Test system
专利汇可以提供Test system专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且PURPOSE:To achieve confirmation without economy, reliability, and much labor for test, for the normality of a tester which tests a plurality of same types of devices, through the test of a virtual failure device provided in a device group to be tested. CONSTITUTION:A device group to be tested is provided with a virtual failure device having the same types of failure as failures which can be built in the device to be tested, and the normality of the test device can be confirmed by testing this device. For example, in case of a test device TST testing line circuits LC1-LCn of a time division electronic exchanger, a virtual failure device ELC is contained in a network NW. This is given to the test device TST with a selection circuit SEL, a test line circuit TLC is made to calling state, the selection number of the ELC is transmitted and the connection line is set via the network NW and the ELC is tested, allowing to confirm the normality of the test device TST.，下面是Test system专利的具体信息内容。
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