用于连续制造显示单元的方法及设备
阅读：1发布：2020-10-08
专利汇可以提供用于连续制造显示单元的方法及设备专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且公开了一种根据本 发明 的示例性实施方式的连续制造显示单元的方法，该方法通过将偏光膜片材粘合至面板来制造显示单元，该偏光膜片材通过将卷型光学膜切割成具有预定长度的片材而形成，其包括连续传送光学膜，检测光学膜的 缺陷 ，基于所检测到的缺陷的信息选取缺陷区域，基于缺陷区域形成相对于光学膜的传送方向沿 水 平方向的切口线，确定由切口线划分出的偏光膜的片材是缺陷片材还是正常片材，将被确定为正常片材的片材从 离型膜 剥离，以及将正常片材与面板粘合。，下面是用于连续制造显示单元的方法及设备专利的具体信息内容。
1.一种连续制造显示单元的方法，其中，所述方法将偏光膜片材粘合至面板以制造所述显示单元，其中，通过切割卷型光学膜而以预定长度形成所述偏光膜片材，所述光学膜包括偏光膜和离型膜，所述偏光膜具有粘合剂层，所述离型膜以能够从所述粘合剂层剥离的方式粘附至所述粘合剂层，所述方法包括：
将所述光学膜连续传送至切割位置；
在所述光学膜被传送至所述切割位置之前检测所述光学膜的缺陷；
基于所检测到的缺陷从n个单元检查区域中选取缺陷区域，所述n个单元检查区域通过从形成在所述光学膜中的第一切口线形成位置开始将与所述片材的长度相对应的距离划分成n等份而形成，其中n>1；
基于所选取的缺陷区域和所述第一切口线形成位置来确定要形成沿着与所述光学膜的传送方向正交的方向横穿所述光学膜的第二切口线的位置；
在所述切割位置处基于要形成所述第二切口线的位置从与所述离型膜相反的一侧形成具有达到所述离型膜的在所述粘合剂层一侧的表面的深度的第二切口线；
判定由所述第一切口线和所述第二切口线限定出的所述光学膜的片材是包括有所述缺陷区域的缺陷片材还是不包括有缺陷区域的正常片材；
将在所述判定操作中判定出的正常片材从所述离型膜剥离；以及
将所述面板供给至粘合位置并使得所述面板的位置与被传送至所述粘合位置的所述正常片材对准并且将所述正常片材与所述面板粘合。
2.根据权利要求1所述的方法，在确定切口线形成位置的操作中，如果在选取缺陷区域时所述n个单元检查区域中的至少一个区域被选取为缺陷区域，则将所选取的缺陷区域的上游侧的边界线确定为需要形成所述第二切口线的位置。
3.根据权利要求1所述的方法，在确定切口线形成位置的操作中，如果在选取缺陷区域时未从所述n个单元检查区域中选出缺陷区域，则将位于所述光学膜的传送方向的上游侧处的所述单元检查区域的上游侧的边界线确定为需要形成所述第二切口线的位置。
4.根据权利要求1所述的方法，在确定切口线形成位置的操作中，在所述第二切口线基于需要形成所述第二切口线的位置而形成在所述光学膜上的情况下，将形成在所述光学膜中的所述第二切口线设定为新的第一切口线，并且基于所述新的第一切口线来确定需要形成新的第二切口线的位置。
5.根据权利要求1所述的方法，在检测缺陷的操作中，通过获得从光源照射到所述光学膜的光中的从缺陷处反射而进入光检测装置的反射光或穿过所述缺陷而进入所述光检测装置的透射光的光强度与从光源照射到所述光学膜的光中的从所述缺陷以外的部分反射而进入所述光检测装置的反射光或穿过所述缺陷以外的部分而进入所述光检测装置的透射光的光强度之间的差异来识别缺陷。
6.根据权利要求1所述的方法，在选取缺陷区域的操作中，不符合预定基准条件的所述单元检查区域被选取为所述缺陷区域。
7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述基准条件是缺陷的存在、缺陷的尺寸、缺陷的数量中的至少一者。
8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述n个单元检查区域中的单个区域的长度为
10mm至2500mm。
9.根据权利要求1所述的方法，其中，通过从形成在粘合至所述面板的一个表面的所述光学膜中的第一切口线形成位置开始将与所述正常片材的长边的长度相对应的距离分成n等份而形成的单元检查区域的数量n不同于通过从形成在粘合至所述面板的另一表面的所述光学膜中的第一切口线形成位置开始将与所述正常片材的短边的长度相对应的距离分成m等份而形成的单元检查区域的数量m，其中，n>1以及m>1。
10.根据权利要求1所述的方法，其中，通过从形成在粘合至所述面板的一个表面的所述光学膜中的第一切口线形成位置开始将与所述正常片材的所述长边的长度相对应的距离分成n等份而形成的所述n个单元检查区域之中的单个区域的长度等于通过从形成在粘合至所述面板的另一表面的所述光学膜中的第一切口线形成位置开始将与所述正常片材的所述短边的长度相对应的距离分成m等份而形成的所述m个单元检查区域之中的单个区域的长度，其中，n>1以及m>1。
11.根据权利要求1所述的方法，还包括防止在所述判定操作中判定出的缺陷片材粘合至所述面板。
12.根据权利要求11所述的方法，在防止所述缺陷片材粘合至所述面板的操作中，当形成在所述光学膜上的所述缺陷片材到达排除位置时，通过将所述光学膜的包括有所述缺陷片材的部分转移至虚设膜传送路径并且将所述缺陷片材粘合至所述虚设膜传送路径而将所述缺陷片材从所述光学膜的传送路径排除。
13.根据权利要求11所述的方法，在防止所述缺陷片材粘合至所述面板的操作中，当形成在所述光学膜上的所述缺陷片材到达粘合位置时，通过将所述虚设膜传送路径输送至所述粘合位置并且将所述缺陷片材粘合至所述虚设膜传送路径而将所述缺陷片材从所述光学膜的传送路径排除。
14.一种用于连续制造显示单元的设备，其中，所述设备将偏光膜片材粘合至面板以制造所述显示单元，其中，通过切割卷型光学膜而以预定长度形成所述偏光膜片材，所述卷型光学膜包括偏光膜和离型膜，所述偏光膜包括粘合剂层，所述离型膜以能够从所述粘合剂层剥离的方式粘附至所述粘合剂层，所述设备包括：
传送装置，所述传送装置将所述光学膜连续传送至切割位置；
缺陷检测装置，所述缺陷检测装置在所述光学膜被传送至所述切割位置之前检测所述光学膜的缺陷；
缺陷区域选取装置，所述缺陷区域选取装置基于检测到的缺陷从n个单元检查区域中选取缺陷区域，所述n个单元检查区域通过从形成在所述光学膜中的第一切口线形成位置开始将与所述片材的长度相对应的距离划分成n等份而形成，其中，n>1；
切口线形成位置计算装置，所述切口线形成位置计算装置基于所选取的缺陷区域和所述第一切口线形成位置确定需要形成沿着与所述光学膜的传送方向正交的方向横穿所述光学膜的第二切口线的位置；
切口线形成装置，所述切口线形成装置在所述切割位置处基于需要形成所述第二切口线的位置从与所述离型膜相反的一侧形成具有达到所述离型膜的在所述粘合剂层一侧的表面的深度的第二切口线；
控制装置，所述控制装置判定由所述第一切口线和所述第二切口线划分出的所述光学膜的片材是包括有所述缺陷区域的缺陷片材还是不包括有缺陷区域的正常片材；
剥离装置，所述剥离装置将由所述控制装置判定出的所述正常片材从所述离型膜剥离；以及
粘合装置，所述粘合装置将面板供给至粘合位置并使得所述面板的位置与被传送至所述粘合位置的所述正常片材相一致并且将所述正常片材与所述面板粘合。
15.根据权利要求14所述的设备，其中，当所述n个单元检查区域中的至少一个区域被所述缺陷区域选取装置选取为所述缺陷区域时，所述切口线形成位置计算装置将所选取的缺陷区域的上游侧的边界线确定为需要形成所述第二切口线的位置。
16.根据权利要求14所述的设备，其中，当所述缺陷区域选取装置未在所述n个单元检查区域中选出缺陷区域时，所述切口线形成位置计算装置将位于所述光学膜的传送方向的上游侧处的所述单元检查区域的上游侧的边界线确定为需要形成所述第二切口线的位置。
17.根据权利要求14所述的设备，其中，所述缺陷检测装置包括：光源；光检测装置，所述光检测装置设置在所述光学膜的与所述光源相同的一侧或设置在与所述光源相反的一侧；以及控制装置，所述控制装置接收来自所述光检测装置的信息，并且所述控制装置通过获得从所述光源照射到所述光学膜的光中的从缺陷处反射而进入所述光检测装置的反射光或穿过所述缺陷而进入所述光检测装置的透射光的光强度与从所述光源照射到所述光学膜的光中的从所述缺陷以外的部分反射而进入所述光检测装置的反射光或穿过所述缺陷以外的部分而进入所述光检测装置的透射光的光强度之间的差异来识别缺陷。
用于连续制造显示单元的方法及设备
技术领域
[0001] 本发明涉及一种用于连续制造显示单元的方法和设备，并且更具体地，涉及如下用于连续制造显示单元的方法和设备：所述方法和设备基于从形成在光学膜中的n个单元检查区域中检测到的缺陷来选取缺陷区域，由此形成不具有缺陷区域的偏光膜片材并且将该偏光膜片材粘合至面板。
背景技术
[0002] 通过将偏光膜——即通常称为偏光板的光学功能膜——粘附至由液晶层形成的面板的上表面(观看侧)和下表面(背光灯侧)中的每一者上来制造显示单元，液晶层设置在矩形玻璃基板之间并且在液晶层上设置有呈片材形式的透明电极、滤色器等。
[0003] 为了通过使用包括偏光膜和离型膜的卷型光学膜——其中偏光膜包括粘合剂层，离型膜以能够被剥离的方式粘附至粘合剂层——来连续制造显示单元，在所供给的光学膜中形成连续的切口线，并且将由切口线形成的偏光膜片材从离型膜剥离并粘合至面板。
[0004] 制造显示单元的重要技术目的是预先确定所制造的显示单元的缺陷并防止缺陷产品的产生。因此，能够显著提高制造显示单元的收益率。相当多的缺陷主要是由存在于包含在光学膜层叠结构中的偏光膜中的缺陷引起的，并且很难以将包含在各个层叠膜中的缺陷完全去除的状态来提供光学膜层叠结构。根据对所有的形成偏光膜的偏光片、层叠在偏光片上的保护膜以及形成在偏光膜中的粘合剂层的研究已经揭示出的是，每1000m的偏光膜中分布有20至200个各种形式的缺陷，所述缺陷包括存在于偏光片的PVA膜本身中的缺陷、在将保护膜叠覆在偏光片上时产生的缺陷以及在偏光膜的粘合剂层中产生的缺陷。这表示目前制造没有缺陷的偏光膜是非常困难的。
[0005] 为了提高制造显示单元的收益率，通过适当地避免光学膜层叠结构中包括有缺陷的区域来切割出正常的产品片材(以下称为正常片材)并且将片材被粘附至面板。此外，在光学膜层叠结构中包括有缺陷的区域是缺陷产品片材(以下称为缺陷片材)，对应的区域被切割并且在随后的工艺中被处理以被排除。
[0006] 因此，需要如下连续制造显示单元的方法，该方法能够通过提供如下装置而在甚至不停止供给光学膜的情况下将在切割状态下相继形成在离型膜上的偏光膜的正常片材与缺陷片材中的仅被确定为正常片材的片材粘附至面板，其中所述装置防止被确定为缺陷片材的片材粘附至面板。
[0007] 韩国专利申请公开No.10-2015-0121004(以下称为专利文献1)提出了一种用于制造光学显示装置的系统。该专利文献确认了分配给光学膜的标志的位置，并且基于所确认的标志位置来确定切割线的形成位置，因此难以将该专利文献应用于以节距为单位传送光学膜的工艺中。
[0008] [相关文献]
[0009] [专利文献]
[0010] 专利文献1：韩国专利申请公开No.10-2015-0121004
[0011] [本发明的详细描述]
[0012] [技术问题]
[0013] 本发明要实现的技术目的是提供一种用于连续制造显示单元且能够提高显示单元的收益率的方法和设备。
[0014] [技术方案]
[0015] 本发明的示例性实施方式提供了一种连续制造显示单元的方法，其中，该方法将偏光膜片材粘合至面板以制造显示单元，其中，通过切割卷型光学膜而将偏光膜片材形成为具有预定长度，光学膜包括偏光膜和离型膜，偏光膜具有粘合剂层，离型膜以能够从粘合剂层剥离的方式粘附至粘合剂层，该方法包括：将光学膜连续传送至切割位置；在光学膜被传送至切割位置之前检测光学膜的缺陷；从n个单元检查区域之中基于所检测到的缺陷选取缺陷区域，所述n个单元检查区域是通过从形成在光学膜中的第一切口线形成位置开始将与片材的长度相对应的距离分成n等份(n>1)而形成的；基于所选取的缺陷区域和第一切口线形成位置来确定要形成沿着与光学膜的传送方向正交的方向横穿光学膜的第二切口线的位置；在切割位置处基于要形成第二切口线的位置从与离型膜相反的一侧形成具有达到离型膜的在粘合剂层一侧的表面的深度的第二切口线；判定由第一切口线和第二切口线限定的光学膜片材是包括有缺陷区域的缺陷片材还是不包括有缺陷区域的正常片材；将在所述判定中所判定出的正常片材从离型膜剥离；以及将面板供给至粘合位置使得面板的位置与被传送至粘合位置的正常片材对准并且将正常片材粘合至面板。
[0016] 如果在选取缺陷区域的过程中n个单元检查区域之中的至少一个区域被选取为缺陷区域，则将在所选取的缺陷区域的上游侧处的边界线确定为需要形成第二切口线的位置。
[0017] 如果在选取缺陷区域的过程中未在n个单元检查区域中选出缺陷区域，则将位于光学膜的传送方向的上游侧处的单元检查区域的上游侧的边界线确定为需要形成第二切口线的位置。
[0018] 在第二切口线基于需要形成第二切口线的位置而形成在光学膜上的情况下，将形成在光学膜中的第二切口线设定为新的第一切口线，并且基于该新的第一切口线来确定需要形成新的第二切口线的位置。
[0019] 在检测缺陷时，缺陷可以通过获得从光源照射到光学膜的光中的从缺陷处反射进入光检测装置的反射光或穿过缺陷进入光检测装置的透射光的光强度与从光源照射到光学膜的光中的从缺陷以外的部分反射进入光检测装置的反射光或穿过缺陷以外的部分进入光检测装置的透射光的光强度之间的差异来识别。
[0020] 在选取缺陷区域时，不符合预定基准条件的单元检查区域被选取为缺陷区域。
[0021] 基准条件是缺陷的存在、缺陷的尺寸、缺陷的数量中的至少一者。
[0022] n个单元检查区域之中的单个区域的长度为10mm至2500mm。
[0023] 通过从形成在粘合至面板的一个表面的光学膜中的第一切口线形成位置开始将与正常片材的长边长度相对应的距离分成n等份(n>1)而形成的单元检查区域的数量n可以不同于通过从形成在粘合至面板的另一表面的光学膜中的第一切口线形成位置开始将与正常片材的短边长度相对应的距离分成m等份(m>1)而形成的单元检查区域的数量m。
[0024] 从形成在粘合至面板的一个表面的光学膜中的第一切口线形成位置开始将与正常片材长边的长度相对应的距离分成n等份(n>1)而形成的n个单元检查区域之中的单个区域的长度等于从形成在粘合至面板的另一表面的光学膜中的第一切口线形成位置开始将与正常片材的短边长度相对应的距离分成m等份(m>1)而形成的m个单元检查区域之中的单个区域的长度。
[0025] 该方法还可以包括防止在所述判定中所判定出的缺陷片材粘合至面板。
[0026] 在防止缺陷片材粘合至面板的操作中，当形成在光学膜上的缺陷片材到达排除位置时，通过使光学膜的包括缺陷片材的部分转移至虚设膜传送路径并且将缺陷片材粘合至虚设膜传送路径而将缺陷片材从光学膜的传送路径排除。
[0027] 在防止缺陷片材粘合至面板的操作中，当形成在光学膜上的缺陷片材到达粘合位置时，通过将虚设膜传送路径输送至粘合位置并且将缺陷片材粘合至虚设膜传送路径而将缺陷片材从光学膜的传送路径排除。
[0028] 本发明的另一示例性实施方式提供了一种用于连续制造显示单元的设备，其中，该设备将通过把包括偏光膜和离型膜的卷型光学膜切割成具有预定长度的片材而形成的偏光膜片材粘附至面板来制造显示单元，其中，偏光膜包括粘合剂层，离型膜以能够被剥离的方式粘附至粘合剂层，该设备包括：传送装置，传送装置将光学膜连续传送至切割位置；缺陷检测装置，缺陷检测装置在光学膜被传送至切割位置之前检测光学膜的缺陷；缺陷区域选取装置，该缺陷区域选取装置基于检测到的缺陷在n个单元检查区域之中选取缺陷区域，n个单元检查区域是通过从形成在光学膜中的第一切口线形成位置开始将与片材的长度相对应的距离分成n等份(n>1)而形成的；切口线形成位置计算装置，切口线形成位置计算装置基于所选取的缺陷区域和第一切口线形成位置确定需要形成沿着与光学膜的传送方向正交的方向横穿光学膜的第二切口线的位置；切口线形成装置，切口线形成装置在切割位置处基于需要形成第二切口线的位置从与离型膜相反的一侧形成具有达到离型膜的在粘合剂层一侧的表面的深度的第二切口线；控制装置，控制装置判定由第一切口线和第二切口线划分的光学膜的片材是包括有缺陷区域的缺陷片材还是不包括有缺陷区域的正常片材；剥离装置，剥离装置将由控制装置判定的正常片材从离型膜剥离；以及粘合装置，粘合装置将面板供给至粘合位置使得面板的位置与传送至粘合位置的正常片材一致并且将正常片材粘合至面板。
[0029] 当n个单元检查区域之中的至少一个区域由缺陷区域选取装置选取为缺陷区域时，切口线形成位置计算装置将在所选取的缺陷区域的上游侧处的边界线确定为需要形成第二切口线的位置。
[0030] 当缺陷区域选取装置未在n个单元检查区域中选出缺陷区域时，切口线形成位置计算装置将存在于光学膜的传送方向的上游侧处的单元检查区域的上游侧的边界线确定为需要形成第二切口线的位置。
[0031] 缺陷检测装置包括：光源；光检测装置，该光检测装置设置在光学膜的与光源相同的一侧或设置在与光源相反的一侧；以及控制装置，该控制装置接收来自光检测装置的信息，并且控制装置可以通过获得从光源照射到光学膜的光中的从缺陷处反射进入光检测装置的反射光或穿过缺陷进入光检测装置的透射光的光强度与从光源照射到光学膜的光中的从缺陷以外的部分反射进入光检测装置的反射光或穿过缺陷以外的部分进入光检测装置的透射光的光强度之间的差异来识别缺陷。
[0032] [有利效果]
[0034] 图1是图示了根据本发明的示例性实施方式的光学膜的图，在该光学膜中形成有n个单元检查区域。
[0035] 图2A至图2E是图示了根据本发明的示例性实施方式的确定光学膜上的需要形成第二切口线的位置的图。
[0036] 图3是图示了根据本发明的示例性实施方式的在光学膜上设置第一切口线的图。
[0037] 图4是图示了根据本发明的示例性实施方式的形成在粘附至面板的一个表面或另一表面的光学膜中的单元检查区域的图。
具体实施方式
[0038] 在下文中，将参照附图更全面地描述本发明的示例性实施方式，以便本领域技术人员可以容易地实现本发明。然而，本发明可以以各种不同的形式进行修改，并且不限于本文中所描述的示例性实施方式。在附图中将省略与描述无关的部分以清楚地描述本发明，并且在整个说明书中，相同的元件将用相同的附图标志表示。
[0039] 在本说明书中使用的术语将作简要的描述，本发明将会被详细描述。
[0040] 已经考虑到在本发明中的功能而选择了目前广泛使用的通用术语作为本发明中所使用的术语，但是通用术语可以根据本领域技术人员的意图或司法先例、新技术的出现等来改变。此外，在具体情况下，存在由申请人随机选择的术语，在这种情况下，将在本发明的相应描述中详细描述该术语的含义。因此，本发明中所使用的术语应当基于术语的含义和本发明通篇的内容来定义而不应基于简单的术语名称。
[0041] 贯穿说明书，除非有明确相反的描述，否则词语“包括(comprise)”及其变型比如“包括(comprises)”或“包括(comprising)”将被理解为暗示包括所陈述的元件，但并不排除任何其他元件。
[0042] 本发明的以上描述是说明性的，并且本发明所属领域的技术人员可以理解的是，在不改变本发明的技术精神或本质特征的情况下，可以容易地修改成其他特定形式。因而，应当理解的是，以上所描述的实施方式在某种意义上意在为示例性的而非限制性的。例如，以单个的形式描述的各个构成元素可以以分散的形式实施，并且类似地，以分散的形式描述的构成元素可以以组合的形式实施。
[0044] 根据本发明的示例性实施方式的连续制造显示单元的方法，该方法通过将偏光膜片材粘附至面板来制造显示单元，其中，偏光膜片材通过将卷型光学膜切割成具有预定长度的片材而形成，卷型光学膜具有包括粘合剂层的偏光膜和离型膜，其中，离型膜以能够被剥离的方式粘附至粘合剂层，该方法包括：传送操作，该传送操作为将光学膜连续传送至切割位置；缺陷检测操作，该缺陷检测操作为在光学膜被传送至切割位置之前检测光学膜的缺陷；缺陷区域选取操作，该缺陷区域选取操作为基于从n个单元检查区域中检测到的缺陷来选取缺陷区域，其中，n个单元检查区域是通过将从形成在光学膜中的第一切口线形成位置开始的对应于片材长度的距离划分成n等份(n>1)而形成的；切口线形成位置确定操作，该切口线形成位置确定操作为基于所选取的缺陷区域和第一切口线形成位置来确定需要形成第二切口线的位置，其中该第二切口线沿相对于光学膜的传送方向正交的方向横穿光学膜；切口线形成操作，该切口线形成操作为在切割位置处基于需要形成第二切口线的位置从与离型膜相反的一侧形成具有达到离型膜的在粘合剂层一侧的表面的深度的第二切口线；片材确定操作，该片材确定操作为确定由第一切口线和第二切口线划分成的光学膜的片材是包括有缺陷区域的缺陷片材还是不包括有缺陷区域的正常片材；剥离操作，该剥离操作为将在片材确定操作中确定的正常片材从离型膜剥离；以及粘合操作，该粘合操作为将面板供给至粘合位置使得面板的位置与传送至粘合位置的正常片材相一致并且将正常片材与面板粘合。
[0045] 根据本发明的示例性实施方式的连续制造显示单元的方法，能够通过排除缺陷片材来提高显示单元的收益率，并且提高显示单元的制造速度，从而提高显示单元的生产率。
[0046] 包括粘合剂层、偏光膜和离型膜的卷型光学膜可以具有与面板的长边或短边相对应的宽度。例如，显示单元可以通过下述方式制造：把通过将具有与面板的长边相对应的宽度的卷型光学膜切割成具有预定长度的片材而形成的偏光膜片材粘合至面板的一个表面，以及把通过将具有与面板的短边相对应的宽度的卷型光学膜切割成具有预定长度的片材而形成的偏光膜片材粘合至面板的另一表面。
[0047] 根据本发明的示例性实施方式，在将光学膜传送至切割位置之前使光学膜经历检测光学膜的缺陷的缺陷检测操作。
[0048] 为了制造显示单元，可以使用其中预先布置有指示偏光膜的缺陷位置的标志的光学膜。可以将表示偏光膜的表面和内表面的缺陷的标志分配给构成光学膜的偏光膜、表面保护膜或离型膜的表面。分配有标志的位置(标志的中心)的坐标与缺陷位置的坐标之间的差异可以优选地在±200mm内，更优选地在±100mm内，进一步更优选地在±50mm内，并且最优选地在±10mm内。
[0050] 分配给光学膜的标志的形状可以具有例如圆形、椭圆形、正方形、矩形和三角形，但是标志的形状不受限制。然而，标志的形状可以被设定为简单的几何形状。当基于从光源照射至标志以及标志的相邻区域的光强度的差异检测标志时，为了提高标志检测精度，可以分配具有诸如圆形、椭圆形、方形、矩形、多边形和三角形之类的形状且整体涂有油墨的标志。
[0051] 标志所被分配至的光学膜可以以成卷型地卷绕和加工。当分配至光学膜的标志具有预定厚度或更大的厚度时，标志的厚度会导致在光学膜被卷绕时发生光学膜的变形，使得有很大可能性会产生新的缺陷。因此，为了防止变形，标志的厚度可以优选地为1.5μm或更小，并且更优选地为1.0μm或更小。可以通过使用例如标识物或喷墨方法将标志分配给光学膜。
[0052] 在根据本发明的示例性实施方式的缺陷检测操作中，缺陷可以通过下述方式识别：获取从光源照射到光学膜的光中的从缺陷处反射进入光检测装置的反射光或穿过缺陷进入光检测装置的透射光的光强度与从光源照射到光学膜的光中的从缺陷以外的部分反射进入光检测装置的反射光或穿过缺陷以外的部分进入光检测装置的透射光的光强度之间的差异。
[0053] 从光源发出的光照射至光学膜上的缺陷和缺陷周围的光学膜。照射光的一部分可以被缺陷吸收，其余部分不被缺陷吸收并且穿过光学膜并入射至光检测装置。入射至光检测装置的光被拍摄装置根据光强度转换为电信号，使得缺陷的图像和缺陷周围部分的图像被转换为电信号并输送至控制装置。控制装置可以将根据缺陷的光强度和缺陷周围部分的光强度而将信息转换为黑白灰色。
[0054] 控制装置可以计算具有缺陷的部分的灰度与光学膜的不具有缺陷的部分的灰度之间的差异。从光源发出的光可能被存在于光学膜上的缺陷吸收，使得穿过缺陷部分并入射至光检测装置的光可能较弱。与此同时，从光源发出的光在光学膜的不具有缺陷的部分处几乎都穿过光学膜，使得穿过该部分并入射至光检测装置的光的强度可以大于穿过缺陷部分的光的强度。
[0055] 穿过缺陷部分的光的强度与穿过缺陷周围部分的光的强度之间的差异导致在缺陷部分与围绕缺陷部分的部分之间产生灰度的差异，能够通过利用灰度的差异在光学膜的预定区域中确定缺陷的存在、缺陷的尺寸、缺陷的数量等。
[0056] 能够利用从光源发出且由缺陷部分反射的光的强度与从光源发出且由光学膜的不具有缺陷的部分反射的光的强度之间的差异来确定光学膜上的缺陷的存在、缺陷的尺寸、缺陷的数量等。
[0057] 此外，能够使用预先分配有指示偏光膜的缺陷位置的标志的光学膜来制造显示单元。可以通过使用与缺陷检测操作中的检测缺陷的方法相同的方法来检测分配至光学膜的标志。因此，根据本发明的示例性实施方式，能够通过检测光学膜上的标志以及未分配有标志的缺陷而在单元检查区域中选取缺陷区域。
[0058] 图1是图示了根据本发明的示例性实施方式的其中形成有n个单元检查区域的光学膜的图。
[0059] 根据本发明的示例性实施方式，基于从n个单元检查区域中检测到的缺陷来选取缺陷区域，所述n个单元检查区域是通过从形成在光学膜中的第一切口线形成位置开始将与片材的长度相对应的距离划分成n等份(n>1)而形成的。
[0060] 就单元检查区域而言，例如可以在粘合至面板的一个表面且具有与面板的短边相对应的宽度的光学膜中形成n个单元检查区域，这可以通过从形成在该光学膜中的第一切口线形成位置开始将与正常片材的长边的长度相对应的距离划分成n等份(n>1)来实现。此外，可以在粘合至面板的另一表面且具有与面板的长边相对应的宽度的光学膜中形成m个单元检查区域，这可以通过从形成在该光学膜中的第一切口线形成位置开始将与正常片材的短边的长度相对应的距离划分成m等份(m>1)来实现。
[0061] 参照图1，在光学膜的从第一切口线开始到对应于片材长度的距离处的部分中形成有n个单元检查区域。例如，由第一切口线和第一边界线划分的单元检查区域可以设定为第一单元检查区域，并且由n-1边界线和n边界线划分的单元检查区域可以设定为第n单元检查区域。因此，均能够针对第一单元检查区域至第n单元检查区域中的每一者基于在缺陷检测操作中检测到的缺陷来选取缺陷区域。
[0062] 在根据本发明的示例性实施方式的缺陷区域选取操作中，可以将不符合预定基准条件的单元检查区域选取为缺陷区域，并且基准条件可以是缺陷的存在、缺陷的尺寸、缺陷的数量等中的至少一者。
[0063] 针对形成在光学膜上的第一单元检查区域至第n单元检查区域中的每一者，能够通过将在缺陷检测操作中检测到的缺陷的信息与预定基准条件相对比来将不符合基准条件的单元检查区域选取作为缺陷区域。
[0064] 例如，当将缺陷的存在设定为缺陷区域的基准条件时，在缺陷区域选取操作中，在第一单元检查区域至第n单元检查区域中的包括有缺陷的单元检查区域可以被选取为缺陷区域。当多个单元检查区域中包括有缺陷时，包括有缺陷的多个单元检查区域中的每个单元检查区域可以被选取为缺陷区域。
[0065] 此外，缺陷的尺寸可以被设定为缺陷区域的基准条件。例如，包括具有10mm2或更大的尺寸的缺陷的单元检查区域可以被选取为缺陷区域。作为缺陷区域的基准条件，缺陷的尺寸可以被设定为优选地1,000mm2，更优选地100mm2，并且进一步更优选地10mm2。
[0066] 缺陷的数量可以被设定为缺陷区域的基准条件。例如包括120个缺陷或更多缺陷的单元检查区域可以被选取为缺陷区域。作为缺陷区域的基准条件，缺陷的数量可以被设定为优选地12，更优选地为3，并且进一步更优选地为1。
[0067] 缺陷的尺寸和缺陷的数量可以被设定为缺陷区域的基准条件。例如，缺陷的尺寸被设定为100mm2，并且缺陷的数量被设定为12，则当单元检查区域中包括尺寸大于等于100mm2的缺陷时，对应的单元检查区域可以被选取为缺陷区域，并且当单元检查区域中包括12个或更多个尺寸小于100mm2的缺陷时，对应的单元检查区域可以被选取为缺陷区域。
进一步地，缺陷的类型可以被设定为缺陷区域的基准条件。然而，缺陷区域的基准条件仅仅是说明性的，并不限制基准条件。
进一步地，缺陷的类型可以被设定为缺陷区域的基准条件。然而，缺陷区域的基准条件仅仅是说明性的，并不限制基准条件。
[0068] 此外，可以针对粘合至面板的一个表面的光学膜和粘合至面板的另一表面的光学膜以不同的方式设定缺陷区域的基准条件。在制造的显示单元中，用于粘合至面板的供使用者观察的观察侧表面的光学膜的缺陷区域的基准条件可以设定得比用于粘合至面板的观察侧的相反侧的光学膜的缺陷区域的基准条件严格。例如，当缺陷的尺寸被设定为缺陷区域的基准条件时，在粘合至面板的观察侧表面的光学膜中，可以将包括尺寸大于等于10mm2的缺陷的单元检查区域选取为缺陷区域，而在粘合至面板的观察侧的相反侧的光学膜中，可以将包括尺寸大于等于50mm2的缺陷的单元检查区域选取为的缺陷区域。
[0069] 因此，在缺陷区域选取操作中以不同的方式设定缺陷区域的基准条件，使得能够通过精确地排除具有缺陷的偏光膜来提高显示单元的产品质量，并且制造符合客户要求的各种条件的显示单元。
[0070] 图2A至图2E是图示了根据本发明的示例性实施方式的确定在光学膜上需要形成第二切口线的位置的图。
[0071] 根据本发明的示例性实施方式，在切口线形成位置确定操作中，基于在缺陷区域选取操作中选取的缺陷区域以及第一切口线形成位置来确定需要形成沿与光学膜的传送方向正交的方向横穿光学膜的第二切口线的位置。第二切口线以与第一切口线平行的方式形成在光学膜上。
[0072] 在缺陷区域选取操作中，当n个单元检查区域之中的一个或更多个区域被选取为缺陷区域时，可以将在所选取的缺陷区域的上游侧处的边界线确定为需要形成第二切口线的位置。下文中，为了便于描述，将基于形成有四个单元检查区域的光学膜详细描述本发明，其中，四个单元检查区域通过从第一切口线形成位置开始将与片材的长度相对应的距离分成四等份而形成。
[0073] 参照图2A，当在四个单元检查区域之中的第四单元检查区域被选取为缺陷区域时，可以将作为第四单元检查区域的上游侧处的边界线的第四边界线确定为需要形成第二切口线的位置。此外，参照图2B，当第二单元检查区域被选取为缺陷区域时，可以将与第二单元检查区域的上游侧处的边界线相对应的第二边界线确定为需要形成第二切口线的位置。
[0074] 参照图2C，当四个单元检查区域之中的第一单元检查区域和第三单元检查区域被选取为缺陷区域时，可以将与第一单元检查区域的上游侧处的边界线相对应的第一边界线确定为需要形成第二切口线的位置，并且可以将与第三单元检查区域的上游侧处的边界线相对应的第三边界线确定为需要形成下一个第二切口线的位置。也就是说，在第一边界线处形成切口线之后，继而可以在第三边界线处形成下一个切口线。
[0075] 进一步讲，当n个单元检查区域之中的一个或更多个区域被选取为缺陷区域时，可以将位于光学膜的传送方向的上游侧处的所选取的缺陷区域的上游侧的边界线确定为需要形成第二切口线的位置。
[0076] 参照图2C，当四个单元检查区域之中的第一单元检查区域和第三单元检查区域被选取为缺陷区域时，可以将作为存在于光学膜的传送方向的上游侧处的第三单元检查区域的上游侧的边界线的第三边界线确定为需要形成第二切口线的位置。此外，参照图2D，当缺陷分配在第二单元检查区域与第三单元检查区域之间的边界线上时，第二单元检查区域和第三单元检查区域被检测为缺陷区域，可以将存在于光学膜的传送方向的上游侧处的第三单元检查区域的第三边界线确定为需要形成第二切口线的位置。
[0077] 当在单元检查区域中选取多个缺陷区域时，将位于光学膜的传送方向的上游侧处的被选取的缺陷区域的上游侧的边界线确定为需要形成第二切口线的位置，使得能够同时排除包括有缺陷的多个缺陷区域。
[0078] 此外，基于以预定等间隔划分出的单元检查区域来确定需要形成第二切口线的位置，使得能够将该方法容易地应用于显示单元的制造工艺，该方法以节距为单位传送光学膜，并且能够简化确定需要形成第二切口线的位置的操作，从而提高显示单元的制造速度。
[0079] 根据本发明的示例性实施方式，当在缺陷区域选取操作中在n个单元检查区域中未选取到缺陷区域时，则可以将存在于光学膜的传送方向的上游侧处的单元检查区域的上游侧的边界线确定为需要形成第二切口线的位置。
[0080] 参照图2E，当在四个单元检查区域中未选取到缺陷区域时，可以将与位于光学膜的传送方向的上游侧处的第四单元检查区域的上游侧的边界线相对应的第四边界线确定为需要形成第二切口线的位置。
[0081] 图3是图示了根据本发明的示例性实施方式的在光学膜上的设置第一切口线的图。
[0082] 根据本发明的示例性实施方式，当在切口线形成操作中第二切口线基于需要形成第二切口线的位置而形成在光学膜上时，在切口线形成位置确定操作中，可以将形成在光学膜中的第二切口线设定为新的第一切口线，并且可以基于该新的第一切口线来确定需要形成新的第二切口线的位置。
[0083] 当卷型光学膜在退卷的同时被连续地向切割位置传送并且呈卷型卷绕的光学膜的前端部到达切割位置时，光学膜的前端部可以被视作形成在光学膜上的第一切口线。当光学膜的前端部被视为第一切口线时，可以基于该第一切口线来确定需要形成第二切口线的位置。
[0084] 参照图3，基于第一切口线形成位置而将选取为缺陷区域的第三单元检查区域的第三边界线确定为需要形成第二切口线的位置，并且在需要形成第二切口线的位置处、即在切割位置处形成切口线。然后，如图3中图示的，由第一切口线和第二切口线形成的片材可以被传送至光学膜的传送方向的下游侧，并且可以将第二切口线设定为新的第一切口线，由此可以基于新的第一切口线来确定需要形成新的第二切口线的位置。
[0085] 根据本发明的示例性实施方式，在单元检查区域之中的单个区域的长度可以为10mm至2500mm。
[0086] 形成在光学膜中的n个单元检查区域中的单个区域的长度可以为10mm至2500mm，优选地为100mm至2000mm，更优选地为200mm至1500mm，并且进一步更优选地为500mm至1000mm。能够通过调节单元检查区域的长度来使偏光膜的包括有缺陷并且被丢弃的部分最小化，从而降低显示单元的制造成本。
[0087] 图4是图示了根据本发明的示例性实施方式的形成在粘合至面板的一个表面或另一表面的光学膜中的单元检查区域的图。
[0088] 根据本发明的示例性实施方式，通过从形成在粘合至面板的一个表面的光学膜中的第一切口线形成位置开始将与正常片材的长边长度相对应的距离划分成n等份(n>1)而形成的单元检查区域的数量n可以不同于通过从形成在粘合至面板的另一表面的光学膜中的第一切口线形成位置开始将与正常片材的短边长度相对应的距离分成m等份(m>1)而形成的单元检查区域的数量m。
[0089] 例如，形成在粘合至面板的一个表面的光学膜上的单元检查区域的数量n可以不同于形成在粘合至面板的另一表面的光学膜上的单元检查区域的数量m。
[0090] 在被供给以粘合至面板的一个表面的光学膜中所包含的缺陷的数目可以不同于在被供给以粘附至面板的另一表面的光学膜中所包含的缺陷的数目，由此能够通过为包括更多缺陷的光学膜设置更多的单元检查区域来减少包括有缺陷且被丢弃的偏光膜的数量。光学膜的缺陷的数目可以通过在制造光学膜的过程中借助于检查操作来对缺陷的数目进行计数而获得。
[0091] 根据本发明的示例性实施方式，通过从形成在粘合至面板的一个表面的光学膜中的第一切口线形成位置开始将与正常片材的长边长度相对应的距离分成n等份(n>1)而形成的n个单元检查区域之中的单个区域的长度可以等于在通过从形成在粘合至面板的另一表面的光学膜中的第一切口线形成位置开始将与正常片材的短边长度相对应的距离分成m等份(m>1)而形成的m个单元检查区域之中的单个区域的长度。
[0092] 使形成在粘合至面板的一个表面的光学膜上的单元检查区域之中的单个区域的长度等于形成在粘合至面板的另一表面的光学膜上的单元检查区域之中的单个区域的长度，使得能够有效且连续地制造显示单元，在该制造过程中，光学膜以节距为单位被传送。
[0093] 根据本发明的示例性实施方式的连续制造显示单元的方法还可以包括防止在片材确定操作中所确定的缺陷片材被粘合至面板的操作。
[0094] 在防止缺陷片材粘合至面板的操作中，当形成在光学膜上的缺陷片材到达排除位置时，光学膜的包括缺陷片材的部分被转移至虚设膜传送路径，并且该缺陷片材被粘合至虚设膜传送路径，从而将缺陷片材从光学膜传送路径排除。
[0095] 在切口线形成操作中形成有切口线的光学膜可以被传送至位于粘合位置之前的排除位置。由切口线形成的偏光膜的正常片材和缺陷片材以能够被剥离的方式层置在被传送至排除位置的光学膜的离型膜上。在片材确定操作中确定的缺陷片材可以在排除位置处从离型膜剥离且被排除。
[0096] 在排除位置处可以安装有缺陷片材排除装置，并且缺陷片材排除装置可以贴附以能够被剥离的方式层置在离型膜上的缺陷片材进而将缺陷片材从离型膜剥离。由缺陷片材排除装置从离型膜剥离的缺陷片材可以被转移装置排除。
[0097] 在根据本发明的示例性实施方式的防止缺陷片材粘合至面板的操作中，当形成在光学膜上的缺陷片材到达粘合位置时，可以将虚设膜传送路径输送至粘合位置，可以将缺陷片材粘合至虚设膜传送路径，并且可以将缺陷片材从光学膜的传送路径排除。
[0098] 贴附层置在离型膜上的缺陷片材进而将缺陷片材从离型膜剥离的缺陷片材排除装置和将被剥离的缺陷片材排除的虚设膜传送路径可以形成为邻近于粘合位置。缺陷片材排除装置和虚设膜传送路径与形成在粘合位置处的粘合装置配合工作，并且当缺陷片材由缺陷片材排除装置从离型膜剥离时，粘合装置从粘合位置向后移动且虚设膜传送路径向前移动至粘合位置，使得缺陷片材可以粘合至虚设膜传送路径且从光学膜的传送路径排除。
[0099] 根据本发明的示例性实施方式的连续制造显示单元的方法还可以包括测量光学膜的传送量并基于传送量来计算距离测量数据的测量操作。
[0100] 可以计算出基于光学膜的传送量的距离测量数据，并且可以通过使用计算出的距离测量数据来提高缺陷检测操作中的缺陷检测的精度。
[0101] 本发明的另一示例性实施方式提供了一种用于连续制造显示单元的设备，该设备将偏光膜片材粘合至面板来制造显示单元，该偏光膜片材通过将包括偏光膜和离型膜的卷型光学膜切割成具有预定长度的片材而形成，其中，偏光膜包括粘合剂层，离型膜以能够被剥离的方式粘附至粘合剂层，该设备包括：传送装置，该传送装置将光学膜连续传送至切割位置；缺陷检测装置，该缺陷检测装置在光学膜被传送至切割位置之前检测光学膜的缺陷；缺陷区域选取装置，该缺陷区域选取装置基于在n个单元检查区域之中检测到的缺陷选取缺陷区域，所述n个单元检查区域是通过从形成在光学膜中的第一切口线形成位置开始将与片材的长度相对应的距离分成n等份(n>1)而形成的；切口线形成位置计算装置，该切口线形成位置计算装置基于所选取的缺陷区域和第一切口线形成位置来确定需要形成沿与光学膜的传送方向正交的方向横穿光学膜的第二切口线的位置；切口线形成装置，该切口线形成装置在切割位置处基于需要形成第二切口线的位置而从与离型膜相反的一侧处形成具有达到离型膜的粘合剂层一侧的表面的深度的第二切口线；控制装置，该控制装置确定由第一切口线和第二切口线划分出的光学膜的片材是包括有缺陷区域的缺陷片材还是不包括有缺陷区域的正常片材；剥离装置，该剥离装置将由控制装置确定的正常片材从离型膜剥离；以及粘合装置，该粘合装置将面板供给至粘合位置使得面板的位置与传送至粘合位置的正常片材相一致，并且将正常片材粘合至面板。
[0102] 用于连续制造显示单元的设备包括：光学膜供给装置，该光学膜供给装置安装有卷型光学膜并供给光学膜；传送装置，该传送装置连续传送光学膜；面板传送装置，该面板传送装置将面板供给至用于连续制造显示单元的设备；以及操作控制装置，该操作控制装置控制光学膜供给装置和面板传送装置的整体操作。
[0103] 面板传送装置通过借助于操作控制装置以预定间隔和预定速度调节面板而将面板运送至粘合装置。
[0104] 缺陷检测装置可以包括：光源；光检测装置，该光检测装置设置在光学膜的与光源相同的一侧或设置在与光源相反的一侧；以及控制装置，该控制装置接收来自光检测装置的信息，并且控制装置可以通过下述方式识别缺陷：通过获得从光源照射到光学膜的光中的从缺陷处反射进入光检测装置的反射光或穿过缺陷进入光检测装置的透射光的光强度与从光源照射到光学膜的光中的从缺陷以外的部分反射进入光检测装置的反射光或穿过缺陷以外的部分进入光检测装置的透射光的光强度之间的差异。
[0105] 可以使用发出可见光的光源和发出紫外线或红外线的光源作为光源。光检测装置可以包括透镜和诸如CCD或CMOS的拍摄装置，并且可以根据光源的种类来检测可见光、紫外线和红外线中的至少一者。控制装置可以接收来自光检测装置的信息，计算光学膜的具有缺陷的部分的灰度与不具有缺陷的部分的灰度之间的差异，并且计算在光学膜的预定区域中的缺陷信息，比如缺陷的存在、缺陷的尺寸、缺陷的数量等。由控制装置计算的缺陷信息被存储在存储装置中，并且缺陷信息从存储装置被输送至缺陷区域选取装置。
[0106] 光源可以位于光学膜的下表面处，并且光检测装置可以位于光学膜的下表面或上表面处。控制装置可以与光检测装置一体地形成。
[0107] 根据本发明的另一示例性实施方式的缺陷区域选取装置基于检测到的缺陷从n个单元检查区域中选取缺陷区域，所述n个单元检查区域是通过从形成在光学膜中的第一切口线形成位置开始将与片材的长度相对应的距离分成n等份(n>1)而形成的。
[0108] 缺陷区域选取装置可以通过使用由光检测装置的控制装置计算的缺陷信息来确定单元检查区域是否对应于缺陷区域。缺陷区域选取装置可以比较和计算预定的基准条件和缺陷信息，并且选取不符合基准条件并包括有缺陷的单元检查区域作为缺陷区域。与由缺陷区域选取装置选取的缺陷区域有关的信息被存储在存储装置中，并被从存储装置输送至切口线形成位置计算装置。
[0109] 根据本发明的另一示例性实施方式的切口线形成位置计算装置基于所选取的缺陷区域和第一切口线形成位置确定需要形成沿相对于光学膜的传送方向正交的方向横穿光学膜的第二切口线的位置。切口线形成位置计算装置通过使用与由缺陷区域选取装置计算的缺陷区域有关的信息而确定在光学膜上需要形成第二切口线的位置。
[0110] 当n个单元检查区域之中的一个或更多个区域被缺陷区域选取装置选取为缺陷区域时，切口线形成位置计算装置可以将所选取的缺陷区域的上游侧的边界线确定为需要形成第二切口线的位置。此外，当缺陷区域选取装置在n个单元检查区域中未选出缺陷区域时，切口线形成位置计算装置可以将在存在于光学膜的传送方向的上游侧处的单元检查区域的上游侧的边界线确定为需要形成第二切口线的位置。
[0111] 与由切口线形成位置计算装置产生的切口线形成位置相关的信息可以存储在存储装置中，并且与切口线形成位置相关的信息可以从存储装置输送至切口线形成装置并且基于有关切口线形成位置的信息而在光学膜中形成切口线。
[0112] 切口线形成装置在切割位置处基于需要形成第二切口线的位置从与离型膜相反的一侧形成具有达到离型膜的在粘合剂层一侧的表面的深度的第二切口线。也就是说，切口线形成装置对光学膜进行半切割。
[0113] 切口线形成装置通过使用由切口线形成位置计算装置计算出的需要形成第二切口线的位置的信息而在光学膜中形成第二切口线。切口线形成装置可以布置在切割位置处，并且可以使用例如激光装置或切割装置。
[0114] 粘合装置可以包括将从离型膜剥离的正常片材粘合至面板的一对粘合辊。
[0115] 根据本发明的另一示例性实施方式的连续制造显示单元的设备还可以包括测量装置，该测量装置测量光学膜的传送量并基于传送量来计算距离测量数据。
[0116] 本发明的以上描述是说明性的，并且本发明所属领域的技术人员可以理解的是，在不改变本发明的技术精神或本质特征的情况下，可以容易地修改成其他特定形式。因而，应当理解的是，以上所描述的实施方式从某种意义上来说旨在为示例性的，而非限制性的。例如，以单个的形式描述的每个构成元素可以分散地实施，并且类似地，以分散的形式描述的构成元素可以以组合的形式实施。
[0117] 本发明的范围由随附的权利要求而非详细描述来表达，并且要解释的是，权利要求的含义和范围以及从其等同方面得到的所有改变或修改形式均落入本发明的范围内。
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