专利汇可以提供一种检测行波管收集极散热特性的方法和装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种检测 行波管 收集极 散热 特性的方法和装置,属于 微波 真空 电子 器件检测技术领域。装置包括热阻测试仪、加热 探头 、测试探头和被测行波管收集极。将测试探头放在被测行波管收集极两侧的对称 位置 ,加热探头放置在行波管收集极上方,在工作电源提供的 电压 与 电流 下工作时产生的热量经 传热 触头传递到行波管收集极,然后经收集极管壳散热到周围环境,两侧测试探头的电学温敏参数变化经采集卡采集,得到两侧测试探头 温度 上升曲线对比,并经计算得到行波管收集极整体热阻和两侧散热性能差异,从而得出行波管收集极 焊接 的好坏。本发明实现了非破坏性地检测行波管收集极的散热特性,测量无损伤、周期短、 精度 高、成本低。,下面是一种检测行波管收集极散热特性的方法和装置专利的具体信息内容。
1.一种检测行波管收集极散热特性的装置,其特征在于:
该装置包括热阻测试仪、加热探头、测试探头和被测行波管收集极;
所述热阻测试仪包括计算机、采集卡、测试电流源、工作电源开关、工作电源;
所述加热探头由大功率加热二极管与传热触头紧密接触构成,并由导线引出;加热探头传热触头由铜制成,表面镀金,并定制成与被测行波管收集极顶端完全贴合的形状;
所述测试探头由测试二极管与传热触头紧密接触构成,并由导线引出;传热触头由铜制成,表面镀金,并将与行波管收集极接触面设计成圆弧形,以保证与行波管侧面完全贴合;
工作电源与工作电源开关连接,为被测器件提供工作电压电流,测试电流源为被测器件提供测试电流,采集卡采集被测器件的电学温敏参数,计算机处理采集到的电学温敏参数得到瞬态响应曲线和热阻数据;
将加热探头放置在行波管收集极顶端,传热触头与收集极顶端充分接触,测试探头放置在被测行波管收集极两侧的对称位置,传热触头与收集极两侧充分接触;
加热二极管经导线与热阻测试仪的工作电源开关、测试电流源和采集卡连接,工作电源与工作电源开关连接并由其控制,测试二极管经导线分别与热阻测试仪的测试电流源和采集卡连接;计算机连接并控制工作电源开关、测试电流源和采集卡;
启动测量程序后,计算机发出指令将测试电流源一直加载到加热探头的加热二极管和两个测试探头的测试二极管,采集卡采集到此时加热二极管和测试二极管两段电压V0;然后,计算机发出指令,将工作电源经工作电源开关加载到加热二极管,计算机发指令使采集卡采集到加热二极管的工作电压V和电流I,并计算出测试二极管的工作功率P=VI,同时,采集卡采集测试二极管的工作电压变化;待整个收集极的温度不再变化,达到稳态,计算机发出指令,经工作电源开关关断工作电源,采集卡采集加热二极管上电压随时间变化的V(t);加热二极管的温度系数为a,其温升随时间变化ΔT(t)=[V(t)-V0]/a,工作时加载的功率P=VI,计算机对ΔT(t)曲线进行计算,得出行波管收集极热阻构成,即收集极整体散热性能;两个测试二极管的温度系数β,其温升随时间变化ΔT(t)=[V(t)-V0]/β,比较两侧测试二极管温度上升的差异,即可得出行波管收集极两侧散热性能的差异。
2.利用权利要求1所述装置进行的一种检测行波管收集极散热特性的方法,其特征在于:
测量时将加热探头放置在行波管收集极顶端,传热触头与收集极顶端充分接触,测试探头放置在被测行波管收集极两侧的对称位置,传热触头与收集极两侧充分接触;
将加热探头放置在行波管收集极顶端,传热触头与收集极顶端充分接触,加热探头经导线与热阻测试仪的工作电源开关、测试电流源和采集卡连接,工作电源与工作电源开关连接并由其控制;
测试探头放置在被测行波管收集极两侧的对称位置,传热触头与收集极两侧充分接触;
计算机连接并控制工作电源开关、测试电流源和采集卡;
启动测量程序后,计算机发出指令将测试电流源一直加载到加热探头的加热二极管和两个测试探头的测试二极管,采集卡采集到此时加热二极管和测试二极管两端电压V0;
然后,计算机发出指令,将工作电源经工作电源开关加载到加热二极管,计算机发指令使采集卡采集到加热二极管的工作电压V和电流I,并计算出测试二极管的工作功率P=VI,同时,采集卡采集测试二极管的工作电压变化;
待整个收集极的温度不再变化,达到稳态,计算机发出指令,经工作电源开关关断工作电源,采集卡采集加热二极管上电压随时间变化的V(t);
加热二极管的温度系数为α,其温升随时间变化ΔT(t)=[V(t)-V0]/α,工作时加载的功率P=VI,计算机对ΔT(t)曲线进行计算,得出行波管收集极热阻构成,即收集极整体散热性能;
两个测试二极管的温度系数为β,其温升随时间变化ΔT(t)=[V(t)-V0]/β,比较两侧测试二极管温度上升的差异,即可得出行波管收集极两侧散热性能的差异。
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