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一种放射性表面污染仪的检定装置

阅读：879发布：2020-05-08

专利汇可以提供一种放射性表面污染仪的检定装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型属于核电电离辐射计量检定技术领域，具体涉及一种放射性表面污染仪的检定装置，包括：探测器移动盘托架、探测器移动盘、标尺、旋转轴承、支架底座、源移动盘、源移动盘托架和调节螺母；所述探测器移动盘托架与支架底座连接，探测器移动盘放置在探测器移动盘托架上，所述源移动盘插入源移动盘托架内，所述源移动盘托架设置在探测器移动盘托架下方；所述源移动盘托架和标尺均固定在支架底座上，标尺与旋转轴承连接，标尺上还设置有调节螺母。如上所述探测器移动盘托架、标尺、旋转轴承、支架底座、调节螺母和源移动盘托架为不锈钢材质。，下面是一种放射性表面污染仪的检定装置专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种放射性表面污染仪的检定装置，其特征在于，包括：探测器移动盘托架(1)、探测器移动盘(7)、标尺(2)、旋转轴承(3)、支架底座(4)、源移动盘(5)、源移动盘托架(8)和调节螺母(6)；所述探测器移动盘托架(1)与支架底座(4)连接，探测器移动盘(7)放置在探测器移动盘托架(1)上，所述源移动盘(5)插入源移动盘托架(8)内，所述源移动盘托架(8)设置在探测器移动盘托架(1)下方；所述源移动盘托架(8)和标尺(2)均固定在支架底座(4)上，标尺(2)与旋转轴承(3)连接，标尺(2)上还设置有调节螺母(6)。
2.如权利要求1所述的一种放射性表面污染仪的检定装置，其特征在于：所述探测器移动盘托架(1)、标尺(2)、旋转轴承(3)、支架底座(4)、调节螺母(6)和源移动盘托架(8)为不锈钢材质。
3.如权利要求1所述的一种放射性表面污染仪的检定装置，其特征在于：所述探测器移动盘(7)与源移动盘(5)为有机玻璃材质，用于降低移动盘的散射影响。

说明书全文

一种放射性表面污染仪的检定装置

技术领域

[0001] 本实用新型属于核电电离辐射计量检定技术领域，具体涉及一种放射性表面污染仪的检定装置。

背景技术

[0002] 某核电站电离辐射计量实验室承担的α、β放射性表面污染监测仪的检定需要借助检定装置完成。现有技术中的检定装置形式单一，放置检定源和仪表探头的窗口尺寸固定、高度不可调，只适用于一种仪表探头的检定。无法满足多种型号仪表检定的要求。鉴于此，需要设计一种新型的放射性表面污染监测仪的检定装置，可使其适用于各种型号的α、β表面污染监测仪探测器的校准和检定。实用新型内容

[0003] 本实用新型目的是针对上述现有技术的不足提供一种放射性表面污染仪的检定装置，用于解决现有检定装置形式单一，放置检定源和仪表探头窗口尺寸固定、高度不可调的，只适用于单一仪表探头检定的技术问题。

[0004] 本实用新型的技术方案是：

[0005] 一种放射性表面污染仪的检定装置，包括：探测器移动盘托架、探测器移动盘、标尺、旋转轴承、支架底座、源移动盘、源移动盘托架和调节螺母；所述探测器移动盘托架与支架底座连接，探测器移动盘放置在探测器移动盘托架上，所述源移动盘插入源移动盘托架内，所述源移动盘托架设置在探测器移动盘托架下方；所述源移动盘托架和标尺均固定在支架底座上，标尺与旋转轴承连接，标尺上还设置有调节螺母。

[0006] 如上所述探测器移动盘托架、标尺、旋转轴承、支架底座、调节螺母和源移动盘托架为不锈钢材质。

[0007] 如上所述探测器移动盘与源移动盘为有机玻璃材质，用于降低移动盘的散射影响。

[0008] 本实用新型具有以下有益效果：

[0009] 1本实用新型设计的放射性表面污染仪的检定装置适用于各种型号的α、β表面污染监测仪探测器的校准和检定，提高了检定装置的使用效率，简便了仪表检定的操作流程，缩短了仪表的检定时间，提高了仪表的有效使用时间，节约了企业生产成本；

[0010] 2本实用新型设计的放射性表面污染仪的检定装置中探测器与标准源表面之间的距离采取手动微调的方式，可以通过标尺直观的显示刻度线，大大提高了精确度。附图说明

[0011] 图1是本实用新型所设计的一种放射性表面污染仪的检定装置结构示意图；

[0012] 图2是本实用新型所设计的一种放射性表面污染仪的检定装置俯视图；

[0013] 图3是本实用新型所设计的一种放射性表面污染仪的检定装置主视图；

[0014] 其中:1-探测器移动盘托架；2-标尺；3-旋转轴承；4-支架底座；5-源移动盘； 6-调节螺母；7-探测器移动盘；8-源移动盘托架。

具体实施方式

[0015] 下面对本实用新型技术进行进一步描述：

[0016] 如图1至2所示，一种放射性表面污染仪检定装置，包括：探测器移动盘托架1、探测器移动盘7、标尺2、旋转轴承3、支架底座4、源移动盘5、源移动盘托架8和调节螺母6；所述探测器移动盘托架1与支架底座4连接，探测器移动盘7放置在探测器移动盘托架1上，所述源移动盘5插入源移动盘托架8 内，所述源移动盘托架8设置在探测器移动盘托架1下方；所述源移动盘托架8 和标尺2均固定在支架底座4上，标尺2与旋转轴承3连接，标尺2上还设置有调节螺母6。

[0017] 如上所述探测器移动盘托架1、标尺2、旋转轴承3、支架底座4、调节螺母6和源移动盘托架8为不锈钢材质。

[0018] 如上所述探测器移动盘7与源移动盘5为有机玻璃材质，用于降低移动盘的散射影响。

[0019] 一种如上所述的任一放射性表面污染仪检定装置的检定方法，包括如下步骤：

[0020] 步骤一：选择相应的标准源，设置源移动盘5位置；

[0021] 根据探测器量程，选择相应的标准源平放在源移动盘5中，将源移动盘5 插入源移动盘托架8中；

[0022] 步骤二：选择检定探测器并调节探测器移动盘7位置；

[0023] 根据探测器形状选用合适的探测器移动盘7，并将探测器移动盘7置于探测器移动盘托架1上；

[0024] 步骤三：放置探测器；将探测器垂直置于探测器移动盘7上；

[0025] 步骤四：调节标准源与探测器窗保护栅网之间的距离；

[0026] 通过调节调节螺母6使标准源与探测器窗保护栅网之间的距离满足要求；

[0027] 步骤五：实施检定；测量完毕后，将标准源从源移动盘托架8取出，装回对应的源容器中，检定结束。

[0028] 上面结合实施例对本实用新型作了详细说明，但是本实用新型并不限于上述实施例，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下作出各种变化。本实用新型中未作详细描述的内容均可以采用现有技术。

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