键槽对称度测量装置
专利汇可以提供键槽对称度测量装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 提供了一种 键槽 对称度测量装置。将主尺上的固定爪和活动爪放入所测键槽内，旋动调节装置。使两爪卡紧键槽的两侧面，主尺与键槽的 位置 即确定。然后移动副尺上的卡爪使其靠紧孔壁的中心高度位置。就可以测量孔键槽的对称度。将卡框移至 工件 中心高度以上，让副尺靠紧工件外圆，就可以测量轴键槽的对称度。，下面是键槽对称度测量装置专利的具体信息内容。
1、一种键槽对称度测量装置，包括主尺(1)和沿着主尺(1)移动的拉框(2)和尺框(3)，拉框(2)是由调节装置(9)带动的，主尺(1)上有固定爪(4)，拉框(2)上有活动爪(5)，其特征在于与尺框(3)一起沿着主尺(1)移动的副尺(6)上装着带有卡爪(8)的卡框(7)，卡框(7)可以沿着副尺(6)移动，当固定爪(4)和活动爪(5)与键槽两侧面卡紧后，利用卡爪(8)的测量刃口或副尺(6)的测量面分别与被测工件的孔壁或外径接触，可以实现对孔键槽和轴键槽的对称度测量。
2、如权利要求1所述装置，其特征在于卡爪（8）的测量刃口与副尺（6）的测量面重合。
3、如权利要求1所述装置，其特征在于固定爪（4）和活动爪（5）是向两个方向凸出的。
本发明提供了一种键槽对称度测量装置。该装置可以准确测量各种尺寸的孔键槽和轴键槽对称度，以及键槽宽度。该装置还可以测量部分齿数的矩形内外花键的牙形对称度。
目前尚无检测孔和轴键槽对称度的工具。上海闽行工具总厂85103770的发明专利申请，只能用于轴键槽的测量，并且存在原理、比例等多项误差，使实际测量精度下降。
本发明的目的是提供一种制造和使用都很方便的孔键槽和轴键槽对称度的测量装置。发明是这样实现的（参照附图2）：在主尺的一个平面上，固定一个与键槽宽度一致的标准键，并将标准键压入理想的键槽内。这时侯，主尺与键槽的相对位置即已确定。然后将直角尺沿着主尺移动至靠上轴外圆时，就可以测得对称度偏差数值。如果将标准键宽度分成两半，一半与主尺固定，一半可沿着主尺移动，就可以测量一定尺寸范围的键槽对称度了。
发明的具体结构由以下的实施例及其副图给出。
图1是孔键槽测量的主要结构视图。
图1a是从图1中A-A剖而得出的俯视图。
图1b是从图1a中B-B剖而得到的剖面图。
图1C是从图1a中C-C剖而得到的剖面图。
图2是轴键槽测量的主要结构视图。
下面结合附图1及附图1a-1c详细说明本发明提供的具体装置及其工作过程。
该装置包括主尺（1）和可沿着主尺（1）滑移的拉框（2）和尺框（3）。主尺（1）上装有向两个方向凸出的固定爪（4），拉框（2）上装有与固定爪（4）相对应的活动爪（5）。固定爪（4）和活动爪（5）在主尺背面的凸出部分是用于孔键槽测量的，在主尺上面的凸出部分是用于轴键槽测量的。尺框（3）上有副尺（6），副尺（6）上装有可滑移的卡框（7），在卡框（7）后面左下方有卡爪（8），卡爪（8）的测量刃口与副尺（6）的左边测量面重合。调节装置（9）可使拉框（2）沿着主尺（1）移动。
键槽加工的基本方法是，拉削，铣削和刨削。用以上方法加工的键槽，两个侧面是相互平行的。垂直于主尺（1）背面和上面的固定爪（4），活动爪（5）可以与键曹的两个侧面完全贴合，为本装置的使 用提供了理想的定位基准。
测量时，首先将副尺（6）上面的卡框（7）调至被测工件的中心高度，其读数为D/2+T，式中T为键槽深度。然后将固定爪（4）和活动爪（5）放入键槽内，旋动调节装置（9），使两个爪卡紧键槽两侧面，这时主尺（1）与键槽的位置即确定。接着移动尺框（3），使卡爪（8）的测量刃口靠紧孔壁。此时在主尺（1）上反映的实际尺寸与理想尺寸之差，即为键槽对称度偏差数值，即偏差E＝H-H1。若E为正值，说明键槽偏向工件中心左侧，反之则偏向工件中心右侧。上式中：H＝（D-B）/2。
附图2是测量轴键槽的情况，计算与使用方法同孔键槽相同，只是要把卡框（7）移至工件中心高以上，使副尺（6）靠紧工件外径。
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