飞行时间质谱分析装置和记录介质
阅读：646发布：2020-05-12
专利汇可以提供飞行时间质谱分析装置和记录介质专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且提供一种飞行时间质谱分析装置和记录介质。在高 分辨率 化、高 精度 化的飞行时间质谱分析装置中，有可能由于空间电荷效应导致测量精度下降。飞行时间质谱分析装置具备飞行管(14)、与飞行管(14)连接的 离子导入 部(1)、检测在飞行管(14)内飞行的离子的离子检测器(20)以及控制离子导入部(1)和飞行管(14)的控制部(30)，其中，控制部(30)在重复进行的多次测量中依次变更由离子导入部(1)导入到飞行管(14)的离子的累积状态。，下面是飞行时间质谱分析装置和记录介质专利的具体信息内容。
1.一种飞行时间质谱分析装置，具备：
飞行管；
离子导入部，其与所述飞行管连接；
离子检测器，其用于检测在所述飞行管内飞行的离子；以及
控制部，其用于控制所述离子导入部和所述飞行管，
其中，所述控制部在重复进行的多次测量中依次变更由所述离子导入部导入到所述飞行管的离子的累积状态。
2.根据权利要求1所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，
所述离子导入部具有离子阱。
3.根据权利要求2所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，
所述累积状态的变更是通过变更向所述离子阱累积的累积时间来进行的。
4.根据权利要求1～3中的任一项所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，所述控制部基于所述多次测量的结果来从多个所述累积状态中决定最优累积状态。
5.根据权利要求4所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，
所述控制部在决定了所述最优累积状态后，在变更所述累积状态时，将所述最优累积状态设定得比其它的累积状态多。
6.根据权利要求4或5所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，
所述控制部基于所述多次测量的结果中的至少一种离子检测结果的峰值强度，来决定所述最优累积状态。
7.根据权利要求4或5所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，
所述控制部基于所述多次测量的结果中的至少一种离子检测结果的时间宽度，来决定所述最优累积状态。
8.根据权利要求4或5所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，
所述控制部基于所述多次测量的各个结果中的离子检测量的积分值来决定所述最优累积状态。
9.根据权利要求4或5所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，
除了所述离子检测器以外还具备第二离子检测器，该第二离子检测器用于检测被导入到所述飞行管的离子的量，
所述控制部基于所述多次测量的各次测量中的所述第二离子检测器的离子检测量的积分值，来决定所述最优累积状态。
10.根据权利要求4～9中的任一项所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，所述控制部将在所述最优累积状态下测量出的结果显示到显示部。
11.根据权利要求6或7所述的飞行时间质谱分析装置，其特征在于，
所述控制部从所述测量的结果中排除除在所述最优累积状态的决定中使用过的离子检测结果以外的至少一部分，将排除后的所述测量的结果显示到显示部或集聚到测量结果数据库中。
12.一种记录介质，存储有用于控制飞行时间质谱分析装置的程序，
该程序使包括计算机的数据处理装置进行如下控制：在重复进行的多次测量中依次变更从离子导入部导入到飞行管的离子的累积状态。
13.根据权利要求12所述的记录介质，其特征在于，
使所述数据处理装置基于所述多次测量的结果来从多个所述累积状态中决定最优累积状态。
飞行时间质谱分析装置和记录介质
技术领域
[0001] 本发明涉及一种飞行时间质谱分析装置和程序。
背景技术
[0002] 在飞行时间质谱分析装置(下面有时称为TOFMS)中，对作为分析对象的离子赋予固定的动能，从而将离子导入到形成于飞行管内的飞行空间并且使其在飞行空间中飞行。然后，测量各离子飞行固定的距离所需的时间，基于该飞行时间来计算各离子的质荷比(m/z)。
[0004] 现有技术文献
[0005] 专利文献
[0006] 专利文献1：国际公开第2017/017787号
发明内容
[0007] 发明要解决的问题
[0008] 飞行时间质谱分析装置的分析对象是具有电荷的离子，因此当向装置内导入的离子的数量增多时，有可能由于所谓的空间电荷效应导致测量精度下降。在当前所要求的测量精度下，空间电荷效应的影响不是成为问题的水平。但是，为了将来实现更高精度且更高分辨率的质谱分析装置，需要离子数量进一步增多、飞行管内的飞行距离进一步增大，其结果是，存在以下问题：空间电荷效应的影响增大，变得无法忽视空间电荷效应。
[0009] 用于解决问题的方案
[0010] 本发明的优选的方式的飞行时间质谱分析装置具备：飞行管；离子导入部，其与所述飞行管连接；离子检测器，其用于检测在所述飞行管内飞行的离子；以及控制部，其用于控制所述离子导入部和所述飞行管，其中，所述控制部在重复进行的多次测量中依次变更由所述离子导入部导入到所述飞行管的离子的累积状态。
[0011] 在更优选的方式中，所述离子导入部具有离子阱。
[0012] 在更优选的方式中，所述累积状态的变更是通过变更向所述离子阱累积的累积时间来进行的。
[0013] 在更优选的方式中，所述控制部基于所述多次测量的结果来从多个所述累积状态中决定最优累积状态。
[0014] 在更优选的方式中，所述控制部在决定了所述最优累积状态后，在变更所述累积状态时，将所述最优累积状态设定得比其它的累积状态多。
[0015] 在更优选的方式中，所述控制部基于所述多次测量的结果中的至少一种离子检测结果的峰值强度，来决定所述最优累积状态。
[0016] 在更优选的方式中，所述控制部基于所述多次测量的结果中的至少一种离子检测结果的时间宽度，来决定所述最优累积状态。
[0017] 在更优选的方式中，所述控制部基于所述多次测量的各个结果中的离子检测量的积分值，来决定所述最优累积状态。
[0018] 在更优选的方式中，除了所述离子检测器以外还具备第二离子检测器，该第二离子检测器用于检测被导入到所述飞行管的离子的量，所述控制部基于所述多次测量的各次测量中的所述第二离子检测器的离子检测量的积分值，来决定所述最优累积状态。
[0019] 在更优选的方式中，所述控制部将在所述最优累积状态下测量出的结果显示到显示部。
[0020] 在更优选的方式中，所述控制部从所述测量的结果排除除在所述最优累积状态的决定中使用过的离子检测结果以外的至少一部分，将排除后的所述测量的结果显示到显示部或集聚到测量结果数据库中。
[0022] 更优选的方式的程序使所述数据处理装置基于所述多次测量的结果来从多个所述累积状态中决定最优累积状态。
[0023] 发明的效果
[0025] 图1是表示第一实施方式的飞行时间质谱分析装置的结构的图。
[0026] 图2是表示多个测量中的每个测量的离子传输光学系统的传输效率的一例的图。
[0027] 图3示出测量结果的一例，图3的(a)示出在传输效率低的情况下的测量结果，图3的(b)示出在传输效率为中等程度的情况下的测量结果，图3的(c)示出在传输效率高的情况下的测量结果。
[0028] 图4是表示第二实施方式的飞行时间质谱分析装置的离子导入部的结构的图。
[0029] 图5是表示显示于显示部的测量结果的变形例的图。
[0030] 图6是表示多个测量中的每个测量的离子传输光学系统的传输效率的另一例的图。
[0032] 附图标记说明
[0033] 100：飞行时间质谱分析装置；1，1a：离子导入部；2：离子化室；3：ESI喷雾器；4：加热毛细管；5、7：离子导向器；6：分离器；8：四极滤质器；9：碰撞室；10：电极；12：离子传输光学系统；13：真空腔室(TOF部)；14：飞行管；15：支承构件；16：正交加速电极；17：推斥电极；18：引出电极；20：离子检测器；21：第二离子检测器；22：四极离子阱；FA：飞行空间；FP：飞行路径；19：反射器；30：控制部；31：CPU；32：存储器；33：硬盘驱动器；34：显示部；35：服务器。
具体实施方式
[0034] (飞行时间质谱分析装置的第一实施方式)
[0035] 图1是表示本第一实施方式的飞行时间质谱分析装置100的结构的概念图。飞行时间质谱分析装置100具备离子导入部1、与离子导入部1连接的真空腔室13以及设置于真空腔室13的内部的飞行管14。
[0036] 在离子导入部1内的离子化室2设置有作为离子源的ESI喷雾器3，该ESI喷雾器3用于进行电喷雾离子化(ESI)。当包含分析对象成分的试样溶液被供给到ESI喷雾器3时，通过从ESI喷雾器3进行试样溶液的静电喷雾来生成来自试样溶液中的试样的离子。此外，离子化方法不限于此。
[0037] 所生成的各种离子穿过加热毛细管4，被离子导向器5会聚后通过分离器6到达八极杆型的离子导向器7。被离子导向器7会聚的离子被导入到四极滤质器8，只是具有与施加于四极滤质器8的电压相应的特定质荷比的离子会穿过四极滤质器8。该离子被称为前体离子。将前体离子导入到设有多极杆型的离子导向器10的碰撞室9，前体离子由于与从外部供给的CID气体撞击而裂解，从而生成各种产物离子。
[0038] 在碰撞室9中生成的各种产物离子被离子传输光学系统12所引导，被导入到与离子导入部1连接的真空腔室13内。
[0040] 在真空腔室13的内部设置有具有绝缘性且振动吸收性能高的支承构件15。而且，大致方筒形状或大致圆筒形状的飞行管14的外侧面的至少一部分被支承构件15所支承，借助支承构件15被真空腔室13所支承。
[0041] 另外，正交加速电极16和离子检测器20分别借助未图示的支承构件固定于该飞行管14。正交加速电极16是飞行管14的一部分。在飞行管14内部的下侧配置有由多个圆环状或矩形环状的反射电极构成的反射器19。由此，在飞行管14的内部设置有利用由反射器19形成的反射电场使离子折返的反射型的飞行空间FA。
[0042] 飞行管14是由不锈钢等金属制成，将规定的直流电压施加于飞行管14。另外，以施加于飞行管14的电压为基准，对构成反射器19的多个反射电极分别施加不同的直流电压。由此在反射器中形成反射电场，飞行空间FA的除此以外的部分无电场且无磁场，并且为高真空。
[0043] 在+X方向上行进而被导入到正交加速电极16的离子由于以规定的定时在推斥电极17与引出电极18之间形成规定的电场而在-Z方向上被加速，由此开始飞行。从正交加速电极16射出的离子如虚线的飞行路径FP所示，首先在飞行空间FA中自由飞行后，由于由反射器19形成的反射电场而在+Z方向上折返，再次在飞行空间FA中自由飞行而到达离子检测器20。
[0044] 飞行空间中的离子的速度依赖于该离子的质荷比。因此，大致同时被导入到飞行空间FA的具有不同质荷比的多种离子在飞行的期间根据质荷比分离，具有时间差地到达离子检测器20。离子检测器20的检测信号被输入到控制部30，将各离子的飞行时间换算为质荷比，由此制作质谱并进行质谱分析。
[0045] 控制部30的内部具备CPU 31、存储器32以及硬盘驱动器33，通过将程序保存到存储器32或硬盘驱动器33并使CPU 31执行该程序，控制部30能够控制飞行时间质谱分析装置100的各部。
[0046] 控制部30还针对正交加速电极16，进行用于以规定的定时在推斥电极17与引出电极18之间形成规定的电场的指令。
[0047] 飞行空间FA的离子的飞行路径FP优选更长，以进行更高精度或更高分辨率的质谱分析。这是因为，通过加长飞行路径FP，依赖于离子的质荷比的速度差成为更大的时间差而被测量出。
[0048] 但是，当加长飞行路径FP时离子的飞行时间增大，因此离子之间的由电荷引起的排斥力等从离子产生的电场/磁场的相互作用的作用时间也增大，即空间电荷效应的影响变大。
[0049] 因此，在本第一实施方式中，多次进行包含飞行管14内的离子的飞行和离子检测器20对离子的检测在内的测量，并且在各次测量中变更从离子导入部1导入到飞行管14的离子的量。在各次测量之前，控制部30向离子传输光学系统12发送指令，以使施加于构成离子传输光学系统12的各电极的电压变更。由此，离子传输光学系统12的成像条件被变更，因此离子传输光学系统12的传输效率、即在从碰撞室9射出后被作为飞行管14的一部分的正交加速电极16引导的离子的比例被变更。因而，能够变更每次测量中从离子导入部1导入到飞行管14的离子的量(离子的累积状态)。
[0050] 图2是表示针对多次测量中的每次测量设定的离子传输光学系统12的传输效率的一例的图表。图表的横轴是测量次数Fn，图表的纵轴表示离子传输光学系统12的传输效率S。
[0051] 在图2示出的例子中，设为测量被进行F1至F9这9次。而且，离子传输光学系统12的传输效率S在测量F1、F4、F7这3次测量中设定为S1，在测量F2、F5、F8这3次测量中设定为S2，在测量F3、F6、F9这3次测量中设定为S3。
[0052] 图3是表示测量的结果的一例的图表，图3的(a)示出在离子传输光学系统12的传输效率S低(图2所示的S1)的情况下的测量结果，图3的(b)示出在离子传输光学系统12的传输效率S为中等程度(图2所示的S2)的情况下的测量结果，图3的(c)示出在离子传输光学系统12的传输效率S高(图2所示的S3)的情况下的测量结果。
[0053] 图3的(a)～图3的(c)中的各图表的横轴是离子的飞行时间Tf，纵轴是离子检测器20检测出的离子的量。在图3的例子中，作为测量对象的离子包含三种离子Ia、Ib、Ic，由于各自的质荷比不同而在各离子的飞行时间Tf上产生差异。
[0054] 在图3的例子中，离子Ia在作为测量对象的离子中的存在比是比较少的，离子Ic在作为测量对象的离子中的存在比是比较多的，离子Ib的存在比是它们的中间程度。
[0055] 在图3的(a)所示的测量结果的情况下，由于离子传输光学系统12的传输效率S低，因此测量时从离子导入部1导入到飞行管14的离子的累积状态也低，因而在一次测量中检测到的离子的总量也少。在该条件下，存在比小的离子Ia的检测结果Ia1和离子Ib的检测结果Ib1也小，受测量噪声的影响而难以确定离子Ia和离子Ib的正确的飞行时间。
[0056] 另一方面，存在比大的离子Ic的检测结果Ic1在该条件下，与噪声水平相比足够高，且检测结果Ic1也不会饱和，因此能够正确地确定飞行时间，即高精度地测量质荷比。
[0057] 此时，例如控制部30通过针对检测结果Ic1中的规定水平以上的部分计算重心来确定飞行时间。
[0058] 在图3的(b)所示的测量结果的情况下，由于离子传输光学系统12的传输效率S是中等程度，因此存在比小的离子Ia的检测结果Ia2小，不足以确定正确的飞行时间。
[0059] 但是，存在比为中等程度的离子Ib的检测结果Ib2不饱和，与噪声水平相比足够高。因而，能够正确地确定离子Ib的飞行时间、即高精度地测量质荷比。
[0060] 但是，在图3的(b)示出的测量结果的情况下，存在比大的离子Ic的检测结果Ic2是饱和的。而且，由于使离子检测器20饱和的程度的大量的离子Ic大致同时地在飞行路径FP上飞行，导致检测结果Ic2强烈地受到空间电荷效应的不良影响。其结果是，即使使用检测结果Ic2测量离子Ic的质荷比，也难以高精度地进行测量。
[0061] 在图3的(c)所示的测量结果的情况下，由于离子传输光学系统12的传输效率S高，因此在测量时从离子导入部1导入到飞行管14的离子的累积状态也高。因此，对于存在比小的离子Ia，也能够获得足够的检测结果Ia3，能够正确地确定离子Ia的飞行时间，从而能够高精度地测量质荷比。
[0062] 但是，存在比为中等程度的离子Ib的检测结果Ib3和存在比高的离子Ic的检测结果Ic3饱和。由使离子检测器20饱和的程度的离子引起的空间电荷效应的不良影响与上述的情况相同，难以针对离子Ib和离子Ic根据图3的(c)所示的测量结果高精度地测量质荷比。
[0063] 当汇总以上的多次测量时，基于在将离子传输光学系统12的传输效率S设定得高(S3)的测量中的检测结果Ia3来计算存在比小的离子Ia的飞行时间，基于在将离子传输光学系统12的传输效率S设定为中等程度(S2)的测量中的检测结果Ib2来计算存在比为中等程度的离子Ib的飞行时间，基于在将离子传输光学系统12的传输效率S设定得低(S1)的测量中的检测结果Ic1来计算存在比大的离子Ic的飞行时间，由此能够进行降低了由空间电荷效应引起的不良影响的、高精度且高分辨率的飞行时间的测量。
[0064] 此外，变更从离子导入部1导入到飞行管14的离子的累积状态的方法不限于上述的离子传输光学系统12的传输效率的变更。也能够通过变更向作为构成离子导入部1的其它元件的离子导向器5及离子导向器7施加的电压、向碰撞室9内的多极杆型的离子导向器10施加的电压，来变更从离子导入部1导入到飞行管14的离子的累积状态。
[0065] (第一实施方式的效果)
[0066] (1)以上的第一实施方式的飞行时间质谱分析装置具有以下结构：具备飞行管14、与飞行管14连接的离子导入部1、用于检测在飞行管14内飞行的离子的离子检测器20以及用于控制离子导入部1和飞行管14的控制部，其中，控制部30在重复进行的多次测量中依次变更由离子导入部1导入到飞行管14的离子的累积状态。
[0067] 因此，能够实现降低了由空间电荷效应引起的不良影响的、高精度且高分辨率的飞行时间质谱分析装置。
[0068] (飞行时间质谱分析装置的第二实施方式)
[0069] 第二实施方式的飞行时间质谱分析装置与上述的第一实施方式的飞行时间质谱分析装置大致相同，但是只有离子导入部1a与上述的第一实施方式的离子导入部1不同。
[0070] 图4是表示第二实施方式的飞行时间质谱分析装置的离子导入部1a的概要的图。在第二实施方式的飞行时间质谱分析装置的离子导入部1a中，在碰撞室9与离子传输光学系统12之间设置有离子阱22。离子阱22例如是四极离子阱。
[0071] 在第二实施方式的飞行时间质谱分析装置中，在碰撞室9中生成的各种产物离子在离子阱22中被累积后，以规定的定时从离子阱22释放，被离子传输光学系统12所引导，从而被导入到作为飞行管14的一部分的正交加速电极16。离子阱22的离子的累积和释放是基于来自控制部30的指令来进行的。
[0072] 在本第二实施方式中，能够将各种产物离子在离子阱22中累积并且释放，因此能够使一次测量中飞行管14内飞行的离子的数量设定得比上述的第一实施方式多，使信号(离子检测量)相对于噪声增大，从而能够实现S/N良好的测量。
[0073] (第二实施方式的变形例1)
[0074] 也能够代替上述的设置离子阱22，而使碰撞室9自身具有离子阱功能。即，也可以设为如下结构：例如图4所示，在碰撞室9中设置入口透镜电极11a和出口透镜电极11b，在碰撞室9中暂时地累积在碰撞室9内生成的产物离子。
[0075] 在这种情况下，还基于来自控制部30的指令，以规定的定时向入口透镜电极11a和出口透镜电极11b施加用于排出离子的电压，从而释放所累积的离子。
[0076] 在图4中，与离子阱22一起示出附加了离子累积效果的碰撞室9。但是，也可以对不具备离子阱22的图1的装置的碰撞室9附加离子累积效果。
[0077] (第二实施方式和变形例1的效果)
[0078] (2)以上的第一实施方式的飞行时间质谱分析装置除了上述的第一实施方式的飞行时间质谱分析装置以外，还设为离子导入部1具有离子阱22的结构。
[0079] 由此，能够使一次测量中在飞行管14内飞行的离子的数量更多，从而能够进行S/N良好的测量。
[0080] 此外，在第二实施方式和变形例1中，也与上述的第一实施方式同样地，即使在飞行管14内飞行的离子的数量增加，也不会受到空间电荷效应的不良影响。
[0081] (第二实施方式的变形例2)
[0082] 在变形例2中，在上述的第二实施方式或变形例1中，通过变更离子阱22或碰撞室9的离子累积时间，来变更导入到飞行管14的正交加速电极16的离子的累积状态。此外，还可以与该变更一并地变更施加于离子导入部1内的离子传输光学系统12、离子导向器5以及离子导向器7的电压，来变更离子导入部1的传输效率。
[0083] (变形例2的效果)
[0084] (3)以上的变形例2的飞行时间质谱分析装置除了上述的第二实施方式的飞行时间质谱分析装置以外，还设为通过离子阱22来进行累积状态的变更的结构或设为通过变更向碰撞室9累积的累积时间来进行累积状态的变更的结构，因此能够将在离子导入部1中生成的离子高效地用于测量。
[0085] (变形例3)
[0086] 在变形例3的飞行时间质谱分析装置中，在上述的各实施方式和各变形例的飞行时间质谱分析装置中，控制部30基于使离子的累积状态不同地进行的多次测量的结果，来决定最优累积状态。
[0088] 例如在操作员指定了离子I2的情况下，图3的(b)所示的离子Ib的检测结果Ib2满足该条件，因此将在测量出图3的(b)的结果时使用的离子传输光学系统12的传输效率S2决定为最优累积状态。
[0089] 在操作员指定了两种离子的情况下，也能够针对两种离子决定各自的最优累积状态。
[0090] 此外，关于离子的检测量与噪声水平相比足够高，例如以离子的检测量是否为噪声水平的标准偏差的4倍以上的大小为基准来进行判断即可。
[0092] (1)控制部30也可以针对检测出的多种离子中的检测量最少的离子，将该离子的离子检测量的峰值不饱和且成为与噪声水平相比足够高的水平的传输效率S(累积状态)设为最优累积状态。
[0094] 测量出的离子检测量的时间宽度例如是指离子检测量的时间上的半峰全宽，其大概与飞行时间质谱分析装置的时间分辨率一致。因而，如果测量出的离子检测量的时间宽度是装置的时间分辨率的例如2倍以上，则推断为该测量结果受到了由空间电荷效应引起的不良影响。另一方面，如果测量出的离子检测量的时间宽度是装置的时间分辨率的例如一半以下，则推断为该测量结果受到了噪声的影响。
[0095] 因此，能够通过选定使离子检测量的时间宽度处于规定的时间宽度范围的测量结果来决定最优累积状态。
[0096] (3)控制部30也能够基于多次测量的各个结果中的离子检测量的积分值来决定最优累积状态。在这种情况下，难以针对各离子基于其检测量来决定最优累积状态，但是能够削减最优累积状态的决定所需的运算量，能够在短时间内决定。
[0097] (4)在飞行时间质谱分析装置中，也可以除了具备检测在飞行管14内飞行的离子的离子检测器20以外，还具备第二离子检测器21，该第二离子检测器21用于检测被导入到作为飞行管14的一部分的正交加速电极16并且穿过了正交加速电极16的离子。被第二离子检测器21检测出的离子的量与被离子检测器20检测出的离子的量成比例。因而，能够基于第二离子检测器21的离子检测量，来估计在飞行管14内飞行的离子的量，因此控制部30也能够基于多次测量的各个结果中的第二离子检测器21的离子检测量来决定最优累积状态。
[0098] 变形例3的飞行时间质谱分析装置也能够设为如下结构：还具备显示部34，将上述的在最优累积状态下测量出的结果(离子检测量相对于飞行时间的图表等)显示到显示部34。由此操作员能够在显示部34上观察到以最优的测量条件测量出的结果。
[0099] 另外，在上述的基于操作员指定的离子或存在比最少的离子来决定最优累积状态的情况下，也能够从该检测结果中排除除表示在该最优累积状态的决定中使用过的离子的检测结果的部分以外的至少一部分，并且将排除后的测量结果显示到显示部34。
[0100] 图5是表示这种显示的一例的图，图5基本上示出图3的(b)示出的测量结果。如上所述，在图3的(a)～图3的(c)示出的测量结果中，例如在操作员指定了离子I2的情况下，图3的(b)的结果是针对离子I2的在最优累积状态下的测量结果。而且，在图3的(b)的测量结果中，离子Ic的检测结果Ic2饱和。因此，在图5示出的显示中，从图3的(b)的测量结果中排除表示离子Ic的检测结果Ic2的部分后进行显示，该表示离子Ic的检测结果Ic2的部分是除表示离子Ib的检测结果Ib2的部分以外的至少一部分。
[0101] 通过这样的显示，能够删除不需要的信息，对操作员仅示出需要的信息。
[0102] 此外，也可以替代上述的将排除了除在表示最优累积状态的决定中使用过的离子的检测结果的部分以外的至少一部分后的测量结果显示到显示部34，而将该排除了至少一部分后的测量结果集聚、即存储到测量结果数据库，或者，与将该排除了至少一部分后的测量结果显示到显示部34一并地，将该排除了至少一部分后的测量结果集聚、即存储到测量结果数据库。
[0103] 测量结果数据库既可以在控制部30中的存储装置(存储器32、硬盘驱动器33等)中，或者，也可以在经由网络NW来连接的服务器35中。
[0104] (变形例4)
[0105] 在变形例4的飞行时间质谱分析装置中，在上述的变形例3的飞行时间质谱分析装置中，在上述的决定最优累积状态后，在后续的多次测量中将所决定的最优累积状态设定得比其它的累积状态多。
[0106] 图6是表示变形例4中的累积状态(离子传输光学系统12的传输效率S)的设定的例子的图，是与上述的图2相同的图。
[0107] 在图6中，在最初的3次(F1～F3)测量中，与上述的第一实施方式同样地将传输效率S依次设定为S1、S2、S3。然后，控制部30基于这3次测量，决定传输效率S3为最优累积状态。于是，在之后的多次测量中，控制部30将作为最优累积状态的传输效率S3设定得比其它的传输效率S1和传输效率S2多，来进行测量。即，作为一例，以传输效率S1进行测量是测量F4和F8这2次，以传输效率S2进行测量是测量F5和F9这2次，与此相对地，关于在作为最优累积状态的传输效率S3下的测量，进行测量F6、F7、F10、F11共计4次测量。
[0108] (变形例4的效果)
[0109] (4)在以上的变形例4的飞行时间质谱分析装置中，在上述的变形例3的飞行时间质谱分析装置中，在上述的决定最优累积状态后，在后续的多次测量中将所决定的最优累积状态设定得比其它的累积状态多。
[0110] 像这样，通过将最优累积状态下的测量进行得比其它的累积状态下的测量多，能够使与操作员指定的离子、或存在比少导致测量精度有下降倾向的离子有关的测量精度提高。
[0111] (程序的实施方式)
[0112] 在上述各实施方式和各变形例中，也可以将用于实现飞行时间质谱分析装置100的上述功能的程序记录到计算机可读取的记录介质中，使计算机系统读入并执行记录于该记录介质的程序。此外，在此所说的“计算机系统”包括OS(Operating System：操作系统)、外围设备的硬件。另外，“计算机可读取的记录介质”是指软盘、磁光盘、光盘、存储卡等可移动记录介质、内置于计算机系统的硬盘驱动器等存储装置。“计算机可读取的记录介质”还可以包括：如经由因特网等网络、电话线路等通信线路来发送程序的情况下的通信线那样在短时间内动态地保持程序的介质；如成为这种情况下的服务器、客户端的计算机系统内部的易失性存储器那样将程序保持固定时间的介质。另外，上述程序可以是用于实现上述功能的一部分的程序，还可以是将上述功能与已记录于计算机系统的程序的组合来实现的程序。
[0113] 另外，上述程序能够通过CD-ROM等记录介质、因特网等的数据信号来提供。例如，图1中的具备CPU 31、存储器32以及硬盘驱动器33的控制部30经由CD-ROM来接受程序的提供。另外，控制部30具有与网络NW连接的连接功能。与网络连接的服务器35还作为提供上述程序的服务器计算机来发挥功能，向硬盘驱动器33等记录介质传输程序。即，将程序作为数据信号通过载波进行传输，并经由网络NW来发送。像这样，程序能够作为记录介质、载波等各种方式的计算机可读入的计算机程序产品来提供。
[0114] 图7示出由CPU 31执行用于控制上述变形例4的飞行时间质谱分析装置100的程序从而控制飞行时间质谱分析装置100的离子导入部1、飞行管14以及控制部30的流程图的一例。
[0115] 首先，在步骤S101中，决定最初的N次(N是任意的自然数，例如3次)测量的离子累积状态(离子导入部1的离子传输光学系统12的传输效率S等)等测量条件。
[0116] 在步骤S102中，程序控制控制部30，来设定第J次(J是1以上且N以下)测量的离子导入部1的离子传输光学系统12的传输效率S、离子阱22的累积时间。然后，在步骤S103中，程序控制控制部30，来对正交加速电极16施加电压，从而进行第J次测量。
[0117] 在步骤S104中，判断测量是否已进行了N次，如果已测量N次则进入到步骤S105，如果没有测量N次则返回到步骤S102。
[0118] 在步骤S105中，程序控制控制部30，来从上述的N次测量的结果中决定最优累积状态。决定最优累积状态的方法如上所述。然后，在步骤S106中，决定后续的M次(M是任意的自然数)测量的测量条件使得在步骤S105中决定的最优累积状态下的测量进行得比其它的累积状态多。
[0119] 在步骤S107中，程序控制控制部30，来设定第K次(K是1以上且M以下)测量的离子导入部1的离子传输光学系统12的传输效率S、离子阱22的累积时间。然后，在步骤S108中，程序对控制部30进行控制，来对正交加速电极16施加电压，从而进行第K次测量。
[0120] 在步骤S109中，判断测量是否已进行M次，如果已测量M次则进入到步骤S110，如果没有测量M次则返回到步骤S107。
[0121] 在步骤S110中，程序使控制部30基于上述测量的结果，来进行检测出的各离子的质荷比的计算等测量结果的解析。另外，如上所述，还根据需要进行从表示检测出的离子的量与飞行时间的关系的测量结果删除不需要的部分(除与被指定的离子对应的部分以外的部分)的处理。
[0122] 在步骤S111中，将被测量出的、被进行了解析、各种处理后的测量结果显示到显示部34或累积到数据库中。
[0123] 在步骤S112中，基于测量结果和被进行了分析、各种处理后的测量结果来判断在步骤S105中决定的最优累积状态是否恰当、即是否需要变更最优累积状态。而且，在判断为需要变更的情况下进入到步骤S101，在变更N次的各测量条件之后，再次进行步骤S101以后的处理。在判断为不需要变更的情况下结束测量。
[0124] 此外，图7所示的流程图的各步骤并非必须全部执行。例如，也可以省略从步骤S106到步骤S109的实施。
[0125] 在上文中，虽然说明了各种的实施方式和变形例，但是本发明不限于这些内容。另外，各实施方式既可以分别单独地应用，也可以组合起来使用。在本发明的技术思想的范围内想到的其它方式也包含在本发明的范围内。
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