一种发光二极管检测装置

申请号 CN201610412349.5 申请日 2016-06-13 公开(公告)号 CN107505554A 公开(公告)日 2017-12-22
申请人 重庆市凡普特光电科技有限责任公司; 发明人 贾凡;
摘要 本 发明 请求 保护一种发光 二极管 检测装置,其包括供电模 块 、语音报读装置、 液晶 显示模块、二极管机械检测模块及二极管光色参数检测模块,所述二极管光色参数检测模块包括二极管切换装置板及 光谱 仪,所述语音报读装置分别与液晶显示模块、二极管机械检测模块及二极管光色参数检测模块相连通并对检测结果进行语音实时报读,所述光谱仪对LED光色参数进行检测,二极管机械检测模块对LED进行混光测试,二极管机械检测模块主要包括LED可旋转式圆形检测球,在圆形检测球下部开孔以形成推拉式结构;所述电源与二极管光色参数检测模块连通并供电,所述显示装置与光色参数检测模块相连通并显示其检测结果。本装置检测准确、通用程度高。
权利要求

1.一种发光二极管检测装置,其特征在于:包括供电模、语音报读装置、液晶显示模块、二极管机械检测模块及二极管光色参数检测模块,所述二极管光色参数检测模块包括二极管切换装置板及光谱仪,所述语音报读装置分别与液晶显示模块、二极管机械检测模块及二极管光色参数检测模块相连通并对检测结果进行语音实时报读,所述光谱仪对LED光色参数进行检测,二极管机械检测模块对LED进行混光测试,二极管机械检测模块主要包括LED可旋转式圆形检测球,在LED可旋转式圆形检测球下部开孔以形成推拉式结构;所述电源与二极管光色参数检测模块连通并供电,所述显示装置与光色参数检测模块相连通并显示其检测结果。
2.根据权利要求1所述的发光二极管检测装置,其特征在于:所述光谱仪采用入射与聚焦等焦距的结构,光谱仪光路采用特尔纳结构。
3.根据权利要求2所述的发光二极管检测装置,其特征在于:所述光谱仪的焦距为
60mm,光谱仪的光栅采用600gr/mm的平面衍射光栅,闪耀波长为450nm,光谱仪的入射狭缝为50um,光谱仪的闪耀波长处的分辨率为0.3nm。
4.根据权利要求1或2或3所述的发光二极管检测装置,其特征在于:所述二极管切换装置板包括主控板和切换板,所述切换板采用MOSFET作为切换的开关器件。

说明书全文

一种发光二极管检测装置

技术领域

[0001] 本发明属于照明装置技术领域,具体是一种发光二极管检测装置。

背景技术

[0002] 固态照明技术的不断进步,发光二极管应用市场逐渐成熟,LED产业将成为未来新的经济增长点,产业进程的加快推进LED封装产业的快速崛起及其技术的不断进步,板上芯片COB集成封装技术逐渐成为该领域的研究热点,该技术可进一步提高LED组件的密度。缩小和减轻整个LED器件的体积和重量,COB光源与传统的半导体集成电路进行大规模集成后可以实现LED灯具模化,同时COB光源还具有光通量大、出光密度高、发光均匀等特性,因此在筒灯、球泡灯、路灯以及工矿灯等室内外照明灯具中得到了广泛的应用;与传统功率型LED器件不同,COB是一种通过黏胶剂或焊料将N个LED晶片直接粘贴在印制电路板上,再通过引线键合实现晶片与电路板间互连的封装技术。该技术整体上增加了光源的功率,不需要额外的芯片散热电极引线
框架等结构,不仅简化了LED封装工艺,更重要的是节约了封装成本。
[0003] 由于COB封装LED主要用于照明,对色温的敏感性最高,且COB光源面积较大,会出现荧光粉涂覆不均匀的情况,从而造成同一批次光源在色温上有较大的差异。因此,一般在生产过程中需要实时检测每颗COB封装的LED的色温与光通量,若色温不合理,则需实时进行补粉(添加荧光粉),色温在合适容差范围内方可出厂,由于封装本身的外形尺寸各异,需要适配不同的夹具,这给补粉排测带来困难,因此与传统LED的分光机不同,COB封装LED技术需要一新型的LED检测设备来检测COB封装的LED的色温、光通量等参数。

发明内容

[0004] 为了解决现有技术的不足,本发明提供了一种检测准确、通用程度高的发光二极管检测装置。本发明的技术方案是这样的:一种发光二极管检测装置,其包括供电模块、语音报读装置、液晶显示模块、二极管机械检测模块及二极管光色参数检测模块,所述二极管光色参数检测模块包括二极管切换装置板及光谱仪,所述语音报读装置分别与液晶显示模块、二极管机械检测模块及二极管光色参数检测模块相连通并对检测结果进行语音实时报读,所述光谱仪对LED光色参数进行检测,二极管机械检测模块对LED进行混光测试,二极管机械检测模块主要包括LED可旋转式圆形检测球,在LED可旋转式圆形检测球下部开孔以形成推拉式结构;所述电源与二极管光色参数检测模块连通并供电,所述显示装置与光色参数检测模块相连通并显示其检测结果。
[0005] 进一步的,所述光谱仪采用入射与聚焦等焦距的结构,光谱仪光路采用特尔纳结构。
[0006] 进一步的,所述光谱仪的焦距为60mm,光谱仪的光栅采用600gr/mm的平面衍射光栅,闪耀波长为450nm,光谱仪的入射狭缝为50um,光谱仪的闪耀波长处的分辨率为0.3nm。
[0007] 进一步的,所述二极管切换装置板包括主控板和切换板,所述切换板采用MOSFET作为切换的开关器件。
[0008] 本发明的优点及有益效果如下:本发明由于采用了机械检测模块及光色参数检测模块,测量结果与标准设备的误差较小,且测试快速、准确、重复性高,可以满足COB封装LED补粉排测机的实际测量要求。
附图说明
[0009] 图1是本发明提供优选实施例发光二极管检测装置示意图;图2是本发明光谱仪光路结构图;
图3是发光二极管切换电路示意图。

具体实施方式

[0010] 以下结合附图,对本发明作进一步说明:如图1所示,发光二极管检测装置,其特征在于:包括供电模块、语音报读装置、液晶显示模块、二极管机械检测模块及二极管光色参数检测模块,所述二极管光色参数检测模块包括二极管切换装置板及光谱仪,所述语音报读装置分别与液晶显示模块、二极管机械检测模块及二极管光色参数检测模块相连通并对检测结果进行语音实时报读,所述光谱仪对LED光色参数进行检测,二极管机械检测模块对LED进行混光测试,二极管机械检测模块主要包括LED可旋转式圆形检测球,在LED可旋转式圆形检测球下部开孔以形成推拉式结构;
所述电源与二极管光色参数检测模块连通并供电,所述显示装置与光色参数检测模块相连通并显示其检测结果。所述供电模块为市售高精密数控电源,所述显示装置为市售产品。
[0011] 图2所示光谱仪的光路示意图,为优选的,所述光谱仪采用入射与聚焦等焦距的结构,光谱仪光路采用特尔纳结构。包括CCD、光栅、狭缝、光纤、准直镜及成像镜。
[0012] 优选的,所述光谱仪的焦距为60mm,光谱仪的光栅采用600gr/mm的平面衍射光栅,闪耀波长为450nm,光谱仪的入射狭缝为50um,光谱仪的闪耀波长处的分辨率为0.3nm。
[0013] 优选的,图3是发光二极管切换电路示意图。所述LED切换装置板包括主控板和切换板,所述切换板采用MOSFET作为切换的开关器件。其控制脉冲由M3控制器产生,经过一个射极跟随的信号三极管8050后与高耐压的隔离光耦相连,通过光耦来控制MOSFET,同时光耦保护低压直流控制部分。
[0014] 以上这些实施例应理解为仅用于说明本发明而不用于限制本发明的保护范围。在阅读了本发明的记载的内容之后,技术人员可以对本发明作各种改动或修改,这些等效变化和修饰同样落入本发明权利要求所限定的范围。
QQ群二维码
意见反馈