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光学模组测试探针座及测试治具

阅读：783发布：2023-12-31

专利汇可以提供光学模组测试探针座及测试治具专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型公开一种光学模组测试探针座及测试治具，该光学模组测试探针座包括固定座、连接器定位座和盖板，连接器定位座固定于固定座上，盖板压设于连接器定位座上，且与固定座连接，连接器定位座上开设有容纳槽，且容纳槽的第一侧敞开，盖板的与容纳槽相对的一侧开设有连接部，盖板通过连接部与固定座连接。本实用新型的光学模组测试探针座及测试治具中，由于与固定座连接的连接部设于盖板的与容纳槽相对的一侧，因此，在与第一侧垂直的方向上无需开设用于连接的连接部，可减小光学模组测试探针座在与第一侧垂直的方向上尺寸。这样，该光学模组测试探针座可适应于各种不同的测试治具，实现光学模组测试探针座共用，从而大大减小测试治具的成本。，下面是光学模组测试探针座及测试治具专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种光学模组测试探针座，其特征在于，包括固定座(11)、连接器定位座(13)和盖板(15)，该连接器定位座(13)固定于该固定座(11)上，该盖板(15)压设于连接器定位座(13)上，且与该固定座(11)连接，该连接器定位座(13)上开设有容纳槽(132)，且该容纳槽(132)的第一侧敞开，该盖板(15)的与该容纳槽(132)相对的一侧开设有连接部(152)，该盖板(15)通过该连接部(152)与该固定座(11)连接。
2.如权利要求1所述的光学模组测试探针座，其特征在于，该盖板(15)与该容纳槽(132)的第一侧对应的一侧开设开口(153)。
3.如权利要求1所述的光学模组测试探针座，其特征在于，该固定座(11)包括第一固定座(112)和第二固定座(114)，该第二固定座(114)固定于该第一固定座(112)上。
4.如权利要求3所述的光学模组测试探针座，其特征在于，该第一固定座(112)上开设有第一探针孔(115)；该第二固定座(114)上开设有第二探针孔(118)；该连接器定位座(13)上开设有第三探针孔(138)，该连接器定位座(13)的该容纳槽(132)的底部还开设有探针槽(139)，该第一探针孔(115)、该第二探针孔(118)和该第三探针孔(138)对应设置；该光学模组测试探针座还包括探针(17)，该探针(17)依次穿过该第一探针孔(115)、该第二探针孔(118)和该第三探针孔(138)，并伸入该探针槽(139)内。
5.如权利要求4所述的光学模组测试探针座，其特征在于，该第二固定座(114)远离该第一固定座(112)的一侧凸设有凸起(116)，该第二探针孔(118)开设于该凸起(116)上，该连接器定位座(13)朝向该第二固定座(114)的一侧开设有凹槽(136)，该第三探针孔(138)开设于该凹槽(136)内，该凸起(116)与该凹槽(136)配合。
6.如权利要求2所述的光学模组测试探针座，其特征在于，该连接器定位座(13)的外侧设有凸缘(134)，且该凸缘(134)位于垂直于该容纳槽(132)的第一侧的侧面上，该盖板(15)压设在该凸缘(134)上。
7.如权利要求6所述的光学模组测试探针座，其特征在于，该盖板(15)朝向该连接器定位座(13)的一侧开设有定位槽(154)，该定位槽(154)卡设于该凸缘(134)的边缘。
8.一种测试治具，其特征在于，包括底座和权利要求1-7任意一项所述的光学模组测试探针座，该底座上开设有探针座槽以容纳该光学模组测试探针座。
9.如权利要求8所述的测试治具，其特征在于，该光学模组测试探针座可拆卸地设于该底座的该探针座槽内。
10.如权利要求8所述的测试治具，其特征在于，该测试治具包括两个该光学模组测试探针座，两个该光学模组测试探针座并排设于该底座内。

说明书全文

光学模组测试探针座及测试治具

技术领域

[0001] 本实用新型涉及光学模组制造技术领域，特别涉及一种光学模组测试探针座及测试治具。

背景技术

[0002] 摄像头模组组装完成后需要进行烧录/调焦/功能测试等作业，作业时需要用测试治具进行测试，测试治具上装有测试探针座，摄像头模组放入测试治具，模组上的连接器放入测试探针座组件中的凹槽，通过探针使测试转接板与摄像头模组上的连接器连接，从而给摄像头模组供电及通讯，完成各项测试。

[0003] 目前，测试治具主要有四种形式：ISM单模治具、ISM双模治具、四合一气动治具和四合一手动治具。因产能与排程原因，同一产品会在以上四类不同治具之间切换生产，例如量大产品会从四合一手动测试设备切换到ISM双模治具设备生产，或因ISM双模治具设备产能排满，切换到ISM单模治具设备生产，极端情况会出现同一产品制作需要使用四种测试治具，而不同形式的测试治具需要设置不同的测试探针座，测试治具的成本构成中，测试探针座的成本占到整个治具的50％左右，各种测试治具使用不同的测试探针座将造成成本的大幅增加。不同形式的测试治具需要设置不同的测试探针座的原因在于，现有测试探针座的尺寸较大，例如对于ISM双模治具中，需要满足两个摄像头模组中心距为15mm，而并排安装两个ISM单模治具中的测试探针座，两个摄像头模组中心距需大于20.5mm，显然ISM单模治具中的测试探针座不能应用到ISM双模治具中。实用新型内容

[0004] 有鉴于此，本实用新型提供一种成本较低的光学模组测试探针座及测试治具。

[0005] 一种光学模组测试探针座，包括固定座、连接器定位座和盖板，该连接器定位座固定于该固定座上，该盖板压设于连接器定位座上，且与该固定座连接，该连接器定位座上开设有容纳槽，且该容纳槽的第一侧敞开，该盖板的与该容纳槽相对的一侧开设有连接部，该盖板通过该连接部与该固定座连接。

[0006] 在本实用新型的实施例中，该盖板与该容纳槽的第一侧对应的一侧开设开口。

[0007] 在本实用新型的实施例中，该固定座包括第一固定座和第二固定座，该第二固定座固定于该第一固定座上。

[0008] 在本实用新型的实施例中，该第一固定座上开设有第一探针孔；该第二固定座上开设有第二探针孔；该连接器定位座上开设有第三探针孔，该连接器定位座的该容纳槽的底部还开设有探针槽，该第一探针孔、该第二探针孔和该第三探针孔对应设置；该光学模组测试探针座还包括探针，该探针依次穿过该第一探针孔、该第二探针孔和该第三探针孔，并伸入该探针槽内。

[0009] 在本实用新型的实施例中，该第二固定座远离该第一固定座的一侧凸设有凸起，该第二探针孔开设于该凸起上，该连接器定位座朝向该第二固定座的一侧开设有凹槽，该第三探针孔开设于该凹槽内，该凸起与该凹槽配合。

[0010] 在本实用新型的实施例中，该连接器定位座的外侧设有凸缘，且该凸缘位于垂直于该容纳槽的第一侧的侧面上，该盖板压设在该凸缘上。

[0011] 在本实用新型的实施例中，该盖板朝向该连接器定位座的一侧开设有定位槽，该定位槽卡设于该凸缘的边缘。

[0012] 一种测试治具，包括底座和上述光学模组测试探针座，该底座上开设有探针座槽以容纳该光学模组测试探针座。

[0013] 在本实用新型的实施例中，该光学模组测试探针座可拆卸地设于该底座的该探针座槽内。

[0014] 在本实用新型的实施例中，该测试治具包括两个该光学模组测试探针座，两个该光学模组测试探针座并排设于该底座内。

[0015] 本实用新型的光学模组测试探针座，由于与固定座连接的连接部设于盖板的与容纳槽相对的一侧，因此，在与第一侧垂直的方向上无需开设用于连接的连接部，可减小光学模组测试探针座在与第一侧垂直的方向上尺寸。这样，该光学模组测试探针座可适应于各种不同的测试治具，实现光学模组测试探针座共用，从而大大减小测试治具的成本。附图说明

[0016] 图1是本实用新型一实施例的光学模组测试探针座的组装结构示意图；

[0017] 图2是图1所示光学模组测试探针座的分解示意图；

[0018] 图3是图1所示光学模组测试探针座的剖面结构示意图；

[0019] 图4是图1所示光学模组测试探针座的第二固定座的结构示意图；

[0020] 图5是图1所示光学模组测试探针座的连接器定位座的结构示意图。

具体实施方式

[0021] 为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型的实施方式作进一步地描述。

[0022] 如图1至图3所示，在本实施例中，光学模组测试探针座包括固定座11、连接器定位座13和盖板15，连接器定位座13固定于固定座11上，盖板15压设于连接器定位座13上，且与固定座11连接。连接器定位座13上开设有容纳槽132，且容纳槽132的第一侧敞开，形成大体为“凸”字形的开槽。盖板15的与容纳槽132相对的一侧开设有连接部152，盖板15通过连接部152与固定座11连接。具体地，连接部152可为连接孔，用于穿设螺栓，当然，连接部152也可为连接柱，卡设于固定座11内。

[0023] 本光学模组测试探针座中，由于与固定座11连接的连接部152设于盖板15的与容纳槽132相对的一侧，因此，在与第一侧垂直的方向上无需开设用于连接的连接部，可减小光学模组测试探针座在与第一侧垂直的方向上尺寸。这样，该光学模组测试探针座可适应于各种不同的测试治具，实现光学模组测试探针座共用，从而大大减小测试治具的成本。

[0024] 本实施例中，固定座11包括第一固定座112和第二固定座114，第二固定座114固定于第一固定座112上。第一固定座112上开设有第一探针孔115。请一并参照图4，第二固定座114远离第一固定座112的一侧凸设有凸起116，凸起116上开设有贯穿第二固定座114的第二探针孔118。第二固定座114朝向第一固定座112的一侧对应凸起116的位置开设有凹陷
119。

[0025] 具体地，第一固定座112和第二固定座114上均开设有定位孔120，通过定位柱122插入定位孔120内实现对第一固定座112和第二固定座114连接时的定位。

[0026] 请一并参照图5，本实施例中，连接器定位座13的外侧设有凸缘134，且凸缘134位于垂直于容纳槽132的第一侧的侧面上。盖板15压设在凸缘134上以将连接器定位座13压住。

[0027] 连接器定位座13朝向第二固定座114的一侧开设有凹槽136，且连接器定位座13上对应凹槽136的位置开设有贯通的第三探针孔138，连接器定位座13的容纳槽132的底部还开设有探针槽139，第二固定座114的凸起116与凹槽136配合。第一探针孔115、第二探针孔118和第三探针孔138对应设置。光学模组测试探针座还包括探针17，探针17从第一固定座
112的底部插入，依次穿过第一探针孔115、第二探针孔118和第三探针孔138，并从连接器定位器13的顶部露出从而伸入探针槽139内。当光学模组的连接器放置于容纳槽132内时，探针17与光学模组的连接器电性连接，从而对光学模组进行测试。

[0028] 本实施例中，盖板15与容纳槽132的第一侧对应的一侧开设开口153，也就是盖板15由三条边条围成，由此盖板15的形状大体为C形。由于盖板15上开设有开口153，因此将光学模组的连接器放置于容纳槽132内进行测试时，连接器定位座13的敞开的方向上无任何零件阻隔，即使将光学模组的连接连接器的柔性电路板做得更短，仍能通过本光学模组测试探针座进行测试，使本光学模组测试探针座具有更为广泛的应用场合。

[0029] 盖板15朝向连接器定位座13的一侧开设有定位槽154，定位槽154卡设于凸缘134的边缘，不仅将连接器定位座13压住，还能实现左右方向的定位。

[0030] 本实用新型还公开一种测试治具，包括底座和上述光学模组测试探针座，底座上开设有探针座槽以容纳光学模组测试探针座。

[0031] 本实施例中，光学模组测试探针座可拆卸地设于底座的探针座槽内。

[0032] 本实施例中，测试治具包括两个光学模组测试探针座，两个光学模组测试探针座并排设于底座内。

[0033] 以上结合附图详细描述了本实用新型的优选实施方式，但是本实用新型并不限于上述实施方式中的具体细节，在本实用新型的技术构思范围内，可以对本实用新型的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本实用新型的保护范围。在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本实用新型对各种可能的组合方式不再另行说明。

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