专利汇可以提供一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种柔性 薄膜 材料 塞贝克系数 测定装置,包括红外热成像仪、待测样品、加热组件、 真空 泵 、直流电源、 导线 、数字源、 电极 、 散热 组件、真空箱、红外窗口、底座和 支架 ,其 中底 座上安装有真空箱,真空箱顶部设有红外窗口,底座上、真空箱内部安装有加热组件和散热组件,加热组件和散热组件用于悬置待测样品,底座侧边安装有与真空箱连接的 真空泵 ,用于保证待测样品位于真空环境,红外热成像仪通过支架安装在底座上,且红外热成像仪在红外窗口上方,直流电源与加热组件连接,用于给加热组件供电,数字源表通过导线和电极与待测样品两端连接。本发明结构简单,操作简便,成本较低,易于且适合在工业领域和科研领域的推广使用。,下面是一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置专利的具体信息内容。
1.一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置,包括红外热成像仪(1)、待测样品(2)、加热组件(3)、真空泵(4)、直流电源(5)、导线(6)、数字源表(7)、电极(8)、散热组件(9)、真空箱(10)、红外窗口(11)、底座(12)和支架(13),其特征在于:所述底座(12)上安装有真空箱(10),所述真空箱(10)顶部设有红外窗口(11),所述底座(12)上、真空箱(10)内部安装有加热组件(3)和散热组件(9),所述加热组件(3)和散热组件(9)用于悬置待测样品(2),所述底座(12)侧边安装有与真空箱(10)连接的真空泵(4),用于保证待测样品(2)位于真空环境,所述红外热成像仪(1)通过支架(13)安装在底座(12)上,且所述红外热成像仪(1)在红外窗口(11)上方,所述直流电源(5)与加热组件(3)连接,用于给加热组件(3)供电,所述数字源表(7)通过导线(6)和电极(8)与待测样品(2)两端连接。
2.根据权利要求1所述的一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置,其特征在于:所述的真空箱(10)为金属或石英玻璃材质。
3.根据权利要求1所述的一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置,其特征在于:所述红外窗口(11)材料为硅、锗、硒化锌或硫化锌中的一种。
4.根据权利要求1或3所述的一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置,其特征在于:所述红外窗口(11)厚度为1-10mm。
5.根据权利要求1所述的一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置,其特征在于:所述加热组件(3)为镍锭、镍铬合金锭、陶瓷中的一种。
6.根据权利要求1所述的一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置,其特征在于:所述散热组件(9)为铝锭、铜锭、不锈钢锭中的一种。
7.根据权利要求1所述的一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置,其特征在于:所述热成像仪(1)的探头与红外窗口(11)和待测样品(2)平面垂直。
8.根据权利要求1所述的一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置,其特征在于:所述红外热成像仪(1)光谱响应范围为8-14μm。
9.根据权利要求1所述的一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置,其特征在于:所述支架(13)为L形。
10.根据权利要求1所述的一种柔性薄膜材料塞贝克系数测定装置,其特征在于:所述电极(8)与待测样品(2)间采用导电银浆连接,降低接触电阻。
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