专利汇可以提供消除多普勒吸收背景的双光束饱和吸收激光光谱测量装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本实用新型公开了消除多普勒吸收背景的双光束饱和吸收激光 光谱 测量装置,包括有 激光器 ,依次设置于激光器射出激光光路上的光隔离器、半波片、第一分光棱镜和全反射镜;其中第一分光棱镜和全反射镜表面与激光光路之间呈锐 角 设置,第一分光棱镜的两个表面反射的两组平行反射光的光路上依次设置有第一中性衰减片、铷汽室、第二分光棱镜和差分光电探测器,所述的第二分光棱镜和所述全反射镜平行且相对设置,第二分光棱镜和全反射镜之间的光路上还设置有第二中性衰减片。利用该策略装置能够准确地测定 原子 的能级间距,并用其将激光 频率 准确地 锁 定在原子跃迁的中心频率上。,下面是消除多普勒吸收背景的双光束饱和吸收激光光谱测量装置专利的具体信息内容。
1.消除多普勒吸收背景的双光束饱和吸收激光光谱测量装置,其特征在于:包括有激光器,依次设置于激光器射出激光光路上的光隔离器、半波片、第一分光棱镜和全反射镜;
其中第一分光棱镜和全反射镜表面与激光光路之间呈锐角设置,第一分光棱镜的两个表面反射的两组平行反射光的光路上依次设置有第一中性衰减片、铷汽室、第二分光棱镜和差分光电探测器,所述的第二分光棱镜和所述全反射镜平行且相对设置,第二分光棱镜和全反射镜之间的光路上还设置有第二中性衰减片。
2.根据权利要求1所述的消除多普勒吸收背景的双光束饱和吸收激光光谱测量装置,其特征在于:所述的激光器为420nm外腔半导体激光器,功率为20mw,发射出的激光的光束直径为2mm;所述半波片对应的波长为420nm,所述的第一分光棱镜及第二分光棱镜为HR420nm 型分光棱镜,所述的第一中性衰减片及第二中性衰减片对应的波长为420nm,所述的全反镜对应的波长为420nm。
3.根据权利要求1或2所述的消除多普勒吸收背景的双光束饱和吸收激光光谱测量装置,其特征在于:所述的差分光电探测器具有两个420nm探头。
4.根据权利要求1或2所述的消除多普勒吸收背景的双光束饱和吸收激光光谱测量装
87
置,其特征在于:包含 Rb的所述铷汽室的尺寸为长5cm,直径为3cm。
标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
---|---|---|
直接探测测风激光雷达的标定装置 | 2020-05-19 | 552 |
一种用于探测亚多普勒光谱的通用NICE-OHMS系统 | 2020-05-13 | 329 |
一种基于激光吸收光谱层析成像技术的气流三维速度分布测量方法 | 2020-05-21 | 265 |
一种采用气固界面亚多普勒反射光谱偏频稳频装置及方法 | 2020-05-14 | 375 |
多普勒差分测速模型及与X射线脉冲星组合导航的方法 | 2020-05-17 | 391 |
一种多普勒光学相干层析的绝对流速测量装置与方法 | 2020-05-17 | 806 |
一种小型无本底饱和吸收光谱装置及其系统和控制方法 | 2020-05-21 | 236 |
一种高光谱遥感仪器在轨光谱定标方法 | 2020-05-16 | 260 |
一种用于亚多普勒饱和吸收光谱的反射式集成装置 | 2020-05-14 | 58 |
智能图像分析自调光谱的宽补光物证的提取系统 | 2020-05-22 | 734 |
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。