1.一种延迟时间测量电路，包括：
延迟链单元，用于选择反馈信号或指示延迟时间测量的开始的基准信号，以接收所述选择的信号作为输入信号，并具有串联连接的多个延迟元件以对所述输入信号进行延迟，所述延迟链单元使所述经延迟的输入信号反相、输出所述反相信号作为所述反馈信号、以及对所述反相信号的反馈重复次数进行计数以输出迭代计数信号；
代码产生单元，用于对测量信号与所述输入信号以及由除最末延迟元件之外的延迟元件所施加的多个延迟信号的每个进行比较，以测量所述测量信号相对于所述基准信号的延迟时间，以产生代码信号；以及
解码器，用于对所述代码信号及所述迭代计数信号进行解码，以输出测量延迟值，其中，所述延迟链单元包括：开关，用于选择所述基准信号或所述反馈信号并输出所述选择的信号作为所述输入信号；延迟链，具有串联连接的所述延迟元件，且接收所述输入信号并将其延迟，以输出所述延迟信号；反相器，用于使从所述延迟链之最末延迟元件输出之延迟信号反相，以输出所述反馈信号；以及计数器，用于响应于所述反馈信号而输出所述迭代计数信号，
其中，所述代码产生单元包括：比较延迟信号产生器，用于在所述迭代计数信号为偶数时，产生所述输入信号及所述延迟信号作为多个比较延迟信号，并在所述迭代计数信号为奇数时，使所述输入信号及所述延迟信号反相，以输出所述反相信号作为所述比较延迟信号；多个比较器，用于将所述各个比较延迟信号与所述测量信号相比较，以产生所述代码信号；以及第一逻辑门，用于响应于所述代码信号而输出计数器重设信号，以用于控制所述计数器。
2.如权利要求1所述的延迟时间测量电路，其中，所述开关响应于所述迭代计数信号而选择所述基准信号或所述反馈信号，并输出所述输入信号。
3.如权利要求1所述的延迟时间测量电路，其中，所述计数器响应于所述计数器重设信号而被重设。
4.如权利要求1所述的延迟时间测量电路，其中，所述比较延迟信号产生器包括：
多个异或门，用于对所述迭代计数信号的一个最低位与所述输入信号和所述比较延迟信号的每个执行异或运算。
5.如权利要求1所述的延迟时间测量电路，其中，所述比较器是多个第一与门，用于对所述各个比较延迟信号与所述测量信号执行与运算。
6.如权利要求1所述的延迟时间测量电路，其中，所述比较器是D触发器，用于响应于所述比较延迟信号而锁存及输出所述测量信号，并响应于所述开关设定信号而被重设。
7.如权利要求1所述的延迟时间测量电路，其中，所述第一逻辑门是或门，用于对所述代码信号执行或运算。
8.如权利要求1所述的延迟时间测量电路，其中，所述解码器将所述延迟元件的数量乘以所述迭代计数信号，并将对应于所述代码信号的值增加至所述乘法结果，以输出所述测量延迟值。
9.一种延迟时间测量电路，包括：
延迟链单元，用于选择反馈信号或指示延迟时间测量的开始的基准信号，以接收所述选择的信号作为输入信号，并具有串联连接的多个延迟元件以对所述输入信号进行延迟，所述延迟链单元使所述经延迟的输入信号反相、输出所述反相信号作为所述反馈信号、以及对所述反相信号的反馈重复次数进行计数以输出迭代计数信号；
代码产生单元，用于对测量信号与所述输入信号以及由除最末延迟元件之外的延迟元件所施加的多个延迟信号的每个进行比较，以测量所述测量信号相对于所述基准信号的延迟时间，以产生代码信号；以及
解码器，用于对所述代码信号及所述迭代计数信号进行解码，以输出测量延迟值，其中，所述延迟链单元包括：开关，用于选择所述基准信号或所述反馈信号并输出所述选择的信号作为所述输入信号；延迟链，具有串联连接的所述延迟元件，且接收所述输入信号并将其延迟，以输出所述延迟信号；反相器，用于使从所述延迟链之最末延迟元件输出之延迟信号反相，以输出所述反馈信号；以及计数器，用于响应于所述反馈信号而输出所述迭代计数信号，
其中，所述代码产生单元包括：边沿检测器，用于响应于所述基准信号的边沿而输出用于重设所述计数器的重设信号、响应于所述测量信号的边沿而将计数停止信号输出到所述计数器、输出对应于所述延迟信号的边沿数量的所述代码信号，以及响应于所述迭代计数信号而被重设。
10.如权利要求9所述的延迟时间测量电路，其中，所述计数器响应于所述计数停止信号将所述迭代计数信号输出到所述解码器，并响应于所述重设信号而被重设。
11.如权利要求9所述的延迟时间测量电路，其中，所述计数器响应于所述计数停止信号将所述迭代计数信号输出到所述解码器，并被重设。
12.如权利要求9所述的延迟时间测量电路，其中，所述解码器将所述延迟元件的数量乘以所述迭代计数信号，并将通过对所述代码信号进行解码所获的值增加至所述乘法结果，以输出所述测量延迟值。
13.如权利要求9所述的延迟时间测量电路，其中，所述开关是第二与门，用于对所述基准信号、所述反馈信号及所述计数停止信号执行与运算，以输出所述输入信号。
14.一种延迟时间测量电路，包括：
延迟链单元，用于选择反馈信号或者指示延迟时间测量的开始的基准信号，以接收所述选择的信号作为输入信号，且具有串联连接的多个延迟元件以对所述输入信号进行延迟，所述延迟链单元将所述经延迟的输入信号反相、并输出所述反相信号作为所述反馈信号；以及
边沿计数器，用于响应于所述基准信号的边沿而对所述输入信号及由所述延迟元件所施加的延迟信号的边沿进行计数，以及响应于测量信号的边沿而输出测量延迟值，所述测量延迟值对应于所述输入信号及所述延迟信号的所述被计数的边沿的数量。
15.如权利要求14所述的延迟时间测量电路，其中，所述延迟链单元包括：
开关，用于选择所述基准信号或所述反馈信号，以输出所述选择的信号作为所述输入信号；
延迟链，具有串联连接的所述延迟元件，并接收所述输入信号及对所述输入信号进行延迟，以输出所述延迟信号；以及
反相器，用于对从所述延迟链的最末延迟元件输出的延迟信号进行反相，以输出所述反馈信号。
16.一种延迟时间测量方法，包括：
响应于基准信号或反馈信号而产生多个延迟信号，以及判断测量信号是否被确定；
当所述测量信号未被确定时，使所述延迟信号中的最末延迟信号反相以输出所述反馈信号，将所述反馈信号反馈至所述产生延迟信号的步骤；以及
当所述测量信号被确定时，对产生的延迟信号的边沿计数，直到施加所述测量信号为止，并利用所述延迟信号的所述被计数的边沿的数量以及输出所述反馈信号的操作次数而产生测量延迟值。
17.如权利要求16所述的延迟时间测量方法，其中，产生所述延迟信号以及判断所述测量信号是否被施加的步骤包括：
当所述基准信号被施加时，对产生所述反馈信号的操作次数进行重设；
将所述基准信号或所述反馈信号延迟不同的时间，以输出所述延迟信号；
对所述延迟信号的边沿进行计数；以及
判断所述测量信号是否被确定。
18.如权利要求17所述的延迟时间测量方法，其中，反馈所述反馈信号的步骤包括：
当所述测量信号未被确定时，使所述延迟信号中的最末延迟信号反相，以产生所述反馈信号；
响应于所述反馈信号，增加迭代计数信号的值并输出所述迭代计数信号；
响应于所述迭代计数信号而重设所述延迟信号的所述被计数的边沿的数量；以及将所述反馈信号反馈至所述产生所述延迟信号的步骤。
19.如权利要求18所述的延迟时间测量方法，其中，产生所述测量延迟值的步骤包括：
当所述测量信号被确定时，响应于所述产生的延迟信号的边沿的数量而产生代码信号，直至所述测量信号被确定为止；以及
将所述迭代计数信号及所述码信号解码，以输出所述测量延迟值。