L'invention se rapporte à une méthode de mesure de la réflectance globale d'un échantillon ainsi qu'au réflectomètre de mise en oeuvre de ladite méthode et notamment à la détermination de la réflectance en lumière solaire.

Lorsque l'on désire connaître la réflectance d'un corps on fait le plus souvent appel à la spectrophotométrie afin de déterminer en fonction des longueurs d'ondes les valeurs des rayonnements incidents et des rayonnements transmis et réfléchis.

Cette méthode est longue et nécessite un matériel lourd.

Afin de réduire le temps des mesures tout en conservant une grande sensibilité et une grande précision le brevet français 1.465.448 préconise l'emploi d'un dispositif permettant d'éclairer successivement un échantillon dont la réflectance est à mesurer et un échantillon de réflectance connue. Ces deux objets sont'disposés sur une sphère pourvue de deux orifices pour le passage des rayons qu'ils réfléchissent et que l'on fait converger à travers des filtres sur une cellule photoélectrique.

De tels appareils sont cependant inaptes à la détermination instantanée d'une mesure absolue de la réflectance globale et d'autre part la méthode même de mesure des réflectan- ces relatives des échantillons empêche la création d'appareils compacts susceptibles d'être aisément déplacés sur toutes surfaces.

L'objet de l'invention est une méthode de détermination instantanée de la mesure absolue de la réflectance hémisphérique globale d'un échantillon à une lumière donnée au moyen d'une sphère caractérisée en ce que l'on éclaire l'échantillon à étudier par une source interne de même répartition spectrale, ou de répartition spectrale aussi voisine qu'on le désire de la lumière donnée, en ce que l'on capte les rayons réfléchis dans une sphère intégrante et en ce que l'on mesure le rayonnement global de ladite sphère par une thermopile de mesure de rayonnement dont la partie sensible au rayonnement, en regard d'une ouverture de la sphère, ne reçoit aucun rayonnement réfléchi direct de l'échantillon.

Ainsi ayant déterminé au préalable et une fois pour toute la réflectance globale d'un échantillon de référence il suffit par simple lecture de la valeur du rayonnement mesuré

par la thermopile et donné par tout dispositif approprié de connaître la réflectance globale hémisphérique de l'échantillon pour une lumière donnée.

Une telle méthode est particulièrement utile dans le cas où l'on désire effectuer une mesure absolue approchée de la réflectance solaire globale et hémisphérique, d'un échantillon comme cela se produit pour les applications tant spatiales que terrestres mettant en jeu les constantes thermo- optiques de revêtements et de matériaux les plus divers.

La réflectance solaire étant donnée par la formuleoù test la réflectance globale solaire et o (A) la réflectance spectrale solaire, S (λ) étant l'éclairement énergétique monochromatique solaire, on choisit selon l'invention une source intense dont la répartition spectrale 2,5 X_e (λ) dλ est en valeur relative, proche de celle du soleil. C'est notamment le cas de l'éclairement énergétique spectrale d'un tube à éclats au Xénon. L'expérience montre que la reproductibilité des mesures selon la méthode objet de l'invention est à ± 1 %.

Une autre caractéristique de la méthode est de conserver une précision des mesures en dépit des variations possibles d'intensité de la source choisie d'un éclat à l'autre par la mesure simultanée de l'énergie réfléchie et de l'énergie de la source.

Un autre objet de l'invention est un reflectomètre de mise en oeuvre de la méthode de mesure de la réflectance globale d'un échantillon caractérisé en ce qu'il comprend dans le même boitier la source intense, une optique de focalisation du faisceau incident sur un point de l'échantillon et une sphère intégrante pourvue de trois fenêtres l'une pour la pénétration du faisceau incident dans la sphère, une autre pour l'éclairement et la réflexion de l'échantillon, la troisième fenêtre comportant une thermopile, les directions des rayons réfléchis interceptant exclusivement les zones de la sphère hors des fenêtres.

On réalise ainsi une tête de mesure très légère permettant à l'opérateur de la disposer aisément aux lieux de mesure, l'appareillage électronique de lecture des mesures de rayonnement transmises par la thermopile et raccordé par câble, pouvant rester immobile pendant les divers déplacements de la tête de mesure.

Une autre caractéristique de l'invention est de comporter une sphère intégrante dont la fenêtre du passage du faisceau incident et celle de l'impact sur l'échantillon sont diamétralement opposées, la portion du boitier recevant l_'échantillon étant inclinée par rapport à la fenêtre d'impact d'un angle supérieur au demi angle sous tendant la fenêtre du passage des rayons incidents et dont le sommet est le point d'impact de l'échantillon.

Une autre caractéristique de l'invention est de comporter une sphère intégrante dont la surface porte un revêtement de peinture blanche parfaitement diffusante pour toutes les longueurs d'onde des lumières utilisées.

D'autres avantages et caractéristiques de l'invention apparaîtront au cours de la description suivante faite en référence aux dessins annexés qui représentent à titre d'exemple non limitatif un mode de réalisation de l'invention.

Sur les dessins

La figure unique est une vue en coupe horizontale de la tête de mesure.

Le boitier du réflectomètre désigné par la référence générale 1 sur la figure comprend principalement une partie 2 incluant la sphère intégrante 3 et une partie opposée 4 incluant le tube à éclats photographique 5.

Un miroir concave 6, porté sur la pièce terminale 7 est retenu par la pièce de fixation 8. Son axe optique 9 coïncide avec l'axe du diaphragme 10 et de l'optique de focalisation 11 montée dans l'ouverture 12 du bloc 2 formant la première fenêtre de la sphère 3. L'optique 11 focalise la lumière incidente sur le point 13 de l'échantillon 14 reposant sur un méplat incliné de la partie extrême 15 du boitier 1 opposée à la pièce terminale 7 et bordant la seconde fenêtre 19 de la sphère 3.

En raison de cette inclinaison, les rayons incidents 16 cincidant avec l'axe optique 9, sont réfléchis en un pinceau 17 suffisamment écarté de l'axe optique 9 pour ne pas repasser par la fenêtre 12, la normale 18 à la surface de l'échantillon 14 issue du point 13 ne pouvant intercepter la fenêtre 12 par construction.

En outre, la normale 18 étant suffisamment proche de la fenêtre 12 les rayons 17 ne peuvent non plus atteindre la troisième fenêtre 20 de la sphère 3 dans laquelle se trouve logée la thermopile de mesure 21.

Afin d'obtenir des mesures de rayonnement au moyen de la thermopile 21 aussi exactes qu'on le désire, la surface de la sphère 3 est recouverte d'une peinture blanche parfaitement diffusante. A titre d'exemple le revêtement blanc a une caractéristique de reflexion spectrale constante entre 0,3µ et 2,1µ.

En outre, le niveau de luminosité de la lampe à éclat 5 étant susceptible de varier, une thermopile de référence 22 est disposée dans le bloc comprenant la sphère 3 de façon à viser, à travers le diaphragme 10, une partie de la lampe à éclat et de façon à être protégée thermiquement comme la thermopile de mesure 21 par la masse du bloc 2. Les préampli- ficat_eurs des tensions transmises par les thermopiles de mesure 21 et de référence 22 sont logées dans le boitier contigU 23.

Le boitier supérieur 24 contient le dispositif haute tension d'excitation de la lampe à éclat 5.

Ayant choisi une source de lumière dont la répartition spectrale de la lumière émise correspond à celle que l'on désire, par exemple une lampe à éclat au Xénon dans l'étude de la réflectance de matériaux à la lumière solaire, on mesure le coefficient d'énergie lumineuse parasite Kp, correspondant à l'énergie parasite provenant de la diffusion due à l'optique de focalisation 11.

A cet effet, connaissant la puissance Ps de la source lumineuse 5 on mesure lors d'un éclat de cette source la tension V_K p = Ps.K_p obtenue après amplification de la tension recueillie par la thermopile de mesure 21 lorsque le fenêtre 19 n'est occultée par aucun échantillon.

De même connaissant la valeur de Ps ainsi que la réflectance d'une référence connue fournie par un échantillon étalon, on détermine la valeur constante K_o du coefficient d'énergie lumineuse tel que la tension V_ET fournie par l'appareil de mesure soit égale à K_oPs.

Dans ces conditions, il suffit après étalonnage de l'appareil de mesure de remplacer l'échantillon étalon de référence par l'échantillon dont on désire connaître la réflectance globale et de commander la lampe à éclat pour obtenir une tension V_EC donnée par la thermopile de mesure 21 et égale à Ps (K_f + Kp) où K_f est le coefficient d'énergie lumineuse réfléchie.

Connaissant déjà Kp ainsi que K_oPs par V_ET il est aisé de déterminer K_f. La valeur Ps est connue à chaque éclat au moyen de la thermopile de référence 22, de sorte que connaissant la valeur Ps primitive lors de la détermination de K_o il est possible d'évaluer K_f quelle que soit la variation de Ps. Au cours de la mesure de la réflectance globale d'un échantillon les tensions fournies par les thermopiles 21 et 22 dépendant de la mêmesource, on peut en raison de la précision des mesures et lorsque les valeurs Ps ne peuvent pas s'écarter de plus d'un certain pourcentage éviter la comparaison avec la valeur retenue de Ps lors de l'étalonnage. Le rapport des tensions fournies par les thermopiles 21 et 22 permettant ainsi d'éliminer Ps on obtient aisément K_f.

Il va de soi que ces calculs peuvent être réalisés automatiquement par tout moyen, qu'il s'agisse de mesures purement analogiques, de mesures purement numériques après conversion des valeurs analogiques fournies par les tensions V_EC et V_ET, ou encore par des calculs mixtes.