存储器单元失效检测方法与系统
专利汇可以提供存储器单元失效检测方法与系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 提供一种 存储器 单元失效检测方法与系统，将存储器单元中每一位设为初始数码，并读出存储器单元中每一位的内容，将存储器单元中每一位的内容从初始数码 修改 为变反数码，当其他存储器单元中每一位的内容未发生改变时，读出存储器单元中每一位的内容，检测存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改准确时，再次将存储器单元中每一位的内容修改，再次检测存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改准确时，表明存储器单元正常。整个过程，能够检测可能发生的存储器单元转换故障以及对周边存储器单元数据操作引发的单个存储器单元的耦合故障，能够准确检测存储器单元是否失效。，下面是存储器单元失效检测方法与系统专利的具体信息内容。
1.一种存储器单元失效检测方法，其特征在于，包括步骤：
将存储器单元中每一位设为初始数码，并读出所述存储器单元中每一位的内容；
将所述存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码；
检测其他存储器单元中每一位的内容是否发生改变，当发生改变时，表明所述存储器单元已失效，当未发生改变时，读出所述存储器单元中每一位的内容；
检测所述存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述存储器单元已经失效，当修改准确时，再次将所述存储器单元中每一位的内容由所述变反数码修改为初始数码，再次检测所述存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述存储器单元已经失效，当修改准确时，表明所述存储器单元正常；
其中，所述初始数码和所述变反数码分别包括二进制中两个不同的数码。
2.根据权利要求1所述的存储器单元失效检测方法，其特征在于，所述将存储器单元中每一位设为初始数码，并读出所述存储器单元中每一位的内容的步骤具体包括：
以最低位以升序的方式或者以最高位以降序的方式将存储器单元中每一位设为初始数码，以所述最低位以升序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容。
3.根据权利要求2所述的存储器单元失效检测方法，其特征在于，所述将所述存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码的步骤具体包括：
检测所述存储器单元中每一位的内容是否为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述初始数码时，将所述存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码。
4.根据权利要求3所述的存储器单元失效检测方法，其特征在于，所述检测其他存储器单元中每一位的内容是否发生改变，当发生改变时，表明所述存储器单元已失效，当未发生改变时，读出所述存储器单元中每一位的内容的步骤具体包括：
检测其他存储器单元中每一位的内容是否仍然为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述初始数码时，重新以所述最低位以升序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容；
检测所述存储器单元中每一位的内容是否为所述变反数码，当不为所述变反数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述变反数码时，将所述存储器单元中每一位的内容从所述变反数码修改为所述初始数码；
检测所述其他存储器单元中每一位的内容是否仍然为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述初始数码时，以所述最低位以升序的方式或者以所述最高位以降序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容。
5.根据权利要求4所述的存储器单元失效检测方法，其特征在于，所述检测所述存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述存储器单元已经失效，当修改准确时，再次将所述存储器单元中每一位的内容由所述变反数码修改为初始数码，再次检测所述存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述存储器单元已经失效，当修改准确时，表明所述存储器单元正常的步骤具体包括：
检测所述存储器单元中每一位的内容是否为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述初始数码时，以所述最高位以降序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容，将所述存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码，以所述最高位以降序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容；
检测所述存储器单元中每一位的内容是否为所述变反数码，当不为所述变反数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述变反数码时，将所述存储器单元中每一位的内容从所述变反数码修改为所述初始数码，以所述最低位以升序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容；
检测所述存储器单元中每一位的内容是否为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述初始数码时，表明所述存储器单元正常。
6.一种存储器单元失效检测系统，其特征在于，包括：
设置模块，用于将存储器单元中每一位设为初始数码，并读出所述存储器单元中每一位的内容；
修改模块，用于将所述存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码；
第一检测模块，用于检测其他存储器单元中每一位的内容是否发生改变，当发生改变时，表明所述存储器单元已失效，当未发生改变时，读出所述存储器单元中每一位的内容；
第二检测模块，用于检测所述存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述存储器单元已经失效，当修改准确时，再次将所述存储器单元中每一位的内容由所述变反数码修改为初始数码，再次检测所述存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述存储器单元已经失效，当修改准确时，表明所述存储器单元正常；
其中，所述初始数码和所述变反数码分别包括二进制中两个不同的数码。
7.根据权利要求6所述的存储器单元失效检测系统，其特征在于，所述设置模块具体用于：
以最低位以升序的方式或者以最高位以降序的方式将存储器单元中每一位设为初始数码，以所述最低位以升序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容。
8.根据权利要求7所述的存储器单元失效检测系统，其特征在于，所述修改模块具体用于：
检测所述存储器单元中每一位的内容是否为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述初始数码时，将所述存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码。
9.根据权利要求8所述的存储器单元失效检测系统，其特征在于，所述第一检测模块具体包括：
第一检测单元，用于检测其他存储器单元中每一位的内容是否仍然为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述初始数码时，重新以所述最低位以升序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容；
第二检测单元，用于检测所述存储器单元中每一位的内容是否为所述变反数码，当不为所述变反数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述变反数码时，将所述存储器单元中每一位的内容从所述变反数码修改为所述初始数码；
第三检测单元，用于检测所述其他存储器单元中每一位的内容是否仍然为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述初始数码时，以所述最低位以升序的方式或者以所述最高位以降序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容。
10.根据权利要求9所述的存储器单元失效检测系统，其特征在于，所述第二检测模块具体包括：
第四简单单元，用于检测所述存储器单元中每一位的内容是否为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述初始数码时，以所述最高位以降序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容，将所述存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码，以所述最高位以降序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容；
第五检测单元，用于检测所述存储器单元中每一位的内容是否为所述变反数码，当不为所述变反数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述变反数码时，将所述存储器单元中每一位的内容从所述变反数码修改为所述初始数码，以所述最低位以升序的方式读出所述存储器单元中每一位的内容；
第六检测单元，用于检测所述存储器单元中每一位的内容是否为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述存储器单元已失效，当为所述初始数码时，表明所述存储器单元正常。
存储器单元失效检测方法与系统
技术领域
背景技术
发明内容
具体实施方式
0110)，若出现某一位的内容不为初始数码，则表明存储器单元已经出现故障已经失效(例如读取存储器单元为0001)。
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