的投影图像,得到所述目标炉架的底面的正投影图像。
6.如权利要求1所述的炉架打磨方法,其特征在于,所述基于所述外边缘位置以及所述目标炉架的型号信息确定所述投影图像中所述目标炉架的内边缘位置,包括:
基于所述目标炉架的型号信息确定所述目标炉架对应的第一距离;所述第一距离为所述目标炉架内边缘与外边缘之间的距离;
基于所述第一距离以及所述外边缘位置确定所述投影图像中所述目标炉架的内边缘位置。
7.如权利要求1所述的炉架打磨方法,其特征在于,所述缺陷信息包括缺陷面积和缺陷位置,所述基于所述缺陷信息对所述目标炉架进行打磨,包括:
响应于所述缺陷面积小于第一预设面积,基于所述缺陷位置以及打磨设备的直径确定打磨轨迹,基于所述打磨轨迹对所述目标炉架进行打磨;
响应于所述缺陷面积大于等于第一预设面积,基于预设的步长将所述缺陷位置所在的区域划分成多个子区域,基于多个子区域对应的打磨轨迹依次对所述目标炉架进行打磨。
8.一种炉架打磨装置,其特征在于,包括:
目标炉架识别模,用于根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对第一图像进行识别,确定目标炉架中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息;所述第一图像为拍摄得到目标炉架的图像;
数据采集模块,用于基于所述位置信息对所述目标炉架进行扫描,得到所述目标炉架的点云数据;
数据拟合模块,用于对所述点云数据进行三维重建,拟合得到所述目标炉架的底面,确定所述目标炉架的底面的正投影图像;
外边缘位置确定模块,用于对所述投影图像的外边缘进行拟合,确定所述投影图像中所述目标炉架的外边缘位置;
内边缘位置确定模块,用于基于所述外边缘位置以及所述目标炉架的型号信息确定所述投影图像中所述目标炉架的内边缘位置;
缺陷打磨模块,用于对所述投影图像中内边缘位置的各个连通域进行识别,得到所述目标炉架的缺陷信息;基于所述缺陷信息对所述目标炉架进行打磨。
9.一种炉架打磨系统,其特征在于,包括:
底座、工件装夹机构、碎屑收集机构、打磨设备和控制终端;
所述打磨设备、碎屑收集机构均与所述控制终端电连接,所述工件装夹机构设置于所述底座上方,所述碎屑收集机构设置于所述底座下方;
其中,所述控制终端,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至
7任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。

说明书全文

炉架打磨方法及系统

技术领域

[0001] 本公开属于炉架生产技术领域,更具体地说,是涉及一种炉架打磨方法及系统。

背景技术

[0002] 炉架在生产过程中总会在表面留下浇铸的痕迹,这些痕迹可以是毛刺,因此需要对有毛刺的地方进行打磨。现有的炉架打磨方法及系统只能适应某一型号的炉架,无法满足多型号炉架的打磨任务。发明内容
[0003] 本公开的目的在于提供一种炉架打磨方法及系统,用以解决打磨炉架型号单一的问题。
[0004] 本公开实施例的第一方面,提供了一种炉架打磨方法,包括:根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对第一图像进行识别,确定目标炉架中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息;所述第一图像为拍摄得到目标炉架的图像;
基于所述位置信息对所述目标炉架进行扫描,得到所述目标炉架的点数据;
对所述点云数据进行三维重建,拟合得到所述目标炉架的底面,确定所述目标炉架的底面的正投影图像;
对所述投影图像的外边缘进行拟合,确定所述投影图像中所述目标炉架的外边缘位置;
基于所述外边缘位置以及所述目标炉架的型号信息确定所述投影图像中所述目标炉架的内边缘位置;
对所述投影图像中内边缘位置的各个连通域进行识别,得到所述目标炉架的缺陷信息;
基于所述缺陷信息对所述目标炉架进行打磨。
[0005] 本公开实施例的第二方面,提供了一种炉架打磨装置,包括:目标炉架识别模,用于根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对第一图像进行识别,确定目标炉架中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息;所述第一图像为拍摄得到目标炉架的图像;
数据采集模块,用于基于所述位置信息对所述目标炉架进行扫描,得到所述目标炉架的点云数据;
数据拟合模块,用于对所述点云数据进行三维重建,拟合得到所述目标炉架的底面,确定所述目标炉架的底面的正投影图像;
外边缘位置确定模块,用于对所述投影图像的外边缘进行拟合,确定所述投影图像中所述目标炉架的外边缘位置;
内边缘位置确定模块,用于基于所述外边缘位置以及所述目标炉架的型号信息确定所述投影图像中所述目标炉架的内边缘位置;
缺陷打磨模块,用于对所述投影图像中内边缘位置的各个连通域进行识别,得到所述目标炉架的缺陷信息;基于所述缺陷信息对所述目标炉架进行打磨。
[0006] 本公开实施例的第三方面,提供了一种炉架打磨系统,包括:底座、工件装夹机构、碎屑收集机构、打磨设备和控制终端;
所述打磨设备、碎屑收集机构均与所述控制终端电连接,所述工件装夹机构设置于所述底座上方,所述碎屑收集机构设置于所述底座下方;
其中,所述控制终端,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如以上所描述的炉架打磨方法的步骤。
[0007] 本公开实施例的第四方面,提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述的炉架打磨方法的步骤。
[0008] 本公开实施例提供的炉架打磨方法及系统的有益效果在于:首先,本公开可以根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对目标炉架的图像进行识别,确定目标炉架中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息,这种方式可以满足多种不同型号的炉架进行打磨。
[0009] 其次,本公开可以基于位置信息可以对目标炉架进行扫描。相比按照固定扫描路径对目标炉架进行扫描的方式,本公开可以做到有效扫描,即当目标炉架放置出现偏差的情况下,本公开提供的扫描方式仍然可以扫描完整的炉架结构。
[0010] 最后,本公开可以基于外边缘位置和目标炉架的型号信息确定内边缘的位置,再根据内边缘位置所在区域的缺陷信息对目标炉架进行打磨,相比于传统直接打磨的方式,本公开所述的打磨方式更加精确,更加有效。附图说明
[0011] 为了更清楚地说明本公开实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012] 图1为本公开一实施例提供的炉架打磨方法的流程示意图;图2为本公开一实施例提供的炉架打磨装置的结构框图
图3为本公开一实施例提供的炉架打磨系统的示意图;
图4为本公开一实施例提供的炉架气缸夹的示意图;
图5为本公开一实施例提供的二维投影图像的示意图。

具体实施方式

[0013] 以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本公开实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本公开。在其它情况中,省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本公开的描述。
[0014] 为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图通过具体实施例来进行说明。
[0015] 请参考图1,图1为本公开一实施例提供的炉架打磨方法的流程示意图,该方法包括:S101:根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对第一图像进行识别,确定目标炉架中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息;第一图像为拍摄得到目标炉架的图像。
[0016] 在本实施例中,根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对第一图像进行识别,比如,不同型号的炉架可以为835型号炉架、836型号铸铁炉架;不同型号炉架的尺寸信息是不同的,尺寸信息可以包括炉架的型号、炉架各支腿的位置等。第一图像为拍摄得到目标炉架的图像,拍摄设备可以为工业面阵相机,工业面阵相机的位置可以安装在炉架的正上方,四个长方形光源围绕在相机的四周用于给目标炉架打光,避免相机拍摄的图像不清楚。炉架可以放置在控制夹具上,控制夹具上有四个气缸夹,气缸夹可以将目标炉架牢牢固定从而避免工业面阵相机对其进行拍照时出现偏差。
[0017] 在本实施例中,可以通过图像分类网络识别出目标炉架的型号和各个结构的位置信息,各个结构包括炉架的各个边、各个支腿等。识别出第一图像中炉架的各个边及支腿的结构和尺寸后,可以与预先确定的不同型号炉架的尺寸信息作对比,比如CAD图像中的炉架型号和尺寸,从而确定目标炉架的型号以及各支腿的位置。
[0018] 根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对第一图像进行识别,确定目标炉架中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息,可以检测多个不同型号的炉架并获得炉架的型号信息和各个结构的位置信息,实现了炉架检测的多样性。
[0019] S102:基于位置信息对目标炉架进行扫描,得到目标炉架的点云数据。
[0020] 在本实施例中,基于位置信息对目标炉架进行扫描,扫描的设备可以为激光雷达设备,位置可以为炉架上方第一距离的地方。比如,可以使用3D激光轮廓传感器对待检测的炉架整体按照预定的扫描路径进行均匀采样扫描,3D激光轮廓传感器的位置可以为炉架上方第一距离20cm处。
[0021] 扫描方式可以为均匀扫描,扫描完成后得到的是均匀采集的轮廓线,将均匀采集的轮廓线拼接成轮廓图,轮廓图再按照调试好的xyz轴的偏移量和采样间隔就可以转换成目标炉架的点云数据。扫描区域可以为炉架下方支柱外第二距离的位置,比如第二距离为1cm,这样可以保证扫描时气缸夹手抬起时不会扫描到气缸夹上,也能保证炉架放置出现偏差时也能全部扫描上。
[0022] S103:对点云数据进行三维重建,拟合得到目标炉架的底面,确定目标炉架的底面的正投影图像。
[0023] 在本实施例中,3D激光轮廓传感器可能没有位于目标炉架的正上方对其进行扫描,扫描得到的点云数据是杂乱无章的,不便于分析处理,因此可以采用滤波算法去除点云数据中的多余点云数据,比如可以先用pcl库中的统计滤波函数把不在炉架范围内的点云数据去除,再利用半径滤波函数把孤立无效的点云数据去除。统计滤波函数中的条件滤波可以为:参数中的临近点个数设置为10、标准差倍数设置为1。
[0024] 对去掉无效数据的点云数据进行三维重建,将点云数据放入坐标系中,把每个点云数据转换成(x,y,z)坐标的形式。三维重建可以采用拟合的形式,利用拟合函数对目标炉架的底面进行拟合,比如pcl库中的拟合函数,然后再将其他的点云数据向底面做正投影得到二维的正投影图像。
[0025] S104:对投影图像的外边缘进行拟合,确定投影图像中目标炉架的外边缘位置。
[0026] 在本实施例中,可以对二维正投影图像的外边缘进行拟合,从而确定投影图像中目标炉架的外边缘位置信息,确定了目标炉架的外边缘位置后就可以确定目标炉架的内边缘位置。
[0027] S105:基于外边缘位置以及目标炉架的型号信息确定投影图像中目标炉架的内边缘位置。
[0028] 在本实施例中,确定目标炉架的型号信息后就可以获得目标炉架各个边的厚度,根据外边缘的位置和各个边的厚度就可以确定投影图像中目标炉架的内边缘位置。例如,目标炉架各个边的厚度为10mm,外边缘可以是一个长方形结构,根据外边缘的位置向内推进10mm即为内边缘的位置。
[0029] S106:对投影图像中内边缘位置的各个连通域进行识别,得到目标炉架的缺陷信息;基于缺陷信息对目标炉架进行打磨。
[0030] 在本实施例中,因为铸造炉架是通过两个模具相贴合后再向里浇铸获得的,因此两个模具贴合的位置可能会出现合模线和毛刺。一个模具为目标炉架的外侧和上方,另一个模具为目标炉架的里侧和下方,所以在投影图像的外边缘位置不会出现合模线和毛刺,只有在投影图像的内边缘位置会出现合模线和毛刺。
[0031] 在本实施例中,可以采用深度学习算法对投影图像中内边缘位置的各个连通域进行识别,得到目标炉架的缺陷信息。具体描述为:对投影图像的内边缘位置所对应的区域进行截取,将截取到的图像划分为多个区域,对每个区域内的连通域进行图像识别,得到目标炉架的缺陷信息。缺陷信息可以为缺陷的位置和缺陷的面积,缺陷面积不同,对目标炉架打磨的方式也不同,以此实现了对目标炉架的有效打磨。
[0032] 由上可以得出,首先本公开可以检测多个不同型号的炉架并获得炉架的型号信息和各个结构的位置信息,实现了炉架检测的多样性。其次,本公开还可以基于目标炉架的位置信息对目标炉架进行扫描,使得目标炉架放置位置出现偏差时也能很好的被扫描完整。最后,本公开还可以基于外边缘位置以及目标炉架的型号信息确定内边缘位置,对内边缘位置对应区域的缺陷进行打磨,实现了有效打磨。
[0033] 在本公开的一种实施例中,炉架打磨方法还包括:根据第二图像确定不同型号的炉架的尺寸信息,第二图像为预先绘制的不同型号的炉架图像。
[0034] 在本实施例中,第二图像为预先绘制的不同型号的炉架图像,比如,第二图像为输入的CAD图,然后可以对第二图像建立图像识别模型,当工业面阵相机对未知型号的目标炉架进行识别时,可以利用与之连接的处理器中的图像识别模型确定目标炉架的尺寸信息。这种根据预先绘制的不同型号的炉架图像确定待检测的目标炉架的尺寸信息的方式有助于实现炉架打磨的自动化。
[0035] 在本公开的一种实施例中,根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对第一图像进行识别,确定目标炉架中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息,包括:将第一图像输入至预先训练的图像识别模型中,得到目标炉架的尺寸信息;
将目标炉架的尺寸信息与不同型号炉架的尺寸信息进行匹配,确定目标中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息。
[0036] 在本实施例中,第一图像可以为工业面阵相机拍摄得到的目标炉架的图像,预先训练的图像识别模型中存有不同型号的炉架的尺寸信息,尺寸信息包括炉架的型号、炉架的各个结构以及炉架各个结构的位置等。
[0037] 将第一图像输入至预先训练的图像识别模型中,可以确定目标炉架的尺寸信息;再将目标炉架的尺寸信息与图像识别模型中不同型号的炉架的尺寸信息进行匹配,就可以确定目标炉架的型号信息和目标炉架中各支腿在哪个边上。
[0038] 在本公开的一种实施例中,基于位置信息对目标炉架进行扫描,得到目标炉架的点云数据,包括:基于位置信息生成目标炉架对应的扫描路径;
基于扫描路径对目标炉架进行扫描,得到目标炉架的点云数据。
[0039] 在本实施例中,通过图像分类网络可以识别出目标炉架的种类规格,根据目标炉架的种类规格就可以确定目标炉架各个结构的位置信息。确定目标炉架中各个结构的位置信息后,比如,目标炉架中各支腿的位置,3D激光轮廓传感器就可以根据接收到的目标炉架对应的扫描路径并对目标炉架的整体进行扫描,扫描完成后就能得到目标炉架的点云数据。这种基于目标炉架的位置信息所得到的扫描路径不是唯一的,即每次目标炉架放置的位置不同,所得到的扫描路径也是不同的。这种扫描方式相对于按照固定路径进行扫描更加灵活,更加方便。
[0040] 在本公开的一种实施例中,参考图5,确定目标炉架的底面的正投影图像,包括:以目标炉架的底面为xoy面建立三维坐标系,确定目标炉架的底面在三维坐标系z轴方向的投影图像,得到目标炉架的底面的正投影图像。
[0041] 在本实施例中,可以将拟合得到的目标炉架的底面作为xoy面建立三维坐标系,取三维坐标系中目标区域内的数据沿z轴向xoy面做投影得到投影图像,目标区域可以是包含目标炉架上半部分内外边缘的区域;沿z轴方向可以为沿z轴的正方向也可以为沿z轴的负方向。具体实现方式可以为:通过pcl库中的拟合函数先拟合出目标炉架的底面,同时得到一个变换矩阵,通过这个变换矩阵可以将点云数据转变成以这个底面为xoy面垂直法向量为z轴建立的坐标系。可以以底面为横截面,按z轴做分段处理,取上半部分分段向z轴方向做投影获得二维投影图像。
[0042] 在本公开的一种实施例中,基于外边缘位置以及目标炉架的型号信息确定投影图像中目标炉架的内边缘位置,包括:基于目标炉架的型号信息确定目标炉架对应的第三距离;第三距离为目标炉架内边缘与外边缘之间的距离;
基于第三距离以及外边缘位置确定投影图像中目标炉架的内边缘位置。
[0043] 在本实施例中,第三距离为目标炉架内边缘与外边缘之间的距离,确定目标炉架的型号信息后,就可以得到目标炉架内边缘与外边缘之间的距离即目标炉架各边的厚度,根据目标炉架的外边缘位置和各边的厚度就可以确定目标炉架的内边缘位置。比如,目标炉架各边的厚度为10mm,目标炉架向内距离外边缘位置10mm的位置就是内边缘的位置。这种通过外边缘位置和目标炉架的型号信息确定内边缘位置的方式可以保证内边缘位置的准确性。
[0044] 在本公开的一种实施例中,缺陷信息包括缺陷面积和缺陷位置,基于缺陷信息对目标炉架进行打磨,包括:响应于缺陷面积小于第一预设面积,基于缺陷位置以及打磨设备的直径确定打磨轨迹,基于打磨轨迹对目标炉架进行打磨;
响应于缺陷面积大于等于第一预设面积,基于预设的步长将缺陷位置所在的区域划分成多个子区域,基于多个子区域对应的打磨轨迹依次对目标炉架进行打磨。
[0045] 在本实施例中,缺陷可以为合模线及毛刺,分布在内边缘内部区域中的部分。缺陷信息包括缺陷面积和缺陷位置,缺陷面积大小不同,打磨的方式也不同。当缺陷面积小于第一预设面积时,缺陷即为毛刺,可以根据定位到的缺陷位置和打磨设备的直径确定打磨轨迹,打磨设备就可以根据打磨轨迹对目标炉架进行打磨。
[0046] 当缺陷面积大于等于第一预设面积时,可以设定预设步长,比如步长为1mm,然后将缺陷位置所在的区域划分为多个子区域。划分方式可以为条形划分,每个条形区域的宽度为1mm;也可以为环形划分,每个圆环的环宽为1mm。根据缺陷的位置和打磨设备的直径确定打磨轨迹,打磨设备根据多个子区域的打磨轨迹对目标炉架进行打磨。比如,当缺陷面积大于等于第一预设面积时就要多次打磨,通过边缘算法确定要打磨区域的最外边,按照每次渐进1mm进行循环直到打磨完这个缺陷所在的区域。
[0047] 打磨时先打磨目标炉架外圈,然后再打磨目标炉架内圈和支腿,以此实现快速、准确的打磨工件四周和顶面的任意度及位置的合模线及毛刺,可适应一定范围内的不同结构的工件打磨。
[0048] 对应于上文实施例的炉架打磨方法,图2为本公开一实施例提供的炉架打磨装置的结构框图。为了便于说明,仅示出了与本公开实施例相关的部分。参考图2,该炉架打磨系统20包括:目标炉架识别模块21、数据采集模块22、数据拟合模块23、外边缘位置确定模块24、内边缘位置确定模块25和缺陷打磨模块26。
[0049] 其中,目标炉架识别模块21,用于根据预先确定的不同型号炉架的尺寸信息对第一图像进行识别,确定目标炉架中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息;第一图像为拍摄得到目标炉架的图像。
[0050] 数据采集模块22,用于基于位置信息对目标炉架进行扫描,得到目标炉架的点云数据。
[0051] 数据拟合模块23,用于对点云数据进行三维重建,拟合得到目标炉架的底面,确定目标炉架的底面的正投影图像。
[0052] 外边缘位置确定模块24,用于对投影图像的外边缘进行拟合,确定投影图像中目标炉架的外边缘位置。
[0053] 内边缘位置确定模块25,用于基于外边缘位置以及目标炉架的型号信息确定投影图像中目标炉架的内边缘位置。
[0054] 缺陷打磨模块26,用于对投影图像中内边缘位置的各个连通域进行识别,得到目标炉架的缺陷信息;基于缺陷信息对目标炉架进行打磨。在本公开的一种实施例中,目标炉架识别模块21还用于:
根据第二图像确定不同型号的炉架的尺寸信息,第二图像为预先绘制的不同型号的炉架图像。
[0055] 在本公开的一种实施例中,目标炉架识别模块21具体用于:将第一图像输入至预先训练的图像识别模型中,得到目标炉架的尺寸信息;
将目标炉架的尺寸信息与不同型号炉架的尺寸信息进行匹配,确定目标中各个结构的位置信息以及目标炉架的型号信息。
[0056] 在本公开的一种实施例中,目标数据采集模块22具体用于:基于位置信息生成目标炉架对应的扫描路径;
基于扫描路径对目标炉架进行扫描,得到目标炉架的点云数据。
[0057] 在本公开的一种实施例中,数据拟合模块23具体用于:以目标炉架的底面为xoy面建立三维坐标系,确定目标炉架的底面在三维坐标系z轴方向的投影图像,得到目标炉架的底面的正投影图像。
[0058] 在本公开的一种实施例中,内边缘位置确定模块25具体用于:基于目标炉架的型号信息确定目标炉架对应的第一距离;第一距离为目标炉架内边缘与外边缘之间的距离;
基于第一距离以及外边缘位置确定投影图像中目标炉架的内边缘位置。
[0059] 在本公开的一种实施例中,缺陷打磨模块26具体用于:响应于缺陷面积小于第一预设面积,基于缺陷位置以及打磨设备的直径确定打磨轨迹,基于打磨轨迹对目标炉架进行打磨;
响应于缺陷面积大于等于第一预设面积,基于预设的步长将缺陷位置所在的区域划分成多个子区域,基于多个子区域对应的打磨轨迹依次对目标炉架进行打磨。
[0060] 参见图3,图3为本公开一实施例提供的一种炉架打磨系统的示意框图。如图3所示的本实施例中的炉架打磨系统300可以包括:底座301、工件装夹机构302、碎屑收集机构303、打磨设备304和控制终端305。打磨设备304、碎屑收集机构303均与控制终端305电连接,工件装夹机构302设置于底座301的上方,碎屑收集机构303设置于底座301的下方。控制终端305,包括存储器310、处理器311以及存储在所述存储器310中并可在所述处理器311上运行的计算机程序。
[0061] 上述处理器311、输入设备312、输出设备313及存储器310通过通信总线330完成相互间的通信。存储器310用于存储计算机程序,计算机程序包括程序指令。处理器311用于执行存储器310存储的程序指令。其中,处理器311被配置用于调用程序指令执行上述各装置实施例中各模块的功能,例如图2所示模块21至26的功能。
[0062] 应当理解,在本公开实施例中,所称处理器311可以是中央处理单元 (Central Processing Unit,CPU),该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器 (Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路 (Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程阵列 (Field‑Programmable Gate Array,FPGA) 或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
[0063] 输入设备312可以包括触控板、指纹采传感器(用于采集用户的指纹信息和指纹的方向信息)、麦克等,输出设备313可以包括显示器(LCD等)、扬声器等。
[0064] 该存储器310可以包括只读存储器随机存取存储器,并向处理器311 提供指令和数据。存储器310的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器。例如,存储器310还可以存储设备类型的信息。
[0065] 具体实现中,本公开实施例中所描述的处理器311、输入设备312、输出设备313可执行本公开实施例提供的炉架打磨方法的第一实施例和第二实施例中所描述的实现方式,也可执行本公开实施例所描述的电子设备的实现方式,在此不再赘述。
[0066] 在本公开的另一实施例中提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质存储有计算机程序,计算机程序包括程序指令,程序指令被处理器执行时实现上述实施例方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。其中,计算机程序包括计算机程序代码,计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。计算机可读介质可以包括:能够携带计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read‑Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是,计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减,例如在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读介质不包括是电载波信号和电信信号。
[0067] 计算机可读存储介质可以是前述任一实施例的电子设备的内部存储单元,例如电子设备的硬盘或内存。计算机可读存储介质也可以是电子设备的外部存储设备,例如电子设备上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card, SMC),安全数字(Secure Digital, SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,计算机可读存储介质还可以既包括电子设备的内部存储单元也包括外部存储设备。计算机可读存储介质用于存储计算机程序及电子设备所需的其他程序和数据。计算机可读存储介质还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
[0068] 本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本公开的范围。
[0069] 所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,上述描述的电子设备和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
[0070] 在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的电子设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另外,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口或单元的间接耦合或通信连接,也可以是电的,机械的或其它的形式连接。
[0071] 作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本公开实施例方案的目的。
[0072] 另外,在本公开各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
[0073] 以上,仅为本公开的具体实施方式,但本公开的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内,可轻易想到各种等效的修改或替换,这些修改或替换都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此,本公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
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