技术领域
[0001] 本
发明涉及
服务器测试领域，具体是一种AEP内存压力性能稳定性测试方法及系统，用于测试AEP内存压力性能的稳定性。
背景技术
[0002] AEP(Apache Pass)内存，其采用3D XPoint技术，界于于DRAM和NAND之间，填补了DRAM和NAND之间的性能和时延GAP。从理论
角度，Apache Pass DIMM比DRAM性能高出8-10倍，且具有非易失性的另一大优势。Apache Pass DIMM与Flash Flash相比，尽管二者写入方式不同，但也比Flash NAND更耐用。简单来说，AEP内存可视为一种高性能内存
硬盘合体，其既可以作为内存使用(memory mode)，也可以作为存储介质使用(APD mode)。
[0003] AEP内存是intel在2017年推出的一款全新的产品，适配下一代cascade CPU，其高性能无人质疑，但其能否持续提供高性能，也是用户十分关注的。而目前，
现有技术中尚未出现用于AEP内存压力性能稳定性测试的好的策略。
[0004] 基于此，本发明提供了一种AEP内存压力性能稳定性测试方法及系统，用于解决上述技术问题。
发明内容
[0005] 本发明所要解决的技术问题是，提供一种AEP内存压力性能稳定性测试方法及系统，用于测试AEP内存压力性能的稳定性。
[0006] 为解决上述技术问题，本发明提供了一种AEP内存压力性能稳定性测试方法，包括：
[0007] 步骤s1、通过MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并记录测试结果result1；之后执行步骤s2；
[0008] 步骤s2、通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行压力测试；之后执行步骤s3；
[0009] 步骤s3、再次通过步骤s1中所述的MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并记录测试结果result2；之后执行步骤s4；
[0010] 步骤s4、计算上述记录的测试结果result1与测试结果result2对应的性能偏差，并基于计算所得的性能偏差自动判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果。
[0011] 在步骤s4中，所述的基于计算所得的性能偏差自动判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果的方法为：
[0012] 将计算所得的性能偏差与预先设定的性能偏差
阈值进行比较，若计算所得的性能偏差不超过上述预先设定的性能偏差阈值，则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是稳定的，否则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是不稳定的。
[0013] 在步骤s2中，通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行预先设定天数d的压力测试，所述FIO测试工具的fio的QD值预先设为128。
[0014] 其中，步骤s1和步骤s3中所述的内存读写性能测试的内存读写模式为read、write、random read和random write。
[0015] 其中，在步骤s1之前，还包括搭建测试环境的步骤，具体包括步骤：
[0016] s01、在测试主机上安装Linux
操作系统；
[0017] s02、重启测试主机，进入Linux操作系统，使用root用户登录；
[0018] s03、在测试主机上安装AEP测试
软件环境；
[0019] s04、检查并设置测试主机AEP内存为存储模式(APD mode)；
[0020] s05、将auto_run脚本、MLC测试工具和FIO测试工具拷贝到测试主机Linux系统/root目录下；
[0021] s06、在测试主机Linux系统下运行terminal终端程序，在terminal下执行如下操作：
[0022] #cd/root回车
[0023] #./auto_run回车
[0024] Terminal显示mlc和FIO安装成功后，开始执行auto_run脚本，即开始对测试主机AEP内存的压力性能稳定性自动进行测试。
[0025] 另外，本发明还提供了一种AEP内存压力性能稳定性测试系统，包括：
[0026] 第一次内存读写性能测试模
块，用于通过MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试；
[0027] 压力加注模块，与所述的第一次内存读写性能测试模块相连，用于通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行压力测试；
[0028] 第二次内存读写性能测试模块，与所述的压力加注模块相连，用于通过所述的MLC测试工具再次对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试；
[0029] 存储模块，与所述的第一次内存读写性能测试模块及第二次内存读写性能测试模块分别相连，用于本系统的数据存储，包括存储第一次内存读写性能测试模块的测试结果result1、以及存储第二次内存读写性能测试模块的测试结果result2；
[0030] 压力性能稳定性测试模块，与所述的存储模块相连，用于读取并计算存储模块内存储的测试结果result1与测试结果result2的性能偏差，并用于基于该计算所得的性能偏差判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果。
[0031] 其中，在上述压力性能稳定性测试模块中，所述的基于该计算所得的性能偏差判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果的方法为：
[0032] 将计算所得的测试结果result1与测试结果result2的性能偏差与所述的预先设定的性能偏差阈值进行比较，若计算所得的性能偏差不超过上述预先设定的性能偏差阈值，则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是稳定的，否则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是不稳定的。
[0033] 其中，压力加注模块通过所述FIO测试工具对测试主机AEP内存进行预先设定天数d的压力测试，所述FIO测试工具的fio的QD值预先设为128。
[0034] 其中，所述MLC测试工具对测试主机AEP内存进行的内存读写性能测试的内存读写模式为read、write、random read和random write。
[0035] 所述的AEP内存压力性能稳定性测试系统还包括安装模块，用于在测试主机上自动安装所述的MLC测试工具和FIO测试工具，其中所述的测试主机上满足以下全部条件：
[0036] 测试主机上安装有Linux操作系统；
[0037] 使用root用户登录测试主机的Linux操作系统；
[0038] 测试主机上安装有AEP测试软件环境(即在使用root用户登录的Linux OS上安装ndctl及其依赖
软件包、以及安装ixpdimm软件包)；
[0039] 测试主机AEP内存为存储模式(APD mode)；
[0040] 测试主机Linux系统/root目录下预先存储有auto_run脚本、所述的MLC测试工具和所述的FIO测试工具；
[0041] 测试主机Linux系统下运行terminal终端程序，并在terminal下执行如下操作：
[0042] #cd/root回车
[0043] #./auto_run回车
[0044] Terminal显示mlc和FIO安装成功后，开始执行auto_run脚本，即开始对测试主机AEP内存的压力性能稳定性自动进行测试。
[0045] 与现有技术相比，本发明的优点在于：
[0046] 本发明所述的AEP内存压力性能稳定性测试方法及系统，二者均通过MLC测试工具两次对测试主机的AEP内存进行读写性能测试，并在该两次读写性能测试中间插入一次通过FIO测试工具进行的压力测试，避免了单台测试主机无法提供足够的压力以测试AEP内存的性能稳定性；另外，本发明所述的AEP内存压力性能稳定性测试方法及系统，均还通过计算其两轮性能测试的结果的性能偏差，并能够依据基于计算所得的性能偏差自动判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果，确保了测试结果的准确性和
精度。
[0047] 由此可见，本发明与现有技术相比，具有突出的实质性特点和显著的进步，其实施的有益效果也是显而易见的。
附图说明
[0048] 图1为本发明所述AEP内存压力性能稳定性测试方法流程示意图。
[0049] 图2为本发明所述AEP内存压力性能稳定性测试系统的结构功能
框图示意图。
具体实施方式
[0050] 为使本发明的技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图，对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0051] 图1为本发明所述AEP内存压力性能稳定性测试方法的一种具体实施方式。在本实施方式中，该AEP内存压力性能稳定性测试方法包括步骤s1-s4，用于实现对测试主机AEP内存压力性能稳定性测试。
[0052] 步骤s1、通过MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并记录测试结果result1。之后执行步骤s2。
[0053] 其中，本实施方式中所述的MLC测试工具已预先安装在所述的测试主机内，所述内存读写性能测试的内存读写模式为read、write、random read和random write。相对应地，该步骤中记录的测试结果result1为上述内存读写模式read、write、random read和random write各自对应的相应的测试结果数据。
[0054] 步骤s2、通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行压力测试。之后执行步骤s3。
[0055] 其中，本实施方式中所述的FIO测试工具已预先安装在所述的测试主机内。
[0056] 在本实施方式中，本发明中所述的FIO测试工具的fio的QD值为128，FIO测试工具的测试块大小为4k、8k、16k、32k、64k、128k、256k、512k、1024k。
[0057] 在该步骤s2中，通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行预先设定天数d的压力测试，其中所述的预先设定天数d在本实施方式中的取值为7天。需要说明的是，该所述的预先设定天数d取自本领域技术人员的经验值，本领域技术人员还可依据实际需要为其设定其他取值，比如7.5天或8天等。
[0058] 步骤s3、再次通过步骤s1中所述的MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并记录测试结果result2。之后执行步骤s4。
[0059] 相应地，该步骤s3中内存读写性能测试的内存读写模式为read、write、random read和random write。相对应地，该步骤中记录的测试结果result2为内存读写模式read、write、random read和random write各自对应的相应的测试结果数据。
[0060] 步骤s4、计算上述记录的测试结果result1与测试结果result2对应的性能偏差，并基于计算所得的性能偏差自动判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果。
[0061] 上述步骤s4中所述的基于计算所得的性能偏差自动判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果的方法为：
[0062] 将该步骤s4中计算所得的性能偏差分别与预先设定的性能偏差阈值进行比较，若计算所得的性能偏差均不超过上述预先设定的性能偏差阈值，则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是稳定的，否则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是不稳定的。
[0063] 进一步地，取上述预先设定的性能偏差阈值为2％，记上述测试结果result1依序在内存读写模式read、write、random read和random write下对应的测试结果数据为p1、p2、p3和p4，记上述测试结果result2依序在上述内存读写模式read、write、random read和random write下对应的测试结果数据为q1、q2、q3和q4,则该步骤s4中计算所得的上述记录的测试结果result1与测试结果result2对应的性能偏差为|p1-q1|、|p2-q2|、|p3-q3|和|p4-q4|，详见表1；将上述计算所得的性能偏差|p1-q1|、|p2-q2|、|p3-q3|和|p4-q4|分别与性能偏差阈值2％进行比较，若|p1-q1|、|p2-q2|、|p3-q3|和|p4-q4|均不超过2％，则判定当前测试主机AEP内存的压力性能是稳定的，否则判定当前测试主机AEP内存的压力性能是不稳定的。
[0064] 表1
[0065]
[0066] 需要说明的是，本发明中所述的预先设定的性能偏差阈值，其同样取自本领域技术人员的经验值，与上述预先设定天数d相对应。本领域技术人员可依据所述预先设定天数d的不同取值，依据经验，对应设定该预先设定的性能偏差阈值的具体取值为其他数值。
[0067] 另外，在上述步骤s1之前，该AEP内存压力性能稳定性测试方法还包括搭建测试环境的步骤，具体包括以下步骤s01-s06，步骤s01-s06顺序进行。
[0068] 步骤s01、在测试主机上安装Linux操作系统。
[0069] 步骤s02、重启测试主机，进入Linux操作系统，使用root用户登录。
[0070] 步骤s03、在测试主机上安装AEP测试软件环境。
[0071] 本实施方式中，在测试主机上安装AEP测试软件环境具体为：在Linux OS上安装ndctl(即为ndctl-master.zip工具软件包)及其依赖软件包、以及安装ixpdimm(即为ixpdimm_sw-master.zip，工具软件包)软件包。
[0072] 步骤s04、检查并设置测试主机AEP内存为存储模式(APD mode)。
[0073] 具体实现时，查看测试主机AEP内存是否为存储模式(APD mode)，如果不是，手动删除当前模式，并设置为存储模式。具体操作包括：
[0074] #ixpdimm-cli delete–goal，//删除原有goal，初始化
[0075] #ixpdimm-cli create–f–goal persistentmemorytype＝appdirect，//创建goal，并设置ADP mode
[0076] #ixpdimm-cli delete–pool，//删除pool，初始化
[0077] #ixpdimm-cli create-namespace-pool(PoolID)persistentmemorytype＝appdirect capacity＝X，//创建pool，并设置APD模式。
[0078] 需要说明的是，在进行上述步骤s04之前，可先查看测试主机内AEP内存的基本信息是否正确，查看无误后再进行步骤s04。具体操作包括：
[0079] dmidecode-t memory|more，//命令查看内存
频率[0080] ixpdimm-cli show–dimm,//查看AEP内存信息
[0081] ixpdimm-cli show–topology,//查看内存安装信息
[0082] ixpdimm-cli show–sensor。//查看sensor信息可以正常读取。
[0083] 步骤s05、将auto_run脚本、MLC测试工具和FIO测试工具拷贝到测试主机Linux系统/root目录下。
[0084] 步骤s06、在测试主机Linux系统下运行terminal终端程序，在terminal下执行如下操作：
[0085] #cd/root回车
[0086] #./auto_run回车
[0087] Terminal显示mlc和FIO安装成功后，开始对测试主机AEP内存的压力性能稳定性自动进行测试，即对应执行上述步骤s1-s4。
[0088] 需要说明的是，所述的auto_run脚本通过shell脚本进行实现，即自动化程序在很大程度上实现了测试的自动化，简洁、省时、易操作且节省人力。
[0089] 另外需要说明的是，步骤s06中在terminal下执行的操作“#cd/root回车”和“#./auto_run回车”，用于自动完成对所述MLC测试工具及所述FIO测试工具的安装，并用于在对所述MLC测试工具及所述FIO测试工具的安装过程中(通过shell脚本)自动对所有测试参数完成设定，所述的测试参数包括所述MLC测试工具的读写模式read、write、random read、random write，包括所述FIO测试工具的测试块大小4k、8k、16k、32k、64k、128k、256k、512k、1024k，以及包括所述FIO测试工具的fio的QD值(fio的QD值为128)。
[0090] 综上，本发明所述的AEP内存压力性能稳定性测试方法，其通过MLC测试工具两次对测试主机的AEP内存进行读写性能测试，并在该两次读写性能测试中间插入一次通过FIO测试工具进行的压力测试，避免了单台测试主机无法提供足够的压力以测试AEP内存的性能稳定性。
[0091] 另外，本发明所述的AEP内存压力性能稳定性测试方法，其通过计算其两轮性能测试的结果的性能偏差，并能够依据基于计算所得的性能偏差自动判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果，确保了测试结果的准确性和精度。
[0092] 另外，本发明的压力测试将fio QD设置为128，根据经验，系统满压力、高负荷运行7天，此过程完全自动运行，可以充分利用夜晚和节假日时间进行长时间压力测试，比人工测试的效率和精度更高。
[0093] 图2为本发明所述AEP内存压力性能稳定性测试系统的一种具体实施方式，该实施方式与上述AEP内存压力性能稳定性测试方法相对应。在本具体实施方式中，所述的AEP内存压力性能稳定性测试系统，包括：
[0094] 第一次内存读写性能测试模块，用于通过MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试；
[0095] 压力加注模块，与所述的第一次内存读写性能测试模块相连，用于通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行压力测试；
[0096] 第二次内存读写性能测试模块，与所述的压力加注模块相连，用于通过所述的MLC测试工具再次对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试；
[0097] 存储模块，与所述的第一次内存读写性能测试模块及第二次内存读写性能测试模块分别相连，用于本系统的数据存储，包括存储第一次内存读写性能测试模块的测试结果result1、以及存储第二次内存读写性能测试模块的测试结果result2；
[0098] 压力性能稳定性测试模块，与所述的存储模块相连，用于读取并计算存储模块内存储的测试结果result1与测试结果result2的性能偏差，并用于基于该计算所得的性能偏差判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果。
[0099] 使用时，第一次内存读写性能测试模块通过MLC测试工具对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并将对应的测试结果result1存入存储模块；然后压力加注模块，通过FIO测试工具对测试主机AEP内存进行压力测试；然后第二次内存读写性能测试模块通过所述的MLC测试工具再次对测试主机AEP内存进行内存读写性能测试，并将对应的测试结果result2存入存储模块；然后压力性能稳定性测试模块，读取并计算存储模块内存储的测试结果result1与测试结果result2的性能偏差，并基于其计算所得的性能偏差判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果。
[0100] 其中，在上述压力性能稳定性测试模块中，所述的基于该计算所得的性能偏差判定所述测试主机AEP内存的压力性能稳定性测试结果的方法为：
[0101] 将计算所得的测试结果result1与测试结果result2的性能偏差与所述的预先设定的性能偏差阈值进行比较，若计算所得的性能偏差不超过上述预先设定的性能偏差阈值，则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是稳定的，否则判定所述测试主机AEP内存的压力性能是不稳定的。
[0102] 其中，压力加注模块通过所述FIO测试工具对测试主机AEP内存进行预先设定天数d的压力测试，所述FIO测试工具的fio的QD值预先设为128。
[0103] 其中，所述MLC测试工具对测试主机AEP内存进行的内存读写性能测试的内存读写模式为read、write、random read和random write。
[0104] 该AEP内存压力性能稳定性测试系统还包括安装模块，用于在测试主机上自动安装所述的MLC测试工具和FIO测试工具，其中所述的测试主机上满足以下全部条件：
[0105] 测试主机上安装有Linux操作系统；
[0106] 使用root用户登录测试主机的Linux操作系统；
[0107] 测试主机上安装有AEP测试软件环境；
[0108] 测试主机AEP内存为存储模式(APD mode)；
[0109] 测试主机Linux系统/root目录下预先存储有auto_run脚本、所述的MLC测试工具和所述的FIO测试工具；
[0110] 测试主机Linux系统下运行terminal终端程序，并在terminal下执行如下操作：
[0111] #cd/root回车
[0112] #./auto_run回车
[0113] Terminal显示mlc和FIO安装成功后，开始对测试主机AEP内存的压力性能稳定性自动进行测试。
[0114] 其中，测试主机上安装有AEP测试软件环境，为所述测试主机的Linux OS上安装ndctl及其依赖软件包、以及安装ixpdimm软件包。
[0115] 需要说明的是，所述的auto_run脚本通过shell脚本进行实现，即自动化程序在很大程度上实现了测试的自动化，简洁、省时、易操作且节省人力。
[0116] 另外需要说明的是，上述在terminal下执行的操作“#cd/root回车”和“#./auto_run回车”，用于自动完成对所述MLC测试工具及所述FIO测试工具的安装，并用于在对所述MLC测试工具及所述FIO测试工具的安装过程中(通过shell脚本)自动对所有测试参数完成设定，所述的测试参数包括所述MLC测试工具的读写模式read、write、random read、random write，包括所述FIO测试工具的测试块大小4k、8k、16k、32k、64k、128k、256k、512k、1024k，以及包括所述FIO测试工具的fio的QD值(fio的QD值为128)。
[0117] 以上实施方式仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施方式对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施方式所记载的技术方案进行
修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施方式技术方案的范围。
