专利汇可以提供一种细粒沉积岩中各组分润湿性的测定方法和装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 提供了一种细粒 沉积岩 中各组分 润湿性 的测定方法和装置。该方法的步骤包括:步骤A:采集细粒沉积岩样品,并将其制备成两面平行的薄片状;步骤B:对其中一个面进行精细的机械剖光,再利用离子束大面积剖光;步骤C:利用扫描电镜背散射模式对离子束剖光的面进行拍照,EDS元素面扫确定各矿物组分;步骤D:挑选不同矿物组分的区域,并分别用FIB做标志;步骤E:将微纳米液滴加到矿物上;步骤F:利用 原子 力 显微镜 获得 接触 线,确定接触 角 ;步骤G:根据液滴性质和接触角,确定各矿物的润湿性。相比其它的测定方法,本发明可以实现细粒沉岩中各组分的润湿性测定,将细粒沉积岩润湿性评价由宏观提升到微观颗粒级别。,下面是一种细粒沉积岩中各组分润湿性的测定方法和装置专利的具体信息内容。
1.一种细粒沉积岩中各组分润湿性的测定方法,其特征在于,该方法的步骤包括:
步骤A:采集细粒沉积岩样品,并将其制备成两面平行的薄片状;
步骤B:对其中一个面进行精细的机械剖光,再利用离子束大面积剖光;
步骤C:利用扫描电镜背散射模式对离子束剖光的面进行拍照,EDS元素平面扫描确定各矿物组分;
步骤D:挑选不同矿物组分的区域,并分别用FIB做标志;
步骤E:将微纳米液滴加到矿物上;
步骤F:利用原子力显微镜获得接触线,确定接触角;
步骤G:根据液滴性质和接触角,确定各矿物的润湿性。
2.根据权利要求1所述的测定方法,其特征在于,所述步骤A中将采集的细粒沉积岩样品制备成两面平行的薄片状的过程中还包括对两面进行初步的机械剖光。
3.根据权利要求2所述的测定方法,其特征在于,薄片状样品的厚度为0.2~0.5cm,最大长度不超过1.5cm。
4.根据权利要求1所述的测定方法,其特征在于,在所述步骤B中精细的机械剖光后利用离子束大面积剖光,剖光时间为4~8小时。
5.根据权利要求1所述的测定方法,其特征在于,在所述步骤E中,利用微量注射器、电子探针针尖点滴或者机械手装置将微纳米液滴加到矿物上。
6.根据权利要求1所述的测定方法,其特征在于,在所述步骤F中,利用原子力显微镜获得接触线的过程中使用模式为非接触模式或者调频模式。
7.根据权利要求1所述的测定方法,其特征在于,在所述步骤F中,通过接触线确定接触角的过程包括:在原子力显微镜下观测微纳米液滴在固液接触边缘的切线与固体平面间的夹角即确定为接触角θ。
8.根据权利要求7所述的测定方法,其特征在于,所述微纳米液滴为去离子水、地层水、原油或者合成油。
9.根据权利要求8所述的测定方法,其特征在于,步骤G:根据液滴性质和接触角,确定各矿物的润湿性;
液滴为去离子水或者地层水时,
则θ=0,为完全水润型;
0<θ<90°,水润型;
90°<θ<180°,为油润型;
θ=180°,为完全油润型;
液滴为原油或者合成油时,
则θ=0,为完全油润型;
0<θ<90°,为油润型;
90°<θ<180°,为水润型;
θ=180°,为完全水润型。
10.一种用于实现权利要求1-9任一项所述测定方法的测定装置,其特征在于,所述测定装置包括:
样品制备装置:将采集细粒沉积岩样品制备成两面平行的薄片状;
样品剖光装置:对制备的薄片状样品选择一个面进行剖光使得表面达到微观润湿角测定装置的使用标准;
矿物鉴定装置:对剖光后的表面进行矿物组分识别和标记;
液滴加入装置:将微纳米液滴加到矿物上;
微观润湿角测定装置:测量微纳米液滴在矿物上的接触线,确定接触角。
11.根据权利要求10所述的测定装置,其特征在于,所述矿物鉴定装置为三束离子系统;利用扫描电镜背散射模式对剖光后的面进行拍照,EDS元素面扫确定各矿物组分;并用FIB对不同矿物组分进行标记。
12.根据权利要求10所述的测定装置,其特征在于,所述液滴加入装置为微量注射器、电子探针或者机械手装置。
13.根据权利要求10所述的测定装置,其特征在于,所述样品剖光装置包括机械剖光装置和离子束剖光装置。
14.根据权利要求10所述的测定装置,其特征在于,所述微观润湿角测定系统为原子力显微镜。
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