用于电路板测试的设备例如可分别从US 3,564,408及US 4,417,204中获 知。这些设备具有接触板，在接触板上测试探针布置在基本栅格中。这些测试 探针通过长的线缆连接到测试电路。待测试的电路板放置在测试板上，并且在 电路板与测试板之间可装配适配器，使得在待测试电路板的各测试点与测试探 针之间形成电接触。
根据这种类型的测试设备已开发出模块化的测试设备，例如专利DE 32 40 916 C2及DE 33 40 180 C1所描述的测试设备。这种类型的测试设备具有母板， 该母板上放置有垂直布置的模块，各模块包括电子测试电路的一部分并且在其 上端具有垂直排列的测试探针。在测试设备中，数个这样的模块彼此并靠着安 装，其中，测试探针阵列形成替代接触板的接触阵列。从而模块很好地结合在 一起，多孔板可位于这些测试探针之上，其中每个测试探针穿过该多孔板中的 一个孔，从而固定在适当的位置。
接触阵列的模块化结构在实践中证明非常成功。这种模块化结构的主要优 点在于在电路板测试中施加的接触压力通过模块被转移到母板。
从实用新型专利DE 88 06 064 U1获知另一种测试设备，其中，接触阵列 在形式上是模块化的。这些模块为条形，各模块具有例如四行正方形垫或接触 面。这里公开了将垫以栅格形式布置，该栅格的栅格尺寸为例如0.5至2mm。 具有这样密集布置的垫的模块在实践中证明不成功，因为一方面，由于大量的 触点仅能被极大因而昂贵的评估电子设备所读取，另一方面，DE 88 06 064中 描述的实施例具有垂直放置的电路板，在该垂直放置的电路板的端面上直接形 成触点，该实施例在连续生产中带来了相当大的问题。
EP 0 875 767 A2公开了一种具有评估电子设备的测试设备，该评估电子设 备具有大量的测试连接。该测试设备具有由多层电路板构成的基本栅格，在该 多层电路板的上侧具有以栅格形式布置的触点。利用布在基本栅格的电路板中 的扫描通道，这些触点中的若干触点彼此电连接。在该基本栅格上放置有适配 器和/或转换器，其上可以放置待测试的电路板。该适配器和/或转换器在电路 板上的电路板测试点与基本栅格的触点之间形成电接触。
EP 1 322 967 B1公开了用于电路板测试的测试设备的另一模块。该模块具 有带有触点的条形部分，其构成了测试设备的基本栅格的一部分。在条形部分 的下面布置有竖直板，该竖直板上安装有一些用于评估测试信号的评估电子设 备。条形部分上的触点以栅格形式布置，该栅格的栅格间距不大于2mm，并且 模块的至少两个触点以使得电连接的触点与电子设备单元的单输入相接触的 方式彼此电连接。
EP 1 083 434 A2与US 6,445,173B1分别描述了用于电路板测试的另一设 备，其中，基本栅格由相对于该基本栅格的平面成直角站立的电路板构成。这 些电路板被描述为基本栅格电路板，其在位于该基本栅格的平面中的狭窄侧面 上具有触点，这些触点代表该基本栅格的接触元件。这些触点连接到遍布在基 本栅格电路板的一个侧面的导体路径。这些基本栅格电路板为多层电路板形 式，其中以彼此成直角布局的导体路径布置在不同的层次以形成矩阵。在彼此 成直角布局的这些导体路径的交叉点，这些导体路径可利用通孔电连接。利用 这些通孔及矩阵，该基本栅格的所选触点可彼此电连接，使得彼此连接的触点 只需要一个通向评估电子设备的连接。由于该矩阵的导体路径分布在该基本栅 格电路板的相当大的面积上，因此与从上述的EP 0 875 767 A2获知的扫描通道 相比较更容易实现。
以前，市场上可获得的测试设备的基本栅格的触点的最大密度为每平方厘 米62个触点，对应于一个边长为1.27mm的正方形栅格。
确实市场上也有具有更高触点密度(两倍或四倍)的测试设备。然而，至 今为止，这些测试设备在技术上都非常复杂因而比较昂贵，因此只能极少量地 制造。
对于具有基本栅格的测试设备，即并行测试设备而言，基本栅格触点的密 度应该进一步增加。这使得难以制造这样的基本栅格，特别是在该基本栅格的 某些触点相互电连接的情况下。关于从EP 1 083 434 A2获知的基本栅格电路 板，在该基本栅格电路板的狭窄侧面上难以制造相邻如此近的触点。对于具有 上述基本栅格的模块，具有相互电连接的触点，如果期望触点密度进一步增加， 则难以实现所选触点的电连接。
例如，如果期望触点的密度加倍(每平方厘米64个触点)，则不可能使用 现有方法。因此，为了形成依据EP 0 875767 A2的基本栅格，必需提供具有48 层的基本栅格电路板。使用现在的制造方法，现今不可能可靠地制造这样的电 路板。对于这样的电路板，不可能正确制造其所有连接。然而，有缺陷的基本 栅格在测试设备中是不容许的。
当基本栅格中的触点密度增加时出现的又一问题是加载在基本栅格上的 机械压力增加。该压力与触点的数量成比例。如果触点加倍，则压力也会对应 增加。

因此，本发明基于以下技术问题：制造用于电路板测试的测试设备的模块， 其允许基本栅格上的触点密度增加；同时还利于基本栅格的所选触点的简单连 接。
该问题通过具有权利要求1的特征的模块得以解决。本发明的有利扩展在 从属权利要求中描述。
用于测试未组装电路板的测试设备的本发明模块用于具有基本栅格的测 试设备，该基本栅格上布置有适配器和/或转换器，以将该基本栅格的触点与待 测试电路板的电路板测试点连接。该模块包括支撑板及接触板。该接触板由被 描述为基本栅格元件的刚性电路板部分与至少一个柔性电路板部分构成。该基 本栅格元件上提供有多个触点，各触点构成该基本栅格的触点的一部分且以每 平方厘米至少100个触点的密度布置。该基本栅格元件相对于相应的支撑板成 直角地安装在该支撑板的端面，并且柔性电路板部分以使得接触板的其它部分 的至少一部分与该支撑板大致平行的方式弯曲。该基本栅格元件的各触点与导 体路径电接触，该导体路径布在接触板中且从基本栅格元件延伸到柔性电路板 部分中。
因为基本栅格元件由刚性电路板部分制成，所以基本栅格的触点可以以通 常方式以任何期望的密度设置。由于基本栅格元件连接到柔性电路板部分，在 该柔性电路板部分中布有连接到基本栅格元件的触点且延伸到该柔性电路板 部分中的导体路径，因此在和基本栅格成直角的平面上具有充分的空间可用于 所选导体路径的相互电连接，进而用于基本栅格的所选触点的相互电连接。这 些连接也可通过布于接触板及支撑板或另一电路板中的导体路径的结合来实 现。由于在和基本栅格的平面成直角的平面中有很多的空间，因此原则上也可 能在没有单独的导体路径、因而对应的触点相互电连接的情况下使得连接到基 本栅格的触点的导体路径通向评估电子设备。然而这样的实施例的缺点是评估 电子设备的能力必需增加以与基本栅格的触点数量相匹配。
通过设置柔性电路板部分，连接到触点的导体路径从与基本栅格平行的平 面弯曲到与基本栅格大致成直角的平面。容易形成以彼此成直角布局的导体路 径的矩阵，其中，利用通孔选择性连接某些交叉点。然而这些连接也可以以不 同的方式产生。例如，连接到基本栅格的触点的各导体路径可通过一个或多个 多路转换器及逻辑模块(ASIC、FPGA)的连接而结合，在所述多路转换器及 逻辑模块中，布线形成合适的互相连接矩阵。在这里，使用FPGA特别具有优 势，因为基本栅格的触点的连接或互相连接可随时改变。
在本发明的优选实施例中，接触板具有两个柔性电路板部分，基本栅格元 件位于这两个柔性电路板部分之间。
根据本发明的另一方面，接触板的形式为柔性电路板遍布该接触板的整个 区域，在该柔性电路板上放置有一个或多个刚性电路板部分，具有延伸穿过刚 性电路板部分和柔性电路板两者的通孔，使得两个不同类型的电路板中的触点 与导体路径之间存在电连接。
接触板也可具有一个或多个其它刚性电路板部分，其被描述为通道部分。 通道部分具有数个导体路径，与连接到基本栅格元件的触点的导体路径成直角 布局，所述数个导体路径形成扫描通道并利用通孔选择性地电连接到通向基本 栅格元件的触点的导体路径。
在可替选实施例中，彼此成直角布局的导体路径的矩阵也可设置于支撑板 中，同时在这些导体路径的特定交叉点处，以使得基本栅格元件的特定触点彼 此电连接的方式形成通孔。
附图说明
下面通过举例并结合附图的方式来详细说明本发明，在附图中：
图1为依据本发明的模块的横截面图；
图2a为图1中的模块的俯视图；
图2b为图2a的俯视图的局部放大图；
图3为处于张开状态的接触板，该接触板为图1中的模块的一部分；
图4为依据本发明的模块，该模块具有与支撑板分离示出的接触板；
图5为图1中的模块的接触板在通道部分的区域的细节图；
图6为本发明模块的另一实施例的处于张开状态的又一接触板；以及
图7为模块的另一示例的侧视图。

图1至图4示出了用于测试未组装电路板的测试设备的本发明模块的第一 实施例。模块1由支撑板2及接触板3组成。
支撑板2为钢制的高的、拉长的矩形板，其长度大约为30cm，高度大约 为6cm。支撑板2在其顶部及底部边缘大致为4至5mm厚。在支撑板2的侧 面4上设置有平的凹进部分5，所述凹进部分5遍布支撑板2的整个长度。这 些槽形的凹进部分5具有大约1mm的深度和大约3至4cm的宽度。
在支撑板2的底部边缘为位于中央的腹板(web)6，腹板6向下延伸(图 1及图4)。腹板6和支撑板2的面向下方的端面限定了两个阶跃部分或台阶7， 各台阶7把持接触片的边缘，以下将更详细地说明。
接触板3为柔性电路板8的形式，该柔性电路板8遍布接触板3的整个区 域。在图3中，接触板3以张开状态示出。至少一个刚性电路板10在背离柔 性电路板8的一侧附着到柔性电路板8，刚性电路板10在预定栅格中包含有触 点9。该刚性电路板形成基本栅格元件10，其代表用于测试已组装电路板的并 行(parallel)测试设备的基本栅格的一部分。基本栅格元件10为拉长的且为 条形，其具有例如大约5mm的宽度以及大约26cm的长度。基本栅格元件10 在其各末端部分延伸稍微超出柔性电路板8。使用例如纤维增强的粘胶树脂(半 固化片)，该刚性电路板平展地结合到该柔性电路板。在基本栅格元件中还设 置有通孔(未示出)，各通孔从各个触点9延伸，穿过刚性电路板进入柔性电 路板8中，在柔性电路板8中，各通孔连接到导体路径14(图5)。
因为触点是通过将金填充至界定通孔的孔而形成的，所以触点为圆形。这 些触点具有0.7mm的直径。其中布置有触点9的栅格由彼此交错的两个正方形 栅格构成。在所述正方形栅格中，各触点9彼此相距大致为1.27mm，其中， 在正方形的各个角点处具有一个触点9。在栅格的、布置在正方形的各个角的 四个触点9之间的中心，在所有情况下都设置有其它正方形栅格的触点。因此 这两个栅格彼此相对偏移为栅格的两个相邻触点之间距离的一半。这一半的距 离为0.635mm(图2b)。该栅格的触点密度为每平方厘米124个触点，因而为 至今为止通常使用的测试设备的基本栅格触点的最大密度的两倍。因为未组装 电路板必需同时接触多个电路板测试点，所以具有这样高密度触点的基本栅格 被用于测试未组装电路板。因此，该模块用于测试未组装电路板。
接触板3具有两个刚性电路板11、12，其安装在基本栅格元件10的两侧， 与基本栅格元件10之间具有间隙。具有刚性电路板11、12的接触板3的这些 部分被描述为通道部分13。
图5示出了这样的通道部分13及接触板3的相邻区域的细节。在柔性电 路板8中布有导体路径14，各导体路径连接到触点9并至少延伸到各通道部分 13之一中。在通道部分13的刚性电路板中设置有导体路径15，所述导体路径 15与导体路径14成直角布局并被描述为扫描通道15。在扫描通道15与柔性 电路板8的导体路径14之间的某些交叉点设置有通孔16，各通孔16将导体路 径14连接到扫描通道15。在此，利用数个通孔16将各个扫描通道15连接到 数个导体路径14。因此，导体路径14的组与触点9的组分别通过扫描通道15 彼此电连接。关于触点的互相连接，可参考EP 0 875 767 A2与EP 1 083 434 A2 的全部内容。
图5以示意性形式示出仅仅数个导体路径14及扫描通道15。通常，提供 64、128或256组相互电连接的导体路径及相应数量的扫描通道15。这些组的 数量可以根据应用而变化。通常，相互连接的导体路径组的数量在50至500 的范围内，较佳地，在100至300的范围内。
通道部分优选是以使得在所有情况下两个、三个、四个或五个导体路径14 彼此连接的方式设计。通过这种方式，与基本栅格的触点数量相比，连接的数 量减半或者甚至是减少为五分之一。
由于利用导体路径14的互相连接实现的触点9的互相连接是在与基本栅 格成直角的平面内实现，因此与依据EP 0 875 767 A2的互相连接的模式相比可 得到多得多的空间。因此，该互相连接更加简单且更加具有成本效率。而且， 可以将明显更多的触点9安全且可靠地相互连接。
在本实施例中，通道部分13中设置有额外的刚性电路板11、12，通过半 固化片粘接以其整个表面与柔性电路板8结合。至少另外一层与刚性电路板 11、12一起设置，在该层中可形成导体路径(扫描通道)。当然也可使用多层 柔性电路板8代替刚性电路板。然而，使用刚性电路板更加具有成本效率，并 且在刚性电路板中制造通孔可更加容易且更加可靠。
在本实施例中，扫描通道15利用通孔16连接到导体路径14。然而在本发 明范围内，通道部分13也可能为如下电路板形式：在该电路板中，扫描通道 为与位于该通道部分的表面上的触点相接触的导体路径。当将形成通道部分的 电路板结合到柔性电路板时，通道部分的触点被焊接到柔性电路板的对应触 点，而柔性电路板的这些相应触点与导体路径14相接触。当需要互相电连接 的导体路径组仅包含少量导体路径14(例如两个或三个导体路径)时，这样的 实施例是有利的。
通道部分13被布置成与基本栅格元件10具有间隙，使得在所有情况下， 接触板3的柔性部分17形成在通道部分13与基本栅格元件10之间。各通道 部分13关于基本栅格元件10对称布置，使得两个柔性部分17具有相等的宽 度。
接触片18、19设置在接触板3的距基本栅格元件10最远的末端。接触片 18、19沿着柔性电路板8的整个边缘延伸，并且在柔性电路板8的末端稍微突 出。接触片18、19为条形刚性电路板的形式，所述条形刚性电路板与柔性电 路板8结合。在接触片18、19上形成有触点(未示出，因为这些触点位于图3 中接触板3的背面)，这些触点连接到布在柔性电路板8中的导体路径14。然 而，并不是柔性电路板8的每个导体路径14都通向触点，而是来自可以通过 扫描通道互相连接的一组导体路径14的单个导体路径电连接到触点。因此， 接触片18、19的触点的总数明显少于基本栅格元件10的触点9的数量。
接触板3以使得基本栅格元件10位于支撑板2的一个端面21的方式连接 到支撑板2，并且相邻的柔性部分17以使得具有与其邻接的区域的接触板3 大致平行于支撑板2的侧面的方式弯曲。
在本实施例中，接触板3以其整个表面结合到支撑板2，其中，通道部分 13设置在支撑板2的凹进部分5中。接触片18、19中的每一个接触片通过边 缘部分插入到支撑板2的两个台阶7之一中，向下延伸稍微超出腹板6且因此 在它们之间限定了类似间隙的空间。在腹板6的区域中，接触片18、19利用 螺钉连接固定到支撑板2。电路板22的边缘位于两个接触片18、19之间的空 间中，电路板22与接触片18、19相比向下延伸适当的距离。在电路板22与 接触片18、19相接触的部分中，电路板22具有触点，这些触点被焊接到接触 片18、19的对应触点。与基本栅格元件相反，因为这里有足够的空间可用， 且触点具有较大的面积并以大致的栅格布置，因此它们的焊接较容易。但是， 原则上也存在将接触片18、19的触点与电路板22的触点相接触的其它方式。 例如，可在接触片与电路板之间设置小的弹簧接触。
接触片18、19螺接到电路板22，使得确保足够的机械稳定性。
集成电路23可设置在电路板22上，以形成评估电子设备的一部分，通过 评估电子设备产生并评估测量信号。然而，也可能电路板22不具有这样的部 件，也可能电路板22仅设置有连接到评估电子设备的导线。优选是通过测试 设备中设置的插接连接器(未示出)实现评估电子设备的连接，并且电路板22 的下边缘插入该插接连接器中。
支撑板2从接触板3的侧面略微突出。支撑板2的突出部分的底部边缘形 成支撑24(图4)，支撑24放置在测试设备中合适的支撑轨道(未示出)上并 吸收施加在基本栅格上的测试设备的全部压力。由于模块1设计为具有稳定的 支撑板2，支撑板2将测试设备的全部压力转移到支撑轨道，因此电路板22 没有机械负荷。通过这种方式，在基本栅格下面的区域中，机械负荷在初期就 从该电路分离，使得由于电路板22不承受任何机械负荷，所以容易为电路板 22提供更多的功能元件。
图6示出了接触板3的可替换实施例。该接触板也具有柔性电路板8、基 本栅格元件10、以及通道部分13，通道部分13被布置成与基本栅格元件10 之间具有间隙，并且在通道部分13与基本栅格元件10之间形成柔性部分17。 此外还设置有接触片18。在接触板的本实施例中，仅设置有一个通道部分13 及一个接触片18。因此，接触板3仅在支撑板2的两个侧面之一上从支撑板2 的端面21延伸至台阶7。在其它方面，具有该接触板3的模块的设计及功能对 应于上述模块1。
图6所示实施例的缺点在于所有的导体路径都通过柔性电路板8通向基本 栅格元件10的一侧，使得该柔性电路板中导体路径的密度明显大于图5所示 实施例中的该密度。因此，在接触板3相对于支撑板2一侧布置的情况下，提 供相互重叠的两个或更多柔性电路板也可能是有利的。这种方式下，可减小导 体路径的密度。
以上已结合实施例对本发明进行了说明。在本发明的范围内，可能有各种 不同的修改。因此，例如接触板3不必以其整个表面结合到支撑板2。也可能 存在其它类型的连接，例如螺钉或铆钉。在本实施例中，支撑板2由钢制成且 能够吸收相当大的力。对于不产生如此大力的较小的测试设备，支撑板也可以 使用强度比钢小的材料。也可使用一种类似刚性的合成材料来代替钢。特别地， 另外有利的是，支撑板为电路板形式，其中触点的互相连接出现在支撑板中。 导体路径的互相连接也可在与接触板3分离的互连板中实现。这样的互连板为 在一个侧面上具有触点的电路板，这些触点与接触板的相应触点电接触。这样 的实施例的优点在于，通过更换互连板可以不同地布置各触点的互相连接。
利用柔性电路板8将导体路径从基本栅格元件10转移到垂直方向提供了 大量的空间，使得在通道部分13的区域中不仅可实现互相连接，而且可实现 复杂电路。图7示出了具有基本栅格元件10的模块1的相关示例的侧视图。 物理上所述模块按照上述实施例设计。允许复杂电路的多层刚性电路板位于通 道部分13中。该电路包含四个多路转换器25以及控制元件26，控制元件26 为逻辑模块。控制元件26经由数据线27连接到评估电子设备。数据线27较 佳为数据总线形式，该数据总线被引导穿过测试设备的所有模块，并且各控制 元件26可通过该数据总线由评估电子设备控制。
控制元件控制多路转换器25。在本实施例中，设置四个多路转换器25。 各多路转换器25利用导体路径28(为了简化图示，仅示出了少数导体路径28) 连接到基本栅格元件10的触点9。
连接到多路转换器25的导体路径28分为n组，各多路转换器能在各种情 况下将一组中的所有导体路径28切换至对应的输出导体路径29。输出导体路 径29通向评估电子设备。
控制元件26控制n组导体路径28和所述触点9中哪些分别通过相关的多 路转换器25连接到输出导体路径29。而且，通过这种方式，与触点9的数量 相比，模块的输出(输出导体路径29)数量可明显减少。这样布置的优点在于 各触点之间没有永久不变的互连，相反，各触点可被单独切换到评估电子设备 的连接。
原则上，单个多路转换器应足以相对于触点的数量减少输出导体路径的数 量。然而，由于连接到导体路径28且属于共同多路转换器的不同组的两个触 点9不能同时连接到输出导体路径，所以在这样的两个触点之间不可能进行测 量，因此使用可由控制元件26彼此独立触发的数个多路转换器是有利的。如 果设置数个多路转换器25，则每组的触点数量变小。由于连接到不同多路转换 器25的触点能同时连接到输出导体路径29，所以这些触点始终可以不考虑其 所属的组而彼此在一起进行测试，因此减少了相关问题。而且，将基本栅格的 触点有技巧地分配到待测试电路板的相关电路板测试点，可避免出现应在它们 之间进行测量的两个电路板测试点被连接到属于共同多路转换器25的不同组 的导体路径28的情况。如同从EP 0 875 767 A2中已知的那样，这样的分配可 通过位于基本栅格上的适配器中的测试针的倾斜定位来实现。
利用该模块，基本栅格元件10的若干组触点可以接通并经由数据线27由 评估电子设备单独测试。这产生了极其灵活的测试系统，考虑到大量的触点， 该系统通过较小的测量电子设备单元实现。
控制元件26也可被编程成使得其根据预定的测量周期在所有模块之间自 动切换多路转换器25，其中，该测试周期是通过数据线27发送的，或从前已 预先进行了同步的。
图7所示的切换机制代表了一种独立的发明构思，该构思也可经由与通向 基本栅格元件的链路无关的柔性电路板实现。
上述测试设备的模块的实施例具有基本栅格元件，在该基本栅格元件上， 基本栅格的触点以每平方厘米124个触点的密度布置。依据本发明进行的条形 基本栅格元件与柔性电路板部分的结合，通过相对于基本栅格偏转成垂直，以 简单的方式提供了很多空间，使得基本栅格的大量触点可以可靠地连接到评估 电子设备，其中该基本栅格元件由刚性电路板部分构成，并且在该柔性电路板 部分中，引导导体路径与基本栅格元件的触点接触。较佳地，设置两个柔性电 路板部分，各柔性电路板部分包含一些导体路径。在较佳实施例中，包含在柔 性电路板部分中的导体路径利用扫描通道进行特定电连接，使得评估电子设备 的必需连接减少。
本发明的另一有利变型在于将基本栅格元件、连接到该基本栅格元件的柔 性电路板部分、以及由高强度材料(例如钢或合适强度的合成材料)制成的支 撑板相结合，使得由多个触点产生的机械负荷以及电连接都可以得到可靠地处 理。
在所述实施例的描述中，使用了顶部及底部方向，顶部表示朝向基本栅格 的方向，底部表示背离基本栅格的方向。依据本发明的模块提供给用于对通常 在顶部及底部同时进行测试的未组装的电路板进行测试的测试设备，使得该测 试设备具有两个相对的基本栅格阵列，这两个基本栅格阵列通过压力一起移 动。位于其间的待测试电路板上下受到来自该两个基本栅格阵列之间的接触元 件的压力，并且在适用的情况下受到来自中间适配器及转换器之间的接触元件 的压力。对于安装在电路板上的模块来说，方向“底部”与“顶部”当然要相 应地反向。
本发明可简单总结如下：
本发明涉及一种用于电路板测试的测试设备的模块。这样的测试设备具有 基本栅格，在该基本栅格上可以布置适配器和/或转换器，以将基本栅格的触点 与待测试电路板的电路板测试点相连接。该模块包括支撑板及接触板。该接触 板由被描述为基本栅格元件的刚性电路板部分与至少一个柔性电路板部分构 成。该基本栅格元件上设置有触点，各触点构成基本栅格的触点的一部分。该 基本栅格元件安装在该支撑板的端面，并且该柔性电路板部分以使得该接触板 的其它部分的至少一部分平行于该支撑板的方式弯曲。基本栅格元件的各触点 与导体路径电接触，其中，这些导体路径布在接触板中且从基本栅格元件延伸 到柔性电路板部分中。
附图标记列表：
1    模块
2    支撑板
3    接触板
4    支撑板的侧面
5    凹进部分
6    腹板
7    台阶
8    柔性电路板
9    触点
10   基本栅格元件
11   刚性电路板
12   刚性电路板
13    通道部分
14    导体路径
15    扫描通道
16    通孔
17    柔性部分
18    接触片
19    接触片
20
21    端面
22    电路板
23    集成电路
24    支撑
25    多路转换器
26    控制元件
27    数据线
28    导体路径
29    输出导体路径